運行パターンの全体について、簡単な操作で、自動的にテストを行う。例文帳に追加

To automatically test a whole operation pattern by a simple operation. - 特許庁

概して非常にポジティブなフィードバックがロードテスト全体から得られた例文帳に追加

Generally very positive feedback on overall road testing experience発音を聞く  - 経済産業省

個々のテスト仕様間の関係性を可視化し、テストの全体像を把握しながらテスト仕様の作成編集を行えるようにする。例文帳に追加

To create and edit a test specification while grasping the whole image of a test by visualizing a relationship between individual test specifications. - 特許庁

テスト結果設定処理部10は、検出したコードクローンセットの内１つのコードクローンをテストし、テストされたソースコード行にテストケース番号を設定してコードクローンセット全体がテストされたことを表示する。例文帳に追加

The test result setting part 10 tests one code clone in the detected code clone set, and sets test case numbers to the tested source code lines to indicate that the entire code clone set has been tested. - 特許庁

電子回路装置の全体動作のテストと、演算回路チップの単体動作テストと、メモリチップの単体動作テストを容易に行うことができる電子回路装置のテスト方法、およびテスト装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method and a device for testing an electronic circuit device whereby the overall action of the electronic circuit device, the action of a single computing circuit chip, and the action of a single memory chip can be easily tested. - 特許庁

１つのテスト項目に対するテストが終了する毎にテスト結果を集計することによって、テスト終了後に集計作業を行う必要がなく、テスト作業全体を効率化することのできるソフトウェアテスト装置を提供する。例文帳に追加

To provide a software test device capable of promoting efficiency of the whole test work by totalizing test results every time the test is finished for one test item without requiring totalization work after finishing the test. - 特許庁

セキュリティ回路を備える半導体メモリに対して実行する全体機能テストのテストコストを低減させることを課題とする。例文帳に追加

To reduce a test cost of a whole function test performed for a semiconductor memory provided with a security circuit. - 特許庁

ＣＰＵ１０は、選択順に各テストデータを結合することにより、ソフトウェアシステム全体の組合せテストデータを、生成する。例文帳に追加

The CPU 10 couples each of the test data in the selection order to generate combination test data of an entire software system. - 特許庁

オンチップメモリを含むユーザ回路全体の高速テストを短時間で確実に行うことができるメモリテスト回路を提供する。例文帳に追加

To provide a memory test circuit which can perform surely a high speed test of a whole user circuit including an on-chip-memory in a short time. - 特許庁

プロジェクト全体、任意の実行可能クラス、任意の JUnit テストをデバッグできます。例文帳に追加

You can debug an entire project, any executable class, and any JUnit tests.発音を聞く  - NetBeans

この誤動作は、バーンインテストボード全体の電源における電圧降下が原因である。例文帳に追加

This malfunction is caused by a voltage drop in power supply of the entire burn-in test board. - 特許庁

システム全体を対象として信頼性の高いテスト結果を提供すること。例文帳に追加

To provide a reliable test result for the whole system as an object. - 特許庁

刊行時点では、ここのチップはテストが終わっていたけれど、マシン全体はまだ作り終えていなかった。例文帳に追加

_________________ * * At publication time, we have tested individual chips but have yet not built the full machine発音を聞く  - Electronic Frontier Foundation『DESのクラック：暗号研究と盗聴政策、チップ設計の秘密』

プロジェクト全体をテストするのではなく、1 つのテストファイルを実行することもできます。 ソースエディタで「 LibClass.java 」タブを選択し、「実行」メニューから「実行」「ファイルを実行」「LibClass.java をテスト」を選択します。例文帳に追加

You can also run a single test file rather than testing the entire project.Select the LibClass.java tab in the Source Editor and choose Run Run File TestLibClass.java from the Run menu. - NetBeans

プロジェクト全体をテストするのではなく、1 つのテストファイルを実行することもできます。 ソースエディタで「LibClass.java」タブを選択し、「実行」「ファイルをテスト」を選択します。例文帳に追加

You can also run a single test file rather than testing the entire project.Select the LibClass.java tab in the Source Editor and choose Run Test File.発音を聞く  - NetBeans

スキャンテスト回路の単純化でチップサイズが低減し、全体フォールトカバレージも満足するスキャンテスト回路を備えた半導体装置及びそのテスト方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device equipped with a scan test circuit, satisfying the overall fault coverage and reduced in a chip size by simplifying the scan test circuit, and to provide a test method of the same. - 特許庁

この不揮発性プログラム期間を利用し、この期間内にＣＰＵ等のロジック回路３０をテストするためのロジックテストパターンを入力し、半導体装置２０全体のテスト時間の短縮化を図る。例文帳に追加

The entire test time for the semiconductor device 20 is reduced by utilizing the nonvolatile program period and entering the logic test pattern to test a logic circuit 30 such as a CPU within this period. - 特許庁

テストプログラムの特定の部分を設計又は変更する場合に、テスト全体に注意を払わなければならない為、テスト設計が困難である。例文帳に追加

To solve the problem that test design is difficult because attention should be paid to the whole of a test in the case of designing or altering a specified part of a test program. - 特許庁

チップ内部で自分自身のテストを行ない、テスト結果に従ってチップの一部または全体の温度を変化させる事により、テスト結果を温度の変化としてチップ外部から知る事が出来るようにする。例文帳に追加

In this semiconductor, the test of chip itself is carried out inside the chip, and by changing the temperature of a part of the chip or the whole chip according, the test result is made recognizable from the outside of the chip as the temperature change. - 特許庁

また、複数の学習テストに対する回答結果をメモリに蓄積し、前記複数の学習テストの最後においてテスト全体に対する評価結果を示す。例文帳に追加

Answer results of a plurality of learning tests are stored in a memory and an evaluation result of the whole tests is displayed at the end of the learning tests. - 特許庁

自動モードは、スクリプト全体や特定の関数など、決まった部分をお手軽にテストしたい場合に便利です。例文帳に追加

The automatic mode makes sense in cases where you want to quickly test a fixed portion of code like a script or a single function.発音を聞く  - PEAR

分岐が生じるテストし、入力を調整して、コードの全体に渡って取りえる限りの個々の処理経路を確実にたどらせるようにしてください。例文帳に追加

Exhaust as many code paths as possible.Test where branching occurs and thus tailor input to make sure as many different paths through the code are taken. - Python

テストパターンを用いることなくセル単位でＬＳＩ全体の電源配線の検証を可能にする電源電圧変動解析装置を提供する。例文帳に追加

To provide a power voltage fluctuation analysis device certifying the whole power wiring of LSI in a cell unit without using a test pattern. - 特許庁

集積回路のテストは、各モジュールのシフトスキャン回路をチェイン状に結線してチップ全体のシフトスキャンすることにより行う。例文帳に追加

A test of the integrated circuit is performed by shift-scanning the whole chip by connecting the shift scan circuits of the respective modules 10 in a chain shape. - 特許庁

したがって、ウエハ全体として自己発熱を抑制しつつ比較的短い処理時間でテストを完了することができる。例文帳に追加

Therefore, all wafers as a whole can be tested within a relatively short processing time, while the self-heating value is suppressed. - 特許庁

正常の場合、半導体集積回路装置１全体としての動作をテストベンチＴＢによってチェックし、正常であるか否かを判断する。例文帳に追加

When the signals are normal, the operation of the whole semiconductor integrated circuit device 1 is checked by the test bench TB to judge whether or not the operation is normal. - 特許庁

このとき、光ディスクの容量の増加に比例してディスク全体におけるテストエリアの総数を増加する。例文帳に追加

In this case, the total number of test areas in the entire disk is increased in proportion to the increase of an optical disk capacity. - 特許庁

これにより、上記コンタクト構造体５の底面高さを全体として平坦化でき、安定したウェハ・バーンインテストを行うことができる。例文帳に追加

Thereby the bottom face height of the contact structure 5 can be wholly flattened to perform a stable wafer burn-in test. - 特許庁

ＬＳＩ全体の伝搬遅延時間の測定時にテスト回路が実動作回路に影響を与えないようにする。例文帳に追加

To prevent an actually operating circuit from being affected by a test circuit at the time of measurement of the propagation delay time of the whole of an LSI. - 特許庁

システム全体のテストを行う場合など、テストスイートをさらにグループ化したい場合がありますが、このような場合、TestSuiteインスタンスにはTestSuiteと同じようにTestSuiteを追加する事ができます。例文帳に追加

This is easy, sinceTestSuite instances can be added to a TestSuite just as TestCase instances can be added to a TestSuite: - Python

オペレータ等が画像プリントシステムをテストプリントモードに設定すると、制御部は画像プリントシステム全体をテストプリントモードで稼動するよう制御する。例文帳に追加

When an operator or the like sets the image printing system to a test printing mode, a control part controls the whole image printing system to work in the test printing mode. - 特許庁

集積回路の通常使用されている入出力端子に、並列にドライブ能力の小さいトライステート入出力バッファーを設け、テスト全体を制御するテスト制御回路を設ける。例文帳に追加

A tri-state input/output buffer having small drive capacity and a test control circuit for controlling the entire test are provided in parallel at an input/output terminal under normal use of an integrated circuit. - 特許庁

分岐などを多く含んでいて処理の流れが複雑なテストプログラム全体の流れを容易に理解できるテスト支援装置を提供することにある。例文帳に追加

To provide a test support system which can provide an easy understanding of the entire flow of a test program which includes many branches or the like and a complicated processing flow. - 特許庁

テストプリントの搬送において各種誤差が発生しても、テストプリント全体を長くすることなく、各帯体をそれぞれ測色することが可能な写真処理装置を提供する。例文帳に追加

To provide a photograph processor that can measure the color of the test print stripes without making them longer even if there are various errors when carrying them. - 特許庁

さらに、メモリＢＩＳＴ回路２０２をスキャン設計することにより、メモリＢＩＳＴ回路２０２のバーインテストを効率的に行い、バーインテスト全体のトグル率を向上させることもできる。例文帳に追加

Further, by performing the scanning design of the memory BIST circuit 202, the burn-in test of the memory BIST circuit 202 is performed efficiently, and the toggle ratio of the whole of the burn-in test can be enhanced. - 特許庁

このようにして、バーンインテスト時の消費電流が平準化されて、バーンインテストボード全体の電源における電圧降下が抑制される。例文帳に追加

Thus, the amounts of current that is consumed at the time of a burn-in test are equalized, and a voltage drop in power supply of the entire burn-in test board is inhibited. - 特許庁

セットアップ用テストプリントの搬送において送り量誤差が発生しても、セットアップ用テストプリント全体を長くすることなく、各帯体の濃度をそれぞれ測定することが可能なセットアップ用テストプリントおよび写真処理装置を提供する。例文帳に追加

To provide a setup test print capable of measuring the density of each band without increasing the entire setup test print regardless of an error in the amount of conveyance of the setup test print, and to provide a photo-processing apparatus. - 特許庁

複数の被試験デバイスを収容するテストトレイと、テストトレイを収容するチャンバと、チャンバの内部において複数の被試験デバイスを目標温度まで一括して加熱する全体ヒータと、テストトレイに設けられ、複数の被試験デバイスを個別に加熱する個別ヒータとを備える。例文帳に追加

A handler is provided with: a test tray for putting a plurality of devices under test thereon; a chamber for putting the test tray therein; an overall heater for collectively heating the plurality of devices under test in the chamber up to a target temperature; and individual heaters provided in the test tray to heat the devices individually. - 特許庁

高温テスト及び低温テストを実施するハンドラにおいて、一度に大量の半導体装置の高温化又は低温化を可能とし、装置全体としての高速処理を実現した高低温化ユニット及び高低温化テストハンドラを提供する。例文帳に追加

To provide a temperature heightening/lowering unit and a temperature heightening/lowering test handler, that increase or decrease temperatures of a large amount of semiconductor devices at a time, and achieve a high-speed processing as the whole system. - 特許庁

高温テスト及び低温テストを実施するハンドラにおいて、一度に大量の半導体装置の高温化又は低温化を可能とし、装置全体としての高速処理を実現した高低温化装置及び高低温テストハンドラを提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus for raising/lowering a temperature which raises or lowers the temperature of numerous semiconductor devices at a time in a handler for performing high temperature test and low temperature test to realize high-speed processing as the whole apparatus, and also to provide the high and low temperature test handler. - 特許庁

イベント型テストシステムは、被試験デバイスピンに割り当てられる複数のピンユニットと、対応するピンユニットについてのテストの終了を示す信号を他のピンユニットと独立して発生するテスト終了信号発生器と、イベント型テストシステムの全体的動作を制御するシステムコントローラとを有する。例文帳に追加

This event type test system has a plurality of pin units assigned to a device pin to be tested, a test finishing signal generator for generating a signal for indicating finishing of the test for a corresponding pin unit independently of the other pin unit, and a system controller for controlling an entire operation of the event type test system. - 特許庁

さらには、ロジック部とメモリ間の行アドレス及び列アドレスの接続テストを従来は、ＬＳＩ全体の実動作テストで行っていたため、回路の故障検出率を低かったが、この発明によりスキャンテストにより行うことができ、回路の故障検出率が高いテストパターンを自動で作成することができる。例文帳に追加

Further, conventionally, as a connection test of a row address and a column address between a logic section and a memory is performed by an actual operation test of a whole LSI, a fault detecting rate of a circuit is low, but this test can be performed by a scan-test, and a test pattern having a high fault detecting rate of a circuit can be automatically made. - 特許庁

さらには、ロジック部とメモリ間の行アドレス及び列アドレスの接続テストを従来は、ＬＳＩ全体の実動作テストで行っていたため、回路の故障検出率を低かったが、この発明によりスキャンテストにより行うことができ、回路の故障検出率が高いテストパターンを自動で作成することができる。例文帳に追加

Further, since conventionally the connection test has been conducted between the logic section and the line address, the column address in the whole LSI operation test resulted in low defect detection rate; however it can be conducted in a scan test and a test pattern which has a high detection rate of the circuit defects can be created automatically. - 特許庁

ＣＳＰと呼ばれる半導体構成体をベース板上に配置し、その上に、ファンクションテストのために設けられたテスト用の第２の上層配線を有する半導体装置において、全体としての平面サイズを小さくする半導体装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device having a base plate with a semiconductor framework referred to as a CSP arranged on it and a second upper layer wiring for test provided for a function test, and capable of downsizing overall planar size. - 特許庁