「test terminal」に関連した英語例文の一覧と使い方(22ページ目) - Weblio英語例文検索

To reduce the delay of output signal in LSI actual operation in an integrated circuit for performing the operation test of an internal circuit such as CPU core or the like within LSI by use of an external terminal used in the LSI actual operation.例文帳に追加

ＬＳＩ内のＣＰＵコア等の内部回路の動作テストをＬＳＩ実運用時に使用される外部端子を兼用して行う集積回路において、ＬＳＩ実運用時の出力信号の遅延を減らすことを目的とする。 - 特許庁

An output data signal A of a test object circuit 1 and an expected value signal B from an expected value input terminal 2 are compared by a comparing means 3, and the comparison result signal C is held in a nonconformity holding means M1 when the signal C represents nonconformity.例文帳に追加

テスト対象回路１の出力データ信号Ａと期待値入力端子２からの期待値信号Ｂとを比較手段３で比較し、その比較結果信号Ｃが不一致を示すとき不一致保持手段Ｍ１において保持する。 - 特許庁

Further, since the communication state is discriminated through communication between adjacent terminals, when the reply signal is recognized by a plurality of terminals adopting the multi-hop system, it can correctly be recognized as to whether or not the reply signal originates from the test signal coming from its own terminal.例文帳に追加

また、隣接する端末同士の通信によって通信状況を判断するので、マルチホップ方式のように、返信信号が複数の端末で認識されてしまうとき、自機からのテスト信号によるものか正しく認識できる。 - 特許庁

The circuit is provided further with a control signal selecting register 113 capable of controlling, from the external terminal, the directional control signal supplied from the test-objective block 202, and the registers 106, 113 are connected respectively on the same scan chain.例文帳に追加

さらに、テスト対象ブロック２０２から供給される方向制御信号を外部端子から制御可能な制御信号選択用レジスタ１１３を備え、レジスタ１０６、１１３をそれぞれ同一スキャンチェーン上で接続する。 - 特許庁

Since the region where the test terminal 102 are formed is a space where a seal material and the like is formed between the end of the downside TFT substrate 100 and a display region 10, the size of the TFT substrate 100 is not actually increased.例文帳に追加

検査用配線１０２が形成された領域は、下側のＴＦＴ基板１００の端部と表示領域１０の間のシール材等が形成されたスペースなので、ＴＦＴ基板１００を実質的に大きくすることは無い。 - 特許庁

To enable visually grasping a communication state and a signal waveform of a message in testing simultaneously on the time axis in a connection test for a mobile communication terminal by a simulated base station or the like.例文帳に追加

本発明の目的は、移動体通信端末の擬似基地局による接続試験等において、試験時のメッセージの交信状態及び信号波形を同一時間軸上で同時に、視覚的に把握できるようにすることである。 - 特許庁

Each of the contact electrodes 6 has a contact portion 6c for electrically connecting a contact electrode member 6a for making contact with an electrode 2a of a semiconductor device 2 and a contact electrode member 6b for contacting the terminal of a test board.例文帳に追加

コンタクト電極６の各々は、半導体装置２の電極２ａに接触するコンタクト電極片６ａと、試験基板の端子に接触するコンタクト電極片６ｂとを電気的に接続する接続部６ｃを有する。 - 特許庁

To improve development efficiency by conducting a software test of a program of a financial device such as a cash processing device and a business store terminal device without using card media and bankbook media in quantities.例文帳に追加

大量のカード媒体や通帳媒体を使用することなく、現金取扱装置、営業店端末装置等の金融装置のプログラムのソフトウェアテストを可能にし、これにより大幅な開発効率の向上を図ることにある。 - 特許庁

The changeover device 107 selectively outputs the input data signal when the continuity confirmation circuit 106 detects the input data signal or the test signal when the circuit 106 detects no input data signal from its output terminal.例文帳に追加

この切替え器１０７は、導通確認回路１０６によって入力データ信号が検出された場合は入力データ信号を、入力データ信号が検出されない場合はテスト信号を、出力端から選択的に出力する。 - 特許庁

When a user transmits a user identifier, a declaration skill item and a declaration level by using a user terminal 5, a test server 1 refers to a skill item database corresponding to the declaration skill item and retrieves corresponding problems corresponding to the declaration level.例文帳に追加

ユーザがユーザ端末５を用いてユーザ識別子、申告スキル項目、申告レベルを送信すると、テストサーバ１は、申告スキル項目に対応する対応スキル項目データベースを参照して、申告レベルに対応する対応問題を検索する。 - 特許庁

At this time, the test-use switch 21d is turned off in order to prevent the potential of the connection node which connects the capacitor 21b, the switch 21c and the output terminal of the operational amplifier 21a in the C-V converting circuit 21, from transmitting to the differential amplifying circuit 22.例文帳に追加

このとき、検査用スイッチ２１ｄをＯＦＦにし、Ｃ−Ｖ変換回路２１におけるオペアンプ２１ａの出力端子とコンデンサ２１ｂやスイッチ２１ｃの接続点の電位が差動増幅回路２２に伝わらないようにする。 - 特許庁

In the process, binarization data for making only the gradation voltage wiring L to be selected from a first TEST terminal 5a is input and digital gradation data showing gradation corresponding to the gradation voltage wiring L is input from a gradation data input terminal 12 for detecting high level output from an output terminal 10 corresponding to the digital gradation data.例文帳に追加

このとき、第１のＴＥＳＴ端子５ａから前記選択されるべき階調電圧用配線Ｌのみをハイレベルにする２値化データを入力するとともに、階調データ入力端子１２から該階調電圧用配線Ｌに対応する階調を示すディジタル階調データを入力し、該ディジタル階調データに対応する出力端子１０からハイレベルの出力がされるか否かを検出する。 - 特許庁

In this automatic testing device (ATE) 200 having a tester architecture classified by terminals provided with plural dispersed testing units 700 classified by the terminals, the each testing unit 700i issues a stimulation response signal to each DUT terminal di of a tested device (DUT) 600, and/or receives a stimulation signal from the each DUT terminal, to test the each DUT terminal.例文帳に追加

分散した複数の端子別試験ユニット（７００）を設けた端子別テスタアーキテクチャを持つ自動試験装置（ＡＴＥ）（２００）であって、各端子別試験ユニット（７００ｉ）が、被験デバイス（ＤＵＴ）（６００）のそれぞれのＤＵＴ端子（ｄｉ）へと刺激応答信号を発し、および／又は前記それぞれのＤＵＴ端子から刺激応答信号を受信することにより、前記それぞれのＤＵＴ端子を試験する。 - 特許庁

This device includes: a memory cell array; a plurality of data input/output terminals; a plurality of signal paths for writing data supplied to the data input/output terminals to the memory cell array in parallel; a plurality of latch circuits for temporarily holding the data on the signal paths respectively; and a selector for selectively supplying the data to the latch circuits from a test data terminal during a test operation.例文帳に追加

メモリセルアレイと、複数のデータ入出力端子と、データ入出力端子に供給されたデータをメモリセルアレイに対して並列に書き込むための複数の信号経路と、複数の信号経路上のデータをそれぞれ一時的に保持するラッチ回路と、テスト動作時においてテストデータ端子からラッチ回路へデータを選択的に供給するセレクタとを備える。 - 特許庁

An examinee can have a diagnostic test by the consultation by interview using the personal computer 120 and a diagnostic test including a practice using the operation interface 130 by himself or herself by using the low-cost drive aptitude diagnostic remote consultation terminal, and diagnostic results and advice are output on a display 126 etc., of the personal computer 120 to eliminate the need for administrator's attendance.例文帳に追加

パーソナルコンピュータ１２０を用いた問診による診断テストと、操作インタフェース１３０を用いた実技を含む診断テストを、低コストの運転適性診断遠隔受診端末１１０を用いて受診者が一人で遂行できるとともに、診断結果や助言をパーソナルコンピュータ１２０のディスプレイ１２６等に出力することで、管理者の立ち会い等も不要である。 - 特許庁

The semiconductor device manufacturing method comprises a test step of performing a predetermined testing by contacting a probe terminal with a bonding pad A of a semiconductor device, and a pad surface treatment step of performing, after the test step, processing of dissolving a surface of the bonding pad by using chemical or processing of solidifying a melted portion of the bonding pad after melted by heating the bonding pad surface using a furnace.例文帳に追加

半導体装置のボンディングパッドＡにプローブ端子を接触させ、所定の試験を行う試験工程と、試験工程の後、薬液を用いてボンディングパッド表面を溶かす処理、または、加熱炉を用いて加熱することでボンディングパッド表面を溶かした後、溶かした部分を固化する処理を行うパッド表面処理工程と、を有する半導体装置の製造方法。 - 特許庁

In the case of the display test, a testing operator makes a voltage to be outputted to a terminal of the remote monitoring controller TC using the voltage output device 2, and confirms the voltage state of the terminal of the remote monitoring controller TC displayed on the master station simulator TCT as the voice output and display by the voltage output device 2 being a trigger.例文帳に追加

表示試験の際に、試験作業員は、電圧出力装置２を用いて遠隔監視制御装置ＴＣの端子に電圧を出力し、電圧出力装置２による音声出力及び表示をトリガとして、親局模擬装置ＴＣＴに表示された、遠隔監視制御装置ＴＣの当該端子の電圧状態を確認する。 - 特許庁

Using test print (print P1 for confirmation and print P2 for color correction) created at a store terminal 1, a color correction data generation terminal 2 determines whether to generate color correction data or not based on the colorimetry result for print P1 for confirmation and generates color correction data based on the colorimetry result for print P2 for color correction.例文帳に追加

店舗端末１において作成されたテストプリント（確認用プリントＰ１及び色補正用プリントＰ２）を用いて、色補正データ生成端末２において、確認用プリントＰ１の測色結果に基づいて色補正データを生成するか否かを決定するとともに、色補正用プリントＰ２の測色結果に基づいて色補正データを生成する。 - 特許庁

The first and second switches M1 and M2 are used to switch between a normal operation mode to detect charge from an input terminal 11 at the trace charge detecting circuit and a test operation mode to convert a voltage signal from the input terminal 11 into charge at the capacitance Ct for converting charge and to detect the converted charge at the trace charge detecting circuit 3.例文帳に追加

そして、第１,第２のスイッチＭ１,Ｍ２によって、入力端子１１からの電荷を上記微小電荷検出回路で検出する通常動作モードと、入力端子１１からの電圧信号を電荷変換用容量Ｃtで電荷に変換して、変換された電荷を微小電荷検出回路３で検出するテスト動作モードとを切り換える。 - 特許庁

A high frequency signal switching circuit 17 at the inspection of reception switches connection to connect an input terminal of a gain variable high frequency amplifier 2 and an output terminal of a local oscillator VCO 1, and the local oscillator VCO 1 provided in advance to provide a local signal to mixer circuits 7, 8 is selected as a test signal source.例文帳に追加

受信の検査の時に、高周波信号切り替え回路１７はゲイン可変高周波アンプ２の入力端子と局部発振器ＶＣＯ１の出力端子とを接続するように接続の切り替えを行い、ミキサ回路７・８にローカル信号を与えるために予め設けられた局部発振器ＶＣＯ１を、テスト信号源として選択する。 - 特許庁

To provide a carrier tape capable of reducing the electrostatic breakdown of an integrated circuit element caused by the discharge of an electrified charge or the like, and conducting performance test on the integrated circuit element such as conducting input/output inspection of signals by contacting a probe pin with an input terminal or output terminal or the like in the manufacturing process of the tape carrier package.例文帳に追加

テープキャリアパッケージの製造工程の過程において、帯電された電荷の放電等により集積回路素子が静電破壊するのを低減するとともに、入力端子または出力端子にプローブピンを当てて信号の入出力検査を行う等の集積回路素子の性能試験を行うことができるキャリアテープを提供すること。 - 特許庁

Vacuum seals 49, 72 permitting a relative movement along a movement direction of the cross heads 31, 32 are provided between connection bodies 45, 46 interposed between the cross heads 31, 32 and the test terminal 3 and the high temperature observation furnace 60 respectively.例文帳に追加

各クロスヘッド３１，３２及び試験材料３の間にそれぞれ介在する連結体４５，４６と高温観察炉６０との間にクロスヘッド３１，３２の移動方向に沿った相対移動を許容する真空シール４９，７２をそれぞれ設けてある。 - 特許庁

This device is provided with a detecting section 35 detecting a state of the prescribed terminal plural times at the time of applying a power source, and test sections 37, 31 activated when detected results of plural times by the detecting section 35 are all an expected value.例文帳に追加

電源の投入時に、所定の端子の状態を複数回検出する検出部３５と、検出部３５による複数回の検出結果がいずれも期待値のときに活性化される試験部３７、３１とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and an inspecting method thereof capable of continuously outputting a plurality of results of inspection on a plurality of items of inspection from one test terminal without halting operation while discriminating the plurality of results of inspection.例文帳に追加

動作を停止させることなく、複数の検査項目に関する複数の検査結果をそれぞれ区別しながら連続的に１つのテスト端子から出力することができる半導体装置及び半導体装置の検査方法を提供すること。 - 特許庁

A test terminal 1 makes a call to reception window terminals 2,..., 2 at a prescribed time interval, detects the propriety of incoming calls on the basis of replies from the reception window terminals 2,..., 2, generates a detection result M1 and transmits it to a Web server 3.例文帳に追加

試験端末１から受付窓口端末２，…，２に対して所定の時間間隔で発呼が行われ、受付窓口端末２，…，２の応答に基づいて着信の可否が検出され、検出結果Ｍ１が生成されてＷｅｂサーバ３に送信される。 - 特許庁

Next, the current flowing through an electric source line for supplying a driving electric source to the output buffer circuit for a certain time is measured under the condition that the test potential established on the signal terminal is maintained, while making the output buffer circuit inactivation state.例文帳に追加

次いで、出力バッファ回路を非作動状態とし、前記信号端子に設定されたテスト電位が保持される状況下で、一定時間の間に前期出力バッファ回路に駆動電源を供給する電源線を流れる電流を計測する。 - 特許庁

The network quality evaluation device is characterized in that a probe having a packet extract function is inserted to one terminal of measurement object span on the communication network so as to measure a propagation delay time for a test packet reciprocated through the measurement object span.例文帳に追加

通信ネットワーク上の測定対象区間の一端にパケット抽出機能を有する1台のプローブを挿入し、前記測定対象区間を往復するテスト用パケットの伝播遅延時間を測定することを特徴とするネットワーク品質評価装置。 - 特許庁

The switching of the normal application state and the test state is implemented by a voltage input to a battery connecting terminal of the charge/discharge control circuit by using a voltage detection circuit that detects a voltage higher than an overcharge detection voltage of a secondary battery.例文帳に追加

二次電池の過充電検出電圧より高い電圧検出回路を用いて、充放電制御回路の電池接続端子に入力された電圧によって、通常応用状態とテスト状態のいずれかに切り替えが可能になる。 - 特許庁

Each of the connection terminal parts of the semiconductor device under the condition put into an environment test vessel 9 is connected to the constant current device 5 and the voltage monitoring device 6 by two wires (one thereof is a grounding wire) via the resistance circuit network 4.例文帳に追加

環境試験槽９に入れた状態における半導体デバイス１の各接続端子部と、抵抗回路網４を介して２本の配線（１本は接地線である）で定電流源装置５および電圧モニタ装置６とが接続される。 - 特許庁

In the case of testing the functions of an IP core 32, test signals outputted by a signal generator 44 are supplied for a normal signal input terminal of the IP core 32 via a selector 40, and its output signals are transferred to a signal checker 45.例文帳に追加

ＩＰコア３２の機能試験を行う場合は、信号発生器４４が出力する試験信号をセレクタ４０を介してＩＰコア３２の通常信号入力端子に供給し、その出力信号を信号チェック器４５に転送する。 - 特許庁

It is made possible to switch the charge/discharge control circuit for secondary batteries between the normal state and the test state for evaluating the charge/discharge control circuit by presence or absence of voltage externally applied to the control signal output terminal of the charge/discharge control circuit.例文帳に追加

二次電池の充放電制御回路の制御信号出力端子に外部から印加される電圧の有無によって、通常状態と前記充放電制御回路を評価するテスト状態のいずれかに切り替えが可能にする。 - 特許庁

An audio signal for test is output from a signal processing part 111 in a state that the resistors 121, 122 are intervened in the signal channel, and a voltage of an intermediate point of a voltage dividing circuit configured by the earphone connected to the output terminal and the resistors is detected.例文帳に追加

この抵抗１２１，１２２を信号経路に介挿された状態で信号処理部１１１からテスト用音声信号を出力し、出力端子に接続されたイヤホンと抵抗とで構成される分圧回路の中間点の電圧を検出する。 - 特許庁

To provide ISDN terminal equipment, with which the problem of a setting error in the polarity of a line voltage does not occur by omitting a manual polarity changeover switch and a configuration is simplified by omitting the switch or test circuit of an electromagnetic relay.例文帳に追加

手動の極性切換スイッチを省略して、回線電圧の極性の設定ミスの問題を生じないようにすると共に、電磁リレーのスイッチや試験回路を省略し、構成の簡略化を図ったＩＳＤＮ端末装置を提供する。 - 特許庁

This multivariable decision tree construction system 1 is configured to construct a multivariable decision tree where multivariable test functions for dividing data are installed in every non-terminal end node by using a plurality of data for training equipped with element data.例文帳に追加

本発明に係る多変数決定木構築システム１は、要素データを備えた複数の訓練用データを用いて、データの分割を行うための多変数テスト関数が非終端節点毎に設けられた多変数決定木を構築するシステムである。 - 特許庁

The user terminal 1 receives a voice data group inputted from plural user terminals and a text group corresponding to this voice data group from the management server 2 and outputs the voice data group as voice and displays the test group as pictures.例文帳に追加

また、複数の利用者端末の各々から入力された音声データ群と該音声データ群に対応するテキスト群とを管理サーバー２から受信して上記音声データ群を音声出力すると共に上記テキスト群を画面表示する。 - 特許庁

The male terminal for the PCB connector which has a friction coefficient of the engagement part of 0.26 or less and a zero-cross time after aging (PCT (Pressure Cooker Test): 105°C, relative humidity 100%) of the soldering part of 5 seconds or less, and the manufacturing method thereof are disclosed.例文帳に追加

本発明は、嵌合部の摩擦係数が０．２６以下で、半田付け部のエージング（ＰＣＴ：１０５℃、相対湿度１００％）後のゼロクロスタイムが５秒以下であることを特徴とするＰＣＢコネクタ用オス端子及びその製造方法である。 - 特許庁

The pattern data PTN of the output expected values corresponding to input signals IN1-INm are inputted in series from a test input terminal 9, converted into parallel data by a S/P converter 7, and fed to a first input side of a comparator 5.例文帳に追加

入力信号ＩＮ１〜ＩＮｍに対応した出力期待値のパターンデータＰＴＮが、試験入力端子９から直列に入力され、Ｓ／Ｐ変換器７で並列データに変換されて比較器５の第１の入力側に与えられる。 - 特許庁

Gradation levels included between V1-V2 of the reference power supply terminal are made a target of the test, so that each adjacent gradation output level can retain a potential difference of about 200 mV (a potential difference between reference supply terminals 10,000 mV/gradation levels 51) with each other.例文帳に追加

この基準電源端子のＶ１〜Ｖ２間に含まれる階調レベルをテスト対象とすることで、それぞれの隣接階調出力レベルは相互に約２００［ｍＶ］（基準電源端子間電位差１００００［ｍＶ］／５１階調レベル）の電位差を保つことができる。 - 特許庁

The semiconductor device is provided with wirings L2, L2 applied with negative voltage, a MOS transistor Tn1 to be connected to the wirings L1, L2, and an external terminal 20 which is arranged for the purpose of carrying out a leak test on the wiring L1 and applying the negative voltage to the wiring L1.例文帳に追加

半導体装置は、負電圧が印加される配線Ｌ１，Ｌ２と、前記配線Ｌ１，Ｌ２に接続されるＭＯＳトランジスタＴｎ１と、配線Ｌ１のリーク試験を行うために設けられ、配線Ｌ１に負電圧を印加するための外部端子２０とを備える。 - 特許庁

To prevent a printed board from becoming larger in size due to terminal electrodes for test with which conducting probes are brought into contact when a plurality of printed boards of hybrid integrated circuit devices, etc., is simultaneously manufactured by using a base material substrate and the manufactured printed boards are tested.例文帳に追加

ハイブリッド集積回路装置等のプリント基板２の複数枚を、素材基板１を使用して同時に製作して、そのテストを行う場合に、通電用プローブを接触するテスト用端子電極７を設けることのためにプリント基板が大型化することを防止する。 - 特許庁

The semiconductor device 10 comprises the ADC 1, the determination circuit 2; the channel selection circuit 3, the test signal generator circuit 4, switches SW1 to SWn, switches SWn+1 to SWn+m, input terminals Pin1 to Pinn; and the output terminal Pout.例文帳に追加

半導体装置１０には、ＡＤＣ１、判定回路２、チャネル選択回路３、テスト信号発生回路４、スイッチＳＷ１乃至ＳＷｎ、スイッチＳＷｎ＋１乃至ＳＷｎ＋ｍ、入力端子Ｐｉｎ１乃至Ｐｉｎｎ、出力端子Ｐｏｕｔが設けられている。 - 特許庁

A boundary-scan cell connected to a first circuit terminal 37 of a device 32 from a list containing boundary-scan compliant circuit terminals of boundary-scan compliant devices 32, 33, 34, 35 mounted on PCB 31 is operated as a driver by a processing unit of the test device 42.例文帳に追加

ＰＣＢ３１に搭載されたバウンダリスキャン対応デバイス３２、３３、３４、３５のバウンダリスキャン対応回路端子を含むリストからデバイス３２の第１回路端子３７に接続されたバウンダリスキャンセルが、テスト装置４２の処理ユニットによってドライバとして作動される。 - 特許庁

Moreover, the scanning test signal and an input signal to the circuit 21 are input from external terminals 11 to the multiplexer 24 via an I/O block 1 respectively, and the output signal of the output circuit 25 is output to an external terminal 11 via the I/O block 1.例文帳に追加

さらに、回路２１の入力信号およびスキャンテスト信号はそれぞれ外部端子１１からＩ／Ｏブロック１を経由してマルチプレクサ２４に入力され、出力回路２５の出力信号はＩ／Ｏブロック１を経由して外部端子１１に出力される。 - 特許庁

The macrocell 68 operates so as to connect the external terminal 66 and the electrode pad 64 at a normal mode, and operates to disconnect them at a test mode and form a series of shift registers by connecting the macro cell at a rear step.例文帳に追加

マクロセル６８は、通常モード時には、外部端子６６と電極パッド６４とを接続するように動作し、テストモード時には、外部端子６６と電極パッド６４とを非接続状態にし、後段のマクロセル６８と接続して一連のシフトレジスタを形成するように動作する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device comprising an electrode terminal at a fine pitch, wherein it is possible to easily join a gold wire by an ultrasonic jointly using type thermocompression wire bonder, and also to easily test without damaging circuit elements.例文帳に追加

微細ピッチの電極端子を具備する半導体集積回路装置であっても、超音波併用型熱圧着ワイヤボンダなどによって金ワイヤを容易に接合でき、また回路素子にダメージを与えることなく、かつ容易に検査を実施することを可能にする。 - 特許庁