「test terminal」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a test interface device for a semiconductor device of simple structure which prevents sockets from being damaged when engaging a contact terminal of the test socket with the adapter socket.例文帳に追加

構造が簡素で、テストソケットのコンタクト端子をアダプタソケットに係合する際にソケットの損傷を防いだ半導体装置のテストインタフェイス装置を提供する。 - 特許庁

The delay test on the output terminal side of the customer-designed circuit 12 is executed by performing the delay test between a scanning flip-flop 18 and a flip-flop 16.例文帳に追加

顧客側設計回路１２の出力端子側の遅延試験をスキャンフリップフロップ１８とフリップフロップ１６との間の遅延試験を行うことで実行する。 - 特許庁

The electronic mail including a predetermined specific character string in the portable terminal device 1, is transmitted from the test operator when the communication test is performed.例文帳に追加

通信試験を行う場合に試験操作者から携帯端末装置１に予め決められた特定の文字列を含む電子メールを送信する。 - 特許庁

The normal signal 3 or test output signal 4 is selected by controlling the test mode switching signal 5 and outputted to an output terminal 6.例文帳に追加

テストモード切替信号５を制御することにより通常信号３とテスト出力信号４のどちらかを選択して、出力端子６へ出力する。 - 特許庁

The bridge terminal which transmits the several loop test messages detects that a loop does not exist, if the loop test messages do not return after a prescribed time period.例文帳に追加

幾つかのループ試験メッセージを送信したブリッジ端末は、所定の時間期間の後にループ試験メッセージが戻らなければループがないことを検出する。 - 特許庁

The test circuit 8 tests the functions of a main circuit part 2, on the basis of test data given to it, from the input terminal 3 via the output selection circuits 4, 5.例文帳に追加

そして、テスト回路８は、入力端子３より出力選択回路４，５を経由して与えられるテストデータに基づいて主回路部２の機能をテストする。 - 特許庁

Thus, the logic circuit part of the test mode circuit 12 is reset, by OR-condition of the set level of a test terminal 13R and the level of the power line 3.例文帳に追加

そこで、テストモード回路１２のロジック回路部を、テスト端子１３Ｒの設定レベルと電源線３のレベルとのＯＲ条件によってリセットする。 - 特許庁

A terminal 40 not only gives a signal for designating the prescribed call signal, to the test signal generation circuit 23 but also instructs the control circuit 12 to execute a test.例文帳に追加

また、端末40が、所定の呼出信号を指定する信号をテスト信号発生回路23に与えると共に、制御回路12にテストの実行を指示する。 - 特許庁

To provide a device and method for setting an inexpensive test environment in which a communication test of mobile communication terminal can be carried out.例文帳に追加

低コストで移動通信端末の通信試験を行うことが可能な試験環境設定装置及び試験環境設定方法を提供すること。 - 特許庁

A test function part 141 has a test control part which codes and transmits the error contents sent from the terminal function part 142 and call processing part 140.例文帳に追加

試験機能部１４１は、端末機能部１４２及び呼処理部１４０から送信されたエラー内容をコード化して送信する試験制御部を有する。 - 特許庁

The usual operation and the test operation are thereby carried out without requiring the terminal 211 dedicated for the test, and the interposer substrate.例文帳に追加

このため、テスト専用の外部端子２１１やインターポーザ基板を必要とすることなく、通常動作とテスト動作とを実行するようなことができる。 - 特許庁

When it is during a test, the putout error signal outputted from the CPU 371 for the putout control is outputted through a connector to a test terminal board.例文帳に追加

試験時であれば、払出制御用ＣＰＵ３７１から出力された払出エラー信号は、コネクタを介して試験端子基板に向けて出力される。 - 特許庁

To provide a semiconductor test method which reduces the test time for the terminal characteristics of a semiconductor device and prevents a decrease in yield.例文帳に追加

半導体素子の端子特性の試験時間を短縮するとともに、歩留まりの低下を防ぐ半導体試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The test object mounting surface may be smaller than the terminal contact side of a test object to be mounted, and test object suction holes may be provided in between the top surfaces of the plurality of terminals.例文帳に追加

検査対象載置面は、載置すべき検査対象の端子接触側面よりも小さい面積であっても良く、複数の端子の頂面間に検査対象吸引穴が設けられていても良い。 - 特許庁

To reduce the number of terminals for a burn-in test signal by dispensing with input of the burn-in test signal from each external terminal in each scan chain in a burn-in test of a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路のバーンイン試験において、スキャンチェーン毎にそれぞれの外部端子からバーンイン試験用信号を入力することを不要にしてバーンイン試験用信号のための端子数を減らす。 - 特許庁

To reduce test items and to shorten a test time by reducing the number of terminals without complicating a design of an output terminal selection circuit in an isolation test of a large-scale system LSI.例文帳に追加

大規模システムＬＳＩのアイソレーションテストにおいて、出力端子選択回路の設計を複雑化させることなく端子数の削減を可能にし、テスト項目の削減およびテスト時間の短縮を実現する。 - 特許庁

To execute test processing according to a test signal inputted from a test terminal while providing high security in a memory device for holding data even in case of power cutoff.例文帳に追加

本発明は、電源遮断時にもデータを保持するメモリ装置に関し、高いセキュリティを実現しつつ、テスト端子から入力されるテスト信号に従ってテスト処理を実行できるようにすることを目的とする。 - 特許庁

A WWW server 20 for a test registers user information from a terminal 1, issues a test homepage connection permission ID and a password for connecting to a test homepage and transmits the permission ID and the password by e-mail.例文帳に追加

検査用ＷＷＷサーバ２０は、端末１からの利用者情報を登録し、検査ホームページに接続するための検査ホームページ接続許可ＩＤとパスワードとを発行し、Ｅメールにて送信する。 - 特許庁

A test chart control section 204 determines whether the reconfiguration request of test chart specifications has been received from a terminal unit 2, or the like, and whether it triggered the reconfiguration of a preset test chart.例文帳に追加

テストチャート制御部２０４は、端末装置２等からテストチャート仕様の再構成依頼を受け付けたか否か、及び予め設定されているテストチャート再構成の契機となったか否かを判断する。 - 特許庁

To ensure an external terminal required for a test input for inputting a test signal to a functional block so as to test the functional block even if the number of the functional blocks is large.例文帳に追加

機能ブロックの数が多くても、各機能ブロックに対してテストできるように、機能ブロックにテスト信号を入力するために必要なテスト入力用の外部端子を確保することを目的とする。 - 特許庁

To perform a logic test without providing an external clock terminal exclusive for test in a test mode of a semiconductor integrated device operating in an internal oscillation circuit.例文帳に追加

内部発振回路で動作する半導体集積装置のテストモードにおいて、テスト専用の外部クロック端子を設けることなく、ロジックテストを行うことができる半導体集積装置を提供する。 - 特許庁

During a scan test, a specific gated clock cell equipped with the scan power control terminal is stopped (operated) using the scan power control circuit 3003, thereby performing a scan test without test division.例文帳に追加

スキャンテスト中スキャン電力制御回路３００３を用いて特定のスキャン電力制御端子つきゲーテッドクロックセルを止める（動かす）ことでテスト分割なしでスキャンテストを行うことが可能となる。 - 特許庁

An n-bit test code is serially input to a terminal TCODEENT, and the n-bit shift register 101 performs shift operation, in synchronization with a periodic pulse inputted to a terminal TCLK to read a test code.例文帳に追加

端子ＴＣＯＤＥＥＮＴには、ｎビットのテストコードがシリアル入力され、ｎビットシフトレジスタ１０１は、端子ＴＣＬＫに入力される周期パルスに同期してシフト動作し、テストコードを取り込む。 - 特許庁

To prevent a trip circuit from trip-operated carelessly by irregularities of conditions of contact with a test terminal, and reduce burden of operator for inserting/drawing the test terminal.例文帳に追加

試験端子に対する接触状態が不揃いであることに起因してトリップ回路が不用意にトリップ動作することを防止するとともに、試験端子に対する挿抜にかかる操作者の負担軽減を図ること。 - 特許庁

The terminal pin 13 is used as a test pin being interposed with a clip 25 when a terminal board is fixed to the printed board 23 and a conducting/ insulating test is conducted on the printed board 23.例文帳に追加

この端子ピン１３は、端子台をプリント基板２３に固定してプリント基板２３上での導電性／絶縁性試験を行うとき、鰐口クリップ２５を挟むためのテストピンとして用いられる。 - 特許庁

On the battery housing body the battery test module is mounted, and the battery test module is electrically coupled to the positive terminal and negative terminal of the battery through the respective first and second Kelvin connections.例文帳に追加

このバッテリハウジング体には、バッテリテストモジュールが搭載されており、このモジュールは、第１および第２のケルビン接続により、それぞれ前記バッテリの正端子および負端子に電気結合されている。 - 特許庁

To conduct a test from an arbitrary station by using a test use maintenance terminal, such as a conventional subscriber telephone set and a personal computer, without the use of a special device exclusively for test and maintenance with respect to acoustic equipment test system for exchange.例文帳に追加

交換機の音声系機器の試験システムに関し、試験保守専用の特殊な装置を使用せず、通常の加入者電話機とパーソナルコンピュータ等のような試験用保守端末を使用して任意の局から試験を行えるようにする。 - 特許庁

To enable even a non-skilled person to easily and efficiently create a program as a test scenario for making a test easily using a dummy base station test simulator for wireless communication or a dummy terminal test simulator for wireless communication.例文帳に追加

熟練した技能を有しない者であっても、簡便に無線通信用擬似基地局試験シミュレータや無線通信用擬似端末試験シミュレータを用いる試験を行うためのテストシナリオとしてのプログラムを容易、かつ、効率よく作成することである。 - 特許庁

An information terminal machine 4 of an examinee 3 starts test problems from an examinee problem information database 10 to display a test start screen 20 and a test screen 25, solves the problems, scores the test, and displays a score screen 35 as the scoring result.例文帳に追加

受講者３の情報端末機４は、受講者問題情報データベース１０より試験問題を起動し、試験開始画面２０、試験画面２５を表示し、問題を解き、採点を行い、採点結果である採点画面３５を表示する。 - 特許庁

A test apparatus 100 judges a test item, and when carrying out the radio transmission characteristics test, the test apparatus 100 communicates layer 3 signals with the mobile terminal apparatus 150 to implement radio connection over CDMA radio interface and transmits a measurement signal.例文帳に追加

試験装置１００は、試験項目を判断し、無線送信特性試験を行う場合には、移動端末装置１５０との間でレイヤ３信号を伝送してＣＤＭＡ無線インターフェースによる無線接続を実現し、被測定用信号を伝送する。 - 特許庁

The terminal 4 makes a call to a test terminal 11 for transmitting a control signal to the test terminal 11, a base station controller 2 detects an identifier of the terminal 4, on the basis of the transmitted control signal and informs the base station unit 1 about the message ID corresponding to the identifier.例文帳に追加

また、端末４から試験用端末１１に対して発呼して、制御信号を伝送し、基地局制御装置２において伝送された制御信号から端末４の識別子を検出し、その識別子に応じたメッセージＩＤを基地局装置１に通知する。 - 特許庁

At a request from a terminal device 1973, the transmission device 1970 sends a request to transfer the specific contents data for test viewing to the terminal device 1971 and the specific contents data for test viewing are transferred from the terminal device 1971 to the terminal device 1973.例文帳に追加

端末装置１９７３からの要求に応じて、送信装置１９７０は、端末装置１９７１に上記所定の試し視聴用のコンテンツデータの転送要請を出し、端末装置１９７１から端末装置１９７３に上記所定の試し視聴用のコンテンツデータが転送される。 - 特許庁

The semiconductor device comprises an input terminal into which test pattern data is input in series at a first speed, and an output terminal that corresponds to the input terminal one to one and outputs test pattern data to the outside in series at a second speed different from the first speed.例文帳に追加

第１の速度でテストパターンデータが直列に入力される入力端子と、入力端子と一対一に対応し、第１の速度と異なる第２の速度でテストパターンデータを直列に外部に出力する出力端子と、を含む。 - 特許庁

On a main base board 31, the driving signal output terminal 601 is arranged in the vicinity of a test signal terminal 121 and can be connected to a connector.例文帳に追加

主基板３１において、駆動信号出力端子６０１は、試験信号端子１２１の近傍に設置されコネクタを接続可能である。 - 特許庁

A covering part 36 for covering an outer circumferential part of a terminal 37 for a test is provided in a tip part 33a of the terminal insertion hole 33 of a reverse cover 30.例文帳に追加

裏カバー３０の端子挿入孔３３の先端部３３ａに、テスト用端子３７の外周部を覆う覆い部３６を設ける。 - 特許庁

The terminal coming into contact therewith is specified, and an electric signal is transmitted/received between the test object and a tester via the specified terminal.例文帳に追加

この接触した前記端子が特定され、特定された前記端子を介して被検査体とテスタとの間で電気信号が送受信される。 - 特許庁

To provide a terminal process member for a lightning impulse breakdown test capable of easily and surely performing a terminal process of a sample power cable.例文帳に追加

容易且つ確実に供試電力ケーブルの端末処理をすることが可能な雷インパルス電圧破壊試験用端末処理部材を提供する。 - 特許庁

After the reset release, the test mode setting signal TESTMODE[7:0] is fixed, and the normal external input terminal 1 can be used as a normal input terminal.例文帳に追加

リセット解除後は、テストモード設定信号TESTMODE[7:0]は固定され、通常外部入力端子１は通常入力端子として使用できる。 - 特許庁

The simulation terminal 20 acquires information necessary for test processing from the IG server 10, and simulates the operation of the extended terminal based on the information.例文帳に追加

模擬端末２０は、ＩＧサーバ１０から試験処理に必要な情報を取得して、この情報に基づいて増設端末の動作を模擬する。 - 特許庁

A resistance element 33 is provided on the semiconductor substrate and electrically connects the gate terminal 31 and the test terminal 32 to each other.例文帳に追加

抵抗素子３３は、半導体基板上に設けられており、ゲート端子３１およびテスト端子３２の間を互いに電気的に接続している。 - 特許庁

An input signal of an input terminal IN and a signal applied to a test signal input terminal test1 are given to the OR circuit 22.例文帳に追加

オア回路２２には、入力端子ＩＮの入力信号とテスト信号入力端子ｔｅｓｔ1 に印加された信号とが入力される。 - 特許庁

A main unit 30 of a test instrument is connected to one terminal side of a cable 32 to be tested, and a remote unit 34 is connected to another terminal side of the cable 32 to be tested.例文帳に追加

試験機器の主ユニット30を、被試験ケーブル32の一端側に接続し、遠隔ユニット34を、被試験ケーブル32の他端側に接続する。 - 特許庁

An external connection terminal 401 is provided at the pad 904, and the external connection terminal 401 is not provided at the test dedicated pad 905.例文帳に追加

パッド９０４には外部接続端子４０１が設けられており、テスト専用パッド９０５には外部接続端子４０１が設けられていない。 - 特許庁

A P-test enable terminal 515 is provided, the terminal is brought into a low level to bring a VCL-MIN test mode, and the internal power source voltage VCL of a desired level is supplied to internal logic circuits 501-504 from an LSI tester via a VCL power source terminal 512, in the test mode.例文帳に追加

Ｐ検イネーブル端子（５１５）を設け、この端子をローレベルにすることでＶＣＬ−ＭＩＮ試験モードにすることができ、この試験モードにおいて、ＬＳＩテスタからＶＣＬ電源端子（５１２）を介して所望レベルの内部電源電圧（ＶＣＬ）を内部論理回路（５０１〜５０４）に供給することができる。 - 特許庁

To surely conduct the electrical contact with a ball terminal in the electric characteristic test of a ball type package.例文帳に追加

ボールタイプパッケージの電気的特性試験におけるボール端子との電気的接触を確実に行なう。 - 特許庁