「test terminal」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

During a scan test, first and second clock control sections 106, 107 select a scan clock input terminal 104 by a control signal from a control signal input terminal 105 to supply clock paths 108, 109 with a clock during the scan test.例文帳に追加

第１、第２のクロック制御部１０６、１０７は、スキャンテスト時に、制御信号入力端子１０５からの制御信号によってスキャンクロック入力端子１０４を選択し、クロックパス１０８、１０９へスキャンテスト時のクロックを供給する。 - 特許庁

A server 12 authenticates the user, accesses a rental car shop terminal to confirm whether the desired vehicle for a test ride exists and answers the user terminal 10 that the desired vehicle for a test ride is delivered to the convenience store closest to the user.例文帳に追加

サーバ１２は、ユーザ認証をするとともに、レンタカー店舗の端末にアクセスし、試乗希望車両が存在するか否かを確認し、ユーザ端末１０に対してユーザの最寄りのコンビニエンスストアに当該試乗希望車両を配送することを回答する。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor device capable of preventing lead-free solder from being attached to a contact terminal of a socket for test, when testing a semiconductor device having an external connection terminal soldered with lead-free solder by the socket for test.例文帳に追加

鉛フリー半田でめっきされた外部接続端子を有する半導体装置をテスト用ソケットにより検査する際に、テスト用ソケットの接触端子に鉛フリー半田が付着するのを防ぐことができる半導体装置の検査方法を得る。 - 特許庁

In a memory macro 11, the measurement of a chip enable access time of the memory macro is started when a test chip enable signal Stce/is inputted through a terminal (node) TN 1, and a test address signal Stadd is inputted through a terminal (node) TN 2.例文帳に追加

メモリマクロ１１では、端子（ノード）ＴＮ１を介してテストチップイネーブル信号Ｓｔｃｅ／が入力され、端子（ノード）ＴＮ２を介してテストアドレス信号Ｓｔａｄｄが入力されたとき、メモリマクロのチップイネーブルアクセスタイムの測定が開始される。 - 特許庁

To provide a mobile communication terminal test apparatus capable of preventing a communication terminal to be tested from being tested by using other parameters in mistake in place of being tested by parameters along with the rules when the parameters are revised for some number of times for conducting the test.例文帳に追加

本発明の目的は、被試験通信端末の試験において、何回かパラメータ値を変更して試験している場合に、規則に沿ったパラメータ値で試験すべきところを、過って他のパラメータ値で試験することを防止するようにすることである。 - 特許庁

In a step S1, a radio characteristic conformity test of a radio communication terminal to a radio communication standard in regard to the radio law in a corresponding radio communication system is performed, using a point-to-point radio communication terminal test unit and an automatic radio measurement system.例文帳に追加

ステップＳ１では、該当する無線通信システムにおける電波法に関わる無線通信規格に対する無線通信端末の無線特性の適合性試験を無線通信端末対向試験機と無線自動測定システムを用いて実施する。 - 特許庁

A logic circuit 100 has an observable test point 110 or a controllable test point 120, connected thereto, at which to detect a delay-failure-related signal propagating in a logical path 130 between an input terminal 101 and an output terminal 105.例文帳に追加

論理回路１００は、入出力端子間（１０１と１０５との間）の論理パス１３０に伝搬する遅延故障に関する信号を検出する可観測性テストポイント１１０または可制御性テストポイント１２０が接続されている。 - 特許庁

This semiconductor device includes the semiconductor chips in a plurality, and each semiconductor chip has a circuit block to be tested according to a test signal and a transfer circuit which outputs a test result outputted from the circuit block to at least either of adjacent semiconductor chips and a test result output terminal, while outputting the test result transferred from one adjacent semiconductor chip to another adjacent semiconductor chip and the test result output terminal.例文帳に追加

半導体装置は複数の半導体チップを有し、各半導体チップは、試験信号に応じて試験される回路ブロックと、回路ブロックから出力される試験結果を、隣接する半導体チップの少なくともいずれかと試験結果出力端子とに出力するとともに、隣接する半導体チップから転送される試験結果を隣接する別の半導体チップと試験結果出力端子とに出力する転送回路とを有する。 - 特許庁

The interface apparatus according to this invention is characterized in that it is equipped with an interface device comprising multiple pins connected to a test terminal and a substrate terminal, and it has a mode-switch terminal for switching the connection destination of an inner loopback.例文帳に追加

本発明のインターフェース装置は、試験端子及び基板端子に接続された複数のピンを有するインターフェースデバイスを備え、内部ループバックの接続先を切り替えるモード切替端子を有することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a monitoring system allowing communication between a central processor and a terminal device or between an outside line telephone and the terminal device, enabling an easy communication test in the central processor or the terminal device.例文帳に追加

本発明は、中央処理装置と端末器間あるいは、外線電話と端末器間で通信が可能な監視システムにおいて、中央処理装置あるいは端末器で容易に通信テストが可能な監視システムを提供する。 - 特許庁

This circuit is applicable to the test mode only by a combination of a testing power source terminal 7 and a mode decision control circuit 12 without combining a power source switching circuit 5 and a power source control terminal 8 with the testing power source terminal 7.例文帳に追加

テスト用電源端子７に電源切り替え回路５と電源制御端子８を組み合わせずとも、テスト用電源端子７とモード判別制御回路１２の組み合わせだけでテストモードに対応する。 - 特許庁

In the probing test at the second time, a semiconductor chip 1 is moved in the width direction of the first terminal 21 only by the arrangement space P_1 of the first terminal 21, so that the probe 31 is made to touch a first terminal 21b of even numbered terminals.例文帳に追加

二回目のプロービングテストは、第１端子２１の配置間隔Ｐ_1 分だけ半導体チップ１を第１端子２１の幅方向に移動して行い、プローブ３１を偶数番目の第１端子２１ｂに接触ささせる。 - 特許庁

A data shifter 20 shifts read-out data by N clock cycles (N is integer of 0 or more) of the internal test clock signal to output read-out data from the DRAM core MCR operating based on the internal test clock signal at the time of a test mode from the test pin terminal group TPG synchronizing with the external clock signal.例文帳に追加

データシフタ２０は、テストモード時においては内部テストクロック信号に基づいて動作するＤＲＡＭコアＭＣＲからの読出データを、外部クロックテスト信号に同期してテストピン端子群ＴＰＧから出力するために、読出データを内部テストクロック信号のＮクロックサイクル（Ｎは０以上の整数）だけシフトさせる。 - 特許庁

The total intelligent test procedure management system is provided with a document management database 2 having an electronic manual 71 showing a procedure for testing a test target, and a terminal machine 15 reading the electronic manual 71 inside the document management database 2 to display it and allowing input of the test result on the test target.例文帳に追加

本発明の総合インテリジェント試験進行管理システムは、試験対象を試験する手順を示した電子要領書７１を有するドキュメント管理データベース２と、ドキュメント管理データベース２内の電子要領書７１を読み出して表示するとともに、試験対象の試験結果を入力できる端末機１５とを備えている。 - 特許庁

To test by a few operators coping with the field, and to test efficiently, accurately and quickly by operating a test terminal by a single operator, when performing an operation test of a comparison protection relay device represented by a transmission line differential current type protection relay device installed in an adjacent power station.例文帳に追加

隣接する電気所に設置される送電線差動電流式保護継電装置代表される比較保護継電装置の動作試験をするにあたり、少ない現場対応要員で試験可能であり、試験端末を一人で操作することにより、試験が効率的に、正確に、迅速に行うことができること。 - 特許庁

The layered body has, on a rear face thereof, a test external terminal PTest for external connection used in outputting a signal to the outside.例文帳に追加

積層体には、裏面に信号を外部へ出力する外部接続用のテスト外部端子ＰＴｅｓｔが設けられている。 - 特許庁

Thereby, the analogue signal for a test can be outputted to a signal wiring or the like connected to the output terminal 35.例文帳に追加

これにより、出力端子３５に接続された信号配線等に試験用のアナログ信号を出力することができる。 - 特許庁

When a bridge terminal is made operating, it transmits several loop test messages to all subnetworks to be connected to the bridge terminals.例文帳に追加

動作中とされた後、ブリッジ端末は、ブリッジ端末に接続される全てのサブネットワークへ幾つかのループ試験メッセージを送信する。 - 特許庁

Then, based on the stress-strain correlation obtained by the tensile test, terminal strength is analyzed by finite element method.例文帳に追加

そして、引張試験により得られた応力歪み相関関係に基づいて、端子強度を有限要素法により解析する。 - 特許庁

To enable a test of a high-performance GSM terminal 2 including a packet communication to be executed, only by adding a simple oscillator 29.例文帳に追加

簡易な発振器２９を付加するのみで、パケット通信を含む高機能のＧＳＭ端末２の試験を実施可能とする。 - 特許庁

To provide a terminal table having a plurality of terminals of which the top surfaces are arranged on substantially identical plane to constitute a mounting surface for a test object.例文帳に追加

頂面を同一面に配置して検査対象載置面を構成する複数の端子を有する端子テーブルを提供する。 - 特許庁

The truster inputs basic specifications of the vehicle test which the truster intends to trust from the information terminal to the information processing apparatus.例文帳に追加

委託者は委託しようとする車両試験の基本仕様を情報端末装置から情報処理装置に入力する。 - 特許庁

The power generator 5 is directly connected to the primary side of the test AC voltage generator 2 connected to the terminal at the opposite side.例文帳に追加

反対側の端子に接続した試験用交流電圧発生装置２の１次側に発電機５を直接接続する。 - 特許庁

To provide a unit for operation prohibition display, which can improve handleability in performing the operation prohibition display of a test terminal.例文帳に追加

テストターミナルの操作禁止表示を行う際の作業性を向上することができる操作禁止表示用ユニットを提供する。 - 特許庁

To provide a testing arrangement supplying test signal of proper voltage accordingly to the specification of the input terminal of a tested device.例文帳に追加

被試験デバイスの入力端子の仕様に応じて適切な電圧の試験信号を供給する試験装置を提供する。 - 特許庁

This test information management system collects input information in a terminal computer 31 installed in the testing institution 3.例文帳に追加

本発明は、試験機関３に設置された端末コンピュータ３１での入力情報を収集する試験情報管理システムである。 - 特許庁

To provide a DC test terminal which has a high breakdown strength and by which essential DC performances of a plastic insulated cable can be secured.例文帳に追加

プラスチック絶縁ケーブル本来の直流性能を把握することのできる破壊強度の高い直流試験端末の提供。 - 特許庁

Since the input terminal 10 is connected to the tester channel in any case during the test mode, an additional external cost is not required.例文帳に追加

入力端子１０はテストモード中、いずれにせよテスタチャネルと接続されているので、付加的な外部のコストはかからない。 - 特許庁

TEST CENTER SYSTEM, TERMINAL DEVICE, AUDITION COMPENSATION METHOD, AUDITION COMPENSATION METHOD PROGRAM RECORDING MEDIUM, AND PROGRAM FOR AUDITION COMPENSATION METHOD例文帳に追加

検査センター装置、端末装置、聴力補償方法、聴力補償方法プログラム記録媒体、聴力補償方法のプログラム - 特許庁

In the case that they don't coincide with each other, the test terminal 50 judges a mistake of mounting or an unauthorized replacement.例文帳に追加

その判定結果が否定判定である場合には、検査端末５０は、装着間違いや不正取り替えがあると判定する。 - 特許庁

To realize low cost by suppressing the number of LSI chips to be taken on a wafer by an electrode terminal of a scribing TEG (test element group).例文帳に追加

スクライブＴＥＧの電極端子によるＬＳＩチップのウエハ上での取れ数削減を抑制して、低コスト化を実現する。 - 特許庁

First and second switches connect the first terminal to power supply terminals of the testing control circuit and the inner circuit during the test mode.例文帳に追加

第１および第２スイッチは、テストモード中に、第１端子をテスト制御回路および内部回路の電源端子に接続する。 - 特許庁

To provide a charge/discharge control circuit that can be switched between a normal state and a test state without an external terminal for testing.例文帳に追加

テスト用外部端子無しで、通常状態及びテスト状態を切り替えることが可能な充放電制御回路の提供。 - 特許庁

To detect in advance the high output impedance defect of an output terminal before a probing test, and to perform speedy countermeasures.例文帳に追加

プロービングテスト前に事前に出力端子の高出力インピーダンス不良を検出し、迅速な対応をとることを可能にする。 - 特許庁

The switches SW-R, SW-G, SW-B are turned on when an H level signal is inputted through the test terminal SW.例文帳に追加

スイッチＳＷ−Ｒ、ＳＷ−Ｇ、ＳＷ−Ｂは、テスト用の端子ＳＷからＨレベルを入力することでオンになる。 - 特許庁

An enzyme recognizing and decomposing the 3' terminal of a single strand DNA is one of the means for processing DNA strand in a test tube.例文帳に追加

一本鎖DNAの3'末端を認識して分解する酵素で、DNA鎖を試験管内で加工するための道具の一つとなる。 - 特許庁

The optical radio collecting and distributing device sends an answer to the test packet and the optical radio communication terminal receives the answer.例文帳に追加

光無線集配装置は、このテストパケットに対する応答を送信し、光無線通信端末はその応答を受信する。 - 特許庁

Each bridge terminal receiving a loop test message from a subnetwork transfers this message to all of the other connected subnetworks.例文帳に追加

サブネットワークからループ試験メッセージを受信する各ブリッジ端末は、このメッセージを全ての他の接続されたサブネットワークへ転送する。 - 特許庁

To overcome contact failure between the probe terminal of a probe card for a semiconductor test device and the electrode pad of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体試験装置のプローブカードのプローブ端子と半導体装置の電極パッドとの間の接触不良を解消する。 - 特許庁

In this state of the sheet, a test instrument is connected to a terminal 25 for testing to perform various kinds of tests to each semiconductor chip 50.例文帳に追加

このシートのままの状態で、テスト用端子２５にテスト装置を接続して各半導体チップ５０の各種テストを行う。 - 特許庁

To provide a contact wherein an electric conduction test is surely made and a lead terminal is protected, and operability, durability and test precision are improved and a downsizing of IC socket is made possible while minimizing a pressing load and stress generation, by extremely reducing a wiping phenomenon between a lead terminal and a terminal junction part at the time of pressure contact.例文帳に追加

リード端子と端子接点部との接圧時におけるワイピング現象を極減させることにより、通電検査を確実にするとともにリード端子を保護し、押圧荷重、発生応力を小さくして操作性、耐久性及び検査精度を向上させ、しかもＩＣソケットの小型化が可能なコンタクトを提供すること。 - 特許庁

The trial examination system via the Internet is so constituted that the management of a trial test is performed by a trial examination managing terminal 10, and the student can input the answer to the trial test and can receive information of the result of marking by accessing the trial examination managing terminal 10 with a member side terminal 20a-20c via the Internet 30.例文帳に追加

模擬試験管理端末１０により、模擬試験に関する管理が行われるとともに、会員側端末２０ａ〜２０ｃによってインターネット３０を介し模擬試験管理端末１０にアクセスすることにより、模擬試験に対する解答の入力と採点結果に関する情報の受取りとが行われるようにする。 - 特許庁

This burn-in test system is provided with a control circuit 6 for selecting a terminal corresponding to the burn-in pattern out of the plurality of terminals 7α, 7β, 7γ of a semiconductor device 5, and for connecting selected terminal electrically to an external terminal 3 of the burn-in board 1, in the burn-in test system for the semiconductor device 5.例文帳に追加

半導体装置５のバーンイン試験システムであって、前記半導体装置５の複数の端子７α、７β、７γの中からバーンインパターンに対応した端子を選択し、選択した端子を前記バーンインボード１の外部端子３と電気的に接続する制御回路６を備えることを特徴とするバーンイン試験システム。 - 特許庁

To provide a management method of a load test capable of automatically determining a load amount to be assigned to each terminal so as to obtain a load of a scale necessary for each load test depending on the number of participating terminals.例文帳に追加

参加する端末の数に依り、各負荷テストに必要な規模の負荷が得られるように、各端末に割り当てる負荷量を自動的に決定できる負荷テストの管理方法を、提供する。 - 特許庁

To execute a wafer-level burn-in test even if a semiconductor integrated circuit has a plurality of built-in analog circuits while reducing the input terminal number necessary for input of test signal without increase in chip size.例文帳に追加

チップサイズを増大させることなく、テスト信号入力に必要な入力端子数を削減しつつ、内蔵したアナログ回路が複数あってもウェーハレベルバーンイン試験を実施できるようにする。 - 特許庁