「test terminal」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

The semiconductor test apparatus 1 is equipped with a test apparatus main unit 10 which carries out a test of a DUT 30, and a terminal device 20 including a display section 26 for displaying a test result obtained by the test apparatus main unit 10.例文帳に追加

半導体試験装置１は、ＤＵＴ３０の試験を行う試験装置本体１０と、試験装置本体１０で得られた試験結果を表示する表示部２６を有する端末装置２０とを備える。 - 特許庁

A pattern select circuit selects an internal test pattern output from the pattern generating circuit in a first test mode, and selects an external test pattern supplied through a test terminal in a second test mode to output the selected test pattern to the memory chip.例文帳に追加

パターン選択回路は、第１試験モード時に、パターン発生回路から出力される内部試験パターンを選択し、第２試験モード時に、試験端子を介して供給される外部試験パターンを選択し、選択した試験パターンをメモリチップに出力する。 - 特許庁

When a test selection signal S2 is inputted into a selection signal terminal (trigger terminal) of each selector of a test selection circuit part 7, the test selection circuit part 7 supplies a test signal inputted from a test selection signal generation part 6 to a data selection circuit part 3.例文帳に追加

テスト用選択回路部７の各セレクタの選択信号端子（トリガ端子）へテスト用選択信号Ｓ２を入力すれば、テスト用選択回路部７はテスト用選択信号生成部６から入力されるテスト用信号をデータ選択回路部３へ供給する。 - 特許庁

Since the test circuit chip 21 is provided in the vicinity of the needle root of the probe terminal 12 in this way, degradation of a test signal is suppressed, and test reliability is improved.例文帳に追加

このようにテスト回路チップ２１をプローブ端子１２の針元近傍に設けたことにより、テスト信号の劣化が抑え、テストの信頼性が向上する。 - 特許庁

To set a test mode with a minimum circuit scale without providing an external input terminal exclusively used for test mode setting, even if test modes are increased.例文帳に追加

テストモードが増加しても、テストモード設定に専用の外部入力端子を設けることなく、最小の回路規模でテストモードの設定を可能にする。 - 特許庁

A test mode signal STM1 inputted form a test mode terminal 14 is supplied for the control input of the MUX 3 via a test mode input part 4.例文帳に追加

テストモード端子１４より入力されるテストモード信号ＳＴＭ１はテストモード入力部４を介してＭＵＸ３の制御入力に付与される。 - 特許庁

A test interface circuit TICa performs an operation test based on a signal inputted to a test pin terminal group TPG by directly accessing a DRAM core.例文帳に追加

テストインタフェース回路ＴＩＣａは、テストピン端子群ＴＰＧに入力される信号に基づく動作テストを、ＤＲＡＭコアに直接アクセスして実行する。 - 特許庁

When a withstand voltage test and an electrical circuit verification test (sequence test) of a distribution panel are carried out, a wire connection device is attached on a block terminal stand in the distribution panel.例文帳に追加

配電盤の耐電圧試験及び電気回路検証試験（シーケンス試験）を行う時に配電盤内のブロック端子台に結線装置を取り付ける。 - 特許庁

The semiconductor device having a DAC is equipped with a test pattern generating means having a storage part which stores a test pattern, and an input terminal of a clock signal for test.例文帳に追加

テストパターンを記憶している記憶部をもつテストパターン発生手段と、テスト用クロック信号入力端子とを、ＤＡＣを有する半導体装置に備える。 - 特許庁

Internal test control signals are generated from a small number of signals given through an address terminal when operated in a test mode by a test signal generating circuit 8.例文帳に追加

テストモード動作時アドレス端子を介して与えられる少数の信号から内部テスト制御信号をテスト信号発生回路（８）により生成する。 - 特許庁

To provide a test plug configured so as not to be connected to a test terminal when the test plug is not short-circuited by a short-circuit tool.例文帳に追加

テストプラグが短絡用治具によって短絡されていない場合にはテスト端子に接続できないように構成されたテストプラグを提供すること。 - 特許庁

To provide a test head of a test socket, which can cope with high integration and increase of pins (multi-terminal) of ICs by shortening the arrangement pitches of wires constituting conductors of a test socket.例文帳に追加

テストソケットの導電子を成すワイヤの配置ピッチを小さくしてＩＣの高集積化及び多ピン化（多端子化）に対応できるようにする。 - 特許庁

To calibrate the output timing of test signal in a semiconductor test device, having a socket which has a first terminal capable of giving test signals to a semiconductor device and a driver outputting the test signal to the first terminal.例文帳に追加

半導体デバイスへ試験信号を与えることのできる第１端子を有するソケットと、試験信号を第１端子へ出力するドライバとを有する半導体試験装置における試験信号の出力タイミングをキャリブレーションすること。 - 特許庁

A terminal 13 provided with the I/F of the network having the test function transmits the character of a previously specified error to a terminal 11 by generating a test packet 12.例文帳に追加

テスト機能を有するネットワークのＩ／Ｆを設けた端末１３は、予め特定のエラーの性質をテストパケット１２を生成して端末１１へ送信する。 - 特許庁

Using the analogue signal input terminal 1 and the A/D converter 5, the test mode is set, so that only a single test mode setting terminal 3 is required.例文帳に追加

アナログ信号入力端子１及びＡ／Ｄコンバータ５を利用して、テストモードの設定を行うので、テストモード設定用端子３は１個で済む。 - 特許庁

FADING SIMULATOR, MOBILE COMMUNICATION TERMINAL TEST SYSTEM, AND FADING PROCESSING METHOD例文帳に追加

フェージングシミュレータ、移動体通信端末試験システム、及びフェージング処理方法 - 特許庁

The user terminal 1 transmits a message to the URL specified by the test schedule.例文帳に追加

ユーザ端末１は、テストスケジュールが指定したＵＲＬへメッセージを送信する。 - 特許庁

To provide a terminal tester capable of efficiently performing a function test and a packet communication performance test of a mobile communication terminal without generating a processing delay.例文帳に追加

処理遅れを発生することなく、移動体通信端末の機能試験及びパケット通信性能試験を効率的に行える端末テスタを提供する。 - 特許庁

The user terminal 14 sends answers to the test to the server 10 (104).例文帳に追加

ユーザー端末１４はそのテストの答えをサーバー１０に送信する（１０４）。 - 特許庁

To correctly measure an access time of a memory macro by using an external test terminal.例文帳に追加

外部テスト端子を用いてメモリマクロのアクセスタイムを正確に測定する。 - 特許庁

The distribution circuit 10 connects the SDI terminal of the control CPU 1 and an SDI terminal of the board under test 2, connects the SDO terminal of the control CPU 1 and an SDO terminal of the jig 3, and connects an SDO terminal of the board under test 2 and an SDI terminal of the jig 3.例文帳に追加

分配回路１０は、制御ＣＰＵ１及び被検査基板２のＳＤＩ端子を接続し、制御ＣＰＵ１のＳＤＯ端子と治具３のＳＤＯ端子とを接続し、被検査基板２のＳＤＯ端子と治具３のＳＤＩ端子とを接続している。 - 特許庁

The test circuit 30 is used for shipping test of the 8 pin microcomputer, and outputs from the 2 input Ex-OR circuit EX1 a test enable signal Test Enable being a "High" level signal based on the test clock signal TCLK input from the terminal Pad 1 being the test terminal.例文帳に追加

テスト回路３０は８ピンマイコンの出荷テストなどを行うときに使用され、テスト端子である端子Ｐａｄ１から入力されるテストクロック信号ＴＣＬＫにもとづいて、２入力Ｅｘ−ＯＲ回路ＥＸ１から“Ｈｉｇｈ”レベルの信号であるテストイネーブル信号Ｔｅｓｔ Ｅｎａｂｌｅが出力される。 - 特許庁

To conduct a radio reception characteristic test and a radio function test while maximizing the transmitting power of a mobile terminal device.例文帳に追加

移動端末装置の送信電力を最大にして無線受信特性試験及び無線機能試験を行うこと。 - 特許庁

According to the test pattern, voltage is applied by a voltage generating section 11 to each input terminal of a test workpiece 5.例文帳に追加

このテストパターンに従って電圧発生部１１にて被検査ワーク５の各入力端子に対して電圧を印加する。 - 特許庁

A scan test device 1 according to the present invention includes a test data input terminal, an OR element 17, and a scan flip-flop 12.例文帳に追加

本発明にかかるスキャンテスト装置１は、テストデータ入力端子、ＯＲ素子１７、スキャンフリップフロップ１２を備える。 - 特許庁

To provide an integrated circuit having a configuration in which a test mode is set without providing a terminal exclusive for the test mode.例文帳に追加

テストモード専用の端子を備えることなく、テストモードに設定できる構成を有する集積回路を提供する。 - 特許庁

The test board is provided with a socket for mounting a non-test device, and first and second signal lines connected between an output terminal, an input terminal of the non-test device and a switch, respectively.例文帳に追加

テスト基板には、非テストデバイスを搭載させるソケットと、上記非テストデバイスの出力端子と入力端子とスイッチとの間をそれぞれ接続する第１及び第２信号線が設けられる。 - 特許庁

To provide a downsized test terminal for installation of a substrate, which prevents a test pattern provided on the substrate from being damaged, and also prevents misregistration of a probe from occurring, and also to provide a substrate with the test terminal.例文帳に追加

基板に設けられたテストパターンを傷つけたり、プローブの位置ずれが生じたりするのを防止でき、かつ、小型化を実現可能な基板設置用テスト端子、及びテスト端子付き基板を提供する。 - 特許庁

At the start of a test process, the information of test item inputted to a test terminal 1 is transferred to a test management server 3 through a host computer 2 and registered in a progress management DB 5 by a test registering function 33 of the server 3.例文帳に追加

テスト工程開始時には、テスト端末機１に入力されたテスト項目の情報を、ホストコンピュータ２を介してテスト管理サーバ３に転送し、テスト管理サーバ３のテスト登録機能３３により進捗管理ＤＢ５に登録する。 - 特許庁

Each test items of the generated test specification is collated with the facility change information to create a test terminal which determines a result of the test, thereby automating the full-point test of the display device screen.例文帳に追加

上記で生成した試験仕様書の各試験項目と、設備変化情報を照合することによって、試験結果を判定する試験端末を作成することにより、表示装置画面の全点試験の自動化を実現する。 - 特許庁

When the test execution period of the each load test starts, the test management server 3 transmits a test schedule file with a URL registered in a test load registration database 37 to the user terminal 1 operated by the registered user.例文帳に追加

テスト管理サーバ３は、各負荷テストのテスト実行期間に至ると、テスト負荷登録データベース３７に登録されているＵＲＬを記述したテストスケジュールファイルを、登録されているユーザが操作するユーザ端末１へ送信する。 - 特許庁

When monitoring information 401 received from a communication device 201 indicates "initializing the test associated apparatus", the maintenance terminal applies test release and test acquisition to an object test part 302 on the basis of the monitoring information 401 and the stored test execution state.例文帳に追加

そこで、通信装置201から受信した監視情報401が「試験関連装置が初期化」を示すと、この監視情報401と保持されている試験実行状態とに基づいて、対象試験箇所302の試験解放および試験捕捉を行なう。 - 特許庁

A test and measurement device 100 receives an RF signal at an input terminal 110.例文帳に追加

試験測定装置１００は、入力端子１１０でＲＦ信号を受ける。 - 特許庁

INTERFACE APPARATUS, AND METHOD FOR CONDUCTINUITY TEST BETWEEN INTERFACE DEVICE PIN AND SUBSTRATE TERMINAL例文帳に追加

インターフェース装置、及びインターフェースデバイスピンと基板端子間の導通試験方法 - 特許庁

To relieve a load on a person generating test data in the case of testing a communication terminal.例文帳に追加

通信端末を試験する際にテストデータの作成者の負担を軽減する。 - 特許庁

To prevent a female side terminal metal fitting from damage at the conduction test.例文帳に追加

導通検査時に雌側端子金具に損傷を与えること等を防止する。 - 特許庁

A third switch connects an output terminal of the testing control circuit to an input terminal of the inner circuit during the test mode.例文帳に追加

第３スイッチは、テストモード中に、テスト制御回路の出力端子を内部回路の入力端子に接続する。 - 特許庁

The terminal (i) obtains the encryption key Ka_j and the terminal (j) obtains the authentication test information Dc_i by similar procedures.例文帳に追加

同様の手順により、端末ｉは暗号キーＫａ＿ｊを、端末ｊは認証試験情報Ｄｃ＿ｉを得る。 - 特許庁

When the mobile terminal 11 selects a test of radio data collection or the like, the exchange 13 discriminates whether or not the test personnel can conduct selection test on the basis of the entered test personnel ID.例文帳に追加

また、移動端末１１から無線データ収集等の試験を選択した際、交換機１３は入力されている試験者ＩＤからその試験者が選択試験が可能であるか判定する。 - 特許庁

The test result by the subscriber test unit 7 is displayed on the maintenance terminal 4 as a test result of the xDSL subscriber circuit 9 resulting that the exchange A side realizes the test of the xDSL subscriber.例文帳に追加

試験装置７の試験結果は保守端末４上でｘＤＳＬ加入者回路９の試験結果として表示され、交換機Ａ側からのｘＤＳＬ加入者試験を実現できる。 - 特許庁

On the basis of clock for test from the input terminal, the test pattern generating means generates the digital signal for test which is based on the test pattern, and supplies the signal to an input side of the DAC.例文帳に追加

テストパターン発生手段は、テスト用クロック信号入力端子からのテスト用クロックに基づいて、前記テストパターンに従ったテスト用ディジタル信号を発生し、ＤＡＣの入力側に供給する。 - 特許庁

For example, it is a DC measuring test, and a voltage at an external terminal (a power supply terminal and an I/O terminal) 12 or a current passing the external terminal 12 is measured in terms of a DC.例文帳に追加

例えば、ＤＣ測定試験であり、外部端子（電源端子及びＩ／Ｏ端子）１２の電圧や外部端子１２を通過する電流等をＤＣ的に測定する。 - 特許庁

The electric charge discharging circuit 33 interrupts a connection between the first terminal 4 and the second terminal 2 based on a control signal from the test external terminal 6.例文帳に追加

電荷放電回路３３は、テスト用外部端子６からの制御信号に基づき、第１端子４と第２端子２との接続を遮断する。 - 特許庁

To provide a test circuit of a semiconductor device for entering into a test mode for testing a mounted function without a dedicated test terminal.例文帳に追加

搭載された機能をテストするためのテストモードへの移行を専用のテスト端子を用いることなく行うことができるようにする半導体装置のテスト回路を提供する。 - 特許庁

A multiplying circuit 10 generates an internal test clock signal TST CLK2 made by multiplying an external test clock signal TST CLK inputted to the test pin terminal group TPG.例文帳に追加

逓倍回路１０は、テストピン端子群ＴＰＧに入力される外部テストクロック信号ＴＳＴ＿ＣＬＫを逓倍した内部テストクロック信号ＴＳＴ＿ＣＬＫ２を生成する。 - 特許庁