「test terminal」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

Lands of patterns corresponding to a connecting terminal arrangement of the IC device are respectively formed on both faces of the socket board for the test.例文帳に追加

テスト用ソケットボードの両面にＩＣデバイスの接続端子配列に応じたパターンのランドをそれぞれ形成する。 - 特許庁

To increase reliability in electrical continuity between a connection pad of a head slider and a connection terminal of a suspension in a test of the head slider.例文帳に追加

ヘッド・スライダのテストにおいて、ヘッド・スライダの接続パッドとサスペンションの接続端子との導通の信頼性を高める。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for a performance test of a mobile terminal with a global positioning system packaged therein.例文帳に追加

本発明は、位置追跡システムが搭載された移動端末機の性能テスト方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

A mobile terminal apparatus 2 acquires the test results stored in the measuring instrument 1 via wireless communication with the measuring instrument.例文帳に追加

携帯端末装置２は、測定器１に保存された試験結果を、測定器との間の無線通信を介して取得する。 - 特許庁

Generated authentication test information Dc_j is then encrypted using the encryption key Ka_i and redirected to the terminal (i).例文帳に追加

そして、生成した認証試験情報Ｄｃ＿ｊを、この暗号キーＫａ＿ｉで暗号化して端末ｉへ返送する。 - 特許庁

A flip flop 21 is provided to store a test data output from the circuit 2 toward the bidirectional terminal.例文帳に追加

組み合わせ回路２から双方向端子に向けて出力されるテストデータを記憶するフリップフロップ２１が設けられている。 - 特許庁

An input buffer 12 outputs an output of the phase comparing circuit to a data output terminal in a test mode.例文帳に追加

入出力バッファ１２はテストモードにおいて位相比較回路１８の出力をデータ出力端子に出力する。 - 特許庁

To supply a program code input from a single terminal to a plurality of BIST (Built-In Self Test) circuits in parallel.例文帳に追加

単一の端子から入力したプログラムコードを複数のＢＩＳＴ（組み込み自己テスト）回路へ並列に供給する。 - 特許庁

The result of the response to the response packet of the communication function which is the test subject is recorded to the 2nd terminal device 20.例文帳に追加

試験対象の通信機能がこの応答用のパケットに対処した結果は、第２の端末装置２０に記録される。 - 特許庁

Respective connection lines 31 of a cable 30 for the test are connected to a base part of a fixed terminal tube 21 for the connection terminals.例文帳に追加

各接触端子の固定端子管２１の基部には試験用ケーブル３０の各接続線３１が接続されている。 - 特許庁

Further, the information terminal machine 4 displays an evaluation chart of the test result in an evaluation picture 60 with an 'evaluation' button 34.例文帳に追加

また、情報端末機４は「評価」ボタン３４により、評価画面６０上に試験結果の評価チャートを表示する。 - 特許庁

Further, a command regarding a test of hardware is inputted from the PC terminal 11 and even a check on the hardware can be made.例文帳に追加

また、ＰＣ端末１１よりハードウェアのテストに関するコマンドを入力し、ハードウェアのチェックを行うこともできる。 - 特許庁

The output impedance of the semiconductor device at the terminal for test is matched to the impedance of a transmission system at testing time.例文帳に追加

試験用端子における半導体デバイスの出力インピーダンスを、試験時の伝送系のインピーダンスにマッチングさせる。 - 特許庁

To provide a monitoring control system capable of performing monitoring control processing by an existing terminal, even during test processing.例文帳に追加

試験処理中でも、既設の端末による監視制御処理を実行できる監視制御システムを提供することにある。 - 特許庁

In the 2nd terminal device 2, a 2nd test program 2 is installed and exclusive hardware, firmware and software are integrated.例文帳に追加

第２の端末装置２には、第２のテストプログラム２がインストールされ、専用のハードウエア，ファームウエア，ソフトウエアが組み込まれる。 - 特許庁

To easily and accurately realize a communication test between terminal offices to each other and to easily grasp fault occurrence.例文帳に追加

端局間同士の通信試験を簡易で、正確に実現することを可能にし、障害発生の把握を容易にする。 - 特許庁

Thereafter, the test output data in the FIFO memory 2 are read out after returning to the test mode A, and outputted from an output terminal 12, and the data are compared with expected value data, to thereby determine acceptance.例文帳に追加

その後、テストモードＡに戻し、ＦＩＦＯメモリ２のテスト出力データを読み出して出力端子１２から出力し、これを期待値データと比較して合否を判定する。 - 特許庁

A tri-state input/output buffer having small drive capacity and a test control circuit for controlling the entire test are provided in parallel at an input/output terminal under normal use of an integrated circuit.例文帳に追加

集積回路の通常使用されている入出力端子に、並列にドライブ能力の小さいトライステート入出力バッファーを設け、テスト全体を制御するテスト制御回路を設ける。 - 特許庁

To provide a network quality test system in which a user can be speedily notified about a result of a communication quality test on a network in response to an inquiry from a user terminal on the network.例文帳に追加

ネットワークのユーザ端末からの問い合わせに対して、ネットワークの通信品質試験の結果を迅速にユーザに通知することを可能にするネットワーク品質試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide an electronic apparatus which includes ground terminal stage for efficiently performing an insulation resistance test and a withstand voltage test, for an electric component in a case, with no fear of electric shock.例文帳に追加

筐体内の電気部品について、感電の恐れなく能率的に絶縁抵抗試験および耐電圧試験を行うことができるアース端子台を備える電子機器を提供する。 - 特許庁

One radio base station transmits a test connection request together with information of an adjacent base station to be a test target to a mobile terminal existing in the area of a radio propagation section of the radio base station.例文帳に追加

一の無線基地局からその無線基地局の無線伝播区間に在圏する移動端末に、試験対象とする隣接基地局の情報とともに試験接続要求を送る。 - 特許庁

The information processor grasps the number of vehicles entering a test course based on vehicle position data transmitted from on-vehicle terminal equipment mounted on each of test vehicles.例文帳に追加

情報処理装置は、各試験車両に搭載された車載端末機から送信された車両位置データに基づいてテストコース内に入場している入場台数を把握する。 - 特許庁

To simplify a noise test capable of preventing surely breakage of an internal unit even when insulation between a noise application terminal of a device to be tested and the internal unit is imperfect, and having many test patterns.例文帳に追加

被試験装置のノイズ印加端子と内部ユニットとの間の絶縁が不完全な場合にも内部ユニットの破損を確実に防止でき、しかも試験パターンの多いノイズ試験を簡易にする。 - 特許庁

Test transmission between a mobile user terminal and base station antennas is made, the received test transmission is processed to determine respective signal path quality for each of the base station antennas.例文帳に追加

モバイル・ユーザ端末と基地局アンテナの間のテスト送信が行われ、受信されたテスト送信が処理されて、基地局アンテナの各々のための各信号パス品質が決定される。 - 特許庁

A single loop is formed allowing the test signal generated by the control CPU 1 to be input to the SDO terminal of the control CPU 1 through the board under test 2 and the jig 3.例文帳に追加

制御ＣＰＵ１で発生した試験信号が被検査基板２、治具３を経由して制御ＣＰＵ１のＳＤＯ端子に入力されて一巡する単一ループが形成される。 - 特許庁

When the functional operation of the semiconductor circuit 30 itself is to be tested, the test data is fed to an input terminal TDI, and a test control signal is fed to control terminals TCK and TMS, and TRST.例文帳に追加

半導体テスト回路３０自体の機能動作をテストする場合、テストデータを入力端子ＴＤＩに入力すると共に、テスト制御信号を制御端子ＴＣＫ，ＴＭＳ，ＴＲＳＴに入力する。 - 特許庁

In the Web application function test terminal 1, a function test part 15 sends user event information in scenario information in one scenario recorded in a scenario recording part 13 to a plurality of Web browsers 11.例文帳に追加

Webアプリケーション機能試験端末１では、機能試験部１５が、シナリオ記録部１３に記録された１つのシナリオのシナリオ情報のユーザイベント情報を複数のWebブラウザ１１に送信する。 - 特許庁

An ordinary external input terminal 1 is used in common for a test mode setting terminal, and a flip-flop 4 with LOAD/HOLD for controlling LOAD/HOLD operation by a reset signal RST is provided.例文帳に追加

通常外部入力端子１をテストモード設定用端子と共用し、リセット信号ＲＳＴにてLOAD/HOLD動作の制御が行われるLOAD/HOLD付きフリップフロップ４を設ける。 - 特許庁

A pin 28 for the conducting test is inserted through the through hole 14 in a state that the housings 4, 12 are half-fitted and the terminal fitting 5 and the crimp terminal 8 are connected.例文帳に追加

ハウジング４，１２同士が半嵌合で端子金具５と圧接端子８とが接続した状態で貫通孔１４を通して導通検査用のピン２８を挿入する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which a terminal for setting a test mode can be shared with a terminal used at normal operation.例文帳に追加

端子の寄生容量を少なく保ちつつ、テストモード設定のための端子を通常動作時に使用する端子と兼用することができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

The tester 100 has input ports 105, 115 having an input terminal for receiving test signals from a probe 300 and a power output terminal for feeding power, respectively.例文帳に追加

試験機器１００の入力ポート１０５、１１５の各々は、プローブ３００からの試験信号を受ける入力端子と、電力を供給する電源出力端子を有する。 - 特許庁

This medical network system 5 is constituted of a test request accepting server 8, a terminal unit 10 in the department of medical examination and treatment, an image server 11, a report server 12, a terminal unit 13 for preparing a report, and a LAN 14.例文帳に追加

医用ネットワークシステム５は、検査依頼受付サーバ８、診療科端末１０、画像サーバ１１、レポートサーバ１２、レポート作成端末１３、ＬＡＮ１４とからなる。 - 特許庁

This device is provided with a power source line 34 supplying a power source to a test circuit 24 other than a power source 36 supplying a power source to a memory 30 and a terminal 20, and a terminal 2.例文帳に追加

メモリ３０に電源を供給する電源線３６および端子２０とは別にテスト回路２４に電源を供給する電源線３４および端子２を設ける。 - 特許庁

To discover fault or abnormality in a terminal connected to a network, especially, the abnormality of hardware without directly touching the terminal by using a terminal provided with an Ethernet(R) interface having a test function for the terminal in a network system.例文帳に追加

テスト機能を有すイーサネット（登録商標）インタフェースを備えた端末をネットワークシステムの端末に用い、ネットワークに接続する端末の故障や異常、特にハードウェアの異常を、端末に直接触ることなく発見できるようにすること。 - 特許庁

When data for test print are transmitted from the terminal T1-T2, a control unit 19 of the image forming apparatus 10 stores in a storage unit 14 terminal data (IP address, terminal name and the like being set to the terminal) to be transmitted together with the data.例文帳に追加

画像形成装置１０の制御部１９は、端末Ｔ１〜Ｔ２からテスト印刷用のデータが送信されてきたときに、そのデータとともに送信される端末データ（端末に設定されるＩＰアドレス、端末名等）を記憶部１４に記憶する。 - 特許庁

The multi-chip package 1 has integrated circuits IC1, IC2 including an internal cell which is a test object, and IC1 has an internal input terminal 7A connected to the external terminal 8A for the test, a separation multiplex circuit 5 connected thereto, and a scanning control circuit 3 for controlling a scan path test signal in the internal cell.例文帳に追加

マルチチップパッケージ１は、テスト対象となる内部セルを含む集積回路ＩＣ１、ＩＣ２を有し、ＩＣ１は、テスト用外部端子８Ａに接続された内部入力端子７Ａ、これに接続された分離多重回路５、及び内部セルのスキャンパステスト信号を制御するスキャン制御回路３を有する。 - 特許庁

When the value of the D flip flop 5 of the poststage is compared to be a high level or not by a test data output terminal 8, it can be discriminated whether the delay component 6 is larger than that of a test period, and the delay characteristic of a semiconductor integrated circuit can be guaranteed regardless of the outer load of the test data output terminal 8.例文帳に追加

よって、後段のＤフリップフロップ５の値をテストデータ出力端子８でハイレベルか否かを比較すれば、遅延成分６がテスト周期よりも遅延成分が大きいか否かを判別でき、かつテストデータ出力端子８の外部負荷によらず半導体集積回路の遅延特性を保証することが可能である。 - 特許庁

The drive ability of the tristate buffer 120 is set so as to provide a propagation delay time such that the scan test data outputted from the QT terminal is propagated to the scan test data input terminal DT of a scan test flip-flop circuit of the next stage and satisfactorily fetched and held therein as desired.例文帳に追加

このトライステートバッファ１２０の駆動能力は、ＱＴ端子から出力されるスキャンテスト用データが次段のスキャンテスト用フリップフロップ回路のスキャンテスト用データ入力端子ＤＴに伝播されて所期通り良好に内部に取り込まれ、保持されるような伝播遅延時間となるような駆動能力に設定される。 - 特許庁

The design support server 3 receives actual measurement data from the terminal 1 of the person in charge of design about a test indicated by the read test information, determines whether the actual measurement data satisfies an acceptability criterion by comparing the actual measurement data with acceptability criteria data included in the read test information and transmits a determination result to the terminal 1 of the person in charge of design.例文帳に追加

設計支援サーバ３は、読み出した試験情報が示す試験について、実測値データを設計担当者端末１から受信し、読み出した試験情報に含まれる合格基準データと比較して、実測値データが合格基準を満たすかを判定し、判定結果を設計担当者端末１に送信する。 - 特許庁

When a communication terminal 100 making a speech transmits a predetermined test wave to a relaying apparatus 200 for relaying the speech and receives the test wave returned from the relaying apparatus 200, the communication terminal calculates a comparison result between the test wave at transmission and the test wave at reception on the basis of a predetermined criterion and adjusts a level of speech voice on the basis of the comparison result.例文帳に追加

通話を行う通信端末１００が、通話を中継する中継装置２００に予め定められた試験波を送信し、中継装置２００から返送された試験波を受信したときに、予め定められた基準に基づいて、送信時の試験波と受信した試験波との比較結果を算出し、比較結果に基づいて通話音声のレベルを調整する。 - 特許庁

The semiconductor device includes a SRAM 12 being a test object circuit, an input terminal 13 to which a tester clock signal Tc1 is input from the outside, a BIST circuit 11 performing a logical test of the SRAM 12 for each cycle of the tester clock signal Tc1, and an output terminal 15 outputting a test result signal Ts indicating a test result in the BIST circuit 11 to the outside.例文帳に追加

テスト対象回路であるＳＲＡＭ１２と、外部からテスタクロック信号Ｔｃｌを入力する入力端子１３と、テスタクロック信号Ｔｃｌのサイクル毎にＳＲＡＭ１２の論理的なテストを行うＢＩＳＴ回路１１と、ＢＩＳＴ回路１１におけるテスト結果を表すテスト結果信号Ｔｓを外部に出力する出力端子１５と、を備える。 - 特許庁

As for the question, a user selects one piece of music from among a plurality of test listening pieces of music, and when a test listening piece button 104a on a screen is operated, the test listening piece corresponding to the operation is transmitted to the terminal unit from the server device.例文帳に追加

この質問は、複数の試聴曲の中から一つの曲をユーザが選択するものであり、画面上の試聴曲ボタン１０４ａが操作されると、同操作に対応した試聴曲がサーバ装置から端末装置に送信される。 - 特許庁

The test pattern input from and output to an inter-chip connection pad of the semiconductor chip to be made an object of a functional test is generated by using a boundary scan of another semiconductor chip, and is composed with the test pattern input from and output to the pad connected to the external terminal.例文帳に追加

他の半導体チップのバウンダリスキャンを用いて機能テストの対象とする半導体チップのチップ間接続パッドから入出力されるテストパターンを生成し、外部端子に接続されるパッドから入出力されるテストパターンと合成する。 - 特許庁

A test point 116 connected to the VCC land 121 and a test point 111 connected to the VCC terminal 161 are arranged on the side faces of the intermediation board, an anmeter is inserted across the test points, and the power consumption of the IC package 30 is measured.例文帳に追加

ＶＣＣランド１２１と接続されるテストポイント１１６、及び、ＶＣＣ端子１６１と接続されるテストポイント１１１とを中継端子の側面に配置し、このテストポイント間に電流計を挿入し、ＩＣパッケージ３０の消費電流を測定する。 - 特許庁

SCENARIO EDITING APPARATUS, DUMMY BASE STATION TEST SIMULATOR FOR WIRELESS COMMUNICATION, DUMMY TERMINAL TEST SIMULATOR FOR WIRELESS COMMUNICATION, SCENARIO EDITING METHOD, TEST PROCESSING METHOD, COMPUTER READABLE STORAGE MEDIUM WITH PROGRAM STORED THEREON, AND PROGRAM例文帳に追加

シナリオ編集装置および無線通信用擬似基地局試験シミュレータおよび無線通信用擬似端末試験シミュレータおよびシナリオ編集方法および試験処理方法およびコンピュータが読み取り可能なプログラムを格納した記憶媒体およびプログラム - 特許庁