「test terminal」に関連した英語例文の一覧と使い方(21ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a probe, and an inspection device using it which enhance the degree of freedom of the arrangement of test terminals in an inspecting object, and also facilitate handling of inspection of a plurality of kinds of boards whose terminal positions for testing are different.例文帳に追加

検査対象物におけるテスト端子配置の自由度が増し、また、テストを行う端子位置の異なる複数種類の基板検査への対応も容易になるプローブ及びこれを用いた検査装置を提供する。 - 特許庁

Each connector 10 is housed in a connector housing space 34 of the housing part 31 in positioning state, the jig 30 is set to a connector inspection device, and continuity test of terminal fittings 90 is carried out.例文帳に追加

収容部３１のコネクタ収容空間３４に各コネクタ１０を位置決め状態で収容させて治具３０をコネクタ検査装置にセットし、各コネクタ１０に収容された端子金具９０の導通検査を行う。 - 特許庁

A transmit-receive means 10b of the site simulation part 8 transmits the simulation status to a site terminal device 5 through a transmission line 4, receives the test status, and displays on a display device 12 of the display operation part 7.例文帳に追加

また、現場模擬部８の送受信手段１０ｂはその模擬状態を伝送路４を介して現場端末装置５に送信すると共に試験状態を受信し、表示操作部７の表示装置１２に表示する。 - 特許庁

A component support device 12 proposes software components which satisfy a request from the developer based on category information and information for a threshold of result matching rate with test data or coverage rate transmitted from a developer terminal 11.例文帳に追加

部品支援装置１２では、開発者端末１１から送信されたカテゴリ情報とテストデータと結果一致率やカバレージ率の閾値の情報に基づいて、開発者からの要求を満足するソフトウェア部品を提案する。 - 特許庁

An arbitrary signal from a control circuit 11 is connected to the input of a multiplexer circuit 12 incorporated in an FPGA 1, and a test output signal 136 which is the output of the multiplexer circuit 12 is connected to an output terminal.例文帳に追加

ＦＰＧＡ１内部回路のパルチプレクサ回路１２の入力に制御回路１１からの任意の信号を接続し、マルチプレクサ回路１２の出力であるテスト出力信号１３６を出力端子に接続する。 - 特許庁

A standard microphone 201 of a measuring device 2 picks up a sound of test sound data emitted from a loudspeaker 112 of a mobile phone terminal 1 and a spectrum analyzer 202 measures its frequency characteristic.例文帳に追加

携帯電話端末１のスピーカ１１２から放音されるテスト音声データの放音音声を、測定装置２の標準マイクロホン２０１により収音し、スペクトラムアナライザ２０２によってその周波数特性を測定する。 - 特許庁

In a test mode, the timing adjustment part 40 adjusts the timing so that the read data read from the memory cell array 15 by the read command can be compared with expectation data input from the external terminal 10.例文帳に追加

タイミング調整部４０は、テストモードにおいて、リードコマンドによってメモリセルアレイ１５から読み出したリードデータと外部端子１０から入力される期待値データとを比較可能とするようにタイミング調整を行う。 - 特許庁

If the low level indicating the normal operation is inputted to the TESTMODE terminal of the test circuit 23 the clock supply circuit 50 imparts the high level to the CLK input terminal so as to close the transfer gate of the master part of DFF circuit 31-3n, to inhibit the output signal of the output terminal D0-D31 of the periphery circuit 21 from supplying into the master part.例文帳に追加

テスト回路２３のＴＥＳＴＭＯＤＥ端子に、通常動作時であることを示すローレベルが入力されると、クロック供給回路５０は、ＤＦＦ回路３１〜３ｎのマスタ部のトランスファゲートを閉じるようにハイレベルをＣＬＫ入力端子に与え、周辺回路２１の出力端子Ｄ０〜Ｄ３１の出力信号がマスタ部の内部へ供給されないようにする。 - 特許庁

Then, an external terminal 52 is arranged for the discharging resistance 41 independently of an external power supply terminal 51 for the boosting circuit 40, and the both terminals 51 and 52 are connected by wiring on a TCP, or connected by wire-bonding in packaging posterior to the test so that a normal operation can be realized.例文帳に追加

そして、前記昇圧回路４０用の外部電源端子５１とは別に、前記放電抵抗４１用に外部端子５２を設け、試験後のパッケージング時に、ＴＣＰ上の配線によって両端子５１，５２を接続したり、ワイヤボンディングによって接続することで、通常動作を実現することができる。 - 特許庁

The terminal function section 124 sends a radio signal to a signal processing section of a base station 102 or 103 through an antenna of the base station 102, and call connection processing between the terminal function part 124 and a test server 112 is performed through the antenna of the base station 101, and the antenna and signal processing part 122 of the base station 102 (route 192).例文帳に追加

端末機能部１２４から、基地局１０１のアンテナを介して、基地局１０２又は１０３の信号処理部に無線信号を送信し、基地局１０１のアンテナと、基地局１０２のアンテナ及び信号処理部１２２とを介して（経路１９２）、端末機能部１２４とテストサーバ１１２との呼接続処理を実行する。 - 特許庁

A test-use switch 21d is disposed between a differential amplifying circuit 22 and a connection node which connects a capacitor 21b, a switch 21c and an output terminal of an operational amplifier 21a in a C-V converting circuit 21, and a high-voltage generating circuit 23 is provided for applying a high voltage Vpp to an inverting input terminal of the operational amplifier 21a.例文帳に追加

Ｃ−Ｖ変換回路２１におけるオペアンプ２１ａの出力端子とコンデンサ２１ｂやスイッチ２１ｃの接続点と差動増幅回路２２の間に検査用スイッチ２１ｄを備えると共に、オペアンプ２１ａの反転入力端子に高電圧Ｖｐｐを印加するための高電圧発生回路２３を備える。 - 特許庁

A write register 23 which holds test data corresponding to each data input terminal, and a selector 24 which selects, according to each register write command inputted twice from outside, contracted data inputted to the data input terminals in common and supplies to the write register 23 at each corresponding data input terminal are provided.例文帳に追加

データ入力端子各々に対応するテストデータを保持するライトレジスタ２３と、外部から２回入力されるレジスタライトコマンド各々に応じて、データ入力端子へ共通に入力される縮約データを選択し、ライトレジスタ２３へ、対応するデータ入力端子毎に供給するセレクタ２４を備える。 - 特許庁

Substance information and a written request data sheet created on a request-source terminal 52 are e-mailed to request-source and total management department terminals 6 and 7 in sequence and approval information input parts 62 and 72 enter approval information made by approvers into the written request data sheet and send it to a test management department terminal 8.例文帳に追加

依頼元端末５２で作成した物質情報，依頼書データシートを電子メールで依頼元，全体管理部門端末６，７に順次送信し、承認情報入力部６２，７２によって依頼書データシートに承認者による承認情報を記載して、試験管理部門端末８に送信する。 - 特許庁

A test signal at a known level in the same frequency band as a joint receiving signal to be newly transmitted in a joint receiving system 2 having an input terminal 6 and a plurality of end terminals 10a to 10d is supplied from the input terminal 6 to the joint receiving system 2 by a portable transmitter 20.例文帳に追加

入力端子６と複数の端末端子１０ａ乃至１０ｄとを有する共同受信システム２において新たに伝送しようとする共同受信信号と同じ周波数帯域で既知のレベルのテスト信号を、可搬型の送信機２０が、入力端子６から共同受信システム２に供給する。 - 特許庁

In this communication network system constituted of a server 1 which stores a web page carried in a hyper test format and a connection terminal 3 which reads a web page through an electric communication line 2 in the server 1, when the web page is read by the connection terminal 3, the look-ahead of the other Web page is operated in the priority order of category data.例文帳に追加

ハイパーテキスト形式で記載されたウェブページを記憶したサーバ１と、サーバ１に電気通信回線２を介してウェブページを読み込む接続端末３とからなる通信ネットワークシステムにおいて、接続端末３によりウェブページを読み込むときに、カテゴリデータに優先順位をつけて他のＷｅｂページを先読みする。 - 特許庁

To test an electronic component without generating damage such as a crack or a chipped part in the electronic component, by connecting an external terminal of the electronic component to a connection terminal of a socket without applying a load concentratedly to a dust-deposited portion even when dust such as a small piece is deposited on a surface of the component.例文帳に追加

電子部品の表面に小片などのゴミが付着している場合であっても、ゴミが付着している部分に集中的に荷重をかけることなく、電子部品の外部端子をソケットの接続端子に接続し、電子部品に割れや欠けなどの損傷を発生させることなく、電子部品を試験する。 - 特許庁

Then the supervisor receiving the notice uses a supervisor terminal 5 to connect with a supervisory server 2 through the Internet 7 being a communication network so as to confirm the fault and its test state via a fault supervisory sensor 3 and uses the supervisory terminal 5 to send a command to a supervisory controller 6 to execute the countermeasures against the fault.例文帳に追加

そして、この通知を受けた監視者は監視者端末５から通信網であるインターネット７を通し監視サーバ２に接続し、異常監視センサ３を経由して、異常及び試験状態を確認すると共に、監視者端末５からコマンドを発信し異常の処置を監視コントローラ６に実施させる。 - 特許庁

In a test mode, a bypass path B0 becomes in a conductive state, data inputted to a DQ terminal DQ0 is held as input data for a terminal DQ1 in accordance with transition of a first direction of a CLK signal, and it is held as input data for DQ0 in accordance with transition of a second direction of the CLK signal.例文帳に追加

テストモード時には、バイパス経路Ｂ０が導通状態となり、ＤＱ端子ＤＱ０に入力されたデータが、ＣＬＫ信号の第一の方向の遷移に応じてＤＱ端子ＤＱ１への入力データとして保持され、また、ＣＬＫ信号の第二の方向の遷移に応じてＤＱ０への入力データとして保持される。 - 特許庁

In a normal operation, the pre-fetch selector 26 sequentially outputs the first data and the second data at the data input/output terminal within one clock period, while in a test mode, the pre-fetch selector 26 determines whether the first data and the second data coincide with each other and outputs the determined result at the data input/output terminal within one clock period.例文帳に追加

プリフェッチセレクタ２６は、通常動作時においては第１のデータと第２のデータとをクロック周期の１周期内に順次データ入出力端子に出力し、テストモードでは第１のデータと第２のデータとが一致するか否かを判定し、判定結果をクロック周期の１周期内にデータ入出力端子に出力する。 - 特許庁

The internal signal observation device has a data capture part, a signal selecting means, a preset counter, a counter overflow terminal and an output terminal, and outputs a number of pieces of internal information from a limited number of test terminals by capturing data with a sampling clock and outputting internal signals on a time-division basis.例文帳に追加

データキャプチャ部と信号選択手段とプリセットカウンタとカウンタオーバフロー端子と出力端子を有し、複数の内部信号をサンプリングクロックでデータキャプチャ後、時分割出力することにより限られた本数のテスト端子から多数の内部情報を出力することを特徴とした内部信号観測装置。 - 特許庁

In a scan test (control signal SEL=1), the control signal B is 1, so the signal is the same as the logic output signal Q outputted from a Q terminal and outputted as the scan logic output signal SOUT through the SOUT terminal.例文帳に追加

なお、スキャンテスト時（制御信号ＳＥＬ＝１）には、制御信号Ｂ＝１であるため、ＮＡＮＤゲート３４からの出力値は、Ｑ端子から出力された論理出力信号Ｑと互いに同一の信号となり、この信号がスキャン論理出力信号ＳＯＵＴとしてＳＯＵＴ端子を介して出力される。 - 特許庁

The difference voltage between the output voltage of a battery voltage memory circuit 41 for storing the voltage of a secondary battery 12 and the output voltage of a direct current voltage source 42 is added to the voltage between an anode input/output terminal 16 and a cathode input/output terminal 17, which is input to a control circuit 13 as a test voltage.例文帳に追加

二次電池１２の電圧を記憶する電池電圧記憶回路４１の出力電圧と直流電圧源４２の出力電圧との差電圧を正極入出力端子１６と負極入出力端子１７との間の電圧に加算して制御回路１３に検査電圧として入力する。 - 特許庁

To make checkable the connection state of each input/output terminal of a semiconductor integrated circuit loaded on a substrate without using a dedicated testing device, and to make testable the operation of the semiconductor integrated circuit by inputting a prescribed test pattern into each input/output terminal of the semiconductor integrated circuit loaded on the substrate.例文帳に追加

専用のテスト装置を用いずに、基板上に搭載された半導体集積回路の各入出力端子の接続状態をチェックすることができ、基板上に搭載された半導体集積回路の各入力端子に所定のテストパターンを入力し、半導体集積回路の動作をテストすることができるようにする。 - 特許庁

By acting deblocking aminopeptidase, dipeptidyl aminopeptidase, leucine aminopeptidase, N-acylaminoacyl-peptide hydrolase or hemicellulase on a test solution containing an N-terminal saccharified peptide or protein, the N-terminal saccharified amino acid or peptide is separated, and the formed saccharified amino acid and/or saccharified peptide is determined.例文帳に追加

Ｎ末端が糖化されたペプチド又は蛋白質を含有する被検液に、デブロッキングアミノペプチダーゼ、ジペプチジルアミノペプチダーゼ、ロイシンアミノペプチダーゼ、N-アシルアミノアシル−ペプチドハイドロラーゼ又はヘミセルラーゼを作用させ、Ｎ末端の糖化アミノ酸又は糖化ペプチドを遊離させ、生成した糖化アミノ酸及び／または糖化ペプチドを定量する。 - 特許庁

In this test circuit for hysteresis voltage width measurement for measuring the hysteresis voltage width to a plurality of Schmidt circuits 1 installed on a semiconductor 2, all outputs of the Schmidt circuits 1 which are measuring objects are connected to a plurality of EXOR circuits 3, and a monitor terminal 5 for monitoring a test result is connected to the output of the final-layer EXOR circuit 3.例文帳に追加

半導体２に設けられた複数のシュミット回路１に対してヒステリシス電圧幅を測定するヒステリシス電圧幅測定用のテスト回路であって、測定対象のシュミット回路１の全出力を複数のＥＸＯＲ回路３に接続し、最終層のＥＸＯＲ回路３の出力にテスト結果をモニタするモニタ端子５を接続する。 - 特許庁

At the loop back test time, a clock signal selected by the clock selection circuit is used as a transmission clock, the transmission data is turned up by an input-output terminal and is input into a receiving circuit, data from the receiving circuit is input into the CDR circuit, and a comparing circuit compares reproduced data from the CDR circuit with expected value data, thereby performing the test.例文帳に追加

ループバックテスト時、クロック選択回路で選択されたクロック信号が送信クロックとして用いられ、送信データは入出力兼用端子にて折り返されて受信回路に入力され受信回路からのデータがＣＤＲ回路に入力され、比較回路はＣＤＲ回路からの再生データと期待値データの比較を行うことでテストが行われる。 - 特許庁

Test pattern generation can be achieved simply and in a short time by making an LSI chip 101 operate, an object to be evaluated, by an actual device set board apparatus 100 in which the LSI chip 101 is installed, probing its LSI terminal signals 111 to 116, 124, 125, and converting its probe signals 118 to 123, 127 into a test pattern 170 of arbitrary format.例文帳に追加

評価対象とするＬＳＩチップ１０１を搭載する実機セットボード装置１００でＬＳＩチップ１０１を動作させ、そのＬＳＩ端子信号１１１〜１１６，１２４，１２５をプローブし、そのプローブ信号１１８〜１２３，１２７を任意のフォーマットのテストパターン１７０へ変換することで、簡便にかつ短時間でのテストパターン生成が可能となる。 - 特許庁

A portable terminal device 1 collects test data of one subject by plural kinds of measuring instruments such as a blood sugar measuring instrument 2a, a sphygmomanometer 2b and transmits these plural kinds of test data to the data processing device 3a, etc., of a medical institution or the like in an order predetermined for each receiver, improving processing efficiency on the part of the data processing device.例文帳に追加

携帯端末装置１は、血糖計２ａ、血圧計２ｂ…の複数種類の測定装置による同一被測定者の測定データを収集し、これら複数種類の測定データを、送信先に応じて予め設定された順序で、医療機関等のデータ処理装置３ａ…へ送信することにより、データ処理装置側での処理効率を向上させる。 - 特許庁

The operation management server is provided with: a first processing means for performing processing to prepare the site of the portable terminal; a second processing means for executing a test by connecting to a predetermined authority concerned for testing the prepared site; and a third processing means for notifying the application server so as to publicly opening the site matched with a test by the second processing means on the network.例文帳に追加

運用管理サーバは、携帯端末のサイトを作成する処理を行なう第１処理手段と、作成されたサイトをテストするための所定の関係先に接続してテストを実施する第２処理手段と、第２処理手段によるテストに適合したサイトをネットワーク上へ公開するために、アプリケーションサーバに通知する第３処理手段と、を有する。 - 特許庁

The control, monitoring, evaluation, determination and a grasp of going can be performed on a real time basis from the terminals 27a to 27c through the monitor/control terminal 25, the Internet network 15 and the ground test device server 24 without requiring many operators, system engineers and special engineers to go to the ground test device 21 of the artificial satellite 20.例文帳に追加

人工衛星２０の地上試験装置２１にオペレータやシステム技術担当者、及び各専門技術担当者の多人数が赴かなくても、地上試験の制御、監視、評価、判定及び進捗状況の把握は端末２７ａ〜２７ｃから監視制御端末２５とインタネット網１５と地上試験装置サーバ２４とを通してリアルタイムで実施される。 - 特許庁

This peptide for the pregnancy test reagent for sow is composed of a peptide having an amino acid sequence represented by the sequence number 1 (refer to the specification) in the sequence table and has binding ability to estrone which the pregnant sow produces and the pregnancy test reagent for sow comprises a peptide derivative of which the N terminal is bound to a labeled substance as an active ingredient.例文帳に追加

配列表の配列番号１で表わされるアミノ酸配列のペプチドからなり、妊娠した豚が産生するエストロンに対し結合性を有する豚の妊娠検査試薬用ペプチドとし、またはそのＮ末端に標識物質を結合させたペプチド誘導体を有効成分として含有する豚の妊娠検査試薬とする。 - 特許庁

In an operation test of a semiconductor integrated circuit 200, an oscillation inverter 20 used for an oscillation circuit is put into a state of high impedance, signal collision between an output signal of the oscillation inverter 20 and a clock signal input from an output terminal Xout is avoided, a test clock that is not affected by the oscillation inverter 20 is supplied to an internal circuit 26.例文帳に追加

半導体集積回路２００の動作テストの際に、発振回路に用いる発振インバータ２０をハイインピーダンスの状態とし、発振インバータ２０の出力信号と出力端子Ｘｏｕｔから入力されるクロック信号との信号衝突を回避し、発振インバータ２０の影響を受けないテストクロックを内部回路２６に供給する。 - 特許庁

The portable terminal device 20 can output acceleration information for pitching test and acceleration information for rolling test via the elevator controller 1A and the earthquake emergency operation command device 12, and those pieces of acceleration information for the tests can be supplied to the seismic sensor 8 via the elevator controller 1A and the earthquake emergency operation command device 12.例文帳に追加

エレベータ制御装置１Ａと地震管制運転指令装置１２とを介して、携帯端末装置２０は、縦揺れ試験用加速度情報や横揺れ試験用加速度情報を出力可能であり、それら試験用加速度情報がエレベータ制御装置１Ａと地震管制運転指令装置１２を介して地震感知器８に付与可能になっている。 - 特許庁

The device is equipped with a strut, an excitation source for shaking one terminal of the strut longitudinally, and a fixing means for fixing a test piece at an antinode of a standing wave generated due to the strut excitation in such a way that the longitudinal direction is orthogonal to the excitation direction.例文帳に追加

柱体と、柱体の長手方向の一端を加振する加振源と、柱体の加振により発生する定常波の腹位置で試験片をその長手方向が加振方向と直交するように固定する固定手段とを備える。 - 特許庁

The circuit is provided further with a control signal selecting register 113 capable of controlling, from the external terminal, the directional control signal supplied from the test-objective block 202, and the registers 106, 113 are connected respectively on the same scan chain.例文帳に追加

さらに、テスト対象ブロック２０２から供給される方向制御信号を外部端子から制御可能な制御信号選択用レジスタ１１３を備え、レジスタ１０６、１１３をそれぞれ同一スキャンチェーン上で接続する。 - 特許庁

Since the region where the test terminal 102 are formed is a space where a seal material and the like is formed between the end of the downside TFT substrate 100 and a display region 10, the size of the TFT substrate 100 is not actually increased.例文帳に追加

検査用配線１０２が形成された領域は、下側のＴＦＴ基板１００の端部と表示領域１０の間のシール材等が形成されたスペースなので、ＴＦＴ基板１００を実質的に大きくすることは無い。 - 特許庁

During the scan test, a third clock control section 117 stops the supply of the clock to a hard macro 110 such as a ROM and a RAM which are irrelevant to inspection by a control signal from the control signal input terminal 105.例文帳に追加

一方、第３のクロック制御部１１７は、スキャンテスト時に、制御信号入力端子１０５からの制御信号によって、検査に関係の無いＲＯＭやＲＡＭ等のハードマクロ１１０へのクロックの供給を停止させる。 - 特許庁

Accordingly, the memory cell array can operate at the first data transfer rate while allowing the output circuit to output data to an external terminal at the second data transfer rate that is lower than the first data transfer rate, in a test mode of operation.例文帳に追加

これにより、テストモードで、前記メモリセルアレイは前記第１データ転送速度で動作する一方、前記出力回路は前記第１データ転送速度より低い前記第２データ転送速度でデータを前記外部ターミナルに出力しうる。 - 特許庁

To provide a crimp terminal for reducing return difficulty of a crimping part shape after a thermal shock test and effectively improve a contact pressure of both sides of a conductor crimping part by achieving increase in rigidity of a root part of a conductor caulking piece.例文帳に追加

導体加締片の根元部分の剛性アップを図ることにより、サーマルショック試験後の圧着部形状の戻りの悪さを低減し、導体圧着部の両サイドの接圧を効果的に高めることができる圧着端子を提供する。 - 特許庁

To provide a display device which can ensure an area for a thin-film transistor for test and an area for a contact hole which connects an SD electrode with a connection wiring even when a pitch between terminal wirings is small.例文帳に追加

端子配線間ピッチが小さい場合であっても、検査用薄膜トランジスタの面積及びＳＤ電極と接続配線とを接続するコンタクトホールのための面積を確保することが可能な表示装置を提供することである。 - 特許庁

The multi-display system combining a plurality of displays with one another corrects and controls dispersion of display luminance as degradation of a viewing angle of each display depending on a viewing location by using photographing data of a portable camera terminal as a test pattern.例文帳に追加

複数のディスプレイを組み合わせたマルチディスプレイシステムは、携帯カメラ端末の撮影データをテストパターンとして、視聴場所に依存する各ディスプレイの視野角特性劣化としてのディスプレイ輝度のバラ付きを補正制御する。 - 特許庁

To provide a mobile communication terminal testing device and a method of displaying a test result, for: simultaneously displaying measurement values of adjacent channels having different communication systems; and displaying measurement results having different measurement conditions in a unified format.例文帳に追加

通信方式が異なる隣接チャネルの測定値を同時に表示し、測定条件の異なる測定結果を統一されたフォーマットで表示可能とする移動体通信端末試験装置及び試験結果表示方法を提供する。 - 特許庁

A tip of a contact 3 of a socket for connecting a semiconductor test device to a semiconductor chip 1 is formed into a shape provided, in its intermediate part, with a metal wire part 7 comprising a plurality of metallic wires bent toward a lead terminal part 2.例文帳に追加

半導体試験装置と半導体チップ１とを接続するソケット部の接触子３の先端の形状を、その途中にリード端子部２側に湾曲した複数の金属製ワイヤからなる金属ワイヤ部７を設けた形状とする。 - 特許庁

In the case of testing the connection between the IP cores 32 and 33, test signals are supplied for the IP core 32 via the selector 40, and signals of a normal signal input terminal of the IP core 33 are transferred to the signal checker 45.例文帳に追加

ＩＰコア３２、３３間の接続試験を行う場合には、試験信号をセレクタ４０を介してＩＰコア３２に供給し、ＩＰコア３３の通常信号入力端子の信号を信号チェック器４５に転送する。 - 特許庁

A comparing circuit compares signals X0-Xm outputted by a pre-decoder 24 when the signal TMCE is in an activation state with the test mode signals ZTM0-ZTMm, and outputs it to a DQ terminal through a data bus DB.例文帳に追加

比較回路は、信号ＴＭＣＥが活性化状態にあるときにプリデコーダ２４が出力する信号Ｘ０〜Ｘｍとテストモード信号ＺＴＭ０〜ＺＴＭｍとを比較しデータバスＤＢを介してＤＱ端子に出力する。 - 特許庁