「test terminal」に関連した英語例文の一覧と使い方(23ページ目) - Weblio英語例文検索

This multichip module is equipped with a plurality of semiconductor chips 102, 103 wherein each input-output cell 106, 107 is connected respectively to an external terminal 108 of the multichip module 101, and test circuits 104, 105 for the multichip module for setting optionally the state of the input-output cells.例文帳に追加

各入出力セル１０６、１０７がマルチチップモジュール１０１の外部端子１０８にそれぞれ接続される複数の半導体チップ１０２、１０３と、入出力セルの状態を任意に設定するマルチチップモジュール用テスト回路１０４、１０５と、を備える。 - 特許庁

To surely prevent peeling of a flexible substrate and disconnection of internal wiring to be caused by thermal expansion of a bus substrate, especially in the case of a heat shock test in a liquid crystal display formed by connecting the bus substrate with a terminal part of a liquid crystal panel via the flexible substrate.例文帳に追加

液晶パネルの端子部にフレキシブル基板を介してバス基板が接続される液晶表示素子において、特にヒートショック試験時におけるバス基板の熱膨張に起因するフレキシブル基板の剥離や内部配線の断線を確実に防止する。 - 特許庁

When the test apparatus 100 transmits the measurement signal, a mobile terminal RLC control section 109 notifies an RLC section 152 of suspension of transmission of a signaling signal, and based on the notification, the RLC section 152 suspends transmission of a signaling signal and transmits only the measurement signal.例文帳に追加

被測定用信号の伝送の際、移動端末ＲＬＣ制御部１０９は、ＲＬＣ部１５２にシグナリング信号の送信停止を通知し、ＲＬＣ部１５２は、この通知に基づいてシグナリング信号の送信を停止し、被測定用信号のみを送信する。 - 特許庁

To provide a terminal board for a nuclear power plant control panel test, a control panel automatic testing device, and a temporary control device, which reduces a time and cost by reducing a work amount during updating, and also reduces an operation risk caused by plant monitoring control function stop.例文帳に追加

更新時の作業量を減らすことで時間とコストを低減し、またプラント監視制御機能停止による運用上のリスクの低減を可能とする原子力発電所制御盤試験用端子台、制御盤自動試験装置、及び仮設制御装置を提供する。 - 特許庁

Test questions are distributed to examinees in a form processed by encipherment in a contents storage medium 203 beforehand, and are displayed on terminal machines for the examinees 202 by using a key for releasing the cryptograph transmitted from WEB on the Internet, and the tests are started.例文帳に追加

試験問題を事前にコンテンツ格納媒体２０３に暗号化処理された形で受験者に配布し、インターネット上のＷＥＢから送られてくる暗号を解除するキーを用いて受験者用端末機２０２に試験問題を表示させて試験を開始する。 - 特許庁

The scan test circuit tests a semiconductor integrated circuit by inputting an input value into a scan chain formed in the semiconductor integrated circuit and comparing the output value of the scan chain output from an output terminal of the semiconductor integrated circuit with the input value.例文帳に追加

半導体集積回路に形成されたスキャンチェーンに入力値を入力し、半導体集積回路の出力端子から出力されるスキャンチェーンの出力値を入力値と比較することで、半導体集積回路の検査を行うスキャンテスト回路である。 - 特許庁

To perform a water-pressure test after the piping of water supply equipment or the like is executed without detaching the cut-off valve provided to the terminal of the piping to certainly perform the same over the whole of the water supply equipment inclusive of the cut-off valve.例文帳に追加

給水設備等の配管施工後に行う水圧テストを、配管の末端に設けられた止水弁を取り外すことなく行うことができるようにして、当該止水弁を含めて給水設備全体に亙って、確実にテストを行うことができるようにする。 - 特許庁

A mobile terminal device 100 is disclosed which includes: a communication unit 101 for exchanging voice data over a network; an external communication unit 107 connected to an external control device 400; and a test voice control unit 106 for determining whether or not voice data received from the network via the communication unit 101 are specific test voice data and notifying the external control device 400 of a result of the determination via the external communication unit 107.例文帳に追加

ネットワークを介して音声データを送受信する通信部１０１と、外部制御装置４００に接続された外部通信部１０７と、通信部１０１を介してネットワークから受信した音声データが特定のテスト音声データであるかどうかを判断し、その判断結果を外部通信部１０７を介して外部制御装置４００へ通知するテスト音声制御部１０６とを有する携帯端末装置１００。 - 特許庁

When the gradation voltage test of the semiconductor device having the liquid crystal driving circuit is performed, a gradation voltage (Vx) generated by the gradation voltage generation circuit 16 of the semiconductor device is compared with a comparison voltage (for example, Vx+ΔV) generated for testing the gradation voltage, and a test result is outputted as a binary voltage from the external terminal of the semiconductor device.例文帳に追加

液晶駆動回路を有する半導体装置であって、半導体装置の階調電圧試験時に、半導体装置の階調電圧生成回路１６で生成された階調電圧（Ｖｘ）と階調電圧を試験するために生成された比較電圧（例えばＶｘ＋ΔＶ）とを比較し、試験結果を２値電圧として半導体装置の外部端子から出力することを特徴とする。 - 特許庁

The semiconductor device comprises a reset terminal inputting a reset control signal for resetting an internal circuit; a reset detection part generating, according to the input reset control signal, a reset release signal for releasing reset of the internal circuit; and a mode capture part retaining, based on the signal input to the reset terminal, a test mode for testing operations of the internal circuit.例文帳に追加

半導体装置は、内部回路をリセットするためのリセット制御信号を入力するリセット端子と、前記入力されたリセット制御信号に応じて、前記内部回路のリセットを解除するリセット解除信号を生成するリセット検出部と、前記リセット端子に入力される信号に基づいて、前記内部回路の動作をテストするテストモードを保持するモードキャプチャ部とを備える。 - 特許庁

When examination materials are requested from a user terminal, a managing server sends reception confirmation mail to the user terminal and confirms mail reception, and users whose reception confirmation is not obtained are listed up to perform reception confirmation by communication means such as telephone, facsimile, etc., and users whose reception confirmation is obtained are listed up to let a test holder know them and send examination materials.例文帳に追加

管理サーバは、ユーザ端末から受験資料の請求があったとき、そのユーザ端末に受領確認メールを送信してメール受領の確認を求め、受領確認のなかったユーザをリストアップして電話やファクシミリ等の別の通信手段による受領確認を行わせ、受領確認の取れたユーザをリストアップしてそれぞれの試験主催者に通知して受験資料の送付を行わせる。 - 特許庁

A computer for estimating the communication quality receiving pieces of data about the communication quality and an IP transfer quality when prescribed contents are distributed for test from a content distribution terminal to a user terminal quantizes correlation between two pieces of data, and the communication quality is estimated from the IP transfer quality to be measured by the computer based on a correlation curve introduced in the process of this quantization.例文帳に追加

コンテンツ配信端末からユーザ端末に所定の試験用コンテンツが配信されるときの通信品質とＩＰ転送品質のデータを受信した通信品質推定用コンピュータが、２つのデータの相関関係を定量化し、この定量化の過程で導出した相関曲線に基づいて、前記コンピュータが測定するＩＰ転送品質から通信品質の推定を行う。 - 特許庁

An input/output buffer 80 of the synchronous semiconductor memory device 100 receives a test mode signal from a control circuit 410, takes in data from a terminal 421 synchronizing with a clock signal CLK, writes it in a memory array 60, and outputs read-out data from the memory array 60 to the terminal 421 synchronizing with an internal data strobe signal from a DQS signal generating circuit 70.例文帳に追加

同期型半導体記憶装置１００の入出力バッファ８０は、コントロール回路４１０からのテストモード信号を受けてクロック信号ＣＬＫに同期して端子４２１からデータを取込み、メモリアレイ６０に書込むとともに、メモリアレイ６０からの読出データをＤＱＳ信号発生回路７０からの内部データストローブ信号に同期して端子４２１へ出力する。 - 特許庁

The personal information of a user that is a purchaser of the contact lens, prescription information of the user prescribed by an ophthalmologist based on an eye test, and bioinformation of the user read by a bioinformation reading unit 310 are registered from a store terminal device 103 to a server 101 through a network 100.例文帳に追加

コンタクトレンズ購入者であるユーザの個人情報と、眼科医の検眼により処方されたユーザの処方箋情報と、生体情報読み取りユニット３０１にて読み取ったユーザの生体情報と、を販売店端末装置１０３からネットワーク１００を介してサーバ１０１へ登録する。 - 特許庁

A comparison circuit 12 compares waiting time T3 from a system test start time until the transfer of linkdown information with sufficient long time T2 set by a timer 2 to thereby determine the existence/absence of a failure in the entire system, especially between the opposite side device and a terminal device.例文帳に追加

比較回路１２でシステムの試験開始時よりＬＩＮＫＤＯＷＮ情報の転送が行われるまでの待ち時間Ｔ３と、タイマ２で設定した十分長い時間Ｔ２を比較判定することで、システム全体で特に対向側装置と端末装置間にて障害の有無を判断できる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a testing method thereof wherein complexity in configuration for testing can be reduced, in a circuit to be tested corresponding to a signal terminal in which inter-chip wiring is formed, and a test equivalent to the case of testing a single semiconductor chip can be performed.例文帳に追加

チップ間配線がなされた信号端子に対応するテスト対象回路について、テストを行うための構成が複雑化することを抑制しつつ、半導体チップ単体の場合と同等のテストを行うことができる半導体装置およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

As for the external signal terminals 22 of the IC 21, the inspection apparatus 23 controls turning on/off of the FETs, by giving to the test control section 26 a selection signal for selecting an external signal terminal 22, to be driven and checks out the interference state of an internal signal transmission line between the external signal terminals 22.例文帳に追加

そして、検査装置２３を、ＩＣ２１の外部信号端子２２について、テスト制御部２６に駆動対象となる外部信号端子２２の選択信号を与えることでＦＥＴのオンオフを制御し、それらの端子２２の間における内部信号伝送路の干渉状態を検査する。 - 特許庁

In a state in which the shaft core part 14b is loosely fitted into the vacant hole 3a of the electronic board 1, the contact electrode section 15 is brought into contact with the solder-coated pads 6a, 6b, and continuity state between the probes 12 or between the probe 12 and a ground terminal is tested by a probing test tool 28.例文帳に追加

軸心部１４ｂを電子基板１の空孔３ａに遊嵌させた状態で、半田被覆パッド６ａ，６ｂに接触電極部１５を接触させ、触針検査ツール２８によって、プローブ１２相互間又はプローブ１２とグランド端子間の導通状態が検査される。 - 特許庁

This PCT conduction checker 1 includes a 4-pole plug part 9 inserted into a 4-pole plug insertion port, a 2-pole plug part 11 inserted into a 2-pole plug insertion port, a power supply section 12, and a contact electrode 13 for test to be brought into contact with a terminal to be tested.例文帳に追加

ＰＣＴ導通チェッカー１は、４極のプラグ挿入口に挿入される４極用プラグ部９と、２極のプラグ挿入口に挿入される２極用プラグ部１１と、電源部１２と、試験対象の端子に接触させる試験用接触電極１３とを備えている。 - 特許庁

To provide a wiring board for a probe card and the probe card using the same which, in a heat load test, has a small position displacement between a measuring terminal disposed on the wiring board for the probe card and a measuring pad formed on the surface of a Si wafer and can be suitably used for electrical characteristics inspection.例文帳に追加

熱負荷試験時において、プローブカード用配線基板に設けられた測定端子とＳｉウェハの表面に形成された測定パッドとの位置ずれが小さく、電気特性の検査に好適に使用できるプローブカード用配線基板とこれを用いたプローブカードを提供する。 - 特許庁

The temperature sensor 60 comprises a temperature detection part 62 in which an electric resistance value is varied in accordance with the temperature, connecting terminals 64, 66 for investigating the electric resistance value of the temperature detection part 62, and is attached onto the back of the package 50 while the temperature detection part 62 is abutted to the test terminal 57.例文帳に追加

温度センサ６０は、温度に応じて電気抵抗値が可変する温度検出部６２と、温度検出部６２の電気抵抗値を調べるための接続端子６４、６６とを備え、温度検出部６２をテスト用端子５７に当接させた状態でパッケージ５０の背面に取り付けられる。 - 特許庁

The terminal that is used in a test set and attachable to a load substrate of a testing device has a first end part for forming a large number of contact positions, and connects at least one lead of a tested device electrically to a corresponding metal conductive wire on the load substrate.例文帳に追加

テストセットにおいて使用され、試験装置のロード基盤に取付け可能な端子は、多数の接触位置を形成する第１の端部を有し、試験される装置の少なくとも１つのリードを、ロード基板上の対応する金属製の導電線に電気的に接続する。 - 特許庁

Since a differential integrity test is made on only the written or updated files based on an inspection policy, the amount of integrity tesing is reduced, while preventing the invasion of viruses to a terminal side.例文帳に追加

本発明によれば、上記のような問題点を解決するためになされたもので、書き込みまたは更新が行われたファイルのみを対象に、検査ポリシーに基づいて差分健全性検査を行うので、端末側へのウィルス等の進入を防止しつつ、健全性検査の量を少なくすることができる。 - 特許庁

To provide a protection circuit that protects a semiconductor integrated circuit from the eddy current noise of an ESD and eddy current noise in a latch-up test and can enhance the degree of flexibility in the arrangement of wiring from a power terminal to a protective element, and to prevent a chip area from increasing.例文帳に追加

半導体集積回路をＥＳＤの過電流ノイズ及びラッチアップ試験の過電流ノイズから保護する保護回路であって、電源端子から保護素子への配線の配置の自由度を高めることができ、チップ面積の増大とはならない、保護回路を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device preventing destruction of an input/ output buffer caused by collision of data, even if any one of the control terminal of output control breaks down in a test performed by connecting plural semiconductor devices incorporating plural semiconductor elements where output data terminals are shaved.例文帳に追加

データの出力端子が共通な複数の半導体素子を内蔵する半導体装置を複数接続して行うテストで、いずれかの出力制御の制御端子が故障しても、データの衝突による入出力バッファの破壊を防止する半導体装置を提供する。 - 特許庁

The operational amplifier is connected to the reference voltage circuit to provide a predetermined fraction of a reference voltage substantially equal to the test voltage applied to the first line, and has an output terminal configured for one of a connected or disconnected state to the first line.例文帳に追加

オペレーショナルアンプは、第１ラインに印加される試験電圧とほぼ等しい参照電圧の所定の一部分を供給するために、参照電圧回路に接続され、第１ラインに対して接続状態または切断状態のいずれかに設定される出力端子を有する。 - 特許庁

The document server 5 receives an instruction to provide service of image formation for the image formation device 1 from the terminal device 2, presents a test of human interactive certification to the image formation device 1 to request a response, and provides the service for the image formation device 1 when accepting the human interactive certification.例文帳に追加

文書サーバ５は、画像形成のサービスを画像形成装置１に提供する指示を端末装置２から受け付け、人間対話証明のテストを画像形成装置１に提示して応答を要求し、人間対話証明を受理する場合に、画像形成装置１にサービスを提供する。 - 特許庁

A terminal at a test center, by reading an answer sheet with answers given on it with a scanner and converting it, creates an answer image data and an answer digital data which are mutually linked and sends them to a server at a marking center via a communication network.例文帳に追加

試験センター端末は、解答済みの解答用紙をスキャナで読み取りおよび変換することによって相互にリンク付された解答イメージデータおよび解答デジタルデータをそれぞれ作成し、当該解答イメージデータおよび解答デジタルデータを通信ネットワークを介して採点センターサーバに送る。 - 特許庁

The file storage part (9) includes: a net list (21) showing connection information of a circuit to be an object of generation of a test pattern; and a start/end point list (22) showing a terminal to be the start point of a failure detection object area among circuit to be shown on the net list.例文帳に追加

そのファイル格納部（９）は、テストパタンの生成の対象となる回路の接続情報を示すネットリスト（２１）と、ネットリストに示される回路のうち、故障検出の対象となる故障検出対象領域の起点となる端子を示す始終点リスト（２２）とを備えるものとする。 - 特許庁

To provide a probe card for electrically testing a semiconductor integrated circuit in a wafer state that enables a probe card terminal for a pad on a wafer to be manufactured collectively, can correspond with a plane arrangement, can be suspended independently, and can cope with a test under high- temperature conditions as the probe card.例文帳に追加

半導体集積回路をウエハ状態で電気的に試験するためのプローブカードにおいて、ウエハ上のパッドに対するプローブカード端子が一括で作製でき、平面配列に対応でき、独立懸架であり、なおかつプローブカードとして高温条件下の試験に対応できるものを提供する。 - 特許庁

In this second test, the value the output cell CO1 retains is made to output to the output cell CO1 of the first device, and then, after the lapse of the reciprocal of the second frequency, the value input from an input terminal IN2 of the second device is made to be fetched to the input cell CI2 of the second device.例文帳に追加

この第二の検査では、第一デバイスの出力セルＣＯ１に、出力セルＣＯ１が保持する値を出力させ、第２周波数分の一時間経過後、第二デバイスの入力セルＣＩ２に、その第二デバイスの入力端子ＩＮ２から入力される値を取り込ませる。 - 特許庁

A test terminal 50 judges whether element data for discriminating a regular main CPU 40 which is acquired from member lot information written in a management label 30 coincides with element data of the main CPU 40 mounted on a main control substrate 27 which is acquired through a connector 43, or not.例文帳に追加

検査端末５０は、管理ラベル３０に記された部材ロット情報から取得される正規のメインＣＰＵ４０を識別するための素子データと、コネクタ４３を介して取得される主制御基板２７に搭載されたメインＣＰＵ４０の素子データとが一致するか否か判定する。 - 特許庁

When a test operation mode is designated by the mode signal MOD, each terminal B of the input side selector 15 and the output side selector 17 is selected, and the logic circuit 16 is disconnected, and the input buffer 14 and the output buffer 19 are connected together in one-to-one correspondence through a bypass circuit 18.例文帳に追加

モード信号ＭＯＤで試験動作モードを指定すると、入力側セレクタ１５と出力側セレクタ１７の端子Ｂが選択され、論理回路１６が切り離されて、バイパス回路１８を介して入力バッファ１４と出力バッファ１９が１対１に接続される。 - 特許庁

A utilization recommending part 107 selects the translation support function to be recommended to the user out of the plurality of the translation support functions provided in the system 100 on the basis of a mark result of the test, and transmits a utilizing function display screen by which the selected translation support function becomes available to the user terminal 300-1.例文帳に追加

利用推奨部107は、テストの採点結果に基づいて、自システム100が備えている複数の翻訳支援機能の中からユーザに推奨する翻訳支援機能を選択し、選択した翻訳支援機能の利用を可能にする利用機能表示画面を利用者端末300-1へ送信する。 - 特許庁

In data input/output test of this coexistent semiconductor memory, address input and data input for the memory circuit 1 are performed simultaneously by giving an address signal from an input pin 13 for the memory circuit 2 and giving data input/output from the common terminal 10 of the memory circuit 1 respectively.例文帳に追加

この混載型半導体メモリのデータ入出力検査に際して、アドレス信号はロジック回路２への入力ピン１３から、データ入出力はメモリ回路１の共通の端子１０からそれぞれ与えることによって、メモリ回路１へのアドレス入力とデータ入力が同時に行われる。 - 特許庁

A sheet-like member 11 is provided which is pasted at a predetermined position inside a cabinet constituting a device body, an opening 13 is provided at a predetermined position of the cabinet on which the sheet-like member 11 is pasted, and a test signal terminal 16 is disposed at a position exposed to the outside via the opening 13.例文帳に追加

装置本体を構成する筐体内の所定箇所に貼られるシート状部材１１を備え、そのシート状部材１１が貼られる筐体の所定箇所に開口部１３を設け、その開口部１３を介して外部に露出する位置に試験用信号端子１６を配置する。 - 特許庁

A high frequency module 10 comprises: a layered body including a plurality of dielectric layers having an electrode pattern thereon; and a switching element 11 integrally mounted on the surface of the layered body and having a test terminal PT for outputting a negative voltage applied to the switching element 11.例文帳に追加

高周波モジュール１０は、電極パターンが形成された複数の誘電体層を有する積層体と、スイッチ素子１１に印加された負電圧を出力するテスト端子ＰＴを有し、積層体の表面に実装されたスイッチ素子１１とが一体成型されている。 - 特許庁

This test substrate 1 is equipped with the substrate 2, the first electrode 9 provided on the substrate 2 surface, a piezoelectric element 10 laminated on the first electrode 9, the second electrode 11 laminated on the piezoelectric element 10, the first external terminal 5 provided on the substrate 2 and connected to the first electrode 9, and the second external terminal 6 provided on the substrate 2 and connected to the second electrode 11.例文帳に追加

テスト基板１において、基板２と、基板２の表面上に設けられた第１電極９と、第１電極９上に積層された圧電素子１０と、圧電素子１０上に積層された第２電極１１と、基板２上に設けられ、第１電極９に接続された第１外部端子５と、基板２上に設けられ、第２電極１１に接続された第２外部端子６とを備える。 - 特許庁

A memory cell MC selected from among a plurality of memory cells MC according to an address signal is connected to, for example in a test mode, one of complementary input nodes of a sense amplifier SA via an n-type MOSFET 10a for controlling a read voltage whose gate terminal is applied with a voltage VCLMP.例文帳に追加

たとえば、テストモードにおいて、センスアンプＳＡの相補の入力ノードの一方には、ゲート端子に電圧ＶＣＬＭＰが印加される読み出し電圧制御用のｎ型ＭＯＳＦＥＴ１０ａを介して、アドレス信号に応じて複数のメモリセルＭＣの内から選択される１つのメモリセルＭＣが接続される。 - 特許庁

In performing the test, an operation terminal 12 is operated to input the simulation data stored in the simulation data storing means 15, to the vibration judging means 12, to switch the same by the input signal switching means 18, whereby the vibration judging means 12 tests whether the motion is properly performed or not on various simulation data.例文帳に追加

試験を行うときは、模擬データ記憶手段１５に記憶された模擬データが振動判断手段１２に入力されるように操作端末２１を操作して入力信号切替手段１８により切り替え、種々の模擬データについて振動判断手段１２が、然るべく動作するか否かを試験する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device manufacturing method which takes measures against a shortage in bonding strength between a bonding pad and a bonding wire that can possibly occur due to irregularities formed by contact of a probe terminal on a surface of the bonding pad when performing test and measurement before packing a chip in a package.例文帳に追加

チップをパッケージに組み立てる前に行われるテスト測定において、ボンディングパッドの表面に、プローブ端子との接触に起因して形成されてしまう凹凸により、ボンディングパッドとボンディングワイヤーとの接合強度不足を引き起こす恐れがあり、これを対策した半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

When an operation section 27 is operated by a user and a test mode is instructed, the system controller 26 controls the switching of the selector 23 so that the signal inside the servo control section 16 outputted from the monitor control section 29 is outputted to the detector 2 of the outside via audio output DAC 24 and an audio output terminal 25.例文帳に追加

ユーザにより操作部２７が操作され、テストモードが指令された場合、システムコントローラ２６は、モニタ制御部２９から出力されたサーボ制御部１６内部の信号を、オーディオ出力DAC２４およびオーディオ出力端子２５を介して外部の検出装置２に出力させるように、セレクタ２３の切り替えを制御する。 - 特許庁

The ITO wiring 2 in a thin film multilayer wiring electrode pattern has a narrow part 2p between a terminal part 2c to be electrically connected to the wiring conductor of a film substrate and the substrate end face 1e of a TFT substrate 101, so as to connect a test probe for the display inspection of a liquid crystal panel single body.例文帳に追加

薄膜多層配線電極パターンのＩＴＯ配線２は、フィルム基板の配線導体に電気的に接続される端子部２ｃとＴＦＴ基板１０１の基板端面１ｅとの間に、液晶パネル単体の表示検査の際にテスト用プローブを接続するための狭小部２ｐを有している。 - 特許庁

A terminal electrode 7 for test is provided on the outside of each printed board 2 formed in a base material substrate 1 and the electrode 7 is electrically connected to the wiring pattern, etc., of the printed board 2 through a conductor pattern 8 provided on a narrow-width piece 3 which integrally connects the printed board 2 to the base material substrate 1.例文帳に追加

前記素材基板１のうち各プリント基板２の外側の部分に、前記テスト用端子電極７を設けて、このテスト用端子電極７を、前記プリント基板２を素材基板１に一体的に連結する細幅片３に設けた導体パターン８を介して、プリント基板２における配線パターン等に電気的に接続する。 - 特許庁

In normal operation, the reference voltage Vrw is set to reference voltage Vri1 from an internal reference voltage generating circuit 206 by a data write-in current adjusting circuit 200, on the other hand, in test operation, the voltage is set to reference voltage Vre1 applied to a reference voltage external input terminal 202 from the outside.例文帳に追加

基準電圧Ｖｒｗは、データ書込電流調整回路２００によって、通常動作時には、内部基準電圧発生回路２０６からの基準電圧Ｖｒｉ１に設定される一方で、テスト動作時には、基準電圧外部入力端子２０２に外部より印加された基準電圧Ｖｒｅ１に従って設定される。 - 特許庁