「surface-defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an inspecting device for a shape defect, etc., which can detect a defect of a printed board surface as to many items and a defect on the mounted board such as component absence, polarity inversion, a wrong article name, and fitting abnormality more speedily and automatically through optical processing.例文帳に追加

多項目のプリント基板表面の欠陥、また、実装基板上での部品欠落、極性反転、品名相違、取付異状、などの欠陥を、光学的処理により迅速、かつ、自動的に検出することができる形状欠陥等の検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection device capable of freely setting an incident angle so as to form an optimum observation condition to each defect or pattern on a subject and further freely setting an incident direction to perform an accurate defect inspection.例文帳に追加

被検体上の各欠陥やパターンに対して最適な観察条件となるように入射角度を自由に設定でき、又これに加えて入射方向を自由に設定でき、精度の高い欠陥検査が可能となる表面欠陥検査装置を提供すること。 - 特許庁

When the tip of the sensor 3 hits against the surface projection defect of the object 1 to be inspected, the sensor 3 is bent and the resistance of the strain gauge 2 changes, which is detected by the strain-measuring instrument 7 for detecting a surface projection defect.例文帳に追加

連続的に送られてくる被検査物１の表面突起欠陥に前記センサ３の先端が当たると、当該センサ３が曲がり前記ひずみゲージ２の抵抗値が変化し、これをひずみ測定器７が検出して、表面突起欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide a new method for surface defect detection and its device which can quantitatively measure a defect in atom size generated on the surface and interface of a sample in a manufacturing process for semiconductor devices or the like in real time with high precision.例文帳に追加

半導体デバイスの製造プロセス等において試料の表面および界面に発生する原子サイズの欠陥を実時間で、且つ高精度で定量測定することのできる、新しい表面欠陥検出方法およびその装置を提供する。 - 特許庁

The copper alloy for electric materials excellent in the surface characteristic contains at least 1.0-3.0 mass % of Ni, 0.2-0.6 mass % of Si in the composition, and having zero piece/1000 mm^2 of the surface defect of a cracked folding defect larger than 20 μm.例文帳に追加

組成がＮｉ：１．０〜３．０ｍａｓ％、Ｓｉ０．２〜０．６％を少なくとも含有し、大きさ20μm以上のクラック状の折れ込み欠陥である表面欠陥がゼロ 個／１０００ｍｍ^２である表面性状に優れた電子材料用銅合金。 - 特許庁

A bearing washer is used in which roughness of a surface as an ultrasonically inspected surface is 0.4 μmRa or less, and every defect existing in an inspected volume X, total cross section of the bearing washer 1, is 0.2 mm or smaller in square root length of defect area.例文帳に追加

超音波被検査面となる面の表面粗さが０．４μｍＲａ以下であり、その軌道輪１の全断面全てである被検体積Ｘ内に存在する欠陥が、全て欠陥面積の平方根長さで０．２mm以下である軌道輪を使用する。 - 特許庁

To provide an optical surface defect inspection device or an optical surface defect inspection method which can achieve high sensitivity inspection by enabling improvement in S/N by a multiple dividing cell system even without performing an autofocus operation.例文帳に追加

本発明は、オートフォーカス動作を行わなくとも、多分割セル方式によるＳ／Ｎ向上を可能とし、高感度の検査を実現できる光学式表面欠陥検査装置または光学式表面欠陥検査方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a surface inspecting method capable of detecting, with high precision, fine unevenness due to a defect, foreign matter, etc., present on a surface of a silicon wafer or a surface of an SOI wafer.例文帳に追加

シリコンウェーハの表面、またはＳＯＩウェーハの表面に存在する欠陥や異物等に起因する微細な凹凸を高精度に検出することが可能な表面検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for defect inspection, capable of detecting the defects of an inspection member that has large surface roughness and irregularities on surface, without having to maintain the surface of the inspection member.例文帳に追加

被検査材の表面を手入れすることなく、表面粗さが大きく、表面に凹凸をもつ被検査材の欠陥を検出する欠陥検査方法および装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

When the flat surface 21 is brought into contact with a defect part, and ink 23 attached to the flat surface 21 is pushed out to the outside, the pushed-out ink 23 is drawn toward the step part 22 by surface tension.例文帳に追加

平坦面２１が欠陥部に接触して、平坦面２１に付着したインク２３が外側に押出されると、押出されたインク２３は表面張力によって段差部２３に引き寄せられる。 - 特許庁

To provide a device for polishing a cylinder surface capable of minimizing a surface roughness and a surface defect by constantly disposing a work on an upper side irrelevant to the direction of the recess/projection of the work.例文帳に追加

加工物の凹凸の向きにかかわらず、加工物を常時上側に配置することによって表面あらさ、表面欠陥を最小化することのできるシリンダー面の研磨装置を提供する。 - 特許庁

To provide a solder ball check and repair device that efficiently and surely repairs a defect at low cost when detecting the defect through a check after supplying a solder ball onto a substrate surface.例文帳に追加

ハンダボールを基板面上に供給した後に検査によって欠陥を検出した場合に、欠陥の修復を低コストで効率よく確実に行うことが可能となるハンダボール検査リペア装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for controlling fluidity of molten steel in a mold for producing a steel cast slab having a little bubble-like defect and inclusion defect under the surface of the cast slab, and a device for forming electromagnetic field for this purpose.例文帳に追加

鋳片の皮下に気泡状欠陥や介在物欠陥が少ない鋼鋳片を製造するための溶鋼の鋳型内の流動制御方法並びにそのための電磁場形成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection device capable of easy and accurate defect detection when a plurality kinds of surface states of an inspection object to be determined to be a nondefective article exist.例文帳に追加

良品と判定されるべき被検査物の表面状態が複数種類存在する場合に容易でかつ正確な欠陥検出を行うことができる欠陥検出装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of inspecting a semiconductor wafer in which a projection defect and a hollow defect present on one surface of the semiconductor wafer are discriminatingly detected and the size of a hollow is accurately measured.例文帳に追加

半導体ウェーハの一面に存在する突起状欠陥とへこみ状欠陥とを区別して検出し、へこみのサイズを正確に測定することが可能な半導体ウェーハの検査方法を提供する。 - 特許庁

A part 9 for inspecting recording defect inspects the recording defect in recording processing to the back surface of the recording medium on the basis of the reference image data, the first inspection image data and the second inspection image data.例文帳に追加

記録不良検査部９は、基準画像データ、第一の検査画像データ、及び第二の検査画像データに基づいて、当該記録媒体の裏面に対する記録処理での記録不良を検査する。 - 特許庁

To realize an evaluation device for measuring the defective state of a defect of a semiconductor device identified based on optical beam induced current (OBIC) phenomenon or the like or the state of a minute area surface including the defect.例文帳に追加

ＯＢＩＣ現象等に基づいて同定した半導体デバイスの欠陥の欠損状態や、欠陥を含む微小領域表面の状態などを測定する評価装置を実現する。 - 特許庁

To provide a defect detector which attains improvement in defect detection output and reliability by highly accurately detecting various defects to occur on the surface of an inspection object.例文帳に追加

検査対象物の表面上に発生する様々な欠陥を高精度に検出可能とすることで、欠陥検検出力及び信頼性の向上を図った欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To inexpensively and industrially manufacture a silicon wafer which has BMD at high density in the inner part of the wafer, and a device generation layer on a surface layer is made into a non-defect layer which does not include BMD nor a grow-in defect.例文帳に追加

ウェーハ内部に高密度の ＢＭＤ を有し、表層のデバイス作成層をＢＭＤ もグローイン欠陥も含まない無欠陥層にしたシリコンウェーハを安価に、工業的に容易に製造する。 - 特許庁

To provide a defect erasing apparatus for a semiconductor wafer capable of erasing a crystal defect existing in a surface layer without bringing about a new evil for bringing about a slip dislocation or the like.例文帳に追加

スリップ転位等が生ずる等の新たな弊害を生じさせることなく、その表層部分に存在する結晶欠陥を消去することができる半導体ウエハの欠陥消去装置を提供する。 - 特許庁

To provide a painting defect inspection method capable of detecting accurately existence of a painting defect, even when irregularities are formed on a substrate surface, when applying painting onto the substrate.例文帳に追加

基材に塗装を施す場合、この基材の表面に凹凸が形成されている場合であっても塗装不良の有無を正確に検知することができる塗装不良検査方法を提供する。 - 特許庁

Thus, the surface of a portion which is slightly eccentric from the center of the nut 5, where the defect tends to presented as a shade on the nut can be fetched as the image information, and sure defect detection can be attained.例文帳に追加

そのため、ナット５に傷が陰影として出やすい部分であるナット５の中心よりわずかに偏心した位置の表面を画像情報として取り込むことができ、確実な傷検出が可能となる。 - 特許庁

To provide a hydrogen separation apparatus that prevents a defect developed by a reaction on the inner surface of a hydrogen permeation membrane and can prevent purity loss of a hydrogen gas even in case of the defect.例文帳に追加

水素透過膜の内表面からの反応による欠陥の発生を防止し、この欠陥が発生してたとしても水素ガスの純度低下を防止し得る水素分離装置を提供すること。 - 特許庁

To discriminate an image of a defect in a liquid crystal panel from an image of dust deposited on a surface of the liquid crystal panel, using a simple means, when inspecting the defect in the liquid crystal panel, using an imaging device.例文帳に追加

液晶パネルの欠陥を撮像装置を用いて検査する場合に、簡単な手段を用いて、液晶パネルの表面に付着したゴミの映像と、液晶パネルの欠陥の映像とを区別する。 - 特許庁

To provide method, device and program for determination of continuous defect which can quickly and surely detect any continuous surface defect successively-arisen in the direction of a longer hand a thin steel sheet.例文帳に追加

薄鋼板の長手方向に連続して発生した連続欠陥を迅速且つ確実に検出することができる連続欠陥判定方法、連続欠陥判定装置及びプログラムを提供すること。 - 特許庁

To provide a wafer surface defect inspection device capable of reducing instrument errors of detection sensitivity and foreign matter coordinate detection error, and capable of obtaining high position coordinate precision for a defect such as a foreign matter, and a method therefor.例文帳に追加

検出感度や異物座標検出誤差の機差が小さく、異物等の欠陥の高い位置座標精度が得られるウェハ表面欠陥検査装置およびその方法を提供することである。 - 特許庁

To uniformly grind the surface of an image carrier by uniformly removing toner remaining on the surface of the image carrier without causing the occurrence of an image defect or making a device larger.例文帳に追加

画像不良の発生や装置の大型化を招くことなく、像担持体表面に残留するトナーを均一にクリーニングし、像担持体表面を均一に研磨する。 - 特許庁

A defect on a surface of the metallic silicide layer with the shallow groove is removed with a second etching solution to form a metallic silicide layer with a smooth surface.例文帳に追加

第２蝕刻液を使用して浅い溝が形成された金属シリサイド層表面に存在する欠陥を除去して滑らかな表面の金属シリサイド層を形成する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for producing a tube with grooves on the inner surface with which the long tube with the grooves on the inner surface can be mass-produced at a low cost without developing any defect.例文帳に追加

長尺な内面溝付き管を欠陥を招くことなく安価に量産することが可能な内面溝付き管の製造方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a light source for surface inspection easy to find the defect of an inspecting surface, having a sufficient illumination area despite the size held with the hand of an inspector.例文帳に追加

検査面の欠陥を見つけ易く、かつ、検査者が手で持つことのできる大きさでありながらも十分な照射面積を有する表面検査用光源を提供する。 - 特許庁

To provide a wire surface defect detector for detecting a micro flaw occurring in a wire surface without missing without requiring application of a penetrant and flaw detection agent.例文帳に追加

浸透液や探傷剤を塗布することなく、線材表面に付いた微小な傷を抜け無く検出することのできる線材表面探傷装置を提供する。 - 特許庁

To prevent an image defect or jamming from occurring because transfer material floats from a carrying reference surface after the transfer material to which a toner image has been transferred is separated from the surface of a photoreceptor drum.例文帳に追加

トナー像転写後の転写材が、感光ドラム表面からの分離後に、搬送基準面から浮き上がって画像不良やジャムを発生させることを防止する。 - 特許庁

A differential interference microscope 3 and a CCD camera 4 of the surface defect inspection apparatus 1 image the surface of an information recording medium to be inspected M for acquiring differential interference images.例文帳に追加

表面欠陥検査装置１の微分干渉顕微鏡３とＣＣＤカメラ４で検査対象物Ｍの情報記録媒体表面の微分干渉画像を撮像する。 - 特許庁

The defect detection parameters determine what degree the difference between the surface image of a normal semiconductor wafer and the surface image of a semiconductor wafer having defects is allowed.例文帳に追加

欠陥検出パラメータは、正常な半導体ウェハの表面画像と、欠陥が生じている半導体ウェハの表面画像との差をどの程度許容するか定めている。 - 特許庁

To highly accurately evaluate a surface image quality defect such as a surface scratch, a toner level difference, nonuniform gloss when outputting a highly glossy image such as a photograph, in electrophotography.例文帳に追加

電子写真において例えば写真調の高光沢画像を出力する場合、表面キズ、トナー段差、光沢ムラ等の表面画質欠陥を高精度で評価すること。 - 特許庁

To provide a surface inspection device and a surface inspection method for easily determining an optimum combination of image processing filters for detecting a defect on a substrate.例文帳に追加

基板上の欠陥を検出するための画像処理フィルタの最適な組み合わせを、容易に特定することができる表面検査装置及び表面検査方法を提供する。 - 特許庁

To prevent the generation of a surface defect on a surface on which a resist film is formed at the time of etching an aperture of a current block layer by a semiconductor laser having a SAS structure.例文帳に追加

ＳＡＳ構造の半導体レーザにおいて電流ブロック層の開口部のエッチングの際に、レジスト膜が形成された表面の表面欠陥の発生を防止する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for the treatment of a substrate wherein a treatment defect on the surface of a square substrate is suppressed and the surface of the square substrate can be treated uniformly.例文帳に追加

角型基板上面の処理不良を抑え、角型基板上面を均一に処理することが可能な基板処理装置および基板処理方法を提供する。 - 特許庁

To surely detect only a recess-like defect existing on a surface of a substrate, without detecting a foreign matter deposited on the surface of the translucent substrate.例文帳に追加

光透過性の基板表面に付着している異物を検出することなく、基板の表面に存在する凹状の欠陥のみを確実に検出することができる。 - 特許庁

To provide a means for measuring the finish dimension of a solid sample having a cylindrical structure or detecting a minute surface defect present on the inner surface of a tube.例文帳に追加

筒状構造を有する固体試料の仕上がり寸法の計測や、管内面の表面に存在する微小な表面欠陥の検出などの手段を提供する。 - 特許庁

To bend a precoated steel sheet with a film without generating a surface defect by suppressing the breakage of the film when applying a bending work to the steel sheet by using a surface protecting film.例文帳に追加

表面保護フィルムを使用して鋼板に曲げ加工を施す際に、フィルム切れを抑制して表面欠陥を発生させることのなくフィルム付き鋼板を曲げ加工する。 - 特許庁

To provide a wire surface inspection device capable of detecting accurately a defect such as a flaw or dirt on the surface of a linearly extending wire rod (wire to be inspected).例文帳に追加

線状に伸びる線材（被検査線条）の表面の疵や汚れ等の欠陥を正確に検出することのできる線条表面検査装置を提供すること。 - 特許庁

In the defect inspection method, the surface of a wafer 7 is photographed by a differential interference microscope, and the number of defects observed on the surface is counted by image processing.例文帳に追加

ウェーハ７の表面を微分干渉顕微鏡で撮影し、画像処理によって表面に観察される欠陥の個数を計数する欠陥検査方法である。 - 特許庁

The defect existing in the vicinity of the surface of the specimen 2 is detected thereby based on the difference wave form data.例文帳に追加

このため、かかる差分波形データに基づいて、被検査体２の表面近傍に存在する欠陥を検出することができる。 - 特許庁

To provide a cooling method for a float bath for producing float glass to get rid of the cause of surface defect of a float glass product.例文帳に追加

フロートガラス製品の表面欠陥の原因を取り除く為の、フロートガラス製造用フロート槽の冷却方法の提供。 - 特許庁