「test terminal」に関連した英語例文の一覧と使い方(15ページ目) - Weblio英語例文検索

A nozzle forming member in the vicinity of a section in which the test terminal is arranged is separated from nozzle forming members for the other sections to reduce the volume of the nozzle forming member in the vicinity of the above section.例文帳に追加

テスト端子を配置した部分近傍のノズル形成部材の体積が少なくなるように、他の部分のノズル形成部材から分離して設ける。 - 特許庁

A test-only wiring pattern 5 is arranged on a base board 1 for every tested pair chip 6 so as to be connected to a testing terminal 10.例文帳に追加

基板１に、各被試験ベアチップ６毎にテスト用の専用パターン配線５を設け、これらの専用パターン配線５をテスト用端子１０に接続する。 - 特許庁

A terminal 4 records the luminescent spot pixel positions and levels of the luminescent spots in an external storage device 5 as a file for the image test results.例文帳に追加

端末４は、画像テスタ１により検出された輝点箇所の輝点画素位置と輝点レベルを、画像テスト結果ファイルとして外部記憶装置５に記録する。 - 特許庁

The processed results by the logic section 2 are compared with the pattern data PTN of the output expected values, and the compared results are outputted from a test output terminal 6.例文帳に追加

比較器５では、ロジック部２の処理結果が出力期待値のパターンデータＰＴＮと比較され、その比較結果が試験出力端子６から出力される。 - 特許庁

A JTAG(joint test action group) controller 11 arranged outside an optical communication line board 1 is connected through a JTAG terminal 7 to a JTAG mechanism 43.例文帳に追加

光通信回線ボード１外部に配設されたＪＴＡＧ制御装置１１はＪＴＡＧ端子７を介してＪＴＡＧメカニズム４３に接続されている。 - 特許庁

When a semiconductor integrated circuit device is supplied with electric power and then a control circuit 2 is made ON, a test signal is inputted from a clock output terminal 6.例文帳に追加

半導体集積回路装置に電源供給した後に、コントロール回路２がＯＮとなったとき、クロック出力端子６よりテスト信号を入力する。 - 特許庁

The addition part 13 is connected to respective output parts 15 to add analog quantities and output the added result from a test terminal (PAD) 14 to the external.例文帳に追加

加算部１３は、それぞれの出力部１５に接続されアナログ量を加算し、加算結果をテスト端子（ＰＡＤ）１４から外部に出力する。 - 特許庁

One light emitting point more superior in characteristic in an aging test is selected to perform wiring to an exterminal terminal with respect to an electrode corresponding to the light emitting point.例文帳に追加

エージング試験での特性が優れた方の発光点を選択し、その発光点に対応する電極に対して外部端子への配線を行う。 - 特許庁

After the test, only a region of a wiring sheet section 20 excluding the terminal 25 for testing is separated, thus obtaining the sheet mount chip 60 as KGD.例文帳に追加

このテストののち、テスト用端子２５を含まない配線シート部２０の領域のみ切り離すことにより、ＫＧＤとしてのシートマウントチップ６０を得ることができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which is not easily placed in test mode even when high voltage noise is input to a terminal also used for testing.例文帳に追加

この発明は、テスト兼用端子に高電圧のノイズが入力された場合でも容易にテストモードに入ることのない半導体装置を提供する。 - 特許庁

The composite image of the test patterns is sent from the master projector 1 and displayed as a web page on the screen of a terminal device 10 that a user operates.例文帳に追加

合成されたテストパターンの画像は、ユーザの操作する端末装置１０の画面に、マスタのプロジェクタ１から送信されるＷｅｂページとして表示される。 - 特許庁

Since parallel input patterns are converted to series patterns and outputted from an output terminal, even when the number of output terminals are few, a connection test can be performed.例文帳に追加

並列の入力パターンを直列に変換して出力端子から出力するため、出力端子の数が少ない場合にも、接続試験を実行できる。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of supplying high-speed, stable clock to an internal circuit without adding a test terminal.例文帳に追加

テスト端子を追加せずに、高速の安定したクロックを内部回路に供給することができる半導体集積回路を提供することを目的とする。 - 特許庁

A terminal device (17) generates test signals for a digital filter circuit (12), operates the digital filter circuit, and selectively observes the internal signal or the like.例文帳に追加

端末装置（１７）はデジタルフィルタ回路（１２）にテスト信号を発生し、デジタルフィルタ回路を動作させ、その内部信号等を端末装置にて選択的に観測する。 - 特許庁

To provide a contact pin and a socket for electrical components wherein pasting to the electrical components terminal is suppressed and a resistance value can be made small even after a burn-in test.例文帳に追加

バーンイン試験後でも電気部品端子との貼り付きを抑制すると共に、抵抗値を小さくできるコンタクトピン及び電気部品用ソケットを提供する。 - 特許庁

An alarm outputting part 26 outputs an alarm message composed of a resources number, an abnormality factor, etc., to a maintenance terminal when abnormality is detected as the result of test.例文帳に追加

アラーム出力部２６は、試験の結果、異常が検出されたとき、リソース番号、異常要因などからなるアラームメッセージを保守端末へ出力する。 - 特許庁

Each signal input terminal of a plurality of direct current indicators 3, etc., mounted on the monitoring board is provided respectively with each test switch 4, etc.例文帳に追加

監視盤に取付けられた複数の直流電流指示計３、…、３の各々の信号入力端子には、それぞれ試験スイッチ４、…、４が設けられている。 - 特許庁

An electronic voting terminal is provided with a lock device for using a prescribed key to be unlocked and further inputting a prescribed password to make the printer 20 perform test printing.例文帳に追加

所定のキーを用いて開錠し、さらに所定のパスワードを入力することによりプリンタ２０がテスト印字を行なえるようにするロック装置を備える。 - 特許庁

To modify a test pattern so as to be in accord with input-output switching timing of an input-output terminal of an integrated circuit measured by an input-output switch timer.例文帳に追加

入出力切替えタイミングが測定する集積回路の入出力端子の入出力切替えタイミングに合うようにテストパタンを修正する。 - 特許庁

In the subscriber line testing system, an IP converter 6 provided with a test connection control part 61 for receiving a test request from a subscriber terminal 2 is connected through an IP network to a new test reception board system 1B, and the IP converter 6 includes a test command conversion part 62 for converting control information by the IP network to control signals using a speech channel (B channel).例文帳に追加

加入者端末２から試験依頼を受け付ける試験接続制御部６１を備えたＩＰ変換装置６が、ＩＰ網を介して新試験受付台システム１Ｂを接続される加入者線試験システムであって、ＩＰ変換装置６は、さらにＩＰ網による制御情報を通話チャネル（Ｂチャネル）を用いた制御信号に変換する試験コマンド変換部６２を備える。 - 特許庁

The bidirectional photothyristor test device 21 serially connects a second connection terminal 27, a power source V, a first switch SW1, a resistor R, a second switch SW2 and a first connection terminal 26, and is constituted to interpose a capacitor C between the second connection terminal 27 and a node 25.例文帳に追加

双方向フォトサイリスタテスト装置２１を、第２接続端子２７，電源Ｖ，第１スイッチＳＷ１，抵抗Ｒ，第２スイッチＳＷ２，第１接続端子２６を直列に接続し、第２接続端子２７とノード２５との間にコンデンサＣを介設して構成する。 - 特許庁

If the high level indicating the test time is inputted to the TESTMODE terminal, the clock supply circuit 50 imparts the clock signal CK to the CLK input terminal, the DFF circuits 31-3n latch the output signal of the output terminal D0-D31.例文帳に追加

また、ＴＥＳＴＭＯＤＥ端子に、テスト時であることを示すハイレベルが入力される場合には、クロック供給回路５０は、クロック信号ＣＫをＣＬＫ入力端子に与えて、ＤＦＦ回路３１〜３ｎは、出力端子Ｄ０〜Ｄ３１の出力信号をラッチする。 - 特許庁

The driving circuit 100 includes: an electric charge discharging circuit 33 which connects a first terminal 4 supplied with the high negative voltage VGL to a second terminal 2 of a ground voltage GND in response to a drop of a power source voltage VDC; and a test external terminal 6.例文帳に追加

表示装置用駆動回路１００は、電源電圧ＶＤＣの低下に応じて、高圧負電圧ＶＧＬが供給される第１端子４を接地電圧ＧＮＤの第２端子２に接続する電荷放電回路３３と、テスト用外部端子６とを具備する。 - 特許庁

The flip-flops 5 with a reset terminal are inserted on the scan paths 3 and the flip-flops 5 with reset terminal are specified by a mask register 4 and are reset, so that the flip-flop values out of the test object for inputting in the flip-flops 5 with reset terminal are initialized and masked.例文帳に追加

スキャンパス３上にリセット端子付きフリップフロップ５を挿入し、マスクレジスタ４によりリセット端子付きフリップフロップ５を指定してリセットすることにより、リセット端子付きフリップフロップ５に入力するテスト対象外フリップフロップの値を初期化し、マスクする。 - 特許庁

In the abnormal test for short-circuiting a terminal T1 of a primary coil L1 and a terminal T5 of a secondary coil L2 in a transformer 10, a limiting resistor R1 for limiting a current flowing in a testing resistor R10 is provided between the secondary coil L2 and the terminal T5.例文帳に追加

トランス１０の１次側コイルＬ１の端子Ｔ１と２次側コイルＬ２の端子Ｔ５とを短絡させる異常試験において、試験用抵抗Ｒ１０に流れる電流を制限するための制限抵抗Ｒ１を、２次側コイルＬ２と、端子Ｔ５との間に設ける。 - 特許庁

To provide a wireless data communication terminal that transmits a test radio wave to other terminal so as to check a state of a radio wave with respect to the other terminal thereby simply permitting establishment of other communication route and to provide a method for detecting a state of radio wave.例文帳に追加

この発明は、端末から他端末に試験電波を発して、他端末との電波状態をチェックすることにより別の通信ルートを簡単に確立することができる無線データ通信端末及び電波状態検出方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To set a test mode by using only one user terminal without providing any terminal dedicated to mode setting since the securement of a terminal for testing is a major task in the case of an LSI with a small number of terminals mounted on a system such as an IC card.例文帳に追加

ＩＣカード等のシステムに搭載される端子数の少ないＬＳＩにおいては、テスト用端子の確保が大きな課題であり、本発明は、モード設定専用端子を設けることなくユーザー端子１本のみでテストモード設定を可能にすることを目的とする。 - 特許庁

Packet, data containing a mail address number of the terminal is transmitted from the maintenance terminal to the mail address number of the test terminal and a reply, is confirmed, so that it is confirmed whether a packet data call process is functioning of a base station wireless installation operates normally.例文帳に追加

保守端末装置から同端末のメールアドレス番号を含んだパケットデータを試験端末装置のメールアドレス番号に対して送信し返信を確認することで、基地局無線装置のパケットデータ呼処理機能が正常に動作しているかを確認する。 - 特許庁

A plurality of systems of test signal forming circuit (10, 50) and test signal transmitting circuit (20, 60) are provided, and data of different portable telephone systems is written in respective transmission systems so that test signals of a plurality of different portable telephone systems can be transmitted to a portable terminal 100 simultaneously or in combination.例文帳に追加

テスト信号形成回路（１０、５０）とテスト信号送信回路（２０、６０）を複数系統設け、それぞれの送信系統に異なる携帯電話システムのデータを書き込み、これによって複数の異なる携帯電話システムのテスト信号を同時にあるいは組み合わせて携帯端末１００へ送信可能とする。 - 特許庁

A test circuit 1 includes a plurality of data holding circuits provided corresponding to the plurality of peeling reinforcement blocks, a test signal supply terminal for supplying a test signal to one end of each of the plurality of peeling reinforcement blocks, and a nonvolatile storage circuit connected to the plurality of data holding circuits.例文帳に追加

前記テスト回路１は、前記複数の剥離補強ブロックに対応して設けられた、複数のデータ保持回路と、前記複数の剥離補強ブロックの各々の一端に、テスト信号を供給する、テスト信号供給端と、前記複数のデータ保持回路に接続された、不揮発性の記憶回路とを備える。 - 特許庁

In a test time, a TEST flag signal is 'H', a switch SWA is turned off, a switch SWB is turned on, an external power source for test of which voltage is varied is connected to the memory core 107 through an external power source connection terminal 101, an output of a second boosting circuit 105 is supplied to the voltage drop power source 108.例文帳に追加

試験時においては、ＴＥＳＴフラグ信号が「Ｈ」となり、スイッチＳＷＡはオフ、スイッチＳＷＢはオンとなり、メモリコア１０７には、外部電源接続端子１０１を介して、電圧が変動するテスト用の外部電源が接続され、降圧電源１０８には、第２の昇圧回路１０５の出力が供給される。 - 特許庁

Then, a test mode B is designated by the switching signal TA/TB, to thereby switch the transfer switch 8 to the terminal B side, and the test input data are read out from the FIFO memory 2 and imparted to the logic block 1, and a processing result outputted from the logic block 1 is stored in the FIFO memory 2 as test output data.例文帳に追加

次に、切替信号ＴＡ／ＴＢでテストモードＢを指定して切替スイッチ８を端子Ｂ側に切り替え、ＦＩＦＯメモリ２からテスト入力データを読み出して論理ブロック１に与え、この論理ブロック１から出力される処理結果をテスト出力データとしてＦＩＦＯメモリ２に格納する。 - 特許庁

When the delay test on the output terminal side of the customer-designed circuit 12 and that on the input terminal side of the IP macro 10 are acceptable, a delay between the scanning flip-flops 18 and 14 is determined as satisfactory.例文帳に追加

顧客側設計回路１２の出力端子側の遅延試験及びＩＰマクロ１０の入力端子側の遅延試験が合格であれば、スキャンフリップフロップ１８、１４間の遅延に問題はないと判定する。 - 特許庁

When a computer device 10 is connected to the kiosk terminal 20, a user support center terminal 30 transmits a starting up file to the computer device 10 for starting it up, acquires a model number of the device, and transmits a corresponding operation test file.例文帳に追加

ユーザサポートセンタ端末３０は、コンピュータ装置１０がキヨスク端末２０に接続されると起動ファイルを送信してコンピュータ装置１０を起動させ、装置型番を取得して対応する動作テストファイルを送信する。 - 特許庁

An intermediary computer 10 acquires personal data and test data from a user's terminal 20 and from a testing institution's terminal 40, and selects, based on the thus collected data, a medical institution suitable for the user.例文帳に追加

仲介者のコンピュータ装置１０は、利用者および検査機関の端末装置２０，４０から個人情報および検査情報を取得し、これらの情報に基づいて利用者に適した診療機関を選定する。 - 特許庁

Consequently in a state before the sheet-like member 11 is pasted on the device body, the test signal terminal 16 is exposed outside via a through-hole, thereby testing signal characteristics using the terminal 16.例文帳に追加

従って、シート状部材１１が装置本体に貼られる前の状態であれば、試験用信号端子１６が、透孔を介して外部に露出しており、その端子１６を使った信号特性の試験が可能になる。 - 特許庁

When the test pattern is input to the input terminal, an expected value expected to be output from the output terminal is output to determine whether the each DUT is troubled or not, using the expected value.例文帳に追加

入力端子にテストパターンが入力された場合に出力端子から出力されると期待される期待値を出力し、この期待値を利用して個々のＤＵＴが故障しているか否かを判定する。 - 特許庁

To provide an IC test handler provided with a clamping device capable of restraining a lateral shift amount of an IC in an IC clamping process, and capable of preventing a terminal contact trouble or the like from occurring even in the IC having a reverse face terminal of a narrow pitch.例文帳に追加

ＩＣクランプ過程でのＩＣの横ずらし量を抑制でき、狭端子ピッチの裏面端子を持つＩＣでも端子接触不具合等の発生を防止できるクランプ装置を備えたＩＣテストハンドラの提供。 - 特許庁

A third FF circuit 13 outputs third hold data Dm3 of an LL level or H level from its output terminal Q, in accordance with a test pattern input from the scan-in terminal S1 of a first FF circuit 11.例文帳に追加

第３ＦＦ回路１３は、第１ＦＦ回路１１のスキャンイン端子ＳＩから入力されるテストパターンに応じて、Ｌレベル又はＨレベルの第３保持データＤｍ３を出力端子Ｑから出力する。 - 特許庁

In a test mode, a control signal TDI is inputted in an input terminal 32, and is converted into an analogue signal by a D/A 37, and an analogue output signal AO is outputted from an output terminal through a selector 38.例文帳に追加

試験モード時、入力端子３２に制御信号ＴＤＩを入力し、これをＤ／Ａ３７でアナログ信号に変換し、セレクタ３８を介して出力端子からアナログの出力信号ＡＯを出力する。 - 特許庁

Each test circuit chip 21 is connected to the probe terminal 12 via a wire provided for the inside of the card main body 11 and transmits and receives a signal to and from the LSI chip to be tested via the probe terminal 12.例文帳に追加

各テスト回路チップ２１は、カード本体１１の内部に設けられた配線を介してプローブ端子１２と接続されており、プローブ端子１２を介してテスト対象ＬＳＩチップと信号の授受を行う。 - 特許庁

Data inputted by a test data input terminal 2 is latched by the D flip flop 4 of a prestage by a clock signal inputted from a clock terminal 3 and is delayed with a delay component 6 by delay time td.例文帳に追加

テストデータ入力端子２より入力されたデータは、クロック端子３より入力されるクロック信号により、前段のＤフリップフロップ４でラッチされ、その後、遅延成分６で遅延時間ｔ_dだけ遅延する。 - 特許庁

Further, a test switch means is included for connecting a positive- or negative-pole side output terminal of the second sample/hold circuit and a negative- or positive-pole side input terminal of the first sample/hold circuit in accordance with a control signal.例文帳に追加

さらに，制御信号により第２のサンプルホールド回路の正または負極側の出力端子と第１のサンプルホールド回路の負または正極側の入力端子とを接続するテスト用スイッチ手段を有する。 - 特許庁

To provide an excessive distortion detector for a portable terminal in which the situations of using portable terminals on the market can be grasped without disassembling the portable terminal and implementing a reproduction test.例文帳に追加

本発明は、携帯端末を分解することなく、また再現試験を実施せずして市場における携帯端末の使用状況を把握できる携帯端末の過大歪み検出装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

An LSI tester 32 outputs a test signal from an analog signal generator 34 to an input terminal IN1, and tests the analog circuit blocks 39-42 collectively at a time, on the basis of this test signal and an output signal from an output terminal OUT4 detected by an analog signal inputting part 36.例文帳に追加

ＬＳＩテスタ３２は、アナログ信号発生器３４から入力端子ＩＮ１に対してテスト信号を出力し、このテスト信号とアナログ信号入力部３６で検出した出力端子ＯＵＴ４からの出力信号とに基づいて、アナログ回路ブロック３９〜４２を１度にまとめてテストする。 - 特許庁