「testing level」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

The level acceptable by the consumer is set by providing the method for testing complex embrittlement by assuming the wearing, the washing, the drying in the sun, and the chlorine bleaching.例文帳に追加

洗濯、洗濯、日干乾燥や塩素漂白を想定した複合脆化試験の方法を提案し消費者が許容し得るレベルを設定する。 - 特許庁

In the case a carrier leakage can be suppressed under a certain condition, this method for adjusting and testing the DBM circuit which can suppress the carrier leakage and eliminate testing even though an LO input level and a power supply voltage fluctuate.例文帳に追加

そして、ある条件下でキャリアリークの抑圧が可能であれば、LO入力レベル、電源電圧が変動してもキャリアリークが抑圧が可能であり、検査が省略可能であることを特徴とするDBM回路の調整及び検査手法。 - 特許庁

To provide a substrate for testing of a semiconductor integrated circuit capable of drawing out wirings to external connection terminals, even if the number of electrodes of a wafer level CSP in a state of a wafer is huge, and to provide a semiconductor integrated circuit testing system using the same.例文帳に追加

ウェーハ状態のウェーハレベルＣＳＰの電極の数が膨大であっても外部接続端子への引き出しが可能な半導体集積回路試験用基板、およびそれを用いた半導体集積回路試験システムを提供する - 特許庁

For the gradation levels included between the reference supply terminals, all the gradation levels included in the interval are tested by testing while switching input data and a decision level of a comparator in sequence for every one gradation level.例文帳に追加

その基準電源端子間に含まれる階調レベルについて、一階調レベル毎、入力データとコンパレータの判定レベルの設定を順次切り替えながらテストし、その区間に含まれる階調レベルを全てテストする。 - 特許庁

To realize a pulse light tester capable of setting a suitable distance range by detecting a far end position of the testing optical fiber even there is a variation of noise floor level.例文帳に追加

ノイズフロアレベルの変動があったとしても、被測定光ファイバの遠端位置を検出し、最適な距離レンジを設定する光パルス試験器を実現することにある。 - 特許庁

In a 1T1C type ferroelectric memory, a reference level is adjusted by a potential generating circuit 1 at the testing time, so that the read-out margin of a memory cell is reduced intentionally.例文帳に追加

１Ｔ１Ｃ型強誘電体メモリーでは、テスト時にリファレンスレベルを電位発生回路１により調整し、メモリーセルの読み出しマージンを意図的に少なくする。 - 特許庁

To provide a testing instrument for vehicle travel capable of reproducing the desired road face conditions, by forming a prescribed thickness of water film or the like, on a flat level to carry out travel test.例文帳に追加

フラットベルト上に所定厚さの水膜を形成する等して所望の路面状況を再現し、走行試験を行える車両走行試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of assuring a high output level applied to a DUT pin by means of a current RF output module and having no limitation in cable length.例文帳に追加

現状のＲＦ出力モジュールを使用してＤＵＴピンへの印加出力レベルが大きくとれ、ケーブル長の制約のない半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a dynamic balance testing machine capable of chucking a propeller shaft at its end part constructed of either of flange yoke and a sleeve yoke by a simple level change.例文帳に追加

プロペラシャフトの端部がフランジヨークであっても、スリーブヨークであっても、簡単な段取り替えによって、チャッキングすることのできる動釣合い試験機を提供すること。 - 特許庁

In this insulation performance testing method of a wafer-level CSP (Chip Scale Package) using a TEG pattern, a spiral TEG pattern is used.例文帳に追加

本発明の第１の態様は、ＴＥＧパターンを用いたウエハレベルＣＳＰの絶縁性テスト方法において、渦巻き状のＴＥＧパターンを用いたことを特徴とする。 - 特許庁

An applying means 11b in the testing mode of a first circuit part 11 applies binary logic level voltage to a specific terminal of a first connector 11a alternately multiple times.例文帳に追加

第１の回路部１１の試験モード時印加手段１１ｂは、第１のコネクタ１１ａの特定の端子に２値の論理レベルの電圧を交互に複数回印加する。 - 特許庁

METHOD FOR TESTING NEOPLASTIC LESION OR PRENEOPLASTIC LESION OF LIVER IN MAMMAL EXCEPT HUMAN BY MEASURING EXPRESSION LEVEL OF GENE OF CARBONIC ANHYDRASE ENZYME II例文帳に追加

ヒトを除く哺乳動物における肝臓腫瘍性病変又は前腫瘍性病変の炭酸脱水素酵素ＩＩの遺伝子の発現レベル測定による検定方法 - 特許庁

To provide a testing method capable of enhancing a through-put of a PBSOA proof level test for a semiconductor element, and capable of reducing a cost for finding a defective element.例文帳に追加

半導体素子のＲＢＳＯＡ耐量試験のスループットを向上し、かつ不良素子の発見のためのコストを低下できる半導体素子の試験方法を提供する。 - 特許庁

In this testing method for testing a short circuit in the connecting end 2 of the semiconductor electronic device arranged inside a housing 1 and fixed on the conductor board, the level of each connecting end 2 is set to a level different from that of the adjacent connecting end at least once, and current inflow of the semiconductor electronic device is monitored while the respective connecting ends are set.例文帳に追加

ハウジング１内に配置され，導体板上に固定される半導体電子デバイスの接続端２の短絡を検査する方法であって，−各接続端２のレベルを，少なくとも一度，隣接する接続端と異なるレベルにセットし；かつ−各接続端２のセット間に，半導体電子デバイスの電流流入が監視される。 - 特許庁

While a constant voltage (signal level) A_0 is being inputted from a signal generation section 3 to a test target 2, a bias voltage B applied to the test target 2 is adjusted and an output voltage (signal level) D to be tested is controlled to a specific target range before testing the test target 2 by the testing apparatus 11.例文帳に追加

信号発生部３から一定電圧（信号レベル）Ａ_Oを試験対象２へ入力した状態で、この試験対象２に印加するバイアス電圧Ｂを調整してこの試験対象の出力電圧（信号レベル）Ｄを所定の目標範囲に制御したのち、試験対象２に対する試験を実施する試験装置１１である。 - 特許庁

To achieve a nondestructive testing apparatus which enables a user to, even if the user does not select an item corresponding to a desired function in each of hierarchies on a menu screen, comprehend the relationship to items in higher-level hierarchies and set contents in lower-level hierarchies.例文帳に追加

ユーザがメニュー画面において、所望の機能に対応する項目を各階層で選択しなくても、上位の階層の項目との関連及び下位の階層の設定内容を把握することのできる非破壊検査装置を実現する。 - 特許庁

An input signal generating circuit 23 for the test is provided further to set optionally an L level and an H level when testing an LSI, and a signal therein and the output signal S1 are switched by the third selector 19 to be connected to an input of the first boundary scan register.例文帳に追加

ＬＳＩテスト時に任意にＬとＨを設定できるテスト用入力信号生成回路２３を更に備え、その信号と出力信号Ｓ１を第３のセレクタ１９により切り替えて、第１のバウンダリスキャンレジスタの入力に接続する。 - 特許庁

To provide a pseudo-spatial transmission testing system having a small size that can simply simulate a field for a transmission test, is suitable for an indoor test, can easily shield the entire field, and bring leakage of radio waves to a low level.例文帳に追加

伝送試験のフィールドが簡易にシミュレートでき、小型で屋内試験に適し、全体のシールドが容易で、電波漏洩を低レベルする疑似空間伝送試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device for rotational bodies for automotive use that can reduce the time taken to reach a target temperature and hold the temperature in a constant temperature tank during an evaluation test at the target level.例文帳に追加

目標温度に達するまでの時間の短縮化、及び評価試験時における恒温槽内の温度を目標温度に保持可能な自動車用回転体の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an improved input buffer circuit configured for voltage detection that can facilitate use of a mid-level voltage for testing purposes, and a method therefor.例文帳に追加

テスト目的のために、中間レベルの電圧の使用を容易にし得る、電圧検出のために構成される改良型入力バッファ回路および方法が提供を提供すること。 - 特許庁

A buffer for testing 110 fixes a signal level given to the comparison circuit from the channel exchanger when a plurality of output nodes of the channel exchanger 100 are in an open state.例文帳に追加

テスト用バッファ１１０は、経路交換器１００の複数の出力ノードが開放状態である場合、経路交換器１００から比較回路５０に与えられる信号レベルを固定する。 - 特許庁

To provide a testing piece for an immunological measuring method based on an immunochromatograph method, provided with a detection level regulating means and capable of detecting an examined substance quickly, easily and favorably.例文帳に追加

検出レベルの調整手段を備え、被検物質を迅速、簡便に、かつ良好に検出しうる、免疫クロマトグラフ法に基づく免疫測定法用試験片を提供すること。 - 特許庁

The allergic disease testing method with the level of expression of the genes in peripheral blood mononuclear cell as an index and a compound screening method for treating the disease are provided.例文帳に追加

末梢血単核球における該遺伝子の発現レベルを指標とする、アレルギー性疾患の検査方法、および該疾患の治療のための化合物のスクリーニング方法を提供する。 - 特許庁

A method for testing an allergic disease using the expression level of TRAIL gene in peripheral monocytes as an index and a method for screening a compound for treating the disease, are provided.例文帳に追加

末梢血単核球におけるTRAIL遺伝子の発現レベルを指標とする、アレルギー性疾患の検査方法、および該疾患の治療のための化合物のスクリーニング方法を提供する。 - 特許庁

To provide a ray path testing system and a light source power level monitoring method capable of easily monitoring abnormal emission of light source to be a cause of erroneous measurement and instable power.例文帳に追加

誤認測定の原因となる光源の異常発光、不安定出力を簡単に監視できる光線路試験装置及び光源出力レベルの監視方法を提供する。 - 特許庁

The BIST unit receives the selection commanding signal and outputs the enable signal, and at the same time, regulates the output voltage of the testing voltage source to a predetermined level, on the basis of the compared result.例文帳に追加

ＢＩＳＴ装置は選択指示信号を受信してイネーブル信号を出力にすると共に、比較結果に基づいてテスト電圧源の出力電圧を所定の電圧に調整する。 - 特許庁

A data recording section 11, in advance, allows each advance level obtained from the level detection section 7 by switching and emitting a plurality of high-frequency signals to the object to be measured for testing to correspond to each kind of object to be measured and high-frequency signal for storing.例文帳に追加

データ記録部１１は、事前に、テスト用被測定物に対して複数の高周波信号を切り換え発射してそのレベル検出部７から得られた個々の事前検出レベルを、被測定物の種類とその高周波信号毎に対応させて格納する。 - 特許庁

In the testing method where a result value is acquired while changing each level of a plurality of factors, a proper orthogonal table 1 and a reverse orthogonal table 2 which is an orthogonal table of the same type as the proper orthogonal table 1 and in which in each column a level obtained by inverting the level written to a column corresponding to the proper orthogonal table 1 are first created.例文帳に追加

複数の因子の水準をそれぞれ変化させながら結果値を取得する試験方法において、先ず、正直交表１と、正直交表１と同型の直交表であって、各欄に正直交表１の対応する欄に記載された水準を逆転させた水準が記載された逆直交表２を作成する。 - 特許庁

To provide a performance evaluation method of a processed oil that allows the evaluation result of a laboratory level in a simplified testing machine to be adapted to the finishing machine of an actual machine, is precise and reliable, and has short test evaluation time.例文帳に追加

簡易型試験機による実験室レベルの評価結果が、実機の加工機に適応でき、精度および信頼性が高く、試験評価時間の短い加工油の性能評価方法を提供すること。 - 特許庁

Supervisors shall identify the amount of Financial Instruments Business Operators’ securities holdings, based on offsite monitoring data, and analyze market risks through stress testing that assumes a prescribed level of price change. 例文帳に追加

金融商品取引業者の有価証券保有額について、オフサイト・モニタリングのデータ等に基づき把握し、一定の価格変動を仮定したストレステストを基に、市場リスクに関する分析等を行う。 - 金融庁

The test method comprises a step of varying a threshold voltage which is used for judging a logic level of a signal in a cell in a semiconductor integrated circuit, only when testing the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路内のセルにおいて信号の論理レベルを判定するのに用いる閾値電圧を、半導体集積回路の試験時にのみ変化させるステップを含むように構成する。 - 特許庁

To provide a tracking function automatic generation system of a process control which realizes creation of a tracking function program, decreasing number of man-hours for testing, leveling of a generation program level and improvement of maintenanability of an automatic generation program.例文帳に追加

トラッキング機能プログラムの製作、試験工数削減、作成プログラムレベルの平準化、自動生成プログラムの保守性向上を実現したプロセス制御のトラッキング機能自動生成システムを得る。 - 特許庁

A control circuit 391 controls peripheral circuits such as a column decoder 290 so that input/output of data for testing specific operation of a plurality of memory cells included in a memory cell array 320 is performed when receiving a L level test mode signal TM and a H level test mode signal TM.例文帳に追加

制御回路３９１は、Ｌレベルのテストモード信号ＴＭおよびＨレベルのテストモード信号ＴＭを受けると、メモリセルアレイ３２０に含まれる複数のメモリセルに特殊動作をテストするためのデータの入出力を行なうようにコラムデコーダ２９０等の周辺回路を制御する。 - 特許庁

Although I will not ask you to comment on the stock price level, I understand that the FSA has been conducting stress testing to examine the impact (of stock price drops) on banks' financial conditions. With the Nikkei Average slumping at the current price level, a drop below 10,000 has become conceivable. 例文帳に追加

株価の水準そのもののコメントは求めませんが、銀行の財務に与える影響についてですが、金融庁としては従来からストレス・テストをやっていると承知しておりますが、今日の株価水準を見てみると10,000円割れも伺うような状況となってきました。 - 金融庁

Since the analysis result of the concentration of HCB from the same production lot sometimes varied depending on the testing organization, it seems appropriate to present a certain unified analysis method to confirm the contamination level when the BAT level is determined (see Section 10 to be described later). 例文帳に追加

同一の製造ロットに係るＨＣＢ含有量の分析値が分析実施者によって異なる場合が見られており、ＢＡＴレベルの設定に当たっては、その確認のための分析法について何らか統一的な方法を併せて示すことが適当と考えられる（後述 10．参照）。 - 経済産業省

The testing method for making the determination of good or no-good by means of a current test in static state in a wafer level testing step 5 of the semiconductor integrated circuit is characterized in that the reference current value for judging soundness is determined for each product on the basis of characteristic values of a transistor in a basic characteristics measurement step 2 for determination.例文帳に追加

半導体集積回路のウェハ状態試験工程５での静止状態電流試験によって良否判定を行う検査方法で、その良否判定基準となる基準電流値を基礎特性測定工程２でのトランジスタの特性値を基に製品ごとに決定して判定を行うことを特徴とする。 - 特許庁

Using a status transition diagram obtained by regarding a given logic circuit as a status transition machine, a test pattern generator 4 generates a test pattern for diagnosing resistor level trouble for testing all transitions from a status to a status.例文帳に追加

テストパタン作成器４は、与えられた論理回路を状態遷移機械とみなして得た状態遷移図を用いて、状態から状態への全ての遷移をテストするレジスタレベル故障診断用テストパタンを生成する。 - 特許庁

To provide a vibration testing device generating vibration by feeding a vibration signal, with a vibration exciting means excited at the prescribed level, and capable of reducing power consumption.例文帳に追加

加振手段を所定レベルに励磁した状態で振動信号を供給することにより振動を発生させる振動試験装置に関し、消費電力を低減できる振動試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a bearing testing device capable of performing a bearing performance test or a noise test of a low noise level in the tilted state at an optional angle, and performing the bearing performance test fit to an actual using condition.例文帳に追加

任意の角度に傾けられた状態で、軸受性能試験や低騒音レベルの騒音試験を可能として、実使用条件に合った軸受性能試験を行なうことができる軸受試験装置の提供。 - 特許庁

To provide a method for testing the detection voltage level kept by the voltage detection circuit of the semiconductor voltage detection circuit with a small number of DC measurement units for the semiconductor integrated circuit with a built-in voltage detection function.例文帳に追加

電圧検出機能を内蔵した半導体集積回路において、その半導体集積回路の電圧検出回路が保持する検出電圧レベルを少ないＤＣ測定ユニットで検査する方法を提供する。 - 特許庁

To quantitatively research the IT level for each department of an enterprise by automatically testing whether proper talent and capability are available for each of the departments and taking analysis according to statistic data.例文帳に追加

企業内の各部門毎に適切な人材・能力が備わっているかを自動的にテストし、統計データに基づいて解析し企業の各部門毎にＩＴ化のレベルを定量的に調査できるようにすること。 - 特許庁

To provide a semiconductor test method and a semiconductor testing device capable of determining propriety of each level and timing of differential signals Pos and NegPos individually, relative to DUT having a differential output Pos/Neg.例文帳に追加

差動出力Ｐｏｓ／Ｎｅｇを有するＤＵＴについて、差動信号ＰｏｓとＮｅｇＰｏｓのレベルとタイミングの良否を個別に判定できる半導体試験方法および半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

To enable a test signal generating device and a testing method of a video apparatus to detect even an abnormal state at a black level side in a luminance signal processing circuit, a color signal processing circuit or the like when applied to the distortion detection of color signal and the level adjustment of a color signal or the like by visual inspection.例文帳に追加

本発明は、テスト信号発生装置及び映像機器の検査方法に関し、目視による色信号の歪み検出、色信号のレベル調整等に適用して、輝度信号処理回路、色信号処理回路等における黒レベル側の異常についても検出することができるようにする。 - 特許庁

To provide a method of a truncated life test capable of simply and quickly trial calculating the life level of the testing object even an unskilled person without generation of discrepancy of interpretation from the undamaged time while a part of the testing object are still subjected to the test without being damaged with high reliability in the truncated life test.例文帳に追加

打切り試験において、一部の試験対象品が破損することなく試験を継続している未破損時間から試験対象品のロットの寿命水準を、試験データの解釈の違いを引き起こすことなく、簡単かつ迅速に試算することができ、かつ信頼性の高いものとでき、熟練者でなくても試算できる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a wafer level packaging cap and its manufacturing method for preventing the damage of the connection part of a connection bar and a cap substrate at the time of testing temperature-proof performance, and for easily machining the connection hole of a wafer having a high cross-section rate.例文帳に追加

本発明は耐温度性能の実験時に接続棒とキャップ基板との連結部分の破損が発生せず、高断面比を有するウエハーの連結穴の加工が容易なウエハーレベルパッケージングキャップおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁