「test cards」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

Therefore it is possible to reduce the test costs since probe cards or jigs such as test boards can be made inexpensive, contact is easily achieved to simultaneously test a large number of chips.例文帳に追加

したがって，プローブカードまたはテストボード等の治具を安価にできること，またコンタクトが取りやすく同時に多数のチップをテストできることから，テストコストを低減できる。 - 特許庁

The testing device 100 is equipped with a unit 102 for tests housing a large number of test cards 104.例文帳に追加

試験装置１００は、多数のテスト用カード１０４が収容された試験用ユニット１０２を備える。 - 特許庁

To realize a memory card test device capable of simultaneously inspecting a plurality of memory cards, easy in operation and capable of inspecting a number of the memory cards in a short time.例文帳に追加

複数のメモリカードの検査を同時に行うことができ、操作が容易で、短時間に多数のメモリカードの検査が可能なメモリカード試験装置の実現を課題とする。 - 特許庁

The tester includes a plurality of cards testing the object under test without combination between cards and including a diagnosis means for performing self-diagnosis and a tester controller for controlling the cards.例文帳に追加

本装置は、カード間の組み合わせなく、被試験対象を試験すると共に、自身の診断を行う診断手段を有する複数のカードと、これらのカードの制御を行うテスタコントローラとを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

At the time of conducting a network test on a test server 6, client cards 401-40n inserted into a client control machine 1 load a test application, test data and OS for card, which are stored in a main control part 2, and conduct the communication test on the test server 6 by using the loaded test application and test data executing and loading OS for card.例文帳に追加

試験用サーバ６に対するネットワーク試験を行う際、クライアント制御マシン１内に挿入されているクライアントカード４０_1〜４０_nは、それぞれ主制御部２内に格納されている試験用アプリケーション、試験用データおよびカード用ＯＳをロードして、ロードした該試験アプリケーションおよびそのカード用ＯＳを実行しロードした該試験用データを用いて試験用サーバ６の通信試験を行う。 - 特許庁

To provide an event type test system having a method for accurately and simply controlling the calibration data of all pin cards.例文帳に追加

全てのピンカードの校正データを正確かつ簡単に管理する方法を有するイベント型テストシステムを提供する。 - 特許庁

The test system is provided with a plurality of pin cards each having a plurality of pin units forming part of test channels, nonvolatile memories mounted on the pin cards and storing the calibration data for compensating the error factors of the pin units provided on the pin cards, and microprocessors provided on the pin cards for controlling the calibration data and executing a calibration process for all pin units of corresponding pin cards.例文帳に追加

このテストシステムは、それぞれが上記テストチャンネルの一部を形成する複数のピンユニットを有する複数のピンカードと、その各ピンカードに搭載され、そのピンカードに設けられた上記ピンユニットにおける誤差要因を補償するための校正データを格納するための不揮発性メモリと、その対応するピンカードの全てのピンユニットについて校正データの管理と校正プロセスを実行するために各ピンカードに設けられたマイクロプロセッサとを有する。 - 特許庁

To provide a fluorescent optical station for test sample cards having a plurality of wells where the wells are arranged in a line.例文帳に追加

ウェルを一列に並べて配置された複数個のウェルを有するテスト試料カード用の蛍光光学ステーションを提供する。 - 特許庁

This performance board discrimination device equipped with a test head having a plurality of built-in head mounting cards, and the performance board connected to the test head, is also equipped with a controller for controlling so that the performance board is not locked with the test head, when the connected performance board does not agree with a specification based on a combination of the plurality of head mounting cards built in the test head.例文帳に追加

複数のヘッド実装カードが内蔵されるテストヘッドと、このテストヘッドと接続されるパフォーマンスボートとを備えたパフォーマンスボード識別装置において、 接続された前記パフォーマンスボードが、前記テストヘッドに内蔵された複数の前記ヘッド実装カードの組み合わせに基づく仕様と一致しないときは、前記テストヘッドに前記パフォーマンスボードをロックしないように制御するコントローラを備える。 - 特許庁

A tester part 31 has a testing unit 32 composed of a plurality of cards mounted with an LSI in the same as the inspection object LSI, and electrically connected to the test card by removing one card among these cards, a PC 33 for controlling operation of the testing unit, and a test program 34.例文帳に追加

テスタ部３１は、被検査ＬＳＩと同じＬＳＩが実装されている複数枚のカードから構成され、その中でカード１枚を取り除いてテストカードに電気的に接続されるテスト用ユニット３２と、テスト用ユニットを動作制御するＰＣ３３と、テストプログラム３４を有する。 - 特許庁

To provide a means in which a control apparatus interface can test various channel interface cards by using a common channel interface card tester.例文帳に追加

制御装置側インタフェースが異なる多種の回線インタフェースカードの試験を、共通の回線インタフェースカード試験装置により実行する手段を提供する。 - 特許庁

Since the network test of the test server 6 can be conducted independent of the main control part 2, a load is not given to the main storage bus 24 and multiple client cards 401-40n can be inserted into one client control machine 1.例文帳に追加

主制御部２とは独立して試験用サーバ６のネットワーク試験を実行できるので、主記憶バス２４に負荷がかからず、１台のクライアント制御マシン１に多数のクライアントカード４０_1〜４０_nを挿入できる。 - 特許庁

This IC test device for testing an object to be tested is provided with a plurality of pin electronics cards for giving and receiving signals to and from the tested object, and a daisy chain signal conductor for daisy-chain connecting between the pin electronics cards, thereby performing data transmission.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を試験するＩＣ試験装置において、被試験対象と信号の授受を行う複数のピンエレクトロニクスカードと、このピンエレクトロニクスカード間をディジチェーン接続するディジチェーン信号線とを設け、データ伝送を行うことを特徴とするものである。 - 特許庁

To provide a lamination arrangement device for cards for integrating several functions of treatment of a biological sample with a test sample card and optical reading, into a single automatic sample treating/reading machine.例文帳に追加

テスト試料カードによる生物試料の処理および光学的読みとりの幾つかの機能を単一の自動試料処理／読み取り機会に組み込むカードの積層配置装置を提供する。 - 特許庁

To provide a reinforcing plate for probe cards that can respond to the deformation of a probe card by heat occurring at the test time of a wafer and can keep the interval between a probe and the wafer in an optimum state.例文帳に追加

ウエーハの試験時に発生する熱によるプローブカードの変形に対応し、プローブとウエーハとの間隔を最適な状態に保つことができるプローブカード用補強板を提供することにある。 - 特許庁

A test data pattern is transmitted from the electronic circuit cards 130, 140 to the electronic circuit card 150 at the next stage while changing delay time of the variable delay elements 134, 144 in step to judge propriety of the test data pattern returned from the electronic circuit card 150 at the next stage via a loop return path.例文帳に追加

可変遅延素子１３４、１４４の遅延時間を段階的に変えながら、試験データパターンを電子回路カード１３０、１４０から次段の電子回路カード１５０に送信し、次段の電子回路カード１５０からループリターンパスを経由して返信された試験データパターンの正否を判定する。 - 特許庁

In this semiconductor testing device 100, each limit value is set, corresponding to various states of cards to which each power source section 11, 12, etc., is connected beforehand before a test, and set in each memory 11b, 12b, etc..例文帳に追加

半導体試験装置１００では、試験前に予め電源部１１、１２，・・・が接続されたカードでの様々な状況に対応したリミット値を設定してメモリ１１ｂ、１２ｂ，・・・のそれぞれ毎に設定しておく。 - 特許庁

A sheet member is folded in half, adhered to be torn off, odor components used for an olfaction test are adhered to one of the inner surface, answer columns describing a plurality of alternatives including a correct answer are formed to the other of the inner surface, olfaction test cards describing signs expressing what odor component the test is for is formed for every odor component on one or both of the inner surface.例文帳に追加

シート材を二つ折りして引き剥がし可能に貼着させ、内面の一方には嗅覚検査に用いるニオイ成分を付着させ、内面の他方には正解を含む複数の選択肢を記載した回答欄を形成し、内面の一方又は両方にはどのニオイ成分に関する検査であるかを表す記号を記載した嗅覚検査カードをニオイ成分毎に形成する。 - 特許庁

(2) Individuals who intend to fell or remove obstacles or to conduct test drilling etc. pursuant to the provisions of paragraph (1), Article 26 must carry identification cards and written permission from the Mayors of the municipalities or the Prefectural governors. 例文帳に追加

２　前条第一項の規定により障害物を伐除しようとする者又は土地に試掘等を行なおうとする者は、その身分を示す証明書及び市町村長又は都道府県知事の許可証を携帯しなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

A prober device 20 includes a first probe card 21, a second probe card 22, first and second test heads 23 and 24 mounted with the probe cards 21 and 22 respectively, a stage 26 on which the semiconductor chip 11 is mounted, a stage driving mechanism 27, and a housing 28.例文帳に追加

プローバ装置２０は、第１プローブカード２１、第２プローブカード２２、プローブカード２１，２２がそれぞれ装着される第１及び第２テストヘッド２３，２４、半導体チップ１１を載せるステージ２６、ステージ駆動機構２７、筐体２８を備えている。 - 特許庁

Since only one of the large number of test cards 104 is selected by switching in a switch section 128, on the occasion of connection using the RS232C, processing such as debugging or the like can be easily performed without providing wiring conductors around inside a case.例文帳に追加

ＲＳ２３２Ｃを用いた接続に際して、多数のテスト用カード１０４のうち１枚のみがスイッチ部１２８の切り換えによって選択されるので、筐体内に配線を引き回すことなくデバッグ等の処理を容易に行うことができる。 - 特許庁

Thereby, since all the processes to be performed up to the bump formation can be implemented in a fab line, the problems of contamination etc. will not occur; and tests for electrical characteristics can be preformed, using inexpensive probe cards by using the bumps for testing as test objects.例文帳に追加

これにより、バンプ形成までの全ての過程がファブライン（ｆａｂ ｌｉｎｅ）で成されるため、汚染などの問題が発生せず、テスト用バンプをテスト対象にすることによって、低廉なテスト用プローブカードを用いて電気的な特性テストを遂行することができる。 - 特許庁

An IC card carrying part 22 is operated in this state, a card supplying part 21 successively takes out the cards 60, stops them in the area 24, and a communication test with the reader/ writer 31 and initial data writing for card issuing are performed.例文帳に追加

この状態でＩＣカード搬送部２２が稼働され、カード供給部２１よりＩＣカード６０が順次取り出されて、発行処理領域２４で停止され、リード／ライタ装置３１との間で通信テストおよび、カード発行のための初期データの書き込みが行われる。 - 特許庁

To provide a communication apparatus capable of preventing the test period of a semiconductor from becoming longer by adding a function of pseudo multicast transfer to an end point of PCI-Express, for performing pseudo multicast transfer when a controller of a semiconductor test device transmits the same data to a plurality of cards, for shortening transfer time of data.例文帳に追加

本発明は、ＰＣＩ−Ｅｘｐｒｅｓｓのエンドポイントに擬似的なマルチキャスト転送の機能を付加し、半導体試験装置におけるコントローラ等が複数のカードに同一のデータを送信する際に、擬似的なマルチキャスト転送を行ってデータの転送時間を短縮することにより、半導体の試験時間の増大を防ぐことのできる通信装置を実現することを目的とする。 - 特許庁

Prior to loading an application onto an IC card, a test is conducted to determine if the card is qualified to receive the application using personalization data stored on the card and comparing it with permissions data associated with the application indicating one or more sets of cards upon which the application can be loaded.例文帳に追加

ＩＣカードにアプリケーションをロードする前に、テストが行われ、カードに記憶された個人登録データを用い、且つ、その個人登録データと、アプリケーションがロードされ得るカードの１つ以上の組を示す、アプリケーションに関連する許可データと、を比較して、カードが、アプリケーションを受け取るのに適しているかどうかを判定する。 - 特許庁

In the multi-application IC card system including selective application loading and deleting capability, prior to loading an application onto an IC card, a test is conducted to determine whether or not the card is qualified to receive the application using personalization data stored on the card and comparing it with permission data associated with the application indicating one or more sets of cards upon which the application may be loaded.例文帳に追加

性能をローディングおよび削除する選択的なアプリケーションを有するマルチアプリケーションＩＣカードシステムは、ＩＣカード上へアプリケーションをロードする前に、カード上に格納されたパーソナル化データを使用し、かつ、アプリケーションをロードし得る１つ以上のカードのセットを示すアプリケーションに付随する許可データと比較する、アプリケーションをカードが受け取る資格があるかどうか判定するテストが行われる。 - 特許庁