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test terminalの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1197件
The anticipated disorder found in the test in an N board is reported as a test disorder information, to the manufacture terminal computer 6 through the control host computer 4 (S30, S26), and the reported test disorder information is displayed and printed as an own process responsible disorder information (S18).例文帳に追加
N台の検査で発見された予想不具合は、検査不具合情報として管理ホストコンピュータ4を経て製造端末コンピュータ6へ通知され(S30,S26)、通知された検査不具合情報は自工程責任不具合情報として、ディスプレイに表示され印刷される(S18)。 - 特許庁
To solve the problem that the signal quality of signal lines degrades during normal operations in chip laminated semiconductor devices due to test stab conductors and test signal pins added to test each chip for a pad which establishes the connection only among laminated chips and does not include external terminal.例文帳に追加
チップ積層された半導体装置においては、積層されたチップ間のみの接続で外部端子を備えていないパッドに対し個々のチップをテストするためのテスト用スタブ配線、テスト用信号ピンが付加されるため通常動作時において信号線の信号品質が劣化する。 - 特許庁
During a test, a signal is sent from a test input terminal to drive the test control circuit, a signal is output from the output side of an input/output tri-state circuit provided for use in test, and the drive result is observed at an input buffer of the input/output tri-state circuit, thereby checking whether the pull-up and pull-down resistance of a load is present.例文帳に追加
テスト時にはテスト用入力端子から信号を送りテスト制御回路を駆動し、テスト用に設けた入出力トライステート回路の出力側から信号を出力し、その駆動結果を入出力トライステート回路の入力バッファで観測することにより、負荷のプルアップ、プルダウン抵抗があるかどうかをチェックする。 - 特許庁
One test control signal 34 is generated, the at least one test module 30 is electrically separated at least partially from the at least one wire 38, 40 and/or the at least one terminal in an operation mode of the electronic circuit, using the test control signal, and a switching current is evaded in the at least one test module.例文帳に追加
1つの試験制御信号(34)が生成され、この試験制御信号を用いて、電子回路の動作モードで、少なくとも1つの試験モジュール(30)が、少なくとも部分的に、少なくとも1つの線(38、40)または少なくとも1つの端子から電気的に分離されて、少なくとも1つの試験モジュールにおいてスイッチング電流が回避される。 - 特許庁
In this way, since a high voltage test can be performed by increasing the power supply voltage VCC of the terminal 2, it is no longer necessary to apply a voltage higher than necessary to the terminal 1 for setting the test mode and break of a gate oxide film of a buffer 3 or the like due to the high voltage can be prevented.例文帳に追加
これにより、端子2の電源電圧VCCを上昇させて高電圧試験をすることができるので、端子1に必要以上の高電圧を印加して試験モードを設定する必要がなくなり、高電圧によるバッファ3等のゲート酸化膜の破壊を防止できる。 - 特許庁
When a request for the execution of a compatibility test is issued from the member of the terminal equipment 30, the control server 23 calculates compatibility by using at least one of the appearance pictures and profile information of the non-members and the profile information of the member, and transmits the result of the compatibility test to the terminal equipment 30.例文帳に追加
端末装置30の会員から相性度テストの実行の要求があると、管理サーバ23は、非会員の外見画像またはプロファイル情報の少なくとも一方と会員のプロファイル情報とを用いて相性度を計算し、相性度テスト結果を端末装置30に送信する。 - 特許庁
The circuit comprises an input terminal T13 of a testing input clock signal CK1 connected to an end of a common bus circuit 2 and a test input/output circuit 3A with an output terminal T32 of an output clock signal CKO retuned from the other end of the common bus circuit 2 in test operation.例文帳に追加
共通バス回路2の一端に接続されテスト用入力クロック信号CKIの入力端子T31と、テスト動作時に共通バス回路2の他端から返送される出力クロック信号CKOの出力端子T32とを有するテスト入出力回路3Aを備える。 - 特許庁
To provide an apparatus and a method for monitoring automatic test operation of a gas central heating system using a monitor, e.g. a failure diagnostic apparatus, in which the automatic test operation state and the results thereof can be grasped easily for each terminal apparatus.例文帳に追加
故障診断装置等のモニター装置を使用して、ガスセントラルヒーティングシステムの自動試運転状態及びその結果を、端末機器ごとに容易に把握可能とする自動試運転モニター装置及び方法を提供する。 - 特許庁
To provide a receptacle to test a display panel with which an adjustment of a contact position of an electrode terminal of a display panel with a contact unit of a wiring substrate can be properly performed and which can be used for an accurate test.例文帳に追加
表示パネルの電極端子と配線基板の接触子との接触位置の調整を適正に行うことができ、正確な検査に供することができる表示パネル検査用ソケットを提供すること。 - 特許庁
In order to prevent the plural integrated circuits to be driven during a test mode contrary to each other, an input terminal 10 connected already in any case to a channel of an automatic test device is connected to a circuit means 30.例文帳に追加
テストモード中に複数の集積回路が相反して駆動されてしまうのを避けるため、いずれにせよすでに自動テスト装置のチャネルと接続されている入力端子10が回路手段30と接続される。 - 特許庁
The service center 3 works the test data so as to be easily utilized by a user, also sends the test data to the medical facilities 5 to receive the diagnosed result and transmits the worked data and the diagnosed result to the external communication terminal 25 of the user.例文帳に追加
サービスセンタ3は、検査データをユーザが利用し易いように加工し、また、検査データを医療機関5へ送って診断結果を受け、その加工データや診断結果をユーザの外部通信端末25へ送信する。 - 特許庁
An LSI has a scan chain comprising a plurality of SFF's between a buffer connected to the external terminal and an internal circuit, and inputs a test signal into the internal circuit of the LSI by utilizing the scan chain at the test mode time.例文帳に追加
LSIは、外部端子に接続されるバッファと内部回路と間に複数のSFFからなるスキャンチェーンを有し、テストモード時には、このスキャンチェーンを利用してLSIの内部回路にテスト信号を入力する。 - 特許庁
A task piece for music dictation learning is received from a test piece storage means via a communication line, the sound of the received test piece is reproduced with a terminal means and to perform the music dictation learning.例文帳に追加
聴音学習用の課題曲を通信回線を介して課題曲記憶手段から受信し、受信した前記課題曲を端末手段で発音再生して聴音学習を行うことができるようにした。 - 特許庁
To provide a communication system in which a time for maintenance or test can be shortened by improving efficiency in the maintenance or the evaluation test in the communication system provided with a communication control unit, a base station device, a terminal device and attached devices.例文帳に追加
回線制御装置、基地局装置、端末装置、付属装置を含む通信システムにおいて、保守作業や評価試験の効率化を図り、保守作業や試験時間の短縮化が可能な通信システムを提供する。 - 特許庁
By turning the switch 7 from the read out circuit 5 the output of which is lead out to the parallel signal line 8, the test can be performed without inputting the analogue signal for test to the analogue input terminal 12.例文帳に追加
切換回路7を読出回路5の出力が導出されるパラレル信号線8側に切換えることによって、アナログ入力端子12には試験用のアナログ信号を入力しないで行うことができる。 - 特許庁
The design model described by only a UML class diagram and an activity diagram is read from a user terminal, the activity diagram is extracted from the design model as a test target, and an execution path is extracted from the test target.例文帳に追加
本発明は、ユーザ端末より、UMLクラス図とアクティビティ図のみで記述した設計モデルを読み込み、設計モデルからアクティビティ図をテスト対象として抽出し、テスト対象から実行経路を抽出する。 - 特許庁
The semiconductor device 1 includes the semiconductor chip 2, the circuit board 3, a bonding wire 5, the sealing resin 6, an external electrode terminal 7, a test wiring line 8, and external electrode terminals 9a and 9b for test.例文帳に追加
本発明に係る半導体装置1は、半導体チップ2、回路基板3、ボンディングワイヤ5、封止樹脂6、外部電極端子7、テスト配線8、テスト用外部電極端子9aおよび9bを備えている。 - 特許庁
On the test management department terminal 8, a data management part 82 extracts necessary information and sends it to a database server 1 to register the substance information in a substance database 11 and the request information in a test database 12 respectively.例文帳に追加
試験管理部門端末8は、データ管理部82によって、必要な情報を抽出してデータベースサーバー1に送信し、物質情報を物質データベース11に登録し、依頼情報を試験データベース12に登録する。 - 特許庁
In Fig. 1(c), the digital sound signal outputs of an AC converter 1001 and DSPs 1008 and 1009 inputted to the test inputs 2131, 2132, and 2133 are selected and outputted to the test output terminal 2141.例文帳に追加
図1(c)では、テスト入力2131、2132、2133に入力されたADコンバータ1001、DSP1008、1009のデジタル音声信号出力を選択してテスト出力端子2141へ出力する。 - 特許庁
A dummy signal 30 having the first frequency f_1 from the second oscillator 29 is prepared, the transmission signal and the dummy signal are added to be transmitted to a GSM terminal 2 which is a test object as a down test signal 3b.例文帳に追加
第2の発振器29からの第1の周波数f_1を有するダミー信号30を作成し、送信信号とダミー信号とを加算して、下り試験信号3bとして試験対象のGSM端末2へ送出する。 - 特許庁
To provide a charge and discharge control circuit and a rechargeable power unit provided with a charge and discharge control terminal having a test function and capable of switching among a normal application state, a charge and discharge state and a test state.例文帳に追加
テスト機能を兼有する充放電制御端子を備え、通常応用状態、充放電禁止状態及びテスト状態を切り替えることが可能な充放電制御回路及び充電式電源装置の提供。 - 特許庁
A test signal is produced by a test signal generator, and the current flowing to a speaker 9 is detected by a current detector 14a that is placed between a power amplifier 7 and a speaker connecting terminal 8.例文帳に追加
試験信号発生器12によって試験信号を発生し、電力増幅器7とスピーカ接続端子8との間に設けた電流検出器14aによってスピーカ9へと流れる電流を検出する。 - 特許庁
The mounting substrate has connecting wiring (50) connecting a data input-output terminal (10c) for the first semiconductor device (3) and the data input-output terminal (11d) for the second semiconductor device (4), and has branch wiring (51) to a test terminal (12t) from an intermediate section.例文帳に追加
実装基板に第1の半導体デバイス(3)のデータ入出力端子(10c)と第2の半導体デバイス(4)のデータ入出力端子(11d)と接続する接続配線(50)を有し、途中からテスト端子(12t)に至る分岐配線(51)を有する。 - 特許庁
Height data of each lead terminal of the electronic parts is acquired, and a test is carried out to decide whether the distance between each side and a hypothetical straight line of each lead terminal is within an allowable value, or whether the distance from a hypothetical plane of each lead terminal is within an allowable value.例文帳に追加
電子部品の各リード端子の高さデータを取得し、各辺の各リード端子の仮想直線からの距離が許容値内にあるかどうか、あるいは各リード端子の仮想平面からの距離が許容値内にあるかどうかが検査される。 - 特許庁
A signal received at an input terminal 210 of a test and measurement instrument 200 is low-pass filtered and transmitted to dF/dT trigger circuitry 220.例文帳に追加
試験測定装置200の入力端子210で受けた信号は、ローパス・フィルタ処理されて、dF/dTトリガ回路220に送られる。 - 特許庁
To provide an IC socket whose center is identical with that of an IC and which allows common use thereof regardless of terminal arrangement of the IC being a test object.例文帳に追加
検査対象となるICの端子の配列に関わらず、ICと中心位置が一致し、共用が図られるICソケットを提供する。 - 特許庁
To normally operate a system even when a test terminal is short- circuited, and inform the start and end of the diagnosis of a door locking/ unlocking function.例文帳に追加
テスト端子の短絡が発生していてもシステムが正常に動作するようにし、ドアロック/アンロック機能の診断の開始、終了を報知する。 - 特許庁
Upon the receipt of an incoming call, the facsimile terminal receives a facsimile text by a usual facsimile control procedure and prints out the received test on a plotter.例文帳に追加
ファクシミリ装置は、着信があると、通常のファクシミリ制御手順によりファクシミリ受信を行い、受信電文をプロッタで記録出力する。 - 特許庁
Test data for a circuit module 24 inputted from a TIN terminal during testing operation sequentially shifts scan cells from 31,1 to 31,4, 32,1 to 32,4, 33,1 to 33,4, and to 34,1 to 34,4.例文帳に追加
テスト動作時にTIN端子から入力された回路モジュール2_4のテストデータがスキャンセル3_1,1 〜3_1,4 ,3_2,1 〜3_2,4 ,3_3,1 〜3_3,4 ,3_4,1 〜3_4,4 を順にシフトする。 - 特許庁
To carry out the evaluation of the subject activator by reacting a C-terminal region of a Ca channel α1 subunit with an α subunit of a G-protein in the presence of a test specimen and examining the presence or absence of bonds therebetween.例文帳に追加
神経細胞におけるCaチャンネルα_1サブユニットとG蛋白との相互作用の解明とこれに基づく医薬の提供。 - 特許庁
The output path 158 of the internal circuit connected to the function switchable external terminal 153 is controlled to the high impedance state in the test mode.例文帳に追加
機能切り替え可能な外部端子153へ接続される内部回路の出力経路158はテストモードではハイインピーダンス状態に制御する。 - 特許庁
To provide a connection device having a contact terminal capable of contacting in a multipoint system and with high density to a test object, and its manufacturing method.例文帳に追加
検査対象について、多点かつ高密度で接触できる接触端子を有する接続装置およびその製造方法を提供する。 - 特許庁
In a test operation mode, the transistors N112 and N114 are made a conduction state, a potential is supplied to an internal circuit from the terminal 118.例文帳に追加
テスト動作モードにおいては、トランジスタN112およびN114が導通状態となり、端子118から内部回路に電位が供給される。 - 特許庁
The specific contents data for test viewing are sent from the transmission device (center) 1970 to a terminal device 1971 and stored in a storage means.例文帳に追加
送信装置(センタ)1970から、所定の試し視聴用のコンテンツデータが端末装置1971に送られ、蓄積手段に蓄積される。 - 特許庁
To make a test pattern at a level over a wide range possible to be given to a DUT in a terminal circuit connected to the DUT.例文帳に追加
DUTに接続される終端回路において、DUTに、広範囲のレベルの試験パターンを与えることができるようにすることである。 - 特許庁
This LSI comprises an external terminal 21 for inputting a wait signal MWAIT from a testing device to be connected at the time of the high-speed test.例文帳に追加
高速試験を行うときに接続する試験装置から、ウエイト信号MWAITを入力するための外部端子21を設ける。 - 特許庁
Signal light (test signal light) which is propagated via the line 14 is incident on an optical separator 46 via a demodulator 40 at a terminal station 12.例文帳に追加
光ファイバ線路14を伝搬した信号光(テスト信号光)は、端局12では、分波器40を介して光分離器46に入射する。 - 特許庁
A program for instructing the test terminal 2 and network devices 6, 8, 10 to perform operations is stored in the network evaluation apparatus 1 in advance.例文帳に追加
ネットワーク評価装置1には、予め試験端末2及びネットワーク機器6,8,10の個々の動作を指示するプログラムが格納されている。 - 特許庁
The contact terminals 12 of the contact sheet 4 are connected electrically to the outside electric test circuit via the circuit sheet 3 and terminal pins (not illustrated).例文帳に追加
そして、コンタクトシート4の接触子12が回路シート3及びターミナルピン(図示せず)を介して外部電気的テスト回路に電気的に接続される。 - 特許庁
To provide an inkjet recording head wherein a test terminal is prevented from corroding due to contact with an ink or moisture and other circuits and wiring are prevented from being damaged.例文帳に追加
テスト端子がインクや湿気に触れて腐食したり、他の回路や配線にダメージを与えることがないインクジェット記録ヘッドを提供すること。 - 特許庁
During an acceleration test of a luminescent device 24, a predetermined drive current is supplied from an external power source to an anode terminal A of a lead frame 32.例文帳に追加
発光素子24の加速試験時において、所定の駆動電流が、外部電源からリードフレーム32のアノード端子Aに供給される。 - 特許庁
To provide environments enabling to perform a test and the like by logical movement to an application directed to mobile equipment such as a mobile terminal.例文帳に追加
携帯端末等の移動機器向けのアプリケーションに対して、論理的な移動により試験等を行うことを可能とする環境を提供する。 - 特許庁
A leakage test circuit 35 is connected to between the terminal V and the terminal E to check the operation of a ground-fault circuit interrupter and comprises a series circuit in which a thyristor 39 and a manual switch 19 are connected in series.例文帳に追加
漏電テスト回路35は、漏電遮断器の動作を確認するため端子Vと端子Eとの間に接続され、サイリスタ39と、手動スイッチ19とが直列に接続された直列回路を備えている。 - 特許庁
To provide a communication terminal device inspecting method capable of easily executing connection confirmation of a sound signal line without execution of a speech communication test by a wireless apparatus, and to provide a program and a communication terminal device.例文帳に追加
ワイヤレス機器での通話試験を実施することなく、音声信号ラインの接続確認を容易に実施することができる通信端末装置の検査方法、プログラム、および通信端末装置を提供する。 - 特許庁
To apply an accurate voltage to a power terminal of a semiconductor device, even if a contact resistance between a probe for voltage application and the power terminal of the semiconductor device is heightened, in a test of the semiconductor device.例文帳に追加
半導体装置の試験において、電圧印加用プローブと半導体装置の電源端子の間の接触抵抗が増大しても、半導体装置の電源端子に正確な電圧を印加可能とする。 - 特許庁
To provide an automatic wire connection device for electric instrument for efficiently performing performance test of a watthour meter including a current terminal and a voltage terminal protruded outward from one surface of a box.例文帳に追加
ボックスの一面から外方へ突出する電流端子および電圧端子を有する電力量計の性能試験を効率よく実施するための電気計器用自動結線装置を提供する。 - 特許庁
A semiconductor device incorporating a flash memory 104 is provided with a test mode storage circuit 109 and outputs an input from a control signal input terminal 101 from a data input/output terminal 102.例文帳に追加
フラッシュメモリ104内蔵の半導体装置にテストモード記憶回路109を備え、テストモード時に制御信号入力端子101からの入力をデータ入出力端子102より出力する。 - 特許庁
The ground voltage is applied to the test terminal 10, and the current application voltage measurement is performed to the signal wiring 23, to thereby also detect the mounting defect of the input/output terminal 6.例文帳に追加
また、テスト端子10にグランド電圧を与えるとともに、信号配線23に対して電流印加電圧測定を行うことにより、入出力端子6の実装不良を検出することも可能である。 - 特許庁
Then, after the retention test is completed, the control circuit 10 secures electrical connection between the RAM 2 and an output terminal OUT, and outputs data held by the RAM 2 to the output terminal OUT.例文帳に追加
そして、リテンションテストが終了した後、コントロール回路10は、RAM2と出力端子OUTとの間の電気的接続を確保し、RAM2に保持されたデータを出力端子OUTに出力する。 - 特許庁
To provide a method for separating an N-terminal saccharified amino acid or peptide from a test solution containing an N-terminal saccharified peptide or protein, and measuring the separated amino acid or peptide, and to provide a measuring composition.例文帳に追加
N末端が糖化されたペプチド若しくは蛋白質を含有する被検液から、N末端の糖化アミノ酸若しくはペプチドを遊離させ、これを測定する方法及び測定組成物の提供。 - 特許庁
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