「"Bright-field"」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To assess the accuracy of selected area diffraction, bright-field and dark-field images were taken. 例文帳に追加

制限視野回折の精度を評価(検討)するために、明視野像と暗視野像を取得した。 - 科学技術論文動詞集

A bright-field image is formed by the primary beam and any low-angle inelastic scattering. 例文帳に追加

明視野像は一次(入射)ビームおよび、どの低角度の非弾性散乱によっても形成される。 - 科学技術論文動詞集

During a bright area measurement, the aperture of the detector is positioned within the image of the bright field.例文帳に追加

明領域測定の間に、検出器の開口は、明視野の像内に位置付けられる。 - 特許庁

To provide an objective lens that is equal in outside diameter to an objective lens used for bright field observation and enables dark field observation by using a bright field illuminating optical system, and to provide a microscope that has the objective lens.例文帳に追加

対物レンズの外径が明視野観察用対物レンズと同等で、明視野照明光学系を用いて暗視野観察を可能とする対物レンズ及び該対物レンズを有する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide an objective lens has the same outer diameter as an objective lens for bright-field observation, and enables dark-field observation by using an optical system for bright-field observation, and to provide a microscope that has the objective lens.例文帳に追加

対物レンズの外径が明視野観察用対物レンズと同等で、明視野照明光学系を用いて暗視野観察が可能な対物レンズ及び該対物レンズを有する顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The dark field image can show a minute flaw as compared with the bright field image and an inspector compares both images to confirm the presence of minute flaws incapable of being shown by the bright field image.例文帳に追加

暗視野画像は明視野画像に比べて微小な欠陥まで表示することができ、検査者は両画像を見比べて明視野画像では表示できない微小な欠陥が存在することを確認することができる。 - 特許庁

A bright field image signal processing circuit 140 of an image signal processing apparatus 100 processes the bright field image signal, and detects the fault on the surface of the chip.例文帳に追加

画像信号処理装置１００の明視野画像信号処理回路１４０は、明視野画像信号を処理して、半導体チップの表面の異常を検出する。 - 特許庁

In a bright-field/dark-field pair of images showing thickness fringes in a grain of Ti, the fringes run parallel to the edge of the thin foil. 例文帳に追加

Tiの粒の等厚干渉縞を示す像の明視野/暗視野の組の中で、その(等厚干渉)縞は薄膜の端に対して平行に通っている(走っている)。 - 科学技術論文動詞集

In crystalline specimens, the use of the primary beam (bright-field) or a Bragg-reflected beam (dark-field) gives rise to diffraction contrast. 例文帳に追加

結晶性試料では、一次ビーム(明視野)またはブラッグ反射ビーム(暗視野)の利用が、回折コントラストをもたらす。 - 科学技術論文動詞集

To provide a microscope apparatus which allows bright field photography and fluorescence photography by sharing an imaging means without lowering sensitivity of the fluorescence photography.例文帳に追加

蛍光撮影の感度を低下させることなく、撮像手段を共用して明視野撮影及び蛍光撮影が可能な顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide an X-ray microscope and a microscope capable of easily switching bright field/dark field observation and having simple system constitution.例文帳に追加

明視野・暗視野観察を容易に切替え可能で、かつシステム構成が簡便なＸ線顕微鏡及び顕微鏡の提供。 - 特許庁

The 2-D bar code can be read out from the front side or rear side of the plate by using a dark-field or bright-field identification system.例文帳に追加

２−Ｄバーコードは、暗視野又は明視野の識別システムを用いて、プレートの正面側又は背面側から読み取ることが可能である。 - 特許庁

An image sensor 40 detects a reflected light from the surface of the semiconductor chip contained in the tray 2, and outputs a bright field image signal.例文帳に追加

画像センサー４０は、トレー２に収納された半導体チップの表面からの反射光を検出して、明視野画像信号を出力する。 - 特許庁

This Radiometric Kirk Test of this invention involves a test pattern having an isolated dark area within a much larger bright field.例文帳に追加

本発明の放射キルクテストは、より大きな明視野内に孤立した暗領域を有するテストパターンを含む。 - 特許庁

To perform good bright field observation in a large region and allow dark field observation in a visual inspection apparatus.例文帳に追加

外観検査装置において、広い領域で良好な明視野観察が行えるようにすると共に、暗視野観察を可能にする。 - 特許庁

To provide a stereoscopic microscope configured for a user to see the right and left observation images of observation optical systems with the same brightness, in epi-bright-field observation.例文帳に追加

落射明視野観察で左右の観察光学系の観察像が同じ明るさで見える実体顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

Therefore, for example, the application to a microscope performing illumination for both bright-field illumination and dark-field illumination can be performed.例文帳に追加

本発明は、例えば、明視野照明及び暗視野照明の併用照明を行う顕微鏡に適用できる。 - 特許庁

To provide a stereomicroscope transmission illuminating device capable of obtaining uniform illumination even if it is switched to a bright field optical system or a dark field optical system.例文帳に追加

明視野光学系と暗視野光学系のいずれかにも切換えても均一な照明が得られる実体顕微鏡透過照明装置を得る。 - 特許庁

By displaying the entire image of a sample formed under a bright field observation method, optional areas (noticeable areas #1 and #2) are designated.例文帳に追加

明視野観察法のもとで作成された標本全体画像を表示して、任意の領域（注目領域＃１、＃２）を指定させる。 - 特許庁

To improve a working efficiency through reduction of an inspection time by obtaining images by dark-field illumination and bright-field illumination independently and simultaneously.例文帳に追加

暗視野照明及び明視野照明による画像を独立かつ同時に取得することにより、検査時間を短縮して、作業効率を向上させる。 - 特許庁

To provide an objective for a microscope which is usable for bright-field observation and dark-field observation while preventing a flare from being generated, and the microscope.例文帳に追加

フレアの発生を防止しながら明視野観察及び暗視野観察に使用可能な顕微鏡用対物レンズ、顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Because a white light LED 17 as a bright field light source is also set on the attachment 16, it becomes more convenient.例文帳に追加

明視野光源としての白色ＬＥＤ１７もアタッチメント１６に備えられているため、更に便利である。 - 特許庁

Then, a gentle flaw at the edge such as the scratch not detected by the dark field observation method is inspected using a light source 22 for bright field.例文帳に追加

つぎに明視野用光源２２を使って、暗視野観察法で検出できなかったヒキ傷などのエッジのなだらかな傷を検査する。 - 特許庁

To easily change bright field illumination and inclined lighting over to each other without intercepting illumination light with respect to a sample.例文帳に追加

標本に対する照明光を遮断することなく明視野照明と偏斜照明とを容易に切り換えられること。 - 特許庁

A bright field signal particle beam 11 is synchronized with scanning of the particle beam and deflected in the direction opposite to the deflection of the particle beam by the deflection yoke under the sample.例文帳に追加

試料の下の偏向コイルによって、明視野信号粒子線１１を、粒子線の走査と同期させ且つ逆方向に偏向させる。 - 特許庁

After a predetermined interval is disposed after picking up the bright field image, a light emission image obtained by forming the light emission from the light sensitive living thing is picked up.例文帳に追加

明視野画像を撮像してから所定のインターバルを設けた後、光感受性生物からの発光を結像した発光画像を撮像する。 - 特許庁

The bright field illumination is reflected by the defect in the composite structure differently from a nondefective portion out of the composite structure.例文帳に追加

明視野照明は、複合構造における欠陥によって、複合構造のうち欠陥のない部分とは異なるように反射される。 - 特許庁

This microscope 1 includes an objective lens 9 for observing the sample, the transmission bright field lighting system 17, and a base part 3 having a mounting mechanism for mounting the transmission dark field lighting system 25 on the lower side or the upper side of the transmission bright field lighting system 17.例文帳に追加

標本を観察するための対物レンズ９と、透過明視野照明装置１７と、透過明視野照明装置１７の下側または上側に透過暗視野照明装置２５を装着するための装着機構を有するベース部３を備える顕微鏡１。 - 特許庁

A digital microscope 1 comprises a half mirror 13 for providing bright field illumination, a ring lens 16 for providing dark field illumination and a mechanism for changing mixing ratio of bright field illumination and dark field illumination according to the operation at an operation part 26.例文帳に追加

デジタル顕微鏡１は、明視野照明光を供給するハーフミラー１３と、暗視野照明光を供給するリングレンズ１６と、操作部２６での操作に応じて明視野照明光と暗視野照明光の混合割合を変える機構を備える。 - 特許庁

An electron lens is disposed between an electron detector of a ring-like dark-field and an electron detector of a bright-field, an electron lens is disposed between the detector of the bright-field and an EELS spectrometer, and an object point of the EELS spectrometer is made to be a virtual image.例文帳に追加

環状暗視野電子検出器と明視野電子検出器の間に電子レンズを配置し、かつ、明視野電子検出器とＥＥＬＳスペクトロメータの間に電子レンズを配置し、かつ、ＥＥＬＳスペクトロメータの物点を虚像にする。 - 特許庁

The surface defect detecting method and device is constituted so that whether it is defect or not is discriminated by using an optical system constituted of a belt like light source 1 used for both dark field lighting and bright field lighting and a light receiving element 3 for detecting the defect in the dark field and bright field and comparing the taken image with a prescribed value.例文帳に追加

暗視野照明及び明視野照明を兼用する帯状光源１と、暗視野及び明視野で欠陥を検出する受光素子３とから構成した光学系を用い、取り込んだ画像を所定値と比較して欠陥か否かを判定するようにした表面欠陥検出方法及び装置。 - 特許庁

Four kinds of illuminations, that is, transmission type dark area illumination 26, reflection type dark field illumination 27, transmission type bright field illumination 28 and reflection type bright field illumination 29 are provided to the visual examination device 10 so as to be respectively changed over, without changing the positional relation of a CCD area sensor 23 and a lens 16 to be inspected.例文帳に追加

外観検査装置１０には、透過型暗視野照明２６、反射型暗視野照明２７、透過型明視野照明２８、反射型明視野照明２９の４種の照明が、ＣＣＤエリアセンサ２３と検査するレンズ１６との位置関係を変えずに、それぞれ切り替え可能に設けられる。 - 特許庁

To provide a fluorescence microscope equipped with a light shielding member covering the whole or a part of the fluorescence microscope so that external light can not be made incident on a sample, and improved to save time and labor in operation required when the microscope is switched from bright field observation by a light source for bright field transmissive illumination to fluorescence observation by a light source for fluorescence vertical illumination.例文帳に追加

試料に外光が入射しないように蛍光顕微鏡の全体又は一部を覆う遮光部材を備えた蛍光顕微鏡において、明視野透過照明用光源による明視野観察から蛍光落射用光源による蛍光観察に切り替える際に必要な操作の手間を省く。 - 特許庁

One frame is divided into a dark field and a bright field, and in the dark field, a dark luminance gradation voltage which permits the maximum approximation to the black display is generated and, in the bright field, a bright luminance gradation voltage which compensates a luminance reduced by the dark field is generated.例文帳に追加

１フレームを暗フィールドと明フィールドに分割し、暗フィールドにおいて、可能な限り黒表示に近づけた暗輝度階調電圧を生成し、明フィールドにおいて、暗フィールドによって低減した輝度を補償する明輝度階調電圧を生成する。 - 特許庁

The subject matter of the invention is the transmitted light bright field illuminating device, in particular for stereomicroscopy, having bright field luminous means which are arranged on a luminous surface and whose directions of emission lie substantially in the direction of the object to be transilluminated, which comprises measures for producing a segmented light field and which includes no beam-focusing and/or beam deflecting measures.例文帳に追加

本発明のサブジェクトマターは、発光面上へ配置され、かつ光放射方向が実質的に光透過対象物へ向けられ、及びセグメント化された光視野生成手段を含むがビーム集束及び／またはビーム偏向手段は含まない明域発光手段を備える、特に立体顕微鏡検査用途の透過光明域照明装置に関する。 - 特許庁

In the diffraction pattern, strong precipitate reflections are visible and this accounts for the dark precipitate contrast in the bright-field image. 例文帳に追加

その回折図形には析出物による強い反射が見られ、そして、これが明視野像での暗い析出物によるコントラストを説明する(コントラストの原因である)。 - 科学技術論文動詞集

To set an illumination state optimum for each of various kinds of objective lenses varying in magnification of a microscope of a transmission type for bright-field viewing.例文帳に追加

透過型かつ明視野観察用の顕微鏡において倍率の異なる各種の対物レンズのそれぞれに対し最適な照明状態を設定することを目的とする。 - 特許庁

More particularly, a plurality of targets can be labeled by a metal specifically deposited and other chromogenic labels, and the use of bright field light microscope enables chromogenic immunohistochemical (IHC) detection in situ.例文帳に追加

より詳細には、複数の標的が、特異的に沈着される金属および他の発色標識で標識され得、明視野光学顕微鏡を用いることによってインサイチュで発色免疫組織化学的（ＩＨＣ）検出が可能になる。 - 特許庁

To provide an electron microscope capable of arbitrarily setting a dark-field STEM, a bright-field STEM or a capturing angle of an EELS (a diffusion angle on a sample face).例文帳に追加

暗視野ＳＴＥＭ，明視野ＳＴＥＭ、或いはＥＥＬＳの取り込み角（試料面上における散乱角）の任意設定を可能とする電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This system includes at least one light source positioned to emit light beams for illuminating one portion of the composite structure by bright field illumination, and for illuminating another portion of the composite structure by dark field illumination.例文帳に追加

このシステムは、明視野照明で複合構造の一部を照明し、また暗視野照明で複合構造の別の部分を照明する光を発するように位置付けられた、少なくとも１つの光源を含む。 - 特許庁

To provide an interference objective lens for selecting easily and surely an interference image having an interference picture and a bright field image not superposed with the interference picture, and to provide an interference microscope equipped with the interference objective lens.例文帳に追加

干渉像を有する干渉画像と干渉像が重畳されていない明視野画像を容易、且つ確実に選択可能に取得できる干渉対物レンズと、その干渉対物レンズを備える干渉顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a bright-field light source for fluorescence observations which enables a simultaneous observation of a fluorescent affected area and the peripheral part and a surgical microscope loaded with the same.例文帳に追加

蛍光状態の患部と、その周辺部の同時観察を可能する蛍光観察用の明視野光源及びそれを搭載した手術顕微鏡を提供する。 - 特許庁

According to this structure, it is possible to make a mechanical incident angle to the EELS spectrometer small without changing capturing angles to the electron detector of the dark-field and to the electron detector of the bright-field.例文帳に追加

このような構成によれば、環状暗視野電子検出器への取り込み角度と明視野電子検出器への取り込み角度を変更せずに、ＥＥＬＳスペクトロメータへの機械的な入射角度を小さくすることができる。 - 特許庁

To provide a transmissive illumination pedestal for a stereomicroscope capable of decreasing the difference of light quantity between normal bright field illumination and oblique light illumination to irradiate a sample to be observed.例文帳に追加

本発明は、観察試料に対して照射する通常の明視野照明と斜光照明との光量の差を減少し得る実体顕微鏡用の透過照明架台を提供することを目的とする。 - 特許庁

By comparing a reference information inputted, bright field image or back scattering electron image with a dark field image, it is judged whether their correlation value or the dark field image has a prescribed contrast.例文帳に追加

上記目的は、入力された参照情報，明視野像或いは後方散乱電子像と、暗視野像を比較し、その相関値、或いは暗視野像が所定のコントラストを有しているか否かを判定することで実現される。 - 特許庁