「surface-defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(16ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a light-emitting element including a laser resonance surface having a high optical reflectivity, which attains a high perpendicularity with respect to a growth surface, causing no defect due to damage by reactive ions.例文帳に追加

成長面に対する垂直性が高く、反応性イオンによるダメージに起因する欠陥がなく、高い光反射率を有するレーザ共振面を備えた発光素子を提供すること。 - 特許庁

A laser scattering detector detects the top surface of the defect emphasis protrusion, and the type of the crystal defects is identified by the dimension information of the detected top surface.例文帳に追加

欠陥強調突起部の頂面部をレーザー散乱式検出装置にて検出し、その検出された頂面部の寸法情報により結晶欠陥の種別を識別する。 - 特許庁

To provide a method for detecting surface defect for obtaining a continuously cast slab having good surface characteristic by surely detecting a precursory phenomenon of a longitudinal crack during continuous casting.例文帳に追加

連続鋳造中に鋳片縦割れの前駆現象を確実に検出することにより、表面性状の良好な連続鋳造鋳片を得るための、表面欠陥検知方法を提案する。 - 特許庁

The Si layer 11 can suppress the formation of a surface defect level on the surface of the n+-GaAs layer 8 and can prevent the formation of an unnecessary potential barrier effectively.例文帳に追加

Ｓｉ層１１によってｎ^＋ −ＧａＡｓ層８の表面に表面欠陥準位が形成されるのを抑制することができ、不要な電位障壁の形成を有効に防止できる。 - 特許庁

By reducing the separating electrification between a glass and a blanket through the roughening of the surface of a glass substrate, the amount of charge on the surface of the substrate at printing is lowered and consequently the feathering defect is reduced.例文帳に追加

ガラス基板の表面を粗面化してガラスとブランケットの間の剥離帯電を減少させ、印刷時の基板表面の帯電量を低くしてひげ欠陥を減少させる。 - 特許庁

To eliminate such a defect that the character, etc. of a recording surface stand out on the surface of a transferred metal foil, when the metal foil is transferred to obtain a scratch layer, instead of a kneading type scratch layer.例文帳に追加

練り込みタイプのスクラッチ層に代えて、金属箔を転写してスクラッチ層とする際に、転写された金属箔の表面に記録面の文字等が浮き出す欠点を解消する。 - 特許庁

Since the surface of the steel sheet 101 is heated uniformly along the sheet-width direction by the bandlike laser 103, a temperature gets substantially uniform in a portion where no defect such as the surface flaw 102 exists, and a temperature change is generated in a portion where the defect exists, because of an influence thereof.例文帳に追加

鋼板１０１の表面は帯状のレーザ１０３によって板幅方向にライン状に均一に加熱されるので、表面疵１０２等の欠陥の存在しない個所では温度がほぼ均一になるのに対して、欠陥の存在する個所ではその影響により温度変化が生じる。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for detecting a ceramic surface layer zone defect which can simply and accurately examine a fine defect generated near surface after a ceramic material is mechanically worked and which can easily examine even at a working site.例文帳に追加

セラミックス材料の機械加工後の表面近傍部に発生する微細欠陥を簡単且つ高精度に検出することができ、加工現場でも容易に検査することができるセラミックス表層域欠陥の検出方法と、このような欠陥検出に用いる検出装置を提供する。 - 特許庁

A plot controller stores two-dimensional defect position data as plot data produced by projecting a position of the micro-defect generated in the painted surface of the vehicle onto the horizontal or vertical two-dimensional projecting plane, retrieves the plot data sequentially, in response to switch operation and plots them on the painted surface of the vehicle.例文帳に追加

プロット制御部が、車両塗面に生じている微小欠陥位置を水平もしくは垂直の二次元投影面に投影した二次元の欠陥位置データをプロットデータとして格納し、スイッチ操作に応答して順にプロットデータを検索して車両塗面にプロットする。 - 特許庁

To solve the problem wherein, when inspecting a defect by an image acquired by imaging a surface of a polycrystal silicon wafer such as a solar cell wafer by an imaging device, a pattern of a crystallite of the silicon wafer is imaged in a normal visible light illumination, and thereby discrimination from a defect existing on the surface is difficult.例文帳に追加

太陽電池ウェーハなどの多結晶シリコンウェーハの表面を撮像装置で撮像した画像によって欠陥検査を行う場合、通常の可視光照明では、シリコンウェーハの結晶体の模様が撮像されて、表面にある欠陥との判別が困難である。 - 特許庁

To provide a conductive roll, an electrification roll, and a transfer roll which prevent an image defect due to contamination resulting from sticking of foreign matters on a surface, minimizes an image defect when the foreign matters stick, and also prevents a photoreceptor surface from being filmed with the foreign matters.例文帳に追加

表面への異物の付着による汚染に起因する画像欠陥の発生を防止するとともに、異物が付着した際の画像欠陥を最小限とし、さらに感光体表面への異物のフィルミングを防止できる導電性ロール、帯電ロール、及び転写ロールの提供である。 - 特許庁

To disclose a manufacturing method by which, even if a defect 8 in material is present in the rear surface 7 of a veneer laminate 1, a smooth-surfaced composite base material 10 can be obtained that has no transfer trace remaining on the surface of a composite body 4b located beneath the defect 8 in the manufacturing process.例文帳に追加

単板積層板１の乙板（裏面）７に材料欠点８が存在する場合であっても、製造過程において下位に位置する複合体４ｂの表面にその転写痕が残らない表面が平滑な複合基材１０を得ることができる製造方法を開示する。 - 特許庁

To restrain the influence of a defect such as faulty etching or deformation in a color selecting mechanism to the utmost even when the defect occurs in the color selecting mechanism in the case of radiating ultraviolet rays to the inner surface of a face panel through the color selecting mechanism in the fluorescent surface manufacturing stage of a cathode ray tube.例文帳に追加

陰極線管の蛍光面製造工程において、フェースパネル内面に色選別機構を介して紫外線を照射する場合に、その色選別機構にエッチング不良や変形等の欠陥があっても、その欠陥の影響を極力抑制できるようにする。 - 特許庁

To provide a round tooth for cutting, a tool for cutting and a cutting device of low costs providing a favorable tape edge cut in a cut part without producing a high edge defect or an unequal elongation defect in a cut surface when cutting a film like strip object such as a thin magnetic tape with a smooth surface.例文帳に追加

薄く表面の平滑な磁気テープのようなフィルム状の帯状物を切断するときに、その切断面にハイエッヂ不良及び片伸び不良が生じることはなく、切断部におけるテープエッヂ切れが良好でかつ低コストの切断用丸刃、切断用工具及び切断装置を提供する。 - 特許庁

This defect detection method of the roller bearing by torque monitoring is a method for detecting a defect on either or both of the rolling contact surface of an outer ring and the roller in the roller bearing equipped with the outer ring and a plurality of rollers rolling along the rolling contact surface of the outer ring.例文帳に追加

この発明のトルク監視によるころ軸受の欠陥検出方法は、外輪およびこの外輪の転走面を転動する複数のころを備えたころ軸受において、前記外輪の転走面およびころのいずれか一方または両方の欠陥を検出する方法である。 - 特許庁

To provide a surface defect-determining method, in a continuous casting process in which a molten metal within a mold is cast while being whirled horizontally by a moving magnetic field, which can judge the occurrence of the defect in the surface of a slab on-line based on the measured value of the temperature in each mold copper plate.例文帳に追加

鋳型内の溶鋼を移動磁場によって水平方向に旋回させながら鋳造する連続鋳造工程において、鋳型銅板温度の測定値に基づいてオンラインで鋳片表面の欠陥の発生を判定することのできる表面欠陥判定方法を提供する。 - 特許庁

To provide: a lens sheet that has no decrease in luminance of a back light, hardly has a lens sheet surface electrostatically charged, and prevents a decrease in defect concealment, a product defect due to sticking of dust, dirt, etc., and electric charge, and deterioration in outward appearance; a surface light source device using the lens sheet; and a liquid crystal display device.例文帳に追加

バックライトの輝度低下を伴わず、レンズシート表面の帯電が起き難く、欠陥隠蔽性の低下や、埃、塵、ゴミ等の付着や電荷による製品欠陥、外観の悪化を防止できる、レンズシート、そのレンズシートを用いた面光源装置、および、液晶表示装置を目的とする。 - 特許庁

To correctly and easily detect not only presence of a defect on a surface parallel to the inside and outside surfaces of a face part of a panel but also presence of an inside defect in the thickness direction of the face part to avoid complication of relief work for the defect due to incapability of three-dimensionally detecting the presence of the inside defect, and unreasonable disposal of the panel or a bulb.例文帳に追加

パネルのフェース部における内外表面と平行な面上の欠点の存在状況のみならず、該フェース部の厚み方向に対する内部欠点の存在状況をも正確且つ容易に検出可能とし、内部欠点の存在を三次元的に知得できないことによる欠点対策作業の繁雑化やパネル或いはバルブの不当な廃棄を回避する。 - 特許庁

Therein, surface temperature of the SiC substrate is lower than back surface temperature thereof, therefore, the gas sublimated from the vicinity 12b of the back surface of the substrate having a high temperature is moved to the vicinity 12a of the surface of the substrate having a low temperature through a micropipe defect 11 which is hollow.例文帳に追加

そして、ＳｉＣ基板裏面より基板表面の温度が低くなっていることから、温度が高い基板裏面近傍１２ｂから昇華したガスが中空であるマイクロパイプ欠陥１１を通して、温度の低い基板表面近傍１２ａに移動する。 - 特許庁

To realize a homoepitaxial growth to a low off angular surface in a silicon carbide {0001} plane to enhance the performance of an electronic device or ideally substantially to an off-less surface, to reduce a surface defect density in the homoepitaxial growth layer, and to make as flat as possible, on the front surface of the homoepitaxial grown layer.例文帳に追加

電子デバイスの高性能化のために、炭化珪素｛０００１｝面において、低オフ角面、理想的には、ほぼオフ無し面へのホモエピタキシャル成長を実現すること、並びに前記のホモエピタキシャル成長層における表面欠陥密度を低減すること。 - 特許庁

A surface inspection method for a semiconductor wafer is provided, including: irradiating the surface of a semiconductor wafer as an inspection object with inspection light from a light source unit; detecting scattered light from an irradiation region irradiated with the inspection light of the wafer surface; and evaluating the presence or absence of a defect and/or a degree of the defect on the wafer surface based on the detected scattered light.例文帳に追加

検査対象である半導体ウェーハの表面に向かって光源部から検査光を照射すること、ウェーハ表面の検査光が照射された照射領域からの散乱光を検出すること、ならびに、検出された散乱光に基づきウェーハ表面の欠陥の有無および／またはその程度を評価すること、を含む半導体ウェーハの表面検査方法。 - 特許庁

To eliminate the defect of the appearance in a sintered body at the time of cooling in a sintering stage and to secure the original components in the surface of the sintered body.例文帳に追加

焼結工程での冷却時における焼結体の外観不良をなくし、焼結体表面の本来の成分を確保する。 - 特許庁

To provide a method for inspecting a defect on the surface of a blanket under a condition that a pressure is loaded like when an actual printing is performed, and its inspecting apparatus.例文帳に追加

実際の印刷時の様に圧力がかかった状態でのブランケット表面の欠陥検査方法及びその検査装置を提供する。 - 特許庁

The long side face 5B becomes the {01-10} face which is less susceptible to surface defect when compared with a short side face 5C of {11-20} face.例文帳に追加

これにより、長側面５Ｂは、{０１−１０}面となり、{１１−２０}面である短側面５Ｃに比べて、表面欠陥が入りにくくなる。 - 特許庁

To provide a continuous casting method of high-titanium-containing steel which makes a cast steel slab free from any surface defect and enables the high-titanium-containing steel slab to be rolled without care.例文帳に追加

鋳片の表面欠陥を防止し、無手入れで圧延することが可能な高Ｔｉ含有鋼の連続鋳造方法を提供する。 - 特許庁

To precisely detect a size of an uneven defect in a surface of a face plate.例文帳に追加

面板表面の凹凸欠陥の大きさを精度よく検出することができる欠陥検出光学系および検査装置を提供することにある。 - 特許庁

A silicon substrate 200 with an injection secondary defect 201 is immersed in a nitric acid solution to form an oxide film 202 in the surface of the silicon substrate 200.例文帳に追加

注入二次欠陥２０１を有するシリコン基板２００を硝酸液に浸けてシリコン基板２００表面に酸化膜２０２を形成する。 - 特許庁

To provide a chemical mechanical polishing pad capable of making compatible both the improvement of the flatness of a surface to be polished and the reduction of a polishing defect (scratch).例文帳に追加

被研磨面の平坦性の向上と研磨欠陥（スクラッチ）の低減を両立させることができる化学機械研磨パッドを提供する。 - 特許庁

To provide a treatment method for a mold which can repair a defect composed of a recessed part produced on the surface of the mold at a sufficiently high strength.例文帳に追加

金型表面に生じた凹部からなる欠陥を、十分に高い強度で補修することができる金型の処理方法を提供する。 - 特許庁

The first insulating layer 13 is formed so as to cover the high-defect region 10a on the principal surface 10c of the GaN layer 10.例文帳に追加

第１の絶縁層１３は、ＧａＮ層１０の主表面１０ｃにおける高欠陥領域１０ａを覆うように形成されている。 - 特許庁

AUTOMATIC DETECTION DEVICE FOR PRINT DEFECT ON METALIZED STRIP OR OTHER OPTIONAL PRINT BASE MAINLY COMPOSED OF SURFACE IN MIRROR REFLECTING COLOR例文帳に追加

金属化ストリップ又は大部分が鏡面反射色の表面からなるその他の任意の印刷支持体上の印刷欠陥の自動検出装置 - 特許庁

To provide a method for heating a billet, applying the optimum heat pattern to the pipe-making of a high Cr-based seamless steel pipe having a little defect in the internal surface.例文帳に追加

内面欠陥の少ない高Ｃｒ系継目無鋼管の製管に最適なヒートパターンを適用するビレット加熱方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of repairing a metallic alloy component (10) having a defect (12) in its surface, the method that can reduce the risk of post-welding cracks, and also to provide a repaired component (10) obtainable by this method.例文帳に追加

表面欠陥（１２）を有する金属合金部品（１０）の補修法及び該方法で得られる補修部品（１０）の提供。 - 特許庁

To speed up an inspection speed by equipping the defect detection capacity of a surface to be inspected that is at least equivalent to a conventional capacity, at low cost.例文帳に追加

低コストでこれまでと同等以上の被検査物表面の欠陥検出能力を備え検査速度を高速化できるようにする。 - 特許庁

For example, the recessed parts can be formed by partially roughening the external surface of the fixing roll 611 within a range wherein no image defect is generated.例文帳に追加

例えば、定着ロール６１１の外表面を、画像欠陥が起きない範囲内で部分的に荒らすことで凹部を形成することもできる。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a liquid crystal display that can deter an alignment defect due to a step on a substrate surface from being generated.例文帳に追加

基板表面の段差に起因する配向欠陥の発生を抑制することができる液晶表示装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

As a result, the electroconductive paste composition has the excellent electroconductivity, can prevent the corrosion defect, and especially, can be suitably used for the surface covering of the separator for the fuel cell.例文帳に追加

その結果、導電性に優れ、腐食不良を防止でき、特に燃料電池用セパレータの表面被覆に好適に用いることができる。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a multi-layer ceramic shell mold with which in a lost wax casting method, the occurrence of surface defect on a casting product is prevented.例文帳に追加

ロストワックス鋳造法において、鋳造製品の表面欠陥の発生を防止する多層セラミックシェル鋳型の製造方法を提供する。 - 特許庁

To manufacture a semiconductor device, wherein a defect and impurities do not exist in the interface between the gate insulating film and the semiconductor layer, on a substrate having the insulating surface.例文帳に追加

絶縁表面を有する基板上に、ゲート絶縁膜/半導体層界面の欠陥や不純物の無い半導体装置を作成する。 - 特許庁

To correct a defect of a pattern formed on a surface of a resin substrate with high quality by laser beam irradiation without damaging the resin substrate.例文帳に追加

樹脂基板の面上に形成されたパターンの欠陥を樹脂基板にダメージを与えることなく、レーザ光照射により高品位に修正する。 - 特許庁

The defect on the surface of the coating layer appears on an image as an area darker than its periphery, with coaxial epi-illumination by the illumination part 2A.例文帳に追加

照明部２Ａによる同軸落射照明により、コーティング層の表面の欠陥が画像上に周囲より暗い領域として現れる。 - 特許庁

To provide a semiconductor component that can easily come into contact with a termination surface for a test signal from outside when a defect occurs.例文帳に追加

欠陥が発生した場合に、容易に外部からテスト信号のための接続面に接触することができる半導体コンポーネントを提供する。 - 特許庁

The solvent gas evaporated is kept from condensing and getting adsorbed on the film 14 so that the surface defect on the film 14 is prevented.例文帳に追加

バンドからの剥離後、揮発した溶媒が凝集してフィルム１４に吸着することはなくなり、フィルム１４の面状欠陥が防止される。 - 特許庁

To inspect every defect, such as a slip, which occurs in the surface of an object such as a semiconductor wafer using a simple constitution with high accuracy.例文帳に追加

半導体ウェーハ等の物体の表面に生じたスリップ等あらゆる欠陥を簡易な構成で、しかも精度よく検査できるようにする。 - 特許庁

To obtain an image forming apparatus effectively preventing generation of an image quality defect resulting from re-adhesion of shaving power on the surface of an image carrier.例文帳に追加

像担持体表面の削れ粉の再付着に起因する画質欠陥の発生を効果的に防止することのできる画像形成装置を得る。 - 特許庁