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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > test terminalに関連した英語例文

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test terminalの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 1197



例文

A P channel MOS transistor TR1 being made a non-conduction state when a potential given to a terminal T1 is a power source potential EXTVDD or less is provided between a SVIH detecting circuit 22 detecting a test mode and the terminal T1.例文帳に追加

端子T1に与えられる電位が電源電位EXTVDD以下である場合に非導通状態となるPチャネルMOSトランジスタTR1を、テストモードの検出を行なうSVIH検出回路22と端子T1との間に設ける。 - 特許庁

To provide a technique capable of bringing a contact terminal into contact with a test pad that the contact terminal corresponds to by a desired contact pressure in a probe inspection executed using a thin film probe formed using the manufacture technique of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の製造技術を用いて形成された薄膜プローブを用いて行うプローブ検査において、接触端子とその接触端子が対応するテストパッドとを所望の接触圧力で接触させることのできる技術を提供する。 - 特許庁

When the integrated circuit 2 is mounted on a circuit board 20, a ground voltage is applied to signal wiring 23, and current application voltage measurement is performed to the test terminal 10, to thereby detect a mounting defect of the input/output terminal 6.例文帳に追加

集積回路2を回路基板20に実装したとき、信号配線23にグランド電圧を与えるとともに、テスト端子10に対して電流印加電圧測定を行うことにより、入出力端子6の実装不良を検出することができる。 - 特許庁

A plurality of test ring oscillators commonly connecting an output terminal are provided on a semiconductor chip, selectively oscillated by a logic circuit and oscillation output output through the output terminal is monitored by a tester.例文帳に追加

出力端子を共通に接続された複数のテスト用リングオシレータを半導体チップ上に設け、当該複数のリングオシレータを論理回路により選択的に発振させ、出力端子を介して出力される発振出力をテスタによってモニタする。 - 特許庁

例文

On the end edge of a first large substrate 110 having a plurality of TFT substrate areas 10, a test terminal 111 to be connected, via a wiring pattern, to an external connection terminal 102 formed on each TFT substrate area 10 is formed.例文帳に追加

TFT基板領域10を複数有する第1の大型基板110の端縁に、各TFT基板領域10に形成されている外部接続端子102に対し配線パターンを介して接続するテスト端子111を形成する。 - 特許庁


例文

To provide a semiconductor integrated circuit capable of controlling the electric connection of pull-down/pull-up elements connected to an input terminal or a bidirectional terminal used for input/output of a signal in each of a test mode and a normal operation mode.例文帳に追加

テストモード及び通常動作モードのそれぞれにおいて、入力端子、又は、信号の入出力に用いられる双方向端子に接続されるプルダウン/プルアップ素子の電気的接続を制御することが可能な半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

The delay amounts of each of combination circuits 13, 14 are measured by setting a second input terminal 19B of a selector switch 19 to selection state, a first input terminal 20A of a selector switch 20 to selection state, and by transitioning the phase of a test clock TCK.例文帳に追加

切替スイッチ19は第2入力端子19Bを選択状態、切替スイッチ20は第1入力端子20Aを選択状態とし、テストクロックTCKの位相を遷移させて、組合せ回路13、14のそれぞれの遅延量を測定する。 - 特許庁

A switch of the switching circuit is connected to one connection terminal following a control signal inputted from a switching control circuit 13, and the input/output pin connected to the connection terminal is conducted with the channel circuit, to thereby perform the test.例文帳に追加

そして、切替制御回路13から入力される制御信号に従って、切替回路のスイッチを1つの接続端子に接続し、当該接続端子に接続されている入出力ピンがチャンネル回路と導通し、試験が行われる。 - 特許庁

To provide the setting and registration device for a monitor terminal by which setting registration conducted at start of monitoring of a monitor terminal and discrimination of a test report after that are conducted correctly and quickly without troubling a controller of an integrated control station.例文帳に追加

監視端末の監視動作開始時に行われる設定登録作業やその後の試験発報の判定を統括管制所の管制員の手を煩わせずに正しく速やかに行うことができる監視端末の設定登録装置を提供する。 - 特許庁

例文

This monitoring control system for monitoring and controlling a monitoring target facility by connecting a plurality of terminals (RS) 13 and an IG server 10 through an IP network 11 is configured to test the IC server 10 accompanied by the use of the extended terminal by using a simulation terminal 20 simulating the operation of the extended terminal.例文帳に追加

IPネットワーク11を介して、複数の端末(RS)13とIGサーバ10とが接続されて、監視対象の設備などの監視・制御を行なう監視制御システムにおいて、増設端末の使用に伴うIGサーバ10の試験を、増設端末の動作を模擬する模擬端末20を使用して行なう構成である。 - 特許庁

例文

To provide a connection terminal for power distribution tower artificial grounding, capable of safely connecting the connection terminal to a high-voltage bus bar, without covering phase other than a parallel test phase with a protection member, and maintaining the connection state of the connection terminal to the high-voltage bus bar, without requiring continuous holding by an operator.例文帳に追加

並列する試験相以外の相を防護部材で覆わなくとも安全に接続用端子を高電圧母線へ接続することができ、また、作業員が常時保持することなく、接続用端子を高電圧母線への接続状態を維持させることが可能な、配電塔人工接地用接続端子を提供することにある。 - 特許庁

Since an ON-OFF control signal is in a low state at this time, a low signal is sent out to a gate terminal G of a latch circuit 15 from a control part 14 via a buffer 17, therefore, the test signal sent out to the input terminal D via a buffer 9 is sent out to the control part 14 from an output terminal Q.例文帳に追加

このとき、ON/OFF制御信号がLowの状態であるので、ラッチ回路15のゲート端子GにLowの信号がバッファ17を介して制御部14より送出されるため、バッファ9を介して入力端子Dに送出されるテスト信号が出力端子Qより制御部14に送出される。 - 特許庁

A total control means 9 provides a program and a measurement instruction in accordance with respective communication systems of two pieces of terminal equipment adopting the different communication systems to first and second terminal control means 5, 6, makes the two terminals execute the program, and respectively outputs to the respective pieces of terminal equipment a test signal including a signal for controlling them.例文帳に追加

トータル制御手段9が、第1及び第2の端末制御手段5,6に対して、異なる通信方式の二つの端末機器のそれぞれの前記通信方式に応じたプログラム及び測定指示を出して、実行させて、各前記端末機器にそれぞれ制御する信号を含む試験信号を出力させる。 - 特許庁

In a step S2, aiming at a communication verification test of the radio communication terminal applying a software radio technique, verification tests for both radio communication performance of the radio communication terminal and communication protocol stack operation are performed through a radio channel assigned in other than a real network, using an automatic analysis system of a terminal monitor.例文帳に追加

ステップS2では、ソフトウェア無線技術を適用した無線通信端末の通信検証用試験のために、実網とは別に割り当てられた無線チャネルによって、端末モニタ・自動解析システムを用いて、無線通信端末の無線通信性能及び通信プロトコルスタック動作の検証試験を実施する。 - 特許庁

Then, the test tubes during feed are set to a vertical state from a horizontal state by the charging chute provided on the terminal side of a feed-out conveyor and the test tubes are supplied in the holding holes of the rack standing by under the charging chute in a vertical posture.例文帳に追加

そして、搬出コンベアの終端側に設けた投入シュートで搬送中の試験管を水平状態から垂直状態となるようにし、垂直姿勢のまま投入シュート下方で待機するラックの保持孔へ立てた状態で試験管を供給するようにしている。 - 特許庁

According to the communication terminal test unit, because the detailed information is recorded when the occurrence of the particular condition is detected, necessary detailed information can be recorded without a large capacity recording medium, and the phenomena produced during the test can be examined accurately.例文帳に追加

この通信端末の試験装置によれば、特定の条件の発生が検出された場合に詳細情報を記録するので、大容量の記憶媒体を用いることなく必要な詳細情報を記録することができ、試験中に発生した現象を的確に検証できる。 - 特許庁

In the semiconductor device for mounting a regulator 1, a voltage detector 2 is provided and detects a voltage higher than a predetermined voltage at a constant voltage output terminal of the regulator 1, and the test circuit of the semiconductor device is constituted and uses an output from the voltage detector 2 as a test mode signal.例文帳に追加

レギュレータ1を搭載した半導体装置において、レギュレータ1の定電圧出力端子電圧が規定電圧よりも高くなったことを検出する電圧ディテクタ2を設けて、この電圧ディテクタ2の出力をテストモード信号として使用する半導体装置のテスト回路を構成する。 - 特許庁

By joining the battery protecting device 8 positioned by press fitting external output terminals 6a to 6c into the lower case 2b and fitting test terminals 24a, 24b into test terminal windows 29a, 29b for positioning and the external output terminals 6a to 6c, each component is positioned and fixed.例文帳に追加

外部出力端子6a〜6cは下ケース2bに圧入され、テスト端子24a、24bをテスト端子窓29a、29bに嵌入させて位置決めした電池保護装置8と前記外部出力端子6a〜6cとを接合することにより、各構成要素が位置決め固定される。 - 特許庁

The A/D converter for converting an inputted analog signal to a digital signal contains a test circuit for performing charge and discharge to generate a test triangular wave in the external output terminal of the A/D converter by connecting a capacitor to the external circuit capacitor and carrying a current to the capacitor.例文帳に追加

入力されるアナログ信号をデジタル信号に変換するA/D変換器の外部入力端子にコンデンサを接続し、このコンデンサに電流を流すことによって充放電してテスト用の三角波を前記外部入力に発生させるテスト回路をA/D変換器に内蔵する。 - 特許庁

The same test data are inputted into a plurality of identical functional blocks 2a, 2b, 2c from a test data input terminal 5, and an identical functional block 2a is operated by a low-frequency clock signal, and the residual identical functional blocks 2b, 2c are operated by a high-frequency clock signal.例文帳に追加

複数の同一機能ブロック2a、2b、2cに対して、テストデータ入力端子5から同一のテストデータを入力し、一つの同一機能ブロック2aを低周波数クロック信号で動作させ、その残りの同一機能ブロック2b、2cを高周波数クロック信号で動作させる。 - 特許庁

In the sticking test, a potential of the connection node connecting the capacitor 21b, the switch 21c and the output terminal of the operational amplifier 21a is monitored as a test-use output, thereby detecting whether or not a foreign substance is sandwiched by movable electrodes 1a, 1b and fixed electrodes 2a, 2b.例文帳に追加

そして、スティッキング検査時には、オペアンプ21aの出力端子とコンデンサ21bやスイッチ21cの接続点の電位を検査用出力としてモニタすることで、可動電極1a、1bと固定電極2a、2bとの間に異物が挟まっているか否かの検出を行う。 - 特許庁

To provide a monitoring system capable of conducting a communication test while taking radio wave disturbance into consideration during the communication test so that an unsteady signal is accurately transmitted from a terminal device to a central processing unit even in the case of radio wave disturbance due to interference of a radio wave in normal use.例文帳に追加

本発明は、通常使用時に電波の混信などによる電波妨害があった場合でも、正確に非定常信号が端末器から中央処理装置に送信されるように、通信テストの際に電波妨害を考慮にいれて通信テストが行える監視システムを提供する。 - 特許庁

A print circuit board 7 and a test tray 5 on which a semiconductor device 1 is mounted, are sandwiched by a rubber 11 and a pressing tool 12, and a pressure is applied from both sides, whereby a lead terminal of the semiconductor device 1 contacts with a pad 6 of the test tray 5 and a pad 10 of the print circuit board 7 respectively.例文帳に追加

11のゴムと12のプレス用治具で1の半導体デバイスが搭載された5のテストトレーと7のプリント基板を挟み込み両側から圧力をかける事により1の半導体デバイスのリード端子が5のテストトレーの6のパッドと7のプリント基板の10のパッドに夫々接触する。 - 特許庁

Furthermore, the controllable test point 120 includes a delay element 123 for delaying, by the duration of propagation from the input terminal 101 to a node of the controllable test point 120 in the previous logical path, a timing at which to propagate a delay-failure-related signal from a failure generating section 121.例文帳に追加

また、可制御性テストポイント120は、故障生成部121から遅延故障に関する信号を伝搬するタイミングを、入力端子101から可制御性テストポイント120の接続地点までの前段の論理パスの伝搬時間分遅延させる遅延素子123を備えている。 - 特許庁

Diodes D1, D2 are connected with rudder resistors R_6, R_7, through which a current flows toward a V6 terminal in the test, in parallel as bypass elements which feed a current running through the rudder resistors R_6, R_7 in the test to itself instead of the rudder resistors R_6, R_7.例文帳に追加

試験時にV6端子に向かって電流が流れるラダー抵抗R_6,R_7に並列に、当該ラダー抵抗R_6,R_7に上記試験時に流れる電流を当該ラダー抵抗R_6,R_7に代わって自身に流すことができるバイパス素子としてのダイオードD1,D2が接続されている。 - 特許庁

A load estimating part 40 applies a test signal S7, containing a prescribed frequency component, to a node N1 via the power-supply line 4, the power-supply terminal P1 being connected to the node N1, and generates a control parameter S8 of the digital signal processing circuit 24 according to the test signal S7 and the analog observed signal S2'.例文帳に追加

負荷推定部40は、電源端子P1が接続されるべきノードN1に、電源ライン4を介して所定の周波数成分を含む試験信号S7を印加し、試験信号S7および観測信号S2’に応じて、デジタル信号処理回路24の制御パラメータS8を生成する。 - 特許庁

A logic simulation part 4 verifies the setup and hold time of a terminal by controlling the input to the virtual input terminal of the input buffer with virtual input terminal while using the input buffer with virtual input terminal in place of the ordinary input buffer by simulating the operation of a real circuit based on the contents in a logic connection information storage part 1, test vector storage part 2 and FB library 3.例文帳に追加

論理シミュレーション部4は論理接続情報記憶部1とテストベクトル記憶部2とFBライブラリ3との内容を基に実際の回路の動作を模倣し、通常の入力バッファの代わりに仮想入力端子付き入力バッファを用い、仮想入力端子付き入力バッファの仮想入力端子への入力を制御して端子のセットアップ及びホールドタイムを検証する。 - 特許庁

When executing a test for electrical connection of the power source supply wiring, only a switch connected to a power source terminal to be tested is "closed", and the other power source switches are "opened".例文帳に追加

また、各電源供給配線の電気的接続試験を実施する場合には、試験対象の電源端子に接続されたスイッチのみを「閉」とし、その他の電源スイッチを「開」とする。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus wherein an interconnection terminal or a test socket is not damaged and a signal distortion is not introduced in the method and the apparatus wherein an electronic device is mounted and held.例文帳に追加

電子デバイスの取り付け及び保持方法並びに装置において、相互接続ターミナルまたはテストソケットを損傷せず、信号ひずみを導入しない方法及び装置に関する。 - 特許庁

In a specific IC net measuring process S2, a defective board is operated on the basis of the test program, and a signal of all nets connected to a terminal of IC with respect to an arbitrarily selected IC chip, is measured.例文帳に追加

特定ICネット測定工程S2では不良基板をテストプログラムで動作させ、任意の選択ICチップに対して該ICの端子と接続された全ネットの信号を測定する。 - 特許庁

To provide a subjective evaluation method capable of performing a highly reliable subjective evaluation regardless of communication environment in an evaluation test using a mobile terminal, and to provide a program therefor.例文帳に追加

モバイル端末を用いた評価試験において、通信環境にかかわらず信頼性の高い主観評価を可能にする主観評価方法およびそのプログラムを提供する。 - 特許庁

It is determined within an LSI that a terminal which can not have Hi-Z (high impedance) during normal use by a user has Hi-Z (high impedance) at the time of testing and then the LSI goes into a test mode.例文帳に追加

通常ユーザーが使用時にはHi−Zになり得ない端子が、検査時にHi−ZであることをLSI内部で判別してテストモードに移行するように構成したものである。 - 特許庁

A test signal is given from a flip-flop 6 to an input terminal of the input cell 7 via the transmission gate 10, and an output signal of the input cell 7 is taken into a boundary scan register 5.例文帳に追加

そして、フリップフロップ6から試験信号をトランスミッションゲート10を介して入力セル7の入力端子に与え、入力セル7の出力信号をバウンダリスキャンレジスタ5に取り込む。 - 特許庁

A test device 2 tests a DUT 1 having at least one input/output terminal, a power supply plane and a plurality of power supply terminals P1 commonly connected to the power supply plane.例文帳に追加

試験装置2は、少なくともひとつの入出力端子と、電源プレインおよびそれに共通に接続される複数の電源端子P1を有するDUT1を試験する。 - 特許庁

Specific information such as patient information or examination information acquired from a terminal of a host system such as a medical computer is printed on a label, and stuck on a test tube.例文帳に追加

本発明にあっては、医事コンピュータ等の上位システムの端末から取得した患者情報や検査情報等の特定情報をラベルに印字し、これを試験管へ貼着している。 - 特許庁

When the ASIC is in a manufacturing test mode, a gating signal at an input terminal of a power gating circuit is set to exceed a threshold voltage of transistors within the power gating circuit.例文帳に追加

ASICが製造検査モードにあるとき、電力ゲート回路の入力端子におけるゲート信号は電力ゲート回路内のトランジスタの閾値電圧を超えるように設定される。 - 特許庁

To provide an intercom capable of performing the connection of a tester with a terminal for an operation test of a fire sensor from the front surface and performing the adjustment of a position (angle) of a camera from the front surface.例文帳に追加

火災感知器の動作試験用端子への試験器の接続を前面から行うことができ、また、カメラの位置(角度)の調整を前面から行うことのできるドアホンを提供する。 - 特許庁

To stably secure a contact resistance between a pad (electrode) of a socket substrate and a bump electrode in a burn-in test for a semiconductor device of which the external connection terminal is composed of the bump electrode.例文帳に追加

外部接続端子をバンプ電極で構成した半導体装置のバーンイン試験において、ソケット基板のパッド(電極)とバンプ電極との接触抵抗を安定に確保する。 - 特許庁

A contents conversion server 2 transmits the data of a test pattern 5 at least a part of which can be displayed to detect a screen format to an onboard terminal 3 provided with a touch panel 3a.例文帳に追加

コンテンツ変換サーバ2がタッチパネル3aを備えた車載端末3に、画面形式の検知するための、少なくとも一部分を表示可能なテストパターン5のデータを送信する。 - 特許庁

The transmission-side selector connects each input terminal to any one of the output terminals so that mutual connection destinations are different, on the basis of control of the transmitting side control part in test mode.例文帳に追加

送信側セレクタは、テストモード時に、送信側制御部の制御に基いて、各入力端子を、出力端子のいずれか1つに、互いの接続先が異なるように接続する。 - 特許庁

This device is equipped with a control device for controlling the test of the plurality of testing object devices having the same pin arrangement, and a plurality of pin resources provided respectively corresponding to each terminal of the testing object devices.例文帳に追加

同一のピン配置を有する複数の被試験デバイスの試験を制御する制御装置と、それぞれが被試験デバイスの端子に対応して設けられた複数のピンリソースとを備える。 - 特許庁

A frame extractor 4a extracts a control command and communication data from at least one frame among frames produced from a connection establishing request of data communication from a terminal 2 under test.例文帳に追加

フレーム抽出部4aは、被試験端末2からのデータ通信の接続確立要求から始まるフレームのうち少なくとも1つのフレームから制御コマンドと通信データとを抽出する。 - 特許庁

An output voltage regulating capacitor 6, a capacitance detection circuit 7, and an amplifier circuit 8, constituting a grounding condition deciding section and an indication section, are connected to the test terminal 5.例文帳に追加

テスト端子5には、接地状態判別部及び表示部を構成する出力電圧調整コンデンサ6、静電容量検出回路7及び増幅回路8が接続されている。 - 特許庁

A comparison circuit 25 actuates the charge pump circuit 30 according to a comparison result between a second positive voltage inputted to an input terminal 2b from the outside in the test mode and the control voltage Vo.例文帳に追加

比較回路25は、テストモード時に外部から入力端子2bに入力される第2の正電圧と制御電圧Voとの比較結果に応じて、チャージポンプ回路30を動作させる。 - 特許庁

A control computer 7 and a control unit 8 access to a simulation test server 4, according to instructions received from a simulation terminal 2, and upload the control information set up in own unit.例文帳に追加

制御用計算機7および制御装置8は、シミュレーション端末2より受け付けた指示に従い、シミュレーションテストサーバ4にアクセスし、自装置に設定されている制御情報をアップロードする。 - 特許庁

The unit length converting circuit 50 decides the decision result of the frame from plural decision results from the test circuit 40 corresponding to each frame, and outputs it from an output terminal 60.例文帳に追加

単位長変換回路50は各フレームに対応する検定回路40からの複数の判定結果からそのフレームの判定結果を決定し出力端子60から出力する。 - 特許庁

Continuity checking diodes 15a1, 15a2 and 15a3 are connected between the continuity test-dedicated terminal 6a and internal terminals 13a1, 13a2 and 13a3 of the memory chip core 2a, respectively.例文帳に追加

導通テスト専用端子6aとメモリチップコア2aの内部端子13a1、13a2、13a3の間にはそれぞれ導通チェック用ダイオード15a1、15a2、15a3が接続されている。 - 特許庁

To improve inspection efficiency by switching a control mode from a normal control mode to a test mode without providing any special input/output terminal while preventing malfunction.例文帳に追加

特別な入出力端子を設けることなく、しかも誤動作の発生を防ぎながら、制御モードを通常制御モードからテストモードに切換えることを可能にして検査効率を向上させる。 - 特許庁

To replace a probe before an inspection result gets unsure, in a probing test method for measuring an electric characteristic by bringing the probe into contact with a terminal of an inspection object.例文帳に追加

検査対象の端子にプローブを接触させて電気的特性を測定するプロービングテスト法において、検査結果が不正確なものとなる前にプローブを交換できるようにする。 - 特許庁

例文

The contact 92 has the elasticity in the direction vertical to the surface of the base 94, so that it can be elastically abutted on a connection terminal formed on a tested circuit during the test.例文帳に追加

接触子92は、基板94の表面に対して垂直方向に弾性を有し、試験中、被試験回路に形成された接続端子に、弾性をもって接触することが可能となる。 - 特許庁




  
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