「test terminal」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a charge/discharge control circuit that switches a normal application state and a test state without using an external test terminal, and also to provide a charging-type power supply device.例文帳に追加

テスト用外部端子無しで、通常応用状態及びテスト状態を切り替えることが可能な充放電制御回路及び充電式電源装置の提供。 - 特許庁

To provide a testing device which can cope with diversified organizations for test / manufacturing steps for terminal equipment and can be efficient from the viewpoint of resources and test time with respect to kinds of communication systems of the terminal equipment, measurement (test) items, and the number of items.例文帳に追加

端末機器の試験・製造工程の多様な編成に対応できる試験装置を提供することであり、さらには端末機器の通信方式の種類、測定（試験）項目、数に対して、資源、試験時間の面において効率的な試験装置を提供することである。 - 特許庁

When a request for retrieving the test progress state information is sent from a test management terminal 4 to the server 3, the test progress state information is retrieved from the DB 5 by the function 33 and the retrieved information is displayed on the terminal 4.例文帳に追加

また、テスト管理端末機４からテスト管理サーバ３にテスト進捗状況情報の検索要求が送出されると、テスト管理サーバ３のテスト検索機能３３により進捗管理ＤＢ５からテスト進捗状況情報を検索し、検索した情報をテスト管理端末機４に表示する。 - 特許庁

To provide a method and a system of making/grading test questions in which a test is effectively executed in a limited space, preventing a cheating, a server of making/grading the test questions, a portable respondent terminal device, a program, and a program to be mounted on the portable respondent terminal device.例文帳に追加

限られたスペースで、カンニングを防止しつつ、効率的に試験を実施することができる試験問題作成・採点方法およびそのシステム、試験問題作成・採点サーバ、携帯型解答者端末装置、プログラム、並びに携帯型解答者端末装置搭載用プログラムを提供すること。 - 特許庁

When the test packet 12 is recognized, the terminal 11 recognizes the information in the kind of the error on the test packet 12 and compares this information with the kind of error actually shown by the test packet 12 and on the basis of the information of this result or the like, a reply packet is generated and returned to the terminal 13.例文帳に追加

端末１１はテストパケット１２であることを認識したら、テストパケット１２が持つエラーの種類情報を認識し、この情報と実際にテストパケット１２が示すエラーの種類とを比較し、この結果等の情報に基づき返信パケットを生成して端末１３に返信する。 - 特許庁

A terminal simulator relates to the terminal simulator executing the test scenario created in plural false terminals by an SDL format, characterized by providing: a scenario conversion section which splits the test scenario into unit blocks previously defined each false terminal; and an execution control portion which executes the test scenario to each false terminal by unit blocks of a previously defined number.例文帳に追加

本発明に係る端末シミュレータは、複数の擬似端末にＳＤＬ形式で作成されたテストシナリオを実行させる端末シミュレータであって、テストシナリオを、擬似端末ごとの予め定めた単位ブロックに分割するシナリオ変換部と、擬似端末のそれぞれに、予め定められた数の単位ブロックずつ、テストシナリオを実行させる実行制御部と、を備えることを特徴とする。 - 特許庁

The communication test in a voice communication means of the terminal device and the central processor 40 can be performed.例文帳に追加

また、中央処理装置４０と端末器の音声通信手段の通信テストを行うことも可能となる。 - 特許庁

To provide a test system 10 for finding an eliminable terminal in an IC of a BGA package.例文帳に追加

ＢＧＡパッケージのＩＣにおいて、削除可能な端子を見つけることができるテストシステム１０を提供する。 - 特許庁

A chip to be marked forcibly is specified and input from a terminal to the data display screen of wafer test results.例文帳に追加

端末からウエハテスト結果のデータ表示画面に対し、強制的にマーキングするチップを指定入力する。 - 特許庁

An on-vehicle information terminal 16, when generating a purchase request, etc., passes test data to a security module 140.例文帳に追加

車載情報端末１６は、購入要求等の生成に当たり、テストデータをセキュリティモジュール１４０に渡す。 - 特許庁

Data on a stress-strain characteristic of the terminal-constituting material are acquired by a normal tensile test.例文帳に追加

また、端子を構成する材料についての応力−歪み特性のデータを通常の引張試験により取得する。 - 特許庁

An analog-digital converter 108 receives a signal under a test from an input terminal 110 and generates a digital sample.例文帳に追加

アナログ・デジタル変換器１０８が入力端子１１０からの被試験信号を受けてデジタル・サンプルを発生する。 - 特許庁

To achieve tests with few terminals on LSI chips, concerning an external terminal test of a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の外部端子の試験において、より少ない端子で、ＬＳＩチップのテストを実現させる。 - 特許庁

A test terminal 32 is provided on the semiconductor substrate and is electrically connected to the gate electrode 30.例文帳に追加

テスト端子３２は、半導体基板上に設けられており、ゲート電極３０に電気的に接続されている。 - 特許庁

A first test switch SWt1 is provided between the first input terminal 16 and the first inspection pad PAD1.例文帳に追加

第１テストスイッチＳＷｔ１は、第１入力端子１６と第１検査パッドＰＡＤ１間に設けられる。 - 特許庁

Data on stress-strain characteristic of the terminal strength are obtained by a normal tensile test.例文帳に追加

また、端子を構成する材料についての応力−歪み特性のデータを通常の引張試験により取得する。 - 特許庁

To efficiently and precisely carry out a test for taking out a signal from the terminal of an electronic component.例文帳に追加

本発明は電子部品の端子から信号を取り出す試験を効率良く高精度に行うことを課題とする。 - 特許庁

To provide a center unit capable of executing a test for a communication terminal device through a communication line.例文帳に追加

通信回線を介して通信端末装置の試験を実行させることのできるセンタ装置を提供すること。 - 特許庁

A first clock CK1 being fed to a device 1 under test is taken from a clock input terminal 20a.例文帳に追加

被測定デバイス１に供給されている第１クロックＣＫ１をクロック入力端子２０ａから受け入れる。 - 特許庁

The terminal (i) obtains the authentication test information Dc_j by decrypting it using an internally stored decryption key KA_i.例文帳に追加

端末ｉは、内部に記憶している解読キーＫＡ＿ｉにより復号し、認証試験情報Ｄｃ＿ｊを得る。 - 特許庁

The terminal member 20 for the test to be mounted on the wiring board 5 is provided with a support plate 22 provided with terminal hole portions 22a having a predetermined inner diameter and a pair of test terminal pins 21 which are inserted into the terminal hole portions 22a of the support plate 22 and where positive and negative sides are connected respectively.例文帳に追加

このテスト用端子部材２０は、配線基板５に取り付けられるテスト用端子部材２０であって、所定の内径を有する端子用穴部２２ａが設けられた支持板２２と、支持板２２の端子用穴部２２ａに挿入され、正側および負側がそれぞれ接続される一対のテスト用端子ピン２１とを備えている。 - 特許庁

Consequently, a connection test between the terminal of a semiconductor chip and the external terminal can be performed on each semiconductor chip by measuring a current flowing through the switch circuit while supplying a predetermined level to the dedicated terminal and the first terminal.例文帳に追加

このため、専用端子及び第１端子に所定のレベルを供給した状態で、スイッチ回路に流れる電流を測定することで、各半導体チップ毎に、半導体チップの端子と外部端子との接続試験を実施できる。 - 特許庁

IN scan test mode, inspection data received by the inspection input terminal TI are held synchronously with a clock of master clock terminal MSK and are outputted from the output terminal Q synchronous with a clock of a slave clock input terminal SCK.例文帳に追加

スキャンテストモードにおいては、検査入力端子ＴＩに受けた検査データがマスタークロック端子ＭＳＫのクロックに同期して保持され、スレーブクロック入力端子ＳＣＫのクロックに同期して出力端子Ｑから出力される。 - 特許庁

When a user inputs test data to a test terminal 101, and inputs information related to an expected recognition result and decision conditions as evaluation conditions, an evaluation condition setting part 205 sets the evaluation conditions, and a test data transmission control part 202 transmits test data to each image recognition part.例文帳に追加

利用者がテスト端末１０１に、テストデータを入力し、期待する認識結果に関する情報と判定条件を評価条件として入力すると、評価条件設定部２０５は評価条件を設定し、テストデータ送信制御部２０２はテストデータを各画像認識部に送信する。 - 特許庁

An information processing apparatus of a trustee of the vehicle test and an information terminal of the truster is made connectable with a network, and a schedule table and a capability map concerning each test route, each test vehicle, and each testing stuff for performing the vehicle test are registered in the information processing apparatus.例文帳に追加

車両試験受託者の情報処理装置と、委託者の情報端末装置とをネットワークにより接続可能とし、車両試験を行うための各試験路、各試験車両および各試験員に関する能力マップ及びスケジュール表を情報処理装置に登録する。 - 特許庁

To prevent an oversight in a test of error caused by improper contact in a circuit device for a burn-in test of a semiconductor module including a memory circuit provided with a connection terminal allowing a burn-in test signal of a burn-in test device having active/inactive conditions to be applied.例文帳に追加

活性／非活性状態を有しているバーン・インテスト装置のバーン・インテスト信号Ｔ１；Ｔ６が印加可能である接続端子を備えたメモリ回路１を含んでいる半導体モジュールのバーン・インテストのための回路装置において、コンタクト不良に起因するエラーの検査漏れを克服する。 - 特許庁

When a tester 40 or a test board 12 itself of a test system is checked, or when a test program is debagged, a multiple switch 33 with contacts provided on the test board 12 is operated to be closed, so as to connect an IC socket 34 mounted with a finished product IC to an external connection terminal 32.例文帳に追加

テストシステムのテスタ４０、テストボード１２自体のチェックや、テストプログラムのデバッグを行う際には、テストボード１２上に設けられた有接点多重スイッチ３３を閉操作して、完成品ＩＣを載置したＩＣソケット３４と外部接続端子３２との間を接続する。 - 特許庁

In this counter test circuit for testing counters 3, 4 constituted by connecting two four-bit counters longitudinally, a load pulse generating part 2 generates a load pulse of the counters 3, 4 from a test mode signal for showing a test mode of the counters and a counter load pulse test input signal inputted from an external terminal.例文帳に追加

４ビットのカウンタを２個縦列接続して構成したカウンタ３，４をテストするカウンタテスト回路で、ロードパルス生成部２は、カウンタのテストモードを示すテストモード信号と外部端子により入力されるカウンタロードパルステスト入力信号とからカウンタ３，４のロードパルスを生成する。 - 特許庁

To shift to a test mode without providing a terminal for the exclusive use of a test and to prevent shifting erroneously to a test mode at the time of normal operation in a semiconductor memory provided with a test function and a circuit substrate mounting a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

本発明は、試験機能を備えた半導体記憶装置およびこの半導体集積回路を搭載した回路基板に関し、試験専用の端子を設けることなく試験モードに移行し、かつ通常動作時に誤って試験モードに移行することを防止することを目的とする。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit 100 includes a power amplifier 15, the thermal protection circuit sensing an abnormal heating of the power amplifier 15 and protecting the power amplifier 15, a test circuit 10 having a test terminal for applying a test voltage and performing the operation test of the thermal protection circuit according to the test voltage, and a control circuit 16 having a control terminal for applying a control voltage and performing a control on an internal circuit according to the control voltage.例文帳に追加

半導体集積回路１００は、パワーアンプ１５と、パワーアンプ１５の異常発熱を検知してパワーアンプ１５を保護する熱保護回路と、テスト電圧を印加するテスト端子を有し、テスト電圧に応じて熱保護回路の動作テストを行うテスト回路１０と、制御電圧を印加する制御端子を有し、制御電圧に応じて内部回路の制御を行う制御回路１６と、を備える。 - 特許庁

In the learning system, the learner downloads at least learning data wherein correct answer data of a test are encrypted, from a management server 10 to a learning terminal 30, performs learning with a learning execution section 33, and takes a test with a test execution section 34.例文帳に追加

学習者は、少なくともテストの正答データを暗号化した学習用データを、管理サーバ１０から学習端末３０にダウンロードし、学習実行部３３により学習を行い、テスト実行部３４によりテストを実施する。 - 特許庁

In a test operation, a test signal is inputted from the analog-used terminal 301, and the digital circuit 110 controls the NAND circuit 340 so as to pass the test signal and the switching means 130 so as to select the digital power source 120.例文帳に追加

テスト動作時は、アナログ用端子３０１からテスト信号を入力し、デジタル回路１１０はＮＡＮＤ回路３４０がテスト信号を通過するように、また、スイッチ手段１３０がデジタル電源１２０を選択するように制御する。 - 特許庁

To provide a technique for verifying function operation of a virtual tape device under a test operation environment by operating a test program on a host computer that is a host control device and a test program on a monitoring terminal.例文帳に追加

上位制御装置であるホストコンピュータ上の試験用プログラムと監視端末の試験プログラムとを稼働させることによって、この試験運用環境下における仮想テープ装置の機能動作を検証する技術を提供する。 - 特許庁

In the colorimetric method of a test print TP, concentration of the test print TP is measured (S2) and with colorimetric values, obtained as the result of measurement, in both terminal portions of the test print TP as a reference, colorimetric positions of the respective colorimetric values are corrected, respectively (S5).例文帳に追加

テストプリントＴＰの測色方法では、テストプリントＴＰの濃度測定を行なって、その結果得られたテストプリントＴＰの両端部における測色値を基準にして各測色値の測色位置をそれぞれ補正する。 - 特許庁

In a counter test (temporal characteristic test) of a relay using the test devices 1_M and 1_S, the concurrent fault input is transmitted from the trigger IN to the main protection device 2 and the terminal device 3 via the optical fiber cable 4 as a transmission system.例文帳に追加

試験装置１_M、１_Sを用いてリレーの対向試験（時間特性試験）を行なう場合、トリガＩＮから同時故障入力を、伝送系の光ファイバーケーブル４を介して主保護装置２と端末装置３に送信する。 - 特許庁

A test interface circuit TIC provided between a mixed memory MCR and a test data input/output terminal 9 is provided with a first-in/first-out circuit 10 storing successively test data, and latency of data read out from the mixed memory is adjusted.例文帳に追加

混載メモリ（ＭＣＲ）とテストデータ入出力端子（９）の間に設けられるテストインターフェイス回路（ＴＩＣ）において、テストデータを順次格納するファーストイン・ファーストアウト回路（１０）を設け、混載メモリから読出されたデータのレイテンシを調整する。 - 特許庁

The semiconductor device is provided with the terminal for communication signal, a terminal for test provided correspondingly to the terminal for communicating signal, and an impedance element connected between the terminals.例文帳に追加

半導体デバイスは、通信信号用端子と、通信信号用端子に対応して設けられた試験用端子と、通信信号用端子と試験用端子との間に接続されたインピーダンス素子とを備える。 - 特許庁

To provide an energization test device that can suppress breakage of a terminal of an inspection object by making a probe body pressed on the terminal, while the terminal is reliably brought into contact with a contact member.例文帳に追加

被検査体の端子と接触部材とを確実に接触させた状態でプローブ本体を該端子に押圧させることにより、該端子の破損を抑えることができる通電検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a terminal structure having high reliability, capable of executing simply terminal processing, concerning the terminal structure for executing an airtightness test of a power cable having a corrugated metal sheath.例文帳に追加

波付き金属シースを有する電力ケーブルの気密試験を実施するための端末構造を、信頼性が高く、しかも端末処理を簡単に行なえうる端末構造とすることを目的とする。 - 特許庁

To eliminate the need for the software development operation of a command message terminal and the operation confirmation test operation of the terminal itself and to economically and easily prepare a terminal software at adding/changing of command message specifications.例文帳に追加

コマンドメッセージ仕様の追加・変更に際して、コマンドメッセージ端末のソフト開発稼働と端末自身の動作確認試験稼働を不要にして、経済的かつ簡易に端末ソフトを作成できるようにする。 - 特許庁

For tests to confirm the connection between the output terminal 16 of a macro 1 and the input terminal 25 of a macro 2, a register 12 to hold test data is provided, and a means to output a value of the register 12 as it is at the time of test operation is provided.例文帳に追加

マクロ１の出力端子１６とマクロ２の入力端子２５との間の接続確認テストのために、テストデータを保持するレジスタ１２を設け、テスト動作時にはレジスタ１２の値をそのまま出力する手段を設ける。 - 特許庁

The power generator 5 is connected so that a phase of the test AC voltage generator 2 at the terminal at the opposite side is shifted by 180 degrees from a phase of the output voltage of the test AC voltage generator 1 at the one terminal.例文帳に追加

発電機５は、一方の端子の試験用交流電圧発生装置１の出力電圧の位相と、反対側の端子の試験用交流電圧発生装置２の出力電圧の位相が、１８０度ずれるように接続する。 - 特許庁

A data selector outputs the output data signal from the data output unit to the external data output terminal in a normal operation mode, or outputs the input data signal from the test output control unit to the external data output terminal in a test mode.例文帳に追加

データセレクタは、通常動作モード中に、データ出力部からの出力データ信号を外部データ出力端子に出力し、テストモード中に、テスト出力制御部からの入力データ信号を外部データ出力端子に出力する。 - 特許庁

The wafer 301 makes the semiconductor chip 304 output a test result of the semiconductor chip 304 from the external terminal P2 while making the semiconductor chip 303 output a test result of the semiconductor chip 303 from the external terminal P1.例文帳に追加

ウェハ３０１は、半導体チップ３０３に外部端子Ｐ１から半導体チップ３０３のテスト結果を出力させると同時に、半導体チップ３０４に外部端子Ｐ２から半導体チップ３０４のテスト結果を出力させる。 - 特許庁

The test frame transmission/reception part 12 is connected to a control terminal 2 for maintenance, and at the time of receiving a continuity confirmation instruction from the control terminal 2 for the maintenance, prepares and transmits the test frame to which a continuity confirmation message is added.例文帳に追加

試験フレーム送受信部１２は保守用制御端末２に接続されており、保守用制御端末２から導通性確認指示を受けると、導通性確認メッセージを付加した試験フレームの作成及び送信を行う。 - 特許庁