「testing level」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a support system for testing software written in high-level languages that makes a software test effectively performable even if a program is partially modified or the test procedures are changed.例文帳に追加

高級言語により記述されたソフトウェアの試験を支援するソフトウェア試験支援装置に係り、プログラムが部分的に修正されたり、試験処理が変更された場合でも、ソフトウェアの試験が効率的に行なるようにすることを課題とする。 - 特許庁

This semiconductor testing device 100 stores data acquired by executing processing to DUT in preservation registers 135, 145, keeps an open collector output through a monitoring line 121 at a low level in a control module 140 for a fixed period, and removes restriction in the control module 140 when the open collector output is set at the low level in a master control module 130.例文帳に追加

半導体試験装置１００は、ＤＵＴに対して処理を実行させて得られたデータを保存レジスタ１３５、１４５に記憶し、制御モジュール１４０内で監視ライン１２１を介したオープンコレクタ出力を一定期間ローレベルとし、マスタ制御モジュール１３０内でオープンコレクタ出力をローレベルとした時点で制御モジュール１４０内での制限を解除する。 - 特許庁

This testing apparatus includes: a storage section 10a which stores music and test questions related to the music; audio output means 5 for outputting the music; display means 2 for displaying the test questions; input means 3 where a subject inputs answers to the test questions; and testing means 1 which determines the level of the dementia or forgetfulness of the subject based on the input answers.例文帳に追加

音楽と音楽に関連する検査質問が保存された記憶部１０ａと、音楽を出力する音声出力手段５と、検査質問を表示する表示手段２と、検査質問に対して被験者が回答を入力する入力手段３と、入力された回答から被験者の認知症又は物忘れの症状レベルを判定する検査処理手段１と、を備えている。 - 特許庁

To provide a film characteristic evaluation method capable of easily evaluating a characteristic of a film by simple testing without conducting a pervaporation test in evaluation of a film having pores of a molecular level such as a pervaporation film and a vapor permeable film.例文帳に追加

浸透気化膜及び蒸気透過膜等の分子レベルの細孔を有する膜の評価において、浸透気化試験を行うことなく、簡単な試験により簡便に膜の特性の評価を行うことができる膜特性評価方法を提案する。 - 特許庁

To provide an in-plane shearing testing method for a rubbery elastic laminate capable of easily performing the laborary test of shearing fatique durability at a member level by a relatively simple tester to evaluate the same, and in-plane shearing test equipment therefor.例文帳に追加

部材レベルでの剪断疲労耐久性を比較的簡単な試験装置により室内試験で容易に行うことが出来ると共に、その評価をすることが出来るゴム状弾性積層体の面内剪断試験方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

TEST METHOD OF INTEGRITY OF GPS MEASURING, ERROR DETECTION METHOD IN SPECIAL VEHICLE, MAPPING METHOD AND SYSTEM OF GPS MULTIPATH LEVEL, AND SYSTEM INSTALLED IN VEHICLE FOR TESTING INTEGRITY OF GPS MEASURING例文帳に追加

ＧＰＳ測定の完全性の検査方法及び特定の車両におけるエラー検出方法及びＧＰＳマルチパスレベルのマッピング方法及びＧＰＳ測定の完全性を検査するために車両内に設けられているシステム及びＧＰＳマルチパスレベルのマッピングシステム - 特許庁

The drainage testing device is provided with: a power supply part (2) for driving a drain pump based on the power voltage; and an information part (3) for informing the operation of a float switch (11) by being connected to the float switch (11) detecting the level of the drain in the drain pan of the indoor unit.例文帳に追加

前記電源電圧に基づいて前記ドレンポンプを駆動させる電源供給部（２）と、前記室内機のドレンパン内のドレン水位を検知するフロートスイッチ（１１）と接続されることにより当該フロートスイッチ（１１）の作動を知らせる報知部（３）とを備えている。 - 特許庁

Based on a potential detected at one GND terminal by the GND sense line 6 during inspection of the device 12 to be measured, a potential correction circuit 8 corrects a potential level of a testing signal input for the inspection from the semiconductor sensor 10 into the device 12 to be measured.例文帳に追加

被測定デバイス１２の検査中にＧＮＤセンスライン６で検知した１つのＧＮＤ端子における電位に基づいて、電位補正回路８が検査のために半導体テスタ１０から被測定デバイス１２に入力されるテスト信号の電位レベルを補正する。 - 特許庁

To provide a system and a method for business mediation which comply with both demands of the manufacturing maker of semiconductor integrated circuit testing devices which wants to expand the business at 2 low cost while preventing technical information from flowing out to other companies of the same business and demands of an organization which wants to expand new business by improving the technical level while accumulating technologies regarding the semiconductor integrated circuit testing devices.例文帳に追加

競業他社への技術情報の流出を防いだ上で、低コストで事業展開の拡大を図りたい半導体集積回路試験装置の製造メーカの要求と、半導体集積回路試験装置に関する技術を蓄積しつつ技術レベルを向上させ新たな事業の展開を図りたい組織の要求とを両立することができるビジネス仲介システム及び方法を提供する。 - 特許庁

The method for testing the canceration comprises typically (a) determining the transcription level of the nucleic acid hybridizing to the specific base sequence or its complementary base sequence under the stringent conditions in a biological sample using the nucleic acid and (b) judging whether or not the transcription level of the nucleic acid in the biological sample is significantly below that of a control normal biological sample.例文帳に追加

また、本発明の癌化検定方法は、典型的には、（ａ）特定の塩基配列又はその相補的な塩基配列にストリンジェントな条件下でハイブリダイズする核酸を使用して、生物試料中の該核酸の転写レベルを測定し；そして（ｂ）該生物試料中の該核酸の転写レベルが、対照の健常生物試料のそれを有意に下回るかを判断することを含む。 - 特許庁

The testing device includes a test signal supply circuit 20, a comparison circuit 30 for comparing an output signal output from the output terminal with a reference voltage, a reference voltage setting part 40 for setting the reference voltage at a voltage of a high level side or a low level side, and a load voltage supply circuit 50 for supplying a load voltage to the output signal when the control signal is applied.例文帳に追加

試験装置は、テスト信号供給回路２０と、出力端子から出力された出力信号と基準電圧とを比較する比較回路３０と、基準電圧をハイレベル側またはローレベル側の電圧に設定する基準電圧設定部４０と、制御信号が印加されたとき、出力信号に負荷電圧を供給する負荷電圧供給回路５０とを有する。 - 特許庁

To provide a method for automatically calibrating a detection level in a measuring part of a shutter testing machine, in which manual adjusting operation of an adjusted value VR is eliminated and an output level of a comparator to electric output (voltage) of reflected light is automatically set just by opening the shutter of a camera, whereby the shutter speed of the camera is easily, speedily and accurately detected.例文帳に追加

人手による調整値VRの調整操作を無くし、カメラのシャッタを開くだけで自動的に反射光の電気出力（電圧）に対するコンパレータの出力レベルを設定できるようにし、これによってカメラのシャッタスピード検出を簡便かつスピーディに精度よく行うことができるようにしたシャッタ試験機の測定部における検出レベルの自動校正方法を提供すること。 - 特許庁

Thus, by inputting the operation inhibiting signal EN fixed to an activated level to the external signal terminal EN by a semiconductor testing apparatus and also inputting the external clock CK to the external clock terminal CK, the functional block 12 can be shifted to the test mode from the normal operation mode.例文帳に追加

このため、半導体試験装置により、活性レベルに固定された動作禁止信号ＥＮを外部信号端子ＥＮに入力するとともに、外部クロックＣＫを外部クロック端子ＣＫに入力することで、機能ブロック１２を通常動作モードからテストモードに移行させることができる。 - 特許庁

A test coil 12 for testing the performance of a main coil 11 is mounted near the main coil 11 in advance, a test signal is transmitted to the test coil 12, and a test control part 33A determines the quality by measuring a detection level of the main circuit receiving the test signal.例文帳に追加

主コイル１１の性能を試験するための試験用コイル１２を主コイル１１の近傍に予め配置し、試験用コイル１２に試験用信号を送り、これを受信した主回路の検知レベルを測定することによって試験制御部３３Ａが良否判定を行う。 - 特許庁

To provide a city water meter testing device, capable of knowing the level of a start-up flow rate in a tested city water meter, and capable of precisely attaching a pilot detecting part for generating a pulse signal, in response to the rotation of a pilot, to an indication part of the tested city water meter.例文帳に追加

被試験水道メータにおける始動流量の大きさを知ることができるとともに、パイロットの回転に応じたパルス信号を発生するパイロット検出部を、被試験水道メータの指示部に精度よく取りつけることのできる水道メータ試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a terminal resistance circuit capable of stabilizing the level of an input-output terminal at the input mode time, even when the input/output terminal unconnected to a testing terminal of an LSI tester exists, and reducing the through-current at the output mode time.例文帳に追加

ＬＳＩテスターのテスト用端子に接続されていない入出力端子が存在する場合であっても、入力モード時における、その入出力端子のレベルが安定し、出力モード時の貫通電流を低減させることができる終端抵抗回路を提供する。 - 特許庁

The control/electric source 4 for generating high voltage, a capacitor 15 to be charged by the high voltage, a discharge chip 6 for impressing charges accumulated in the capacitor 15 on the testing object, a switch 16 for connection with discharge chip 6 while switching capacitor 15 and grand level.例文帳に追加

高電圧を発生するコントロール／電源４と、この高電圧によって充電するコンデンサー１５と、このコンデンサー１５に蓄積された電荷を被験体７に印加する放電チップ７と、放電チップ６をコンデンサー１６またはグランドレベルに切り換え接続するスイッチ１６を設けている。 - 特許庁

In order to shorten the time required for testing overcharge detecting operation of an IC 1 for protecting a secondary battery test by shortening the delay time for overcharge detection by increasing the frequency of an oscillation circuit 7, a test control circuit 20 for increasing the level of a constant current determining the oscillation frequency of the oscillation circuit 7 is provided.例文帳に追加

２次電池保護用ＩＣ１の過充電検出動作のテスト時に、発振回路７の周波数を高くして過充電検出のための遅延時間を短縮し、テストに要する時間を短縮するために、発振回路７の発振周波数を決めている定電流の値を増加させるテスト用制御回路２０を設ける。 - 特許庁

Light with wavelengths of 300 nm to 500 nm is irradiated to a hen eggs group E by a lighting part 4 and a diffusive reflector 5 disposed on an inner wall of an egg testing chamber 2 to emphasize contrast between eggshell surfaces and spots deposited on the surfaces by fluorescence of 600 nm to 700 nm radiated in the process of excited π-electrons in eggshell pigment returning to a base level.例文帳に追加

検卵室２の内壁に配設した照明部４と拡散反射板５によって、波長300nm〜500nmの光を鶏卵群Ｅに照射し、励起した卵殻色素中のπ電子が基底準位に復帰する過程で放射した600nm〜700nmの蛍光で卵殻表面と該面に付着した汚れのコントラストを強調する。 - 特許庁

This penetration testing machine includes: an elevating table 3 elevated along an erected column 2, a chuck 4 provided on the elevated table 3 and holding a penetration rod 6 to freely rock, a rotation driving means 5 for driving the chuck 4 to rotate, and a level member 10 showing the rocking position of the penetration rod 6 held on the chuck 4.例文帳に追加

本発明は、立設されたコラム２に沿って昇降可能な昇降台３と、この昇降台３に設けられ貫入ロッド６を揺動自在に保持するチャック４と、このチャック４を回転駆動する回転駆動手段５と、前記チャック４に保持された貫入ロッド６の揺動位置を示すレベル部材１０とを有して成る。 - 特許庁

In this testing device, the bias voltage B to be applied to the test object 2 is adjusted in the state where a constant voltage (signal level) A_0 is inputted to the object 2 from a signal generation part 3 to control the output voltage D of the subject to a prescribed intended range, and the test to the object 2 is then executed.例文帳に追加

信号発生部３から一定電圧（信号レベル）Ａ_Oを試験対象２へ入力した状態で、この試験対象２に印加するバイアス電圧Ｂを調整してこの試験対象の出力電圧Ｄを所定の目標範囲に制御したのち、試験対象２に対する試験を実施する試験装置１１である。 - 特許庁

After the output level is regulated by the output level regulator 18 so that the uniform electric field distribution is obtained in the testing plane, electromagnetic waves are respectively radiated from the corresponding radiating antennas 5.例文帳に追加

電磁波発生装置１７において，高周波信号を発生する信号発生器１０と，複数の放射アンテナ５と，前記信号発生器１０から出力した信号を，前記放射アンテナ５に分配するための分配器１１と，前記複数の放射アンテナ５と同数の電力増幅装置１３と出力レベル調整器１８とを備え，試験平面で均一な電界分布となるように前記各出力レベル調整器１８で出力レベルを調整したのち,それぞれ対応する各放射アンテナ５から電磁波を放射する。 - 特許庁

To provide a TEG pattern, and a testing method of a semiconductor element using the pattern capable of confirming a leakage current level generated by erroneously aligned landing to an active region of M1C through silicon substrate data in a viewpoint of an active extension design rule to the M1C in a manufacturing method of a semiconductor device of 90 nm class or below.例文帳に追加

９０ｎｍ級以下の半導体素子の製造において、Ｍ１Ｃのアクティブ領域に対するミスアラインされたランディングによって発生する漏洩電流水準をＭ１Ｃに対するアクティブエクステンションデザインルールの観点でシリコン基板データを通じて確認可能にすることができるテグパターン及びそのパターンを利用した半導体素子検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device for determination of a display defect including display irregularity and the like to be appeared on a display surface of a plane display device and a manufacturing method of the plane display device using this which are capable of making determination of display irregularity and the like precisely and reliably without being affected by skill level and some difference of operation conditions.例文帳に追加

平面表示装置の表示面に表れる表示ムラその他の表示欠陥を判定するのに用いる検査具、及びこれを用いる平面表示装置の製造方法において、表示ムラ等の判定を、熟練度や多少の作業条件の違いに左右されることなく、高い精度及び信頼度にて行うことができるものを提供する。 - 特許庁

Conducting an electrical test as a job lot by arranging contact pins 102 of the contact-fixing board 103 of a semiconductor testing device 106 corresponding to the all electrodes of solder bumps 108 of a plurality of semiconductor devices 107 on a wafer level CSP body 101 makes possible the use of the same board 103 to the other smiconductor devices.例文帳に追加

半導体テスト装置１０６のコンタクト固定基板１０３におけるコンタクトピン１０２を、ウエハレベルＣＳＰ本体１０１上の複数の半導体デバイス１０７における半田バンプ１０８の全電極に対応して配置することにより、一括して電気的試験を行うことにより、同じコンタクト固定基板１０３を他の半導体デバイスに対しても使用可能にする。 - 特許庁

He adds that in order to reduce the possibility of bubble occurrence and to protect the financial system from the effects of a bubble, micro-level policies are necessary.Some examples he cites are: (i) supervisory action to ensure capital adequacy in the banking system, stress-testing of portfolios; (ii) improvement of transparency in accounting and disclosure practices; and (iii) improvement of financial literacy.12例文帳に追加

その上で、バブル発生の可能性を減少させ、バブルの影響から金融システムを保護するためには、ミクロレベルの政策が必要であるとし、その例として、①銀行システム健全化のための自己資本規制とその監視システムや銀行の資産ポートフォリオにおけるストレスチェック、②会計制度と企業の情報開示習慣における透明性の改善、③金融リテラシーの改善、等に言及している12。 - 経済産業省

The present invention relates to a method for discrimination of p16^INK4a overexpressing dysplasias from neoplastic or preneoplastic p16^INK4a overexpressing lesions by determination of the level of high risk HPV-encoded gene-products such as e.g. HPV E2 molecules and/or HPV E7 molecules in biological samples in the course of cytological testing procedures.例文帳に追加

本発明は、ｐ１６^ＩＮＫ４ａを過剰発現する異形成とｐ１６^ＩＮＫ４ａを過剰発現する新生物病巣または前新生物病巣とを、細胞学的試験手順の過程において、生物学的サンプル中の、例えば、ＨＰＶ Ｅ２分子および／またはＨＰＶ Ｅ７分子のようなハイリスクのＨＰＶがコードする遺伝子産物のレベルの測定により区別するための方法に関連する。 - 特許庁

An I/F board provided between the output port and P is equipped with a first latch circuit allowing temporary storage of state signals output from the output port by each kind and a second latch circuit which outputs the state signals stored in the first latch circuit to the testing machine at a prescribed timing to output signals and keeps the level of the state signals until the next timing to output signals.例文帳に追加

出力ポートとＰの間に設けられるＩ／Ｆ基板には、出力ポートから出力される状態信号を種類毎に一時的に記憶する第１ラッチ回路と、その第１ラッチ回路に記憶した状態信号を所定の信号出力タイミングで試験機に向かって出力するとともに、それら状態信号のレベルを次の信号出力タイミングまで保持する第２ラッチ回路が設けられる。 - 特許庁