「test terminal」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

First, a test voltage is established on the signal terminal through the output buffer from a boundary scan resistor.例文帳に追加

まず、バウンダリスキャンレジスタから出力バッファ回路を通じて信号端子にテスト電位の設定を行う。 - 特許庁

To correctly carry out alignment of a testing pin with a terminal of a measured device, in an electrostatic breakdown test.例文帳に追加

静電破壊試験において被測定デバイスの端子と試験用ピンとの位置合わせを正確に行う。 - 特許庁

A selector 13 is switched correspondingly to a test mode selection signal inputted to an input terminal 11e.例文帳に追加

セレクタ１３は、入力端子１１ｅに入力されるテストモード選択信号に対応して切り替わる。 - 特許庁

A second test switch SWt2 is provided between the second input terminal 17 and the second inspection pad PAD2.例文帳に追加

第２テストスイッチＳＷｔ２は、第２入力端子１７と第２検査パッドＰＡＤ２間に設けられる。 - 特許庁

Preferably, the first operation mode is a terminal test mode, and the second operation mode is a normal operation mode.例文帳に追加

好ましくは、第１の動作モードは、端子試験モードであり、第２の動作モードは、通常動作モードである。 - 特許庁

In a load test terminal 140, a virtual client is created for each of users designated on the load test terminal 140 by using the load test data 142 distributed from the GW server 120; and to the GW server 120, a request is made which is identical to a request transmitted from the client terminal 100 during the normal operation.例文帳に追加

負荷試験端末１４０には、ＧＷサーバ１２０から配信された負荷試験データ１４２を利用して、負荷試験端末１４０上で指定されたユーザ数分の仮想クライアントを生成し、ＧＷサーバ１２０に対して通常運用時のクライアント端末１００から送信される要求と同様の要求を行う。 - 特許庁

The relaying device 11 is provided with a test use connection terminal 15, to inspect the sensor 18.例文帳に追加

中継器１１には、試験用の接続端子１５が設けられ、センサ１８の点検を行うことができる。 - 特許庁

Delay pulse width is adjusted in accordance with voltage of the second power source terminal Vcc2 and an operation test is performed.例文帳に追加

第２の電源端子Ｖｃｃ２の電圧に応じて遅延パルス幅を調整して動作テストを行う。 - 特許庁

The circuit is also provided with an additional test terminal 13 coupled with the capacitive node.例文帳に追加

上記回路はまた、上記内部容量ノードに結合された追加的な試験端子１３を有している。 - 特許庁

Thereby, test results of respective memories can be output to the outside by only one external output terminal.例文帳に追加

これにより、１つの外部出力端子のみで各メモリのテスト結果を外部へ出力することができる。 - 特許庁

This semiconductor integrated circuit incorporates a test circuit testing operation of a non-volatile memory, while the device has an output terminal outputting a test result and an operation terminal indicating operation control of the test circuit, and the device can indicate the number of write-in of the non-volatile memory, a write region, and write data from the operation terminal.例文帳に追加

不揮発性メモリの動作を試験する試験回路を内蔵すると共に、試験結果を出力する出力端子と、試験回路の動作制御を指示する操作端子を有し、その操作端子から不揮発性メモリの書き込み回数、買い込み領域及び書き込みデータを指示できる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

WIRELESS COMMUNICATIONS SYSTEM AND TEST METHOD THEREOF, AND ACCESS TERMINAL FOR TESTING THE WIRELESS COMMUNICATIONS SYSTEM例文帳に追加

無線通信システム、および、その診断方法、ならびに、無線通信システムの診断に用いる無線端末 - 特許庁

To enable a subscriber terminal to start a loopback test that an ISDN exchange loops back a signal to a subscriber.例文帳に追加

ISDN交換機で信号を加入者に折り返すループバックテストを、加入者端末から起動可能とする。 - 特許庁

The diode 20 has an anode connected to the test fuse terminal 14 and a cathode connected to the metal fuse 12.例文帳に追加

ダイオード２０は、アノードがテストヒューズ端子１４に接続され、カソードがメタルヒューズ１２に接続されている。 - 特許庁

To efficiently demodulate data subjected to spread spectrum of a data channel in a test of a mobile terminal.例文帳に追加

移動体端末の試験において、データチャネルのスペクトラム拡散されたデータを効率的に復調する。 - 特許庁

The electronic voting terminal is also provided with a bar code reader 19 for reading a bar code in a test print pattern to perform automatic collation.例文帳に追加

またテスト印字パターン中のバーコードを読み込んで自動照合するバーコードリーダ１９を備える。 - 特許庁

The output section of an inverter circuit is provided with a switch circuit T, a terminal Vtest for test upon which an arbitrary voltage is impressed for monitoring the electric current flowing to the terminal Vtest, and an output terminal OUT.例文帳に追加

インバータ回路の出力部には、スイッチ回路Ｔと、任意の電圧を印加し且つそこに流れる電流をモニタするためのテスト用端子Ｖ_testと、出力端子とが設けられている。 - 特許庁

To provide a printer which can suppress a test printing time and an increase of consumption of printing sheets without requiring fixed form printing control exclusive for test printing in the case of carrying out test printing of fixed form printing, and to provide a printing method of test printing and a POS terminal device.例文帳に追加

定形印刷のテスト印刷を実行する場合に、テスト印刷専用の定形印刷制御を必要とせず、テスト印刷時間と印刷用紙の消費の増加とを抑制できる、印刷装置、テスト印刷の印刷方法、及びＰＯＳ端末装置を提供する。 - 特許庁

A test program control part 4 translates commands of the test program and outputs a change request signal including a change parameter after the change and an input terminal of a change target to a test parameter control part 5 when the change of the parameter value of a test signal is requested.例文帳に追加

試験プログラム制御部4は、試験プログラムのコマンドを翻訳し、試験信号のパラメータ数値の変更を要求している場合、変更対象の入力端子と、変更後の変更パラメータとを含む変更要求信号を試験パラメータ制御部5に出力する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test circuit for remarkably reducing an amount of a scanning test pattern and shortening a full scanning test time by modifying the constitution of an inside scanning chain at any time without increasing a test terminal and remarkably shortening a once-scanning shift action period in an LSI full scanning design, and to provide its test method.例文帳に追加

ＬＳＩのフルスキャン設計において、テスト端子を増加させずに、内部スキャンチェーンの構成を随時変更し、１回のスキャンシフト動作期間の大幅な短縮を行うことで、スキャンテストパターン量の大幅な削減とフルスキャンテスト時間の短縮を可能とする半導体テスト回路及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

An apparatus 1 for network band estimation receives through the network a test packet which a test packet transmitting terminal 2 has inserted a timestamp into and transmitted, estimates the loaded condition of the network from the state of the test packet delay.例文帳に追加

試験パケット送信端末２がタイムススタンプを挿入して送出した試験パケットをネットワークを介してネットワーク帯域推定装置１が受信し、試験パケットの遅延状態からネットワークの負荷状態を推定する。 - 特許庁

According to this constitution, the test result of the semiconductor chip can be transferred the adjacent semiconductor chip sequentially, and therefore the test results of all the semiconductor chips can be outputted from the test result output terminal of one semiconductor chip.例文帳に追加

これにより、半導体チップの試験結果を隣接する半導体チップに順次に転送できるため、全ての半導体チップの試験結果を１つの半導体チップの試験結果出力端子から出力できる。 - 特許庁

As a sample, test terminals 15 and 17 are provided at substrate terminal parts for each substrate 11 and 12, electrodes 13 and 14 connected to the test terminals for each substrate are electrically connected to apply the electrical signal between the test terminals.例文帳に追加

一例として、基板端部に各基板１１、１２毎にテスト用端子１５、１７を設け、各テスト用端子に各基板毎に接続した電極１３、１４を電気的に接続し、テスト用端子間に電気信号を送る。 - 特許庁

An inspection circuit 2 has a resistance group 5 connected with bonding parts (a2, a4, a6, a8, b1, b3, b5, b7), between a test terminal and an adjacent terminal of an IC package on the circuit board 1, and a test electrode and an adjacent electrode on a printed wiring board.例文帳に追加

検査回路２は、回路基板１の、ＩＣパッケージのテスト端子及び隣接端子と、プリント配線基板のテスト電極及び隣接電極との接合部（ａ２，ａ４，ａ６，ａ８，ｂ１，ｂ３，ｂ５，ｂ７）に接続される抵抗群５を有する。 - 特許庁

In this constitution, an interposer having a connection terminal is interposed between the inspecting object 1 and the test substrate, and the inspecting object 1 is also allowed to be connected to the test substrate 2 via the connection terminal.例文帳に追加

また、上記構成において、被検査体１と試験基板の間に、接続端子を有するインターポーザを介在させ、この接続端子を介して被検査体１と試験基板２を接続するようにしてもよい。 - 特許庁

The contact pin 1 is adapted to contact with each IC terminal of IC sockets to be used for a burn-in test, and electrically connects each of the IC terminal with a substrate mounting the IC socket for the burn-in test.例文帳に追加

このコンタクトピン１をバーンイン試験のための使われるＩＣソケットのＩＣの各端子に対応して装着し、ＩＣの各端子とバーンイン試験にためのＩＣソケットを搭載した基板との電気的接続を行う。 - 特許庁

To derive a test terminal from a voltage-dividing point of a capacitor bushing or the like, monitor the capacitance value measured between the test terminal and the ground, decide on the grounding condition of a power instrument, and indicate the grounding condition.例文帳に追加

コンデンサ形ブッシング等の分圧点からテスト端子を引き出し、テスト端子−対地間で計測される静電容量値を監視して、電力機器の接地状態を判定し、その接地状態を表示する。 - 特許庁

A first connection is formed between the test data input terminal TDI and the boundary scanning route input, and a second connection is formed between the test data output terminal TDO and the boundary scanning route output.例文帳に追加

第１の接続がテストデータ入力端子（ＴＤＩ）と境界走査径路入力との間に形成され、また第２の接続がテストデータ出力端子（ＴＤＯ）と境界走査径路出力との間に形成される。 - 特許庁

To provide a test socket capable of positioning a solar cell module of a different size such that a test terminal Pa of the solar cell module is opposite to a contact terminal 110d formed on a mounting surface 110a of a socket body.例文帳に追加

テストソケットにおいて、サイズの異なるソーラーセルモジュールを、そのテスト端子Ｐａがソケット本体の載置面１１０ａに形成されたコンタクト端子１１０ｄに対向するよう位置決めすることを可能とする。 - 特許庁

A test operation is designated by a switching signal NR/TE, to thereby switch transfer switches 3-7 to the terminal T side, and a test mode A is designated by the switching signal TA/TB, to thereby switch a transfer switch 8 to the terminal A side.例文帳に追加

切替信号ＮＲ／ＴＥでテスト動作を指定して切替スイッチ３〜７を端子Ｔ側に切り替え、切替信号ＴＡ／ＴＢでテストモードＡを指定して切替スイッチ８を端子Ａ側に切り替える。 - 特許庁

A control CPU 1 inputs a test signal to the board under test 2 through a distribution circuit 10 from a JTAG-standard-ready SDI terminal and inputs a signal from a jig 3 from its SDO terminal.例文帳に追加

制御ＣＰＵ１は、試験信号を、ＪＴＡＧ規格に対応したＳＤＩ端子から分配回路１０を介して被検査基板２に入力し、治具３からの信号をＳＤＯ端子から入力する。 - 特許庁

To provide a mobile terminal testing device which enables the test time for testing a transmission power control function of a mobile terminal to be shortened.例文帳に追加

移動端末機の送信電力制御機能を試験する際に、試験時間を短縮することができる移動端末機試験装置を提供する。 - 特許庁

The test jig 6 has a first adaptor board 6a connected to the first connection terminal 411, and a second adaptor board 6b connected to the second connection terminal 421.例文帳に追加

試験治具６は、第１接続端子４１１に接続する第１アダプタ板６ａと、第２接続端子４２１に接続する第２アダプタ板６ｂと、を有する。 - 特許庁

The test system 100 includes a server device 110, the transmission-side terminal unit 120, and the reception-side terminal unit 130 that are connected via a communication line.例文帳に追加

試験システム１００は、通信回線を介して接続された、サーバ装置１１０、送信側端末装置１２０、及び、受信側端末装置１３０を含む。 - 特許庁

To perform the test of normality of a subscriber line, without operating a terminal for 'no ringing' communication service and without ringing a subscriber terminal.例文帳に追加

ノーリンギング通信サービス用端末を動作させることなく、また、加入者端末を鳴動させることなく加入者線路の正常性の試験を行う。 - 特許庁

The terminal (i) encrypts authentication answer information Dr_i generated from the authentication test information Dc_j using the encryption key Ka_j and transmits the information to the terminal (j).例文帳に追加

端末ｉは、認証試験情報Ｄｃ＿ｊから生成した認証回答情報Ｄｒ＿ｉを暗号キーＫａ＿ｊで暗号化して端末ｊに送信する。 - 特許庁

Then, a terminal of an inspection probe is made to contact the test terminal 111, and the display inspection is carried out en bloc in the state of the large panel structure 150 as it is.例文帳に追加

そして、テスト端子１１１に検査用プローブの端子を接触させ、大型パネル構造体１５０のままの状態で表示検査を一括して行う。 - 特許庁

To provide a method for forming a terminal via on a semiconductor substrate so that a metallic conductor in a test block can be prevented from being damaged in an etching process.例文帳に追加

試験区域の金属導線がエッチングの過程において破損しないよう、半導体基板上に端末バイア（terminal via) を形成する方法を提供すること。 - 特許庁

A terminal of the chip 112 and a terminal of the test circuit 511 are connected by wiring of a device on the wafer or outside the wafer.例文帳に追加

具体的には、ウェハ上に複数チップをテストするための共用可能なテスト回路専用領域を形成し、各チップ１１２内からテスト回路を除去する。 - 特許庁

A sender terminal A transmits a test signal to a destination terminal B prior to transmission of a voice signal, and a control section 25 being a transmission error count means of the destination terminal B counts the number of produced transmission errors of the test signal.例文帳に追加

音声信号の送信に先立って送信元の端末装置Ａから送信先の端末装置Ｂに対して試験信号が送信され、送信先の端末装置Ｂで試験信号の伝送エラーの発生数を伝送エラーカウント手段たる制御部２５でカウントする。 - 特許庁

This has no need of providing any separate test terminal but only needs to connect an input/output contact 13a of the apparatus 4 under test to connection terminals 13 of the bridge circuit 2.例文帳に追加

さらに、診断対象機器４の入出力接点１３ａをブリッジ回路２の接続端子１３に接続するのみで、別途試験端子を設ける必要がない。 - 特許庁

To improve furthermore electric connection between an external terminal and a test printed circuit, in a test socket applied for a BGA, CSP (FBGA) package-type IC device.例文帳に追加

ＢＧＡ，ＣＳＰ（ＦＢＧＡ）パッケージ型のＩＣデバイスに適用される試験用ソケットにおいて、外部端子と試験用プリント回路との間の電気的接続を更に向上する。 - 特許庁

This eliminates the need of a plurality of scenarios to enable the Web application function test terminal 1 to execute a multiple Web application function test despite a low throughput.例文帳に追加

よって、複数のシナリオが必要なく、Webアプリケーション機能試験端末１の処理能力が低くてもWebアプリケーション機能試験を多重化して実施することができる。 - 特許庁

The protective cover 5 is formed so that, when the test plug body 30 is fitted thereto by insertion, its opening part 51 on the plug part side is brought into contact with the vicinity of the test terminal port 10.例文帳に追加

保護カバー５は、テストプラグ本体５０が挿入嵌合された場合に、テスト端子口１０近傍にそのプラグ部側開口部５１が当接するように形成される。 - 特許庁

To easily and reliably prevent a failure caused by insertion and ejection to and from a test terminal, and to improve safety in various kinds of work for a test plug.例文帳に追加

試験端子に対する挿抜にともなう不具合の発生を容易かつ確実に防止するとともに、試験プラグにかかわる各種作業における安全性の向上を図ること。 - 特許庁