「testing problem」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To solve such a problem that an automatic inspection device suitable for point of care testing does not support an inspection other than a general biochemistry item in general.例文帳に追加

ポイント・オブ・ケア・テスティングに適した自動検査装置は、一般に、一般生化学項目以外の検査に対応していない。 - 特許庁

To provide a memory tester which offers a minimal hardware solution to an address problem in testing a packet-based memory device.例文帳に追加

パケットベースのメモリ素子の検査においてアドレス問題に対する最小のハードウエアによる解決法を提供するメモリテスタの提供。 - 特許庁

To provide a testing method to solve the problem of steam generator (SG) fouling due to the accumulation of corrosion products from a secondary system.例文帳に追加

二次システムからの腐食生成物の堆積による蒸気発生器（ＳＧ）の閉塞を解決する試験方法を提供する。 - 特許庁

To solve the problem, wherein a water cooling cover and an oil pan are difficult to be attached and detached because outer shapes of the water cooling cover attached in testing a transmission and in completing testing, and the oil pans are comparatively large and have considerable weights.例文帳に追加

変速機の試験時、及び試験終了時に取り付けられる水冷カバー、オイルパンは、外形は比較的大きく、且つ相当の重量となって取り付け、取り外しが困難となっている。 - 特許庁

To solve the problem wherein a chassis dynamometer, provided with an electrical inertia compensation function is incapable of high precision of performance evaluation of the load condition at testing.例文帳に追加

電気慣性補償機能を有するシャシダイナモメータにおいては、試験時における負荷状態の精度の高い性能評価ができない。 - 特許庁

To obtain a test burn-in board(TBIB) control method and a burn-in testing system which dissolves the overflow problem of the production numbers of TBIBs.例文帳に追加

テストバーンインボード（ＴＢＩＢ）の製造番号のオーバーフロー問題を解決したＴＢＩＢ管理方法及びバーンイン試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a problem creating device, a problem creating program, and a learning system for creating testing problems of the contents of the teaching on the basis of notes taken by a learner when the learner receives teaching.例文帳に追加

学習者が物事の教授を受ける時点で作成したメモに基づいて、教授された内容のテスト問題を作成することができる問題作成装置、問題作成プログラムおよび学習システムを提供する。 - 特許庁

As one or more test models do not depend on an environmental model, this problem will be solved by the method of testing simultaneously with the environmental model in test operation.例文帳に追加

１つないしは複数のテストモデルは環境モデルに依存せず、テスト動作時には環境モデルと同時に実行する方法によって解決される。 - 特許庁

To solve the problem that a large number of test man-hours are required for repeatedly compiling and loading each of test modules to a debugger in order to operate a plurality of module tests when a STAB program only for testing is assembled for testing the modules in a test target program.例文帳に追加

テスト対象プログラム内のモジュールテストを行うために、テスト専用のスタブプログラムを組込むのだが、複数のモジュールテストを実行するために、テストするモジュール毎にコンパイルしデバッガにロードを繰返すためテスト工数がかかる。 - 特許庁

To solve the problem that a capacity of a battery is reduced, a change to backup power supply is delayed when a power failure occurs during lifetime determination testing, and the reliability of power supply back up is deteriorated, since the lifetime determination testing is performed for every constant period of time.例文帳に追加

一定時間毎に寿命判定試験を行うため、バッテリー容量が減少し、寿命判定試験中に停電が発生するとバックアップ電源への切り替えが遅れ、電源バックアップの信頼性が低下する。 - 特許庁

The generation of delay constraint, the insertion of a scan path, and the extraction of the flip flop as the object of hazard check is performed by using the information of the classified flip flops and the delay constraint program, testing problem and hazard check problem are improved.例文帳に追加

分類されたフリップフロップの情報を用いて、遅延制約の生成し、スキャンパスの挿入、ハザードチェック対象のフリップフロップの抽出を行うことで、遅延制約問題、テスト時の問題、ハザードチェックの問題を改善する。 - 特許庁

To provide a high strength copper alloy which has excellent workability and corrosion resistance, has ductility, causes no nickel allergic problem, and deals with a needle testing gauge, and to provide a method for producing the same.例文帳に追加

加工性、耐食性に優れ、延性を有し、ニッケルアレルギー問題のない、検針器対応の高強度銅合金およびその製造方法を提供すること。 - 特許庁

To solve the problem that manufacturing defect location cannot be specified even if manufacturing defect can be judged by a scan path method for testing a circuit to be inspected in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路内の被検査回路をテストするスキャンパス手法では製造不良を判定することはできても、製造不良箇所を特定することはできない。 - 特許庁

To solve such a problem that when memory macro-cells of various kinds incorporated in a semiconductor integrated circuit are tested and a pause test is performed, it takes a long time to perform testing successively.例文帳に追加

半導体集積回路に搭載された多数の様々な種類のメモリマクロセルを検査する場合にポーズテストを行なう時、逐次的に行なうと時間を要してしまう。 - 特許庁

Assessment of all possible behaviors of the product that may have security implications is a much harder problem, and has traditionally been handled with the use of penetration testing. 例文帳に追加

セキュリティに影響するであろう製品のすべての可能な振舞いを評価するのはより困難な問題であり、伝統的に浸透試験を利用して扱われてきた。 - コンピューター用語辞典

To provide a water tank for a covered waterway, capable of draining from any points of the wall of the water tank, without causing safety problem of vehicles, and a testing waterway laid with the same.例文帳に追加

車両の安全性の問題を招くことなく、水槽壁のいずれの箇所からも排水することが可能な冠水路用水槽及びそれを敷設した試験路を提供する。 - 特許庁

To solve the problem that tests require time and labor as the tests are performed by activating only one clock when testing an integrated circuit operated by a plurality of clock signals at normal operation.例文帳に追加

通常動作において、複数のクロック信号によって動作する集積回路をテストするとき、１つのクロックだけを起動することによってテストするため、テストにかかる手間および時間がかかる。 - 特許庁

To provide electrolytic copper foil for solving the problems of the warpage and twisting of a copper clad laminate after the covering of electrolytic copper foil and the problem of dimensional stability and to provide a testing method for ensuring its quality.例文帳に追加

電解銅箔を張り付けた後の銅張積層板の反り、捻れの問題、寸法安定性の問題を解決するための電解銅箔及び品質を保証するための検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device, for a prescribed item with reference to an apparatus to be measured, by which a noise is detected in real time and at once and which can urge the early solution of a problem when a test result is affected.例文帳に追加

ノイズをリアル・タイムに、又即時に検知し、試験結果に影響が出てくる際には、問題を早期に解決することを促すことができる被測装置に対する所定試験項目の試験測定装置を提供する。 - 特許庁

To solve a problem wherein underground survey is not able to be carried out when an obstacle exists in a just upper side of the area where a survey objective substance exists, in an underground survey method using an alternating current electric testing method.例文帳に追加

交流電気試験方法を用いた地中探査方法において、探査対象物質が存在する領域の直上に障害物が存在している場合に地中探査を行うことができない。 - 特許庁

However, in particular fields, such as drug products, it takes a long time to conduct the testing and examinations etc. that are necessary for gaining the legally-mandated approvals etc. prescribed by the laws that are intended to ensure the safety of those products, which gives rise to the problem that while such testing and examinations are being conducted inventors cannot enjoy the benefits of the exclusive rights that they hold. 例文帳に追加

しかしながら、医薬品等一部の分野では、安全性の確保等を目的とする法律の規定による許可等を得るにあたり所要の試験・審査等に相当の長期間を要するため、その間はたとえ特許権が存続していても権利の専有による利益を享受できないという問題が生じている。 - 特許庁

To solve the problem wherein a phenomenon in which load distribution is different from a design value occurs when executing evaluation of constant velocity and synchronization on the basis of statistical methods in a testing device executing synchronous control of front and rear wheels by being separated for the front and rear wheels.例文帳に追加

前後輪用に分離して前後輪の同期制御を実行する試験装置では、統計的手法に基づいて等速性・同期性の評価を実行すると、負荷分配が設計値と異なる現象が発生する。 - 特許庁

To solve a problem in which temperature adjustment of cooling water circulated in an engine under test by means of a gain controller with the fixed time constant, causes supercooling or undercooling of the cooling water to occur due to change in engine's number of revolutions (rpm), which has an adverse effect on testing accuracy.例文帳に追加

一定時定数、ゲインのコントローラにより、供試エンジンに循環させる冷却水の温度調節をするのでは、エンジン回転数の変化により冷却水の過冷却や不足冷却が生じ、試験精度に影響する。 - 特許庁

To solve the problem that in a conventional self test, AD and DA converting circuits to be tested are used for testing and calibrating them at a low cost, while whether the self test method has a desired linearity or not can not be decided correctly when the converting circuits have opposite error characteristics mutually.例文帳に追加

ＡＤ変換回路およびＤＡ変換回路のテストおよび較正を低コストに実施するため、被測定対象であるＡＤ変換回路とＤＡ変換回路を互いに利用したセルフテスト方式が提案されている。 - 特許庁

To solve a problem wherein a data format used in a semiconductor testing device is not controlled seamlessly with versatile network equipment controlled using an SNMP, even when connected to the same network, because the data format is a peculiar format.例文帳に追加

半導体テスト装置で用いるデータ形式は独自の形式であるため、同じネットワークに接続されていても、ＳＮＭＰを用いて管理することができる汎用ネット機器とシームレスに管理することができなかったという課題を解決する。 - 特許庁

To solve the problem that in testing an application running asynchronously to a unit test tool by use of the unit test tool, the application cannot be accurately tested since the application is tested by the unit test tool asynchronously with completion of the application.例文帳に追加

単体テストツールを用いて単体テストツールとは非同期で動作するアプリケーションのテストを行う場合、単体テストツールでテストの合否を判断するタイミングとアプリケーションの動作完了のタイミングが一致しないため、正しく合否判定ができないこと。 - 特許庁

To solve the problem that a testing circuit in a chip applied by a conventional test facilitation designing technique must inspect whether an input/ output circuit for outputting a signal to an external terminal or capturing a signal from an external terminal is normally operated or not by using a circuit tester.例文帳に追加

従来のテスト容易化設計技術を適用してチップ内にテスト回路の構成では、外部端子へ信号を出力したり外部からの信号を取り込む入出力回路が正常に動作するか否かの検査はテスタを用いて行なわざるを得ない。 - 特許庁

To obtain a method by which an operation test of radio parts is enabled, without measuring instruments by improving problem of the conventional technology that a large number of measuring instruments are required in the case of mass production in a method for testing the radio parts of a master station device or a slave station device, in a radio data communication system.例文帳に追加

無線データ通信システムにおける親局装置または子局装置の無線部テスト方法において、大量生産時に、大量の測定器が必要となるという従来技術の課題を改善し、測定器無しで無線部の動作テストが可能となる方法を提供する。 - 特許庁

To overcome the problem such that, related to a functional test for an A/D converter in a semiconductor integrated circuit, testing of a fast A/D converter at an actual operation speed is difficult because wiring delay in the semiconductor integrated circuit from the output of A/D converter to the input of a tester affects much.例文帳に追加

半導体集積回路内のＡ／Ｄ変換器の機能テストでは、Ａ／Ｄ変換の出力からテスタ入力までの半導体集積回路内の配線遅延が大きく影響を与えるため、高速Ａ／Ｄ変換器の実動作スピードでのテストが困難である。 - 特許庁

The problem to be solved is solved by the staining evaluation device of the present invention having the optical waveguide substrate 1 installed to contact closely with the testing object 3, a light source for making the light 2 get incident into the one end side of the optical waveguide substrate 1, and a detector for detecting the light 2 emitted from the other end side of the optical waveguide substrate 1.例文帳に追加

また、試験体３を密着して設置する光導波路基板１と、光導波路基板１の一端側に光２を入射する光源と、光導波路基板１の他端側から出射される光２を検出する検出器と、を有する汚染性評価装置により上記課題を解決する。 - 特許庁

To solve the problem that a measuring instrument testing a feeding system supplying electric power to a power receiving device by using PoE (Power over Ethernet(R)) technique can neither specify which pair of communication lines are used by the feeding system to supply the electric power nor confirm state transition of a fed voltage after the feeding system is connected.例文帳に追加

ＰｏＥ技術を用いて受電装置に電力を供給する給電装置を試験する測定器において、給電装置がどの通信線対を用いて給電するかを特定することができず、かつ給電装置が接続されてからの給電電圧の状態推移を確認することができなかったという課題を解決する。 - 特許庁

To solve the problem of a conventional system testing apparatus wherein, when a faulty module has been adjusted, replaced or repaired to remove a fault, the fact that the fault has been removed is not taken into account at all, resulting in low accuracy with which priority is determined next time and a difference with the priority with which faults must be actually dealt with.例文帳に追加

従来のシステム試験装置においては、故障モジュールに対し、調整、交換、修理を施し故障が解消した場合、その故障が解消したことに対して何ら考慮されないため、次に優先順位を決定する場合の精度が低くなり、実際に対処しなければならない優先順位とでは相違が発生する。 - 特許庁

To provide traffic shaping with a high efficiency in terms of a calculation amount by solving a problem of testing output queues of each virtual channel during each processing period and find whether or not cells to be sent are present, which is troublesome for a GCRA(general cell rate algorithm) equipped with a software program supporting many virtual channels, in the case of using the GCRA for a plurality of the virtual channels.例文帳に追加

複数の仮想回線でＧＣＲＡ（一般セルレートアルゴリズム）を使用する場合に、各処理周期中に各仮想回線の出力キューをテストして、送信すべきセルを有するかどうかを判定しなければならないが、多数の仮想回線をサポートするソフトウェアで実装されたＧＣＲＡにとってこの判定は面倒であるという問題点を解決し、計算量的に効率が高いトラフィックシェーピングを実現する。 - 特許庁