「the test of time」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a multiple-test-item continuous testing device which can continuously test a plate-shaped metallic material on a plurality of test items by using one test piece at the time of testing the metallic material.例文帳に追加

板状金属材料の材料試験において複数の試験項目の試験を１枚の試験片を使用して連続的に行なう。 - 特許庁

The test is performed by the time element data of a time element table for a normal action at a normal time, and by the time element data of a time element table for the interlinking test which is shorter than the time element table for the normal action at the time of the interlinking test.例文帳に追加

通常時には通常動作用時素テーブルの時素データで、連動検査時には通常動作用時素テーブルに比較して短い連動検査用時素テーブルの時素データによって検査を行う。 - 特許庁

To provide a test system, a test method and a sensor, allowing reduction of a time required for a test of a tester even when requiring a time for a test of the sensor, especially allowing confirmation of whether or not the sensor normally operates even without performing the sensitivity test of the sensor.例文帳に追加

感知器の試験に時間を要する場合でも、試験器における試験に要する時間を短縮することの可能な試験システムおよび試験方法および感知器を提供することを目的としている。 - 特許庁

It failed to stand the test of time. 例文帳に追加

それは時の試練に耐えられなかった. - 研究社 新英和中辞典

stand [withstand] the test of time 例文帳に追加

時の試練に耐える, 長く記憶に留まる. - 研究社 新英和中辞典

His works will stand the test of time.例文帳に追加

彼の作品は時の試練に耐えて後世に残るだろう。 - Tatoeba例文

This is the result of EAG test last time.例文帳に追加

こちらが前回のEAG検査の結果です。 - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文

This is a test result of the drawing blood that you went for last time.例文帳に追加

これは前回行った採血の検査結果です。 - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文

His works will stand the test of time. 例文帳に追加

彼の作品は時の試練に耐えて後世に残るだろう。 - Tanaka Corpus

At that time, he had no rank and was shinshi (Daigaku student who passed a subject of the official appointment test). 例文帳に追加

当時、黒麻呂は無位・進士だった。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

To provide a semiconductor memory device of which the test time is short.例文帳に追加

テスト時間が短い半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To accurately detect the position of a test line in a short time.例文帳に追加

テストラインの位置を短時間で正確に検出する。 - 特許庁

To provide a transmission characteristic test device for an analog subscriber circuit that can reduce the cost of a test system by decreasing number of test devices and conduct a test in the device of subscriber circuits so as to reduce the test time and to provide a transmission characteristic test method.例文帳に追加

計測器を削減することで試験システムを低価格化でき、かつ、複数の加入者回路単位で試験を行ない、試験時間を短縮できるアナログ加入者回路の伝送特性試験装置および方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit structure capable of executing the test of an I/O part and the test of an internal test in parallel in order to shorten the testing time in a semiconductor integrated circuit equipped with scan test function, and a test method therefor.例文帳に追加

スキャンテスト機能を備えた半導体集積回路において、テスト時間短縮のため、Ｉ/Ｏ部のテストと内部回路のテストの並列実行が可能なテスト回路構成やそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To prevent the dead load of a piston or a load cell from being applied to a test piece at the time of abnormality or the like of a test.例文帳に追加

試験異常時などに、供試体にピストンやロードセルの自重を加えないようにする。 - 特許庁

The semiconductor test device detects a test efficiency value being the optimum value in numerical values exceeding a reference test efficiency value and the matching time corresponding to the test efficiency value by comparing each of the test efficiency values at each matching time with the reference test efficiency value, and performs processing setting them at a matching time out time.例文帳に追加

そして、各マッチ時間ごとの試験効率値のそれぞれを基準試験効率値と比較して基準試験効率値を超える数値の中で最適値となる試験効率値と、この試験効率値に対応するマッチ時間を検出し、マッチタイムアウト時間に設定する処理を行う。 - 特許庁

To provide a test device, a test system, and a test method which are capable of shortening a test time by solving at least a part of the various problems in a conventional multi-site test or concurrent test.例文帳に追加

従来のマルチサイト・テストやコンカレント・テストにおける各種の問題点の少なくとも一部を解決し、テスト時間の短縮を図ること等ができる、テスト装置、テストシステム、及びテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To shorten the test time (failure analysis time) of a semiconductor memory.例文帳に追加

半導体メモリの試験時間（不良解析時間）を短縮すること。 - 特許庁

To achieve reduction in the load of a test verifier and the shortening of a test verification time.例文帳に追加

テスト検証者の負荷の低減や、テスト検証時間の短縮を実現する。 - 特許庁

The test conditions are: the electrodes of ϕ25 mm cylindrical column/ϕ25 mm cylindrical column; the sample thickness of 0.5 mm; the test method of short time process; and the test temperature of 23°C.例文帳に追加

＜試験条件＞ 電極：φ２５ｍｍ円柱／φ２５ｍｍ円柱 試料厚み：０．５ｍｍ 試験方法：短時間法 試験温度：２３℃ - 特許庁

To speed up development by reducing time or trouble of redeployment of a test code every time adding or changing the test code or changing over the test code to another test code to smoothly perform a test.例文帳に追加

テストコードの追加や変更、別のテストコードへの切り替えの度にテストコードを再配備する手間や時間を減らすことによって、テストをスムーズに行えるようにし、開発のスピードアップを図る。 - 特許庁

The TDR detection part 14 measures a test sensor position at the time of the test mode.例文帳に追加

ＴＤＲ検出部１４は、テストモード時に、テストセンサ位置を測定する。 - 特許庁

To shorten the test time of a plurality of samples in a triaxial consolidation permeability test device.例文帳に追加

三軸圧密透水試験装置において、複数の供試体について試験時間を短縮できるようにする。 - 特許庁

To automate a test of a plant control device, to shorten testing time and to improve the accuracy of a test result.例文帳に追加

プラント制御装置の試験を自動化し、試験時間の短縮と試験結果の精度を上げること。 - 特許庁

To reduce the amount of test data and test time by improving the BAST techniques.例文帳に追加

ＢＡＳＴ技術を改良することで、テストデータ量およびテスト時間を削減する。 - 特許庁

A test time concentration curve is created on the basis of the test (S4 and S5).例文帳に追加

このテスト検査に基づき、テスト時間濃度曲線が作成される（Ｓ４，Ｓ５）。 - 特許庁

To obtain a semiconductor memory that can shorten the test time in the test of a memory section.例文帳に追加

メモリ部の試験において、試験時間を短縮することができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To facilitate the register test of a PHY layer device 1 and also to shorten the test time.例文帳に追加

ＰＨＹレイヤ・デバイス１のレジスタ試験を容易にし且つ試験時間を短縮することにある。 - 特許庁

To reduce the capacity of a multi-axis test program and at the same time easily execute a multi-axis test.例文帳に追加

多軸試験プログラムの容量を小さくするとともに、多軸試験を容易に実行できるようにする。 - 特許庁

To provide a method for obtaining a test order of test items easily in a short time, by which the total test time becomes shortest, in an integrated circuit test constituted by plural test items.例文帳に追加

複数のテスト項目で構成される集積回路のテストに於いて、総テスト時間が最短となるテスト項目の試験順序を短時間で容易に求める手法を提供する。 - 特許庁

To provide a test method and a sensor which shorten time required for a test in a test unit even if time is required for the test of a sensor in a test system.例文帳に追加

感知器の試験に時間を要する場合でも、試験器における試験に要する時間を短縮することの可能な試験システムおよび試験方法および感知器を提供する。 - 特許庁

To shorten the test time of the setup time and hold time of input data and to improve the reliability of a test.例文帳に追加

入力データのセットアップ時間及びホールド時間のテスト時間を削減し、またテストの信頼性を向上させること。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device achieving cost reduction by shortening the total test time to achieve the improvement of the efficiency of the whole test.例文帳に追加

トータルの試験時間を短縮して試験全体の効率の向上を図るとともに、コストの低減を実現した半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide the tester performing a test under a plurality of temp. conditions in the same test tank at the same time with respect to the test temp. of a sample.例文帳に追加

耐候試験機における試料の試験温度に関し、同一試験槽内で同時に複数の温度条件で試験を行う技術に関する。 - 特許庁

To achieve reduction of time for calibration of an output and improvement of precision of a test device itself in a characteristics test method and the test device of a panel type display.例文帳に追加

パネル型表示器の特性検査方法および検査装置において、検査装置自身の出力校正の時間短縮と精度の向上を行う。 - 特許庁

According to this, the test is performed at the operation speed of the SOC to shorten the test time, and even after the SOC is mounted on a board, the test can be performed.例文帳に追加

これにより、ＳＯＣの動作速度でテストを行い、テスト時間を短縮させ、ＳＯＣがボードに実装された後にもテストを行える。 - 特許庁

To raise objectivity in the test result of a contrast sensitivity test, and to shorten a testing time.例文帳に追加

コントラスト感度検査の検査結果の客観性の向上及び検査時間の短縮を図る。 - 特許庁

To prepare an acceptance test schedule to prevent the long-term acceptance test period of time for a program.例文帳に追加

プログラムの受入検査期間の長期化を防ぐため、受入検査スケジュールを作成する。 - 特許庁

To perform fatigue test on a plurality of test pieces at the same time with one vibration tester.例文帳に追加

一つの振動試験装置で複数の試験片を同時に疲労試験することができるようにする。 - 特許庁

To provide a load testing device and a load test method capable of shortening the time required for a load test.例文帳に追加

荷重試験に要する時間を短縮できる荷重試験装置および荷重試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scan test method for reducing the number of test patterns (the number of clocks), memory capacity and a processing period of time required for a scan test.例文帳に追加

スキャンテストに必要なテストパタン数（クロック数）、メモリ容量及び処理時間を削減可能なスキャンテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scan test circuit in which the number of test pins required for a scan test of an LSI is reduced to a minimum and which reduces the testing time.例文帳に追加

ＬＳＩのスキャンテストに所要のテストピンの数を最小限に抑えるとともにテスト時間を低減する。 - 特許庁

The test piece subjected to the calcium corrosion test is set in a constant-temperature and constant-humidity environment, and a plurality of test piece images are photographed at intervals of time.例文帳に追加

カルシウム腐食法の試験片を恒温恒湿環境内におき、時間間隔をあけて複数の試験片画像を撮影する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test equipment and a method for the same capable of redoubling the throughput of the test capable of simultaneous measurement, and at the same time capable of shortening the test time, with regard to the semiconductor test equipment and the method capable of simultaneous measurement for the multiple objective device.例文帳に追加

同時測定可能な被試験デバイス数を倍増させると同時にテスト時間を短縮することができる半導体試験装置及び半導体試験方法を提供する。 - 特許庁

A test recording is carried out by the generation of a test pattern utilizing a control judgment device (CPU) 1, and the signal processing selection at the test recording time.例文帳に追加

制御判断装置（ＣＰＵ）１を利用したテストパターン発生とテスト記録時の信号処理選択によりテスト記録をおこなう。 - 特許庁