「test terminal」に関連した英語例文の一覧と使い方(20ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor socket capable of being applied in a semiconductor having pitches of higher density, coping with both of pitches of a terminal of a burn-in substrate and pitches of a terminal of the semiconductor, and correctly executing the burn-in test with the low cost without using a multilayer substrate.例文帳に追加

より高密度のピッチを有する半導体にも適用可能であり、さらにバーンイン基板の端子のピッチと半導体の端子のピッチとの双方に対応でき、多層基板を用いることなく、低コストで正確にバーンインテストを行うことができる半導体ソケットを提供する。 - 特許庁

A voting operation analyzing device 2 receives the test voting operation time data of each terminal device from the ground stations, decides nontransmission time ts estimated to be needed until all of the terminal devices complete voting operation when real voting is performed on the basis of the data and sets the nontransmission time ts in the ground stations.例文帳に追加

そして投票動作解析装置２が地上局から各端末装置のテスト投票動作時間データを受け取り、これに基づいて、本番投票時に全端末装置が投票操作を完了するまでに要すると見込まれる無送信時間tsを決定し、地上局に設定する。 - 特許庁

The current sources 11-14 constitute a current control circuit, and sends to the ground, a current corresponding to the size of a constituted transistors connected in series from an external terminal INP through the terminal capacity countermeasure transistor (N-channel type MOS transistor Mn31) in a test operation mode.例文帳に追加

電流源１１〜１４は、電流制御回路を構成し、テスト動作モードにおいて、外部端子ＩＮＰから、端子容量対策トランジスタ（Ｎチャネル型ＭＯＳトランジスタＭｎ３１）を介して、構成する直列接続されたトランジスタのサイズに応じた電流を接地へと流す。 - 特許庁

To prevent an accident from expanding owing to a failure in operation of a breaker by preventing an operation to return a short-circuit piece to between conductive lock portions from being forgotten after the short-circuit piece is held between the lock portions so as to electrically insulate both terminal members from each other during inspection of an operation of a protection relay with respect to a test terminal.例文帳に追加

テストターミナルにおいて、保護リレーの動作点検時に両端子部材間を非導通にするために短絡片を係止部間に保持した後で、短絡片を導電係止部間に戻す操作を失念することを防止して、遮断器不作動による事故の拡大を防止する。 - 特許庁

Thus, by inputting the operation inhibiting signal EN fixed to an activated level to the external signal terminal EN by a semiconductor testing apparatus and also inputting the external clock CK to the external clock terminal CK, the functional block 12 can be shifted to the test mode from the normal operation mode.例文帳に追加

このため、半導体試験装置により、活性レベルに固定された動作禁止信号ＥＮを外部信号端子ＥＮに入力するとともに、外部クロックＣＫを外部クロック端子ＣＫに入力することで、機能ブロック１２を通常動作モードからテストモードに移行させることができる。 - 特許庁

To provide an IC socket preventing adhesion of a contact and an external terminal of an IC package, comprising a push-up mechanism having such a shape memory alloy that separates the external terminal of the IC package from the contact part of the contact by pushing up the guiding member by utilizing the heat at a burn-in test.例文帳に追加

コンタクトとＩＣパッケージの外部端子との貼り付きを防止し、バーンイン試験時の熱を利用して案内部材を押上げてコンタクトの接触部からＩＣパッケージの外部端子を引き離すように形状記憶合金部材を有する押上機構が設けられる。 - 特許庁

A stress-strain characteristic model on the terminal-forming material after the work hardening is obtained by applying the work hardening database to the stress-strain correlation obtained by a tensile test, and the strength of the terminal manufactured of the material is analyzed by the finite element method.例文帳に追加

そして、引張試験により得られた応力歪み相関関係に加工硬化のデータベースを加味することによって、加工硬化が生じた後の端子構成材料についての応力−歪み特性モデルを得て、その材料によって作製される端子の強度を有限要素法により解析する。 - 特許庁

To provide fire alarm equipment which facilitates confirmation operation that there is no omission in checking of terminal devices in the fire alarm equipment which is equipped with functions of automatic or manual examinations of the terminal device and accumulates and stores a history of the above test results.例文帳に追加

端末機器の自動試験または手動試験の機能を具備し、上記試験結果の履歴を蓄積保管する火災報知設備において、端末機器の点検漏れの無いことを確認する作業が容易である火災報知設備を提供することを目的とするものである。 - 特許庁

When a terminal device PS1 inquires the standard time of a time managing device 11 according to need, the time managing device 11 sends standard time information to the terminal device PS1 having inquired the standard time together with an added flag indicating summertime operation time or test operation time.例文帳に追加

端末装置ＰＳ１が必要に応じて時刻管理装置１１に対し基準時刻を問い合わせると、時刻管理装置１１では、基準時刻を問い合わせた端末装置ＰＳ１に対して、基準時刻情報にサマータイム運用時／試験運用時を示すフラグを付加して送信する。 - 特許庁

The estrone can be bound to C terminal of the peptide for the pregnancy test reagent for sow and some substance to be a label can be bound to N terminal thereof because the short peptide having a specific amino acid sequence has binding ability to the estrone produced by the pregnant sow.例文帳に追加

特定のアミノ酸配列のショートペプチドは、妊娠豚産生エストロンに対する結合性を有するので、この豚の妊娠検査試薬用ペプチドのＣ末端にエストロンを結合させると共に、Ｎ末端に何らかの標識となる物質を結合させることが可能である。 - 特許庁

To provide a repeater with an auxiliary apparatus for medium test wherein a battery 1 in a repeater is charged irrespective of connection state (normal connection/inverse connection) of feeding power ADP with a subscriber line network 2 by a user, medium test can be executed frequently for a long time, and cut and return to circuit terminal equipment is enabled normally by executing the medium test normally.例文帳に追加

利用者による給電ＡＤＰの加入者線路２に対する接続状況（正接続／逆接続）に関わらず、中継器内蓄電池１を充電し、媒体試験を頻繁に長時間実施することを可能とし、媒体試験を正常に実施させ、回線終端装置への切り戻しを正常に行うことが可能となる、媒体試験のための補助装置を有する中継器を提供する。 - 特許庁

In a communication terminal apparatus having a first wireless unit and a second wireless unit, the first wireless unit or the second wireless unit transmits a test signal to the other wireless unit, and the other wireless unit receives the test signal and demodulates the received test signal; if the demodulation result is normal, it is discriminated that modulation and demodulation by the first wireless unit is being carried out in a normal manner.例文帳に追加

第１の無線機及び第２の無線機を有する通信端末装置の、前記第１の無線機又は前記第２の無線機が、他方の無線機に対してテスト信号を送信し、前記他方の無線機が、前記テスト信号を受信し、受信した前記テスト信号を復調し、前記復調の結果が正常であれば前記第１の無線機の変復調が正常に行われていると判別する。 - 特許庁

A scan test signal DT in a preceding period inputted from an input terminal is inverted by a signal selection means 105 and held by an output signal holding means 103, and the held inverted value data are outputted at a timing of a rising edge of the next clock signal CK, to thereby input surely the inverted signal of the scan test signal DT into a circuit of a scan test object.例文帳に追加

入力端子より入力された１つ前の周期のスキャンテスト信号ＤＴを信号選択手段１０５により反転させて出力信号保持手段１０３に保持し、次のクロック信号ＣＫの立ち上がりエッジのタイミングにおいて、その保持された反転値データを出力することにより、スキャンテスト信号ＤＴの反転信号をスキャンテスト対象の回路に確実に入力する。 - 特許庁

A server computer 110 is provided with a receiving means receiving information produced in the testing institution 3 from the terminal computer 110, a storage means registering the received information from the client 2 of the test in a perusal incapable state, and a disclosure means storing the information in a perusal capable state from the client 2 of the test based on a disclosure instruction of the terminal computer 31 specifying the information.例文帳に追加

サーバコンピュータ１１０は、端末コンピュータ３１から、試験機関３で発生する情報を受信する受信手段と、受信した情報を試験の依頼者２から閲覧不可能な状態で登録する記憶手段と、情報を指定した端末コンピュータ３１からの開示指令に基き、この情報を試験の依頼者２から閲覧可能な状態で記憶手段に格納する開示手段を備える。 - 特許庁

A video generator has: generation means for generating a single test video image including a plurality of patterns Pa, Pb for adjustment associated with each projector, respectively; and a video output terminal which projects the patterns Pa, Pb for adjustment from each projector by outputting a video signal of the test video image to each projector.例文帳に追加

映像生成装置は、各プロジェクタにそれぞれ対応付けられた複数種類の調整用パターンＰａ，Ｐｂを含む単一のテスト映像を生成する生成手段と、テスト映像の映像信号を各プロジェクタに出力することで各プロジェクタから調整用パターンＰａ，Ｐｂを投影させる映像出力端子とを有する。 - 特許庁

The nonsuction head pickup formed by an airtight cover having a plurality of openings sucks an electronic device waiting test having a plurality of terminals (pads) on the surface wherein each opening is used for containing each terminal and the electronic device waiting test is sucked by suction force generated through pressure reduction.例文帳に追加

複数の開口を具えた気密カバーが形成する無吸着ヘッド式ピックアップ装置により表面に複数の端子（ｐａｄｓ）を具えた試験待機電子装置を吸着し、各開口は各端子を収容するのに用いられ、並びに減圧により発生する吸力により試験待機電子装置を吸着する。 - 特許庁

The observable test point 110 includes a delay element 112 for delaying, by the duration of propagation from a node of the observable test point 110 to the output terminal 105 in the subsequent logical path 130, a timing at which a failure detecting section 111 detects a delay-failure-related signal propagated from the logical path 130.例文帳に追加

可観測性テストポイント１１０は、論理パス１３０から伝搬された遅延故障に関する信号を故障検出部１１１に検出するタイミングを、可観測テストポイント１１０の接続地点から出力端子１０５までの後段の論理パス１３０の伝搬時間分遅延させる遅延素子１１２を備えている。 - 特許庁

In a semiconductor integrated circuit 1 coping with a boundary scan register, a condition of an IO cell IOC is set under control of a DC test control circuit 3, using boundary scan registers BSR0-BSR3 used for a boundary scan test, so as to set a condition of an external terminal to a desirable condition connected to a pad P.例文帳に追加

バウンダリスキャンレジスタ対応の半導体集積回路装置（１）において、このバウンダリスキャンテストに利用されるバウンダリスキャンレジスタ（ＢＳＲ０−ＢＳＲ３）を利用して、ＤＣテスト制御回路（３）の制御の下に、ＩＯセル（ＩＯＣ）の状態をセットして、パッド（Ｐ）に接続される外部端子の状態を所望の状態に設定する。 - 特許庁

A switch element (51) comprising single channel type MOS transistors are provided at the halfway of a path in which high voltage (EXWL) supplied to a memory array (10) from an external terminal when a test is transmitted, it is not necessary that supply voltage is reset without omission during a test by turning off the switch element (51) at switching a word line.例文帳に追加

テスト時に外部端子からメモリアレイ（１０）に供給される高電圧（ＥＸＷＬ）を伝達する経路の途中に単一チャネル型のＭＯＳトランジスタからなるスイッチ素子（５１）を設け、ワード線切換え時に該スイッチ素子をオフさせることでテスト中にいちいち供給電圧をリセットする必要をなくした。 - 特許庁

Thus, by sending out the test signal to the control part 14, a test mode is recognized, and when an ON-OFF control signal is made to High, operation of a latch circuit 15 is stopped, and clock is sent out to a clock output terminal 6 from the control part 14 via an AND circuit 16 and a buffer 8, to be externally outputted.例文帳に追加

このようにテスト信号が制御部１４に送出されることによって、テストモードを認識し、ＯＮ／ＯＦＦ制御信号をＨｉとするとラッチ回路１５の動作が停止しするとともに、クロックを制御部１４よりＡＮＤ回路１６、バッファ８を介してクロック出力端子６に送出して外部に出力する。 - 特許庁

Since a non-conductor coating 6 can be formed on only the first flat region 14a when a semiconductor device determined as an unacceptable product in the electric characteristic test is electrically disconnected from a common wiring, the burn-in test and the formation of the external connection terminal can be positively and stably formed.例文帳に追加

電気特性検査によって不良と判定された半導体装置を共通配線から電気的に切り離す際に第１の平坦領域１４ａのみに不導体被膜６を形成することができ、バーンイン試験および外部接続端子の形成を確実に安定して行うことが可能となる。 - 特許庁

Since the internal RAM 10 is embedded in this microcomputer 101, an interruption factor 2 to be given to an interruption factor terminal T in the single chip mode is also inspected in the test mode.例文帳に追加

内部ＲＡＭ１０はマイクロコンピュータ１０１に内蔵されているので、シングルチップモードにおいて割り込み要因端子Ｔに与えられる割り込み要因２に対する割り込み処理についても、テストモードで検査することができる。 - 特許庁

To provide a mobile communication terminal test apparatus for dividing an EVM or a transmission power measurement result into an allocation band and a non-allocation band along an LTE communication system to display each of them identifiably.例文帳に追加

ＬＴＥ通信方式に沿ってＥＶＭ又は送信電力測定の結果を、割当帯域と非割当帯域とに分けてそれぞれを識別可能に表示する移動体通信端末試験装置を提供する。 - 特許庁

A test circuit 100 includes current sources 11-14, a reference current source 21, an input initial stage circuit 31, an OR circuit 35, selector circuits 41-44 and a terminal capacity countermeasure transistor (N-channel type MOS transistor Mn31).例文帳に追加

テスト回路１００は、電流源１１〜１４、基準電流源２１、入力初段回路３１、ＯＲ回路３５、セレクタ回路４１〜４４及び端子容量対策トランジスタ（Ｎチャネル型ＭＯＳトランジスタＭｎ３１）を備える。 - 特許庁

Even if peeling which is not serious enough to break the signal terminal of the semiconductor chip 2 occurs to the interface between the sealing resin 6 and circuit board 3, the test wiring line 8 disposed at an outer edge of the interface is broken.例文帳に追加

封止樹脂６−回路基板３間の界面において、半導体チップ２の信号端子を断線しない程度の剥離が発生した場合でも、前記界面の外縁に位置するテスト配線８は断線する。 - 特許庁

After the metal fuse 12 is blown, the diode 20 regulates the current flow, and the potential at the input of the inverter gate 18 is made to hold at H-level, no matter what the test fuse terminal 14 level may be.例文帳に追加

メタルヒューズ１２の切断後には、ダイオード２０によって電流の通電が規制されるので、テストヒューズ端子１４がどのようなレベルであってもインバータゲート１８の入力端子側の電位がＨレベルに維持される。 - 特許庁

To enable switching an operating mode with making pin number of an IC minimum after that setting data for an IC operating mode such as a test mode can be input to the IC without a dedicated mode switching port (terminal) placed in the IC.例文帳に追加

テストモード等のＩＣ動作モードの設定データを、ＩＣにモード切替え専用ポート（端子）を設けずにＩＣへ入力できるようにして、ＩＣのピン数を最少にしながらその動作モードを切替え可能にする。 - 特許庁

A request origin hospital 1 is provided with: a photographing device such as a fundus camera 2; and a requesting doctor terminal 3 for recording a photographed image and test information and patient information or the like and making a request to another diagnostician.例文帳に追加

依頼元病院１では、眼底カメラ２の撮影装置等と、撮影した画像と共に検査情報、患者情報等を記録して他の診断医に依頼を行うための依頼医用端末３を有している。 - 特許庁

An output signal from an output buffer BUF1 of the test output data TOUT0 is monitored by connecting a tester to an input/ output terminal P0, and the signal is inputted into input circuits (BUF2, FF3).例文帳に追加

テスト出力データＴＯＵＴ０の出力バッファＢＵＦ１からの出力信号を入・出力端子Ｐ０にテスタを接続して監視するとともに、その信号を入力回路（ＢＵＦ２，ＦＦ３）に入力する。 - 特許庁

The grounding stage indicator 3 comprises the capacitor bushing 4 connected to a line 1 and the test terminal 5, led out from an intermediated point (voltage-dividing point) of a plurality of capacitors, provided in series in the bushing 4.例文帳に追加

接地状態表示器３は、線路１に接続されたコンデンサ形ブッシング４、このブッシング４内に直列に設けられた複数のコンデンサの中間点（分圧点）から引き出されたテスト端子５を備えている。 - 特許庁

Each connector 10 is housed in a connector housing space 34 of the housing part 31 in positioning state, the jig 30 is set to a connector inspection device, and continuity test of terminal fittings 90 is carried out.例文帳に追加

収容部３１のコネクタ収容空間３４に各コネクタ１０を位置決め状態で収容させて治具３０をコネクタ検査装置にセットし、各コネクタ１０に収容された端子金具９０の導通検査を行う。 - 特許庁

A transmit-receive means 10b of the site simulation part 8 transmits the simulation status to a site terminal device 5 through a transmission line 4, receives the test status, and displays on a display device 12 of the display operation part 7.例文帳に追加

また、現場模擬部８の送受信手段１０ｂはその模擬状態を伝送路４を介して現場端末装置５に送信すると共に試験状態を受信し、表示操作部７の表示装置１２に表示する。 - 特許庁

By adding the database on the work hardening to the stress-strain correlation acquired by the tensile test, a stress-strain characteristic model of the terminal- constituting material after the occurrence of the work hardening can be obtained.例文帳に追加

そして、引張試験により得られた応力歪み相関関係に加工硬化のデータベースを加味することによって、加工硬化が生じた後の端子構成材料についての応力−歪み特性モデルを得ることができる。 - 特許庁

To properly maintain receiving-side signal quality, even when an external terminal for test is provided at a signal-receiving side in a stacked semiconductor device capable of selectively utilizing a plurality of through-electrodes.例文帳に追加

複数の貫通電極を選択的に利用可能な積層型の半導体装置において、信号の受信側にテスト用の外部端子を設けるときにも、受信側における信号品質を良好に維持する。 - 特許庁

To simplify the constitution of a testing device, to facilitate the measuring procedure and to shorten test time regarding the measurement of the reception sensitivity of the radio telephone terminal of a code division multiple access type.例文帳に追加

本発明の課題は、符号分割多元接続式の無線電話端末の受信感度の測定に関して、試験装置の構成が簡単で、その測定手順の容易化及び試験時間の短縮を図ることにある。 - 特許庁

In regard to a clinical test, the remote entry system sends the inspection result entered into a terminal computer 31 of the medical institution 3 to a server computer 11 of a case report support institution 1 for clinical tests.例文帳に追加

本発明は、臨床試験において、医療機関３の端末コンピュータ３１で入力された検査結果を臨床試験の症例報告支援機関１のサーバコンピュータ１１に送信するリモートエントリーシステムである。 - 特許庁

When the low voltage-side cover 140 is arranged on the test container 120, the low voltage-side cover 140 is electrically connected to the semiconductive parts 52 of the plurality of premolded insulators 50 through a low voltage-side terminal 160.例文帳に追加

低電圧側カバー１４０が試験容器１２０上に配置されると、低電圧側カバー１４０は、低電圧側端子１６０を介して、複数のプレモールド絶縁体５０における半導電部５２と導通する。 - 特許庁

To provide a probe card, its manufacturing method, a wafer prober, and a manufacturing method of a semiconductor device, for achieving stable measurement and probe test by reducing the effect of noise while meeting the miniaturization of a terminal electrode to be measured.例文帳に追加

被測定端子電極の微細化に対応しつつ、ノイズの影響を低減し安定した測定、プローブ試験を達成するプローブカード及びその製造方法、ウェハプローバ、半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

In a clinical test, the remote entry system sends evaluation of the inspection result entered from a terminal computer 31 of the medical institution 3 to the server computer 11 of a case report support institution 1 for clinical tests.例文帳に追加

本発明は、臨床試験において、医療機関３の端末コンピュータ３１で入力された検査結果の評価を、臨床試験の症例報告支援機関１のサーバコンピュータ１１に送信するリモートエントリーシステムである。 - 特許庁

First and second measurement sections 7, 8 receive response signals responding to the test signals from the first and second terminal control means and carry out the measurement decided by the measurement instruction.例文帳に追加

第１及び第２の測定部７，８は、それぞれの端末機器が前記第１及び第２の端末制御手段からの前記試験信号に応答した応答信号を受けて、前記測定指示で定められた測定を行う。 - 特許庁

To suppress the run-out of a plunger and to detect the omission of a soldered ball electrode in a pogo pin for electrically connecting an external terminal and a measuring substrate of a tester in an IC package test.例文帳に追加

ＩＣパッケージのテストにあたりその外部端子とテスターの測定基板とを電気接続するためのポゴピンにおいて、プランジャの芯振れを抑制すると共に、半田ボール電極の欠落を検出するのを可能にする。 - 特許庁

To provide a probe, and an inspection device using it which enhance the degree of freedom of the arrangement of test terminals in an inspecting object, and also facilitate handling of inspection of a plurality of kinds of boards whose terminal positions for testing are different.例文帳に追加

検査対象物におけるテスト端子配置の自由度が増し、また、テストを行う端子位置の異なる複数種類の基板検査への対応も容易になるプローブ及びこれを用いた検査装置を提供する。 - 特許庁

Moreover, as the terminal 4 is separated from the leg part 2a by a tentative fixing rib 7 and an electric current doesn't run while the bolt is tentatively fixed, whether the bolt is fully tightened or not can be easily confirmed by a current-carrying test.例文帳に追加

それに加え、仮止めされている間は仮止めリブ７により脚部２ａから端子４が分離して導通しないため、通電テストにより容易にボルトの本締めがなされているか否かの確認ができる。 - 特許庁

To provide a electromagnetic wave condition measuring system which automatically collect a test data to implement check the quality of a electromagnetic wave over long-haul at a planned place where a floor type information terminal will be installed which utilizes a public radio circuit network.例文帳に追加

公衆無線回線網を利用する据置型情報端末が設置される予定場所における電波状況の良否判定を行うためのテストデータを長時間にわたって自動的に収集すること。 - 特許庁

A main key is inserted in a state where an IG switch is turned off (S21 and S22), the test terminal is turned on by turning on an auxiliary switch in a prescribed time three times (S23 and S24), and the diagnosis of the door locking/unlocking function is started (S25).例文帳に追加

ＩＧスイッチがオフの状態でメインキーを差し込み（Ｓ２１、Ｓ２２）、テスト端子をオンして補助スイッチを所定時間内に３回オンすることにより（Ｓ２３、Ｓ２４）、ドアロック／アンロック機能の診断が開始する（Ｓ２５）。 - 特許庁