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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > マーク率に関連した英語例文

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マーク率の部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 425



例文

マーク率評価装置例文帳に追加

MARK RATE EVALUATION APPARATUS - 特許庁

半導体製造装置のマーク検出を向上させる。例文帳に追加

To improve a mark detection rate of a semiconductor manufacturing apparatus. - 特許庁

そうすることでマークの検出が向上する。例文帳に追加

Thus, the detection modulus of the mark is improved. - 特許庁

マークエッジ記録法のデータ誤りを低減する。例文帳に追加

To reduce rate of data error rate of mark edge recording method. - 特許庁

例文

ベルト13の反射が、無彩色マーク及び有彩色マークよりも大きい構成になっている。例文帳に追加

The reflectivity of a belt 13 is made larger than that of a colorless mark and a colored mark. - 特許庁


例文

ブックマーク保存が指示された場合には、拡大した映像に対応するブックマーク情報(再生時刻、拡大位置、拡大)をブックマーク保存する。例文帳に追加

If the bookmark storage is instructed, bookmark information (a playback time, a magnification position, a magnification ratio) is carried out bookmark storing. - 特許庁

加工パターンの加工前にマーク登録時の視野倍よりも低いマーク検出用の視野倍マークを検出し、登録したマークと検出されたマークの位置を比較して位置ずれ量を算出し、イオンビーム偏向領域をシフトさせてマーク登録時の視野倍に戻してマークを再検出する。例文帳に追加

The focused ion beam device detects the mark with a mark detecting view magnification lower than a view magnification when registering the mark, before processing the processed pattern, calculates a degree of displacement while comparing the position of the registered mark with the position of the detected mark, and detects the mark again after shifting an ion beam deflection region to restore the view magnification into that when registering the mark. - 特許庁

転写倍に誤差が生じていなければ、直線状マークA1と直線状マークB1との間の中心線L1と直線状マークA2と直線状マークA3との間の中心線L2とが重なり合う。例文帳に追加

If no error occurs in a transfer magnification, a center line L1 between a straight mark A1 and a straight mark B1 overlaps a center line L2 between a straight mark A2 and a straight mark A3. - 特許庁

マーク12,13の部分を覆うように光透過調整膜17を形成し、マーク部分の光透過を例えば40%に調整する。例文帳に追加

A light transmittance adjusting film 17 is formed so as to cover the mark parts 12, 13, and as a result, light transmittance is adjusted to 40%, for instance. - 特許庁

例文

物体上の複数のマークを効的に、かつ高精度に検出する。例文帳に追加

To detect a plurality of marks on objects efficiently at high precision. - 特許庁

例文

半導体製造装置のマーク検出を向上させる為のものである。例文帳に追加

To improve mark detection rate of a semiconductor manufacturing apparatus. - 特許庁

このとき、ウォータマークは、0.9〜1.1の範囲であるように、選ばれる。例文帳に追加

In this case, the watermarking magnification is selected within 0.9-1.1. - 特許庁

フェイスマークデータを入力する操作の効を向上する。例文帳に追加

To improve efficiency in operation for inputting face mark data. - 特許庁

処理効を高め、マークの位置情報の検出精度を向上する。例文帳に追加

To enhance detection accuracy of the positional information of a mark by enhancing processing efficiency. - 特許庁

画像読取時の特定マークの間隔を効的に検出する。例文帳に追加

To efficiently detect a space between specific marks during image reading. - 特許庁

形状精度に優れたアライメントマークを効良く形成させる。例文帳に追加

To efficiently form an alignment mark having excellent shape accuracy. - 特許庁

探索マークが検出されたら、ワークマークWAMが10倍の倍のアライメント顕微鏡10の視野に入るようにワークステージWSを移動させ、10倍の倍でワークマークWAMを検出する。例文帳に追加

Once the search mark is detected, a work stage WS is moved so that the work mark WAM is within a visual field of the alignment microscope 10 in a magnification ratio of ten, and the work mark WAM is detected with the magnification ratio of ten. - 特許庁

制御部421は、低倍画像に基づいて算出されたマークの位置が所定範囲にある場合に、上記高倍画像に基づいて算出されたマーク位置が有効であるとして、当該アライメントマーク位置に決定する。例文帳に追加

When the position of the mark that is calculated based on the low-magnification image exists within a specific region, a control section 421 determines that a mark position that is calculated based on the high-magnification image is effective for determining the alignment mark position. - 特許庁

本発明は、画像の内容を示すマークと、画像の設定を示すマークとを、倍に応じて切り換えて、地図上に表示する。例文帳に追加

A mark indicating the detail of a picture and a mark indicating the setting of the picture are switched in accordance with the magnification and displayed on a map. - 特許庁

特性の異なる基板マークを効よく照明し、高精度の基板マークの位置決めが可能な小型で安価な照明装置を提供する。例文帳に追加

To provide a small and low-cost illuminating equipment which efficiently illuminates a board mark of different characteristics for precision positioning the board mark. - 特許庁

理由はマーク部の積層構造による線幅の変化、マーク部の反射の違いによる明暗の変化が発生するからである。例文帳に追加

This is caused by the change of the line thickness due to the lamination structure of a part and is also caused by the change of brightness due to the variation in the reflectivity of the mark. - 特許庁

ウォータマークが付されているマテリアルアイテムを高い確で特定でき、見逃し確を下げる。例文帳に追加

To specify a watermarked material item with high probability and to lower the probability of missing. - 特許庁

ロール紙Pには終端から一定長さであることを示す終端マークが付されていて、該終端マークを読み取る終端マーク読み取りセンサとしての反射センサ44がロール紙カセット1に設けられている。例文帳に追加

An end mark indicative of a position having a predetermined length from an end edge of a roll paper P is provided to the roll paper P and a reflectance sensor 44, as an end mark reading sensor for reading the end mark is provided to a roll paper cassette 1. - 特許庁

レチクルステージ4上に、アライメント光に対して最適な透過を有する基板で構成されたレチクルステージ基準マーク3を設け、レチクルステージ基準マーク3とウエハアライメントマーク9との相対位置検出を行う。例文帳に追加

To enable an accurate alignment detecting optical system to be constituted by preventing decrease in the light quantity of an alignment signal. - 特許庁

次に図(b)に示す倍補正処理を施された補正参照画像14’の第1マーク12に対する第2マーク13の方位であるマーク方位が比較画像15のマーク方位と略等しくなるように、補正参照画像14’に回転補正処理を施す。例文帳に追加

Then, a rotation correcting process is applied to a corrected reference image 14' so that a mark azimuth being the azimuth of the second mark 13 to the first mark 12 of the corrected reference image 14' by the scale factor correcting process shown in Figure (b) becomes approximately the same as a mark azimuth of the comparison image 15. - 特許庁

記録媒体1の記録マーク5部分と記録マーク5以外のフィールド部分6との近接場光の結合効に明確な差を持たせ、記録マーク5とフィールド部分6を明確に区別させ、記録マーク5を高精度に検出する。例文帳に追加

The difference between coupling efficiencies of near field light of a part of a recording mark 5 and a field part 6 except the recording mark 5 are made clear and the recording mark 5 and the field part 6 are made to be clearly discriminated from each other to highly accurately detect the recording mark 5. - 特許庁

内視鏡装置の補正部において、まず図(a)に示す参照画像14における第1マーク12と第2マーク13間の距離であるマーク間距離が、比較画像15におけるマーク間距離と等しくなるように参照画像14に倍補正処理を施す。例文帳に追加

At a correction unit of this endoscope apparatus, a scale factor correcting process is applied to a reference image 14 so that an inter-mark distance being a distance between a first mark 12 and a second mark 13 in the reference image 14 shown in Figure (a) becomes equal to an inter-mark distance in a comparison image 15. - 特許庁

マークが設けられた被加工物のセット状態がラフであったとしても、その被加工物とカメラとの相対位置を順次変更しながら効的に上記マークを検出することのできる被加工物のマーク検出装置,マーク検出方法,及びその方法を実行させるための記憶媒体の提供。例文帳に追加

To provide a device and method for detecting the mark of a material to be worked capable of efficiently detecting the mark of the material to be worked while successively changing the relative position of the material to be worked and a camera even when the set state of the marked material to be worked is rough. - 特許庁

ハーフミラー415により、低倍撮像系及び高倍撮像系により同時にアライメントマークが撮像され、得られた低倍画像と高倍画像のそれぞれに基づいてアライメントマークの位置が算出される。例文帳に追加

By a half mirror 415, an alignment mark is imaged simultaneously by the low- and high- magnification imaging systems, and the position of the alignment mark is calculated based on each of obtained low- and high-magnification images. - 特許庁

この薄膜磁気ヘッド10はさらに、コイル18と同一平面内に一対の第1の曲半径管理マーク34aと、第1の曲半径管理マーク34aの外側に位置する一対の第2の曲半径管理マーク34bを備えてもよい。例文帳に追加

This thin-film magnetic head 10 can be provided with a pair of first curvature radius control marks 34a in the same plane as that of the coil 18, and a pair of second curvature radius control marks 34b positioned outside the first curvature radius control marks 34a. - 特許庁

マークグラフ確論的ペトリネットを解く上での状態爆発と計算複雑性の問題例文帳に追加

problem of state explosion and computational complexity in solving marked graph Stochastic Petri Nets (SPNs)  - コンピューター用語辞典

マークアップ記号とテキスト部分とが混在する文書の編集の効化を図る。例文帳に追加

To improve efficiency of editing of a document wherein a markup symbol and a text portion are mixed. - 特許庁

強度比較器105は、X/(X−Y)という演算をして、光信号120のマーク率を求める。例文帳に追加

An intensity comparator 105 performs an arithmetic operation of X/(X-Y) to obtain the mark rate of the optical signal 120. - 特許庁

マークアップ言語を効的に符号化及び復号するシステムと方法を提供する。例文帳に追加

To provide a system and a method for encoding and decoding efficiently a markup language. - 特許庁

アライメントマークの画像認識を高い確で成功させて、露光処理の中断を少なくする。例文帳に追加

To reduce interruptions in an exposure process by successfully recognizing an image of an alignment mark with high probability. - 特許庁

マークの位置や濃度の判定を効良く行うことが可能な画像形成装置を提供する。例文帳に追加

To provide an image forming apparatus capable of efficiently determining a position or a density of a mark. - 特許庁

反射マーク8は周囲の有効画素領域7よりも反射が高い。例文帳に追加

Each of the reflective marks 8 has a reflectivity higher than that of the surrounding effective pixel region 7. - 特許庁

光信号のマーク率、即ち、光信号の全送信時間の中で「1」の占める割合を測定する。例文帳に追加

To measure a mark rate, i.e. a ratio occupied by "1" in all the transmission time of an optical signal. - 特許庁

キャリヤプレートに設けたマークを素早く検出し、加工効を向上させること。例文帳に追加

To quickly detect a mark provided on a carrier plate to improve the working efficiency. - 特許庁

マーク率が変動しても発光強度が変動しないレーザ駆動回路を提供すること。例文帳に追加

To provide a driving circuit of laser in which emission intensity is not varied even if the mark rate is varied. - 特許庁

マーク率が実使用(1/2) に近い状態での時間応答の測定を実現する。例文帳に追加

To realize measurement of time response in such a condition that the rate of mark is close to that (i.e., 1/2) in actual mode. - 特許庁

ステップ4:ステップ2で求めたマークの確分布における特徴のある位置を求める。例文帳に追加

Step 4: Characteristic position in the probability distribution of the marks obtained in the step 2 is obtained. - 特許庁

各チップの個別識別マークを効良く与える半導体ウエハへのマーキング。例文帳に追加

To provide a method for marking a semiconductor wafer in which each chip is marked by discrete distinguishing mark efficiently. - 特許庁

抽選結果が高確マークの場合には、可変表示装置3の高確レベル表示領域に高確マークが1個増加するように表示して処理を終了する(Sb10)。例文帳に追加

If the result of the lottery is the high-probability mark, one high-probability mark is added to the display in a high-probability level display area of a variable display device 3 to terminate the process (Sb10). - 特許庁

低確マークが当選した場合には、可変表示装置の低確レベル表示領域に低確マークが1個増加するように表示して処理を終了する(Sb11)。例文帳に追加

If the result of the lottery is the low-probability mark, one low-probability mark is added to the display in a low-probability level display area of the variable display device to terminate the process (Sb11). - 特許庁

センサマーク300は、剥離紙302の裏面に上で、カストリ部304の背面を避けて印刷されているので、センサマーク305の裏側の厚みが部分的に異なり、センサマーク305の部分の光の反射及び透過が不均一となることを防止できる。例文帳に追加

Sensor marks 300 are printed on the rear surface of the release paper 302 except rear surfaces of the scum removal parts 304, so that the reflectivity and transmittance of light in parts of sensor marks 305 are prevented from being made non-uniform due to a partial difference in the thickness of the rear side of sensor marks 305. - 特許庁

特定の波長は、マークによる反射の最も高い波長又はマーク上に形成された透明層の透過が最も高い波長とすることができる。例文帳に追加

The specific wavelength may be wavelength having the highest reflectivity by the marks or the highest transmissivity of the transparent layer formed on the marks. - 特許庁

ダイヤモンドを用いた識別マークであって、該ダイヤモンドが炭素の同位体の含有比を天然同位体比と異なる値に制御してなるダイヤモンドであることを特徴とするダイヤモンドを用いた識別マーク例文帳に追加

In an ID mark using diamond, the diamond is controlled so that the content ratio of isotopes of carbon in the diamond is different from the ratio of natural isotopes. - 特許庁

第1の領域が受光面の前に位置するとき、第1アライメントマークの結像位置に対応する領域の透過と、第2アライメントマークの結像位置に対応する領域の透過とが異なる。例文帳に追加

While the first region is positioned in front of the light receiving plane, the transmissivity of a region corresponding to the image-forming position of the first alignment mark is different from the transmissivity of a region corresponding to the image-forming position of the second alignment mark. - 特許庁

例文

搬送ベルト3には基準色の倍補正用マークが形成され、このマークを発光部15、受光部17等で読み取り、CPU25、ROM27を利用して倍調整を行う。例文帳に追加

A mark for correcting the magnification of the reference color is formed on the carrying belt, read by a light emitting part 15, and a light receiving part 17, etc., and the magnification is adjusted by utilizing a CPU 25 and a ROM 27. - 特許庁

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