1016万例文収録!

「下半」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索


小窓モード

プレミアム

ログイン
設定

設定


セーフサーチ:オフ

不適切な検索結果を除外する

不適切な検索結果を除外しない

セーフサーチについて

下半の部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 15560



例文

金属合金部品の少なくともひとつの形状を形成するように互いに組み合わせすることができる下半型及び上型と、溶融金属を前記下半型内に供給する装置とを包含する。例文帳に追加

The machine comprises a lower half-mold and an upper half-mold that can be coupled with each other so as to form the shape of at least one of the metal alloy components, and a device for supplying the molten alloy in the lower half-mold. - 特許庁

側部分は、楕円形状、部分楕円形状、又は部分円形状を有し、上側部分は、側部分に連結された一対の直線壁を有する。例文帳に追加

The lower part has a semiellipsoidal shape, a partially semiellipsoidal shape or a partially semicircle shape, and the upper part has a pair of linear walls connected to the lower part. - 特許庁

導体製造装置のセットアップ時間を削減し、設備稼働率の低、スループットの低を防止することができる導体製造装置および導体装置の製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide semiconductor manufacturing equipment that can reduce a setup time and can prevent a capacity utilization rate from being declined and a throughput from being deteriorated. - 特許庁

リードフレームの上両面に導体チップを搭載するにあたって、上面の導体チップとリードフレームとの間および導体チップ間を良好に接続する。例文帳に追加

To excellently connect semiconductor chips on an upper and a lower surface of a lead frame to the lead frame and to each other when the semiconductor chips are mounted on both upper and lower surfaces of the lead frame. - 特許庁

例文

基板1’の第一箇所P1が田供給装置4に支持された田ワイヤ2の真で停止した状態で、田ワイヤ2を真に等速で繰り出し、ワイヤ先端を第一箇所P1に当接させて溶融させる。例文帳に追加

While a first point P1 of a substrate 1' is stopped just below a solder wire 2 supported by a solder supply unit 4, the solder wire 2 is let out down below at a constant speed so that the end of the wire is brought in contact and melted with the first point P1. - 特許庁


例文

前記低速度で塗布ノズル40が降すると共に糸田36を繰り出して、塗布ノズル40が最限の田塗布高さ位置に到達して、ワーク3上に糸田36を溶融しながら塗布する。例文帳に追加

The applying nozzle 40 is lowered at low speed and also the wire solder 36 is fed and, after the applying nozzle 40 arrives at the lowermost limit solder applying height position, the wire solder 36 is applied to the workpiece 3 while being melted. - 特許庁

導体発光素子10を構成する地層2を、X線ロッキングカーブにおける値幅が90秒以の高結晶Al含有窒化物導体から構成する。例文帳に追加

A base layer 2 which constitutes the semiconductor light-emitting device 10 is formed of a highly crystalline Al-containing nitride semiconductor, having a half-value width of 90 sec. or smaller for the X-ray locking curve. - 特許庁

このため、起床状態での利用者Aの上身A1の体重が下半身マットレス4の端部4aから離れた位置に作用し、下半身マットレス4における前記体重の支持面積が大きくなる。例文帳に追加

The weight of the upper half body A1 of the user A in the rising state, therefore, acts on the position apart from the end 4a of the lower half body mattress 4 and the supporting area of the weight at the lower half body mattress 4 increases. - 特許庁

導体素子を複数に形成した導体基板を導体素子ごとに分割して個々の導体装置を形成する際の分割の品質を低させることなく、加工タクトを向上させる。例文帳に追加

To improve a processing cycle time without lowering quality of division when a semiconductor substrate having a plurality of semiconductor elements formed is divided by semiconductor element to form individual semiconductor devices. - 特許庁

例文

有機導体層の移動度を低させることなく、容易に有機導体層をパターニングした有機導体素子を得ることができる有機導体素子の製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a manufacturing method of an organic semiconductor element capable of obtaining an organic semiconductor element having an easily patterned organic semiconductor layer without decreasing a mobility of the organic semiconductor layer. - 特許庁

例文

導体レーザ素子1は、正方形状に壁開された導体層2と、導体層2の上面2aに形成された電極3と、導体層2の面2bに形成された電極4とを備える。例文帳に追加

The semiconductor laser device 1 includes a semiconductor layer 2 cleaved into square shapes, an electrode 3 formed on the upper surface 2a of the semiconductor layer 2, and an electrode 4 formed on the lower surface 2b of the semiconductor layer 2. - 特許庁

記一般式(1)に示す有機導体材料であり、この導体材料からなる導体薄膜を備えた有機薄膜トランジスタ(導体装置)である。例文帳に追加

The organic thin film transistor (the semicnductor device) is the organic semiconductor material shown in the equation (1), and has a semiconductor thin film comprising a semiconductor material. - 特許庁

上側の導体チップの外形サイズが側の導体チップよりも大きいCOC構造であっても、導体チップとリードフレームとの間を効果的に接続可能な導体装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device where semiconductor chips can be effectively connected to a lead frame even if the semiconductor device has a COC structure composed of an upper semiconductor chip and a lower semiconductor chip smaller than the upper semiconductor chip in external size. - 特許庁

III族窒化物導体基板形成用基板1は、III族窒化物導体膜13上に、III族窒化物導体層を成長させ、地基板11を除去し、III族窒化物導体基板を得るために使用されるものである。例文帳に追加

The substrate 1 for forming a group III nitride semiconductor substrate is to be used for obtaining a group III nitride semiconductor substrate by growing a group III nitride semiconductor layer on the group III nitride semiconductor film 13 and removing the base substrate 11. - 特許庁

本発明は、上記導体装置用接着剤により、導体素子がプラスチックフィルム上に接着されており、かつ接着される導体素子の厚さが50μm以である導体装置も含む。例文帳に追加

A semiconductor device in which a semiconductor element is bonded onto a plastic film with the adhesive for the semiconductor device and the thickness of the semiconductor element to be bonded is50 μm is also included. - 特許庁

本発明は、有機導体層の移動度を低させることなく、容易に有機導体層をパターニングした有機導体素子を得ることができる有機導体素子の製造方法を提供することを主目的とする。例文帳に追加

To provide a manufacturing method of an organic semiconductor element capable of manufacturing an organic semiconductor element in which an organic semiconductor layer is patterned easily without lowering the mobility thereof. - 特許庁

導体原料を液相において結晶成長させて導体超微粒子を製造するにあたり、導体結晶を成長させる過程を遮光条件で行う導体超微粒子の製造方法。例文帳に追加

When the semiconductor superfine particles are produced by subjecting a semiconductor raw material to crystal growth in a liquid phase, the process for growing semiconductor crystallites is carried out under light- shielding conditions. - 特許庁

導体基板表層の酸素濃度低を抑制しつつ、導体基板表層のCOPを低減させることによって、導体デバイスの高歩留まりを実現する導体基板の製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a manufacturing method of a semiconductor substrate achieving a high yield in a semiconductor device by suppressing a decrease in the oxygen concentration of a semiconductor substrate surface layer and reducing a COP in the semiconductor substrate surface layer. - 特許庁

導体層の上面を含む導体層内の領域のうち、絶縁層の端部の側の領域に、第1導体領域が形成されている。例文帳に追加

Among regions in the semiconductor layer including a top face of the semiconductor layer, a first semiconductor region is formed in a region below an end part of the semi-insulating layer. - 特許庁

多孔質支持体の表面をポリアミド薄膜で被覆した複合透膜において、該複合透膜から抽出される陰イオン界面活性剤の量が、複合透膜重量1k g 当たり9g 以である複合透膜。例文帳に追加

In the composite diaphragm with the surface of a porous support coated with polyamide membrane, the amount of an anion surfactant extracted from the diaphragm is 9 g or less per 1 kg weight of the composite diaphragm. - 特許庁

導体層の上面を含む導体層内の領域のうち、絶縁層の側の少なくとも一部の領域に、第2導体領域が形成されている。例文帳に追加

Among the regions in the semiconductor layer including the top face of the semiconductor layer, a second semiconductor region is formed in at least a part of a region below the semi-insulating layer. - 特許庁

有機導体膜の特性の低を好適に防止し得る有機導体装置を製造する有機導体装置の製造方法、信頼性の高い有機導体装置および電子機器を提供すること。例文帳に追加

To provide a method for manufacturing an organic semiconductor device, an organic semiconductor device and an electronic apparatus, all of which can substantially prevent degradation of properties of an organic semiconductor film. - 特許庁

導体装置の地金属膜5の上に田バンプ6を形成する工程と、カルボン酸を含み且つ減圧された雰囲気A中に導体装置及び田バンプ6を配置して加熱する工程とを含む。例文帳に追加

This method of manufacturing a semiconductor device comprises a process of forming the solder bumps 6 on a base metal film 5 of a semiconductor device, and a process of heating the semiconductor device and solder bumps 6 in a decompressed atmosphere A containing a carboxylic acid. - 特許庁

田付け装置8内の温度を上昇させることによって、田6を溶融し、その後に田付け装置8内の温度を低させて、接合面2a、4aを田付けする。例文帳に追加

The solder 6 is melted by raising the temperature in the soldering device 8, and the soldering surfaces 2a and 4a are soldered to each other by lowering the temperature in the soldering device 8. - 特許庁

導体装置10Aは、導体基板11と、導体基板11の側面を被覆する第1被覆層21と、導体基板11の面に形成された配線14等を具備している。例文帳に追加

The semiconductor device 10A comprises: a semiconductor substrate 11, a first covering layer 21 for covering the side of the semiconductor substrate 11, wiring 14, or the like formed on the lower surface of the semiconductor substrate 11. - 特許庁

この底刃16の円弧の径r1は、刃部12の径r2に対して、その径r2を越え、径r2の10倍以の範囲内における値に設定される。例文帳に追加

The radius r1 of a circular arc of the end cutting edge 16 is set to a value exceeding a radius r2 within a range 10 times or less the radius r2 relative to the radius r2 of the edge part 12. - 特許庁

絶縁性基板上に地絶縁層を介して導体層が形成された導体装置において、絶縁性基板に含まれている不純物が導体層に作用するのを防止して、導体装置の信頼性を向上させる。例文帳に追加

To improve the reliability of a semiconductor device in which a semiconductor layer is formed through a base insulating layer on an insulating substrate by preventing impurities contained in the insulating substrate from acting on the semiconductor layer. - 特許庁

導体装置の歩留りの低を抑制することが可能な導体基板洗浄装置、導体基板洗浄方法および導体装置の製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a device and method for cleaning a semiconductor substrate and a method for manufacturing the semiconductor substrate capable of restricting a reduction in a production yield of the semiconductor substrate. - 特許庁

セルフアライメント性の低による田付け不良を防止することができる田ペーストおよびこの田ペーストを用いた田付け方法を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a solder paste with which a soldering defect due to the degradation in self-alignment property is prevented and a soldering method using the solder paste. - 特許庁

歩留りや稼働率を低させることなく、導体チップを封止する封止樹脂の導体チップ周辺に存在する気泡の除去を可能とする導体装置の製造方法及び導体装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method for manufacturing a semiconductor device, enabling removing bubbles caused in the vicinity of a semiconductor chip by a sealing resin for sealing the semiconductor chip without causing deterioration in yield and operation rate, and to provide a semiconductor device. - 特許庁

本発明の導体装置の製造方法では、田クリーム28Aを介して導体素子12Aをアイランド14の面に配置し、このままの状態でリフロー工程を行い、田クリーム28Aを溶融させている。例文帳に追加

In the method of manufacturing the semiconductor device, a semiconductor element 12A is disposed on a lower face of an island 14 through a solder cream 28A to carry out a reflow step in this state to melt the solder cream 28A. - 特許庁

配線基板の面に、田ボールが接続されるボール用ランドと田ボールが接続されないテスト用ランドとが設けられた導体装置(導体パッケージ)のテスト精度を向上させる。例文帳に追加

To improve the accuracy of test of a semiconductor device (semiconductor package) in which a land for ball to be connected with a solder ball and a land for test not connected with a solder ball are provided on the undersurface of a wiring board. - 特許庁

導体製造工程において導体基板を保持するサセプタにおいて、処理装置内への収納時等における導体基板の落を防止し、導体基板のバッチ処理枚数を増加させ、処理効率の向上を図る例文帳に追加

To prevent a semiconductor substrate from dropping when it is received in a processing unit, to increase the number of semiconductor substrates to be processed in a batch, and to improve processing efficiency in a susceptor for holding the semiconductor substrates in a semiconductor manufacturing process. - 特許庁

導体ウエハ上に形成される接着剤層の性能低が抑えられる導体ウエハのバックグラインド方法、導体ウエハのダイシング方法、及び導体チップの実装方法を提供する。例文帳に追加

To provide a back grinding method of a semiconductor wafer, a dicing method of the semiconductor wafer, and a method of mounting a semiconductor chip, which prevent the degradation of performance of an adhesive layer formed on a semiconductor wafer. - 特許庁

そして、噴流ノズル1、2の間には田流れ案内板4、5が溶融田Sの田面Fより上の溶融田が落する点に設けられている。例文帳に追加

Between the jet nozzles 1 and 2, solder flow guide plates 4 and 5 are installed at a point where molten solder above the solder surface F of the molten solder S falls. - 特許庁

GaN系導体等の窒化物系導体からなる導体素子層からGaN基板等の基板を良好に分離することにより、歩留まりの低を抑制した窒化物系導体素子の製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a manufacturing method of a nitride-based semiconductor element for suppressing the decline of a yield by excellently separating a substrate such as a GaN substrate from a semiconductor element layer composed of a nitride-based semiconductor such as a GaN-based semiconductor. - 特許庁

接着材層の性能低を招かない、導体ウェハのバックグラインド工程、導体ウェハのダイシング工程、導体チップのフリップチップ実装に適した導体ウェハの加工用テープを提供する。例文帳に追加

To provide a processing tape for a semiconductor wafer which tape does not cause a drop in the performance of an adhesive layer and is fit for a semiconductor wafer back grinding process, a semiconductor wafer dicing process, and a semiconductor chip flip-flop mounting. - 特許庁

導体装置10は、導体基板11と、導体基板11の上面(第2主面)に搭載されたヒートシンク(放熱体)と、導体基板11の面(第1主面)に形成された配線14等を具備している。例文帳に追加

The semiconductor device 10 comprises: a semiconductor substrate 11, a heat sink (radiator) mounted on the upper surface (second main surface) of the semiconductor substrate 11, and wiring 14 or the like formed on the lower surface (first main surface) of the semiconductor substrate 11. - 特許庁

導体装置であって、導体基板12と、導体基板12の上面に形成されている第1電極30と、導体基板の面に形成されている第2電極32とを有する。例文帳に追加

The semiconductor device includes a semiconductor base 12, a first electrode 30 formed on an upper surface of the semiconductor base 12, and a second electrode 32 formed on a lower surface of the semiconductor base. - 特許庁

導体装置の特性の低を抑えて低コストで製造することが可能な導電性ペースト、導体装置用電極、導体装置および導体装置の製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide: conductive paste capable of being manufactured at low cost with degradation of characteristics of a semiconductor device restrained; an electrode for a semiconductor device; a semiconductor device; and a method of manufacturing a semiconductor device. - 特許庁

導体層を構成する化合物導体と異なる材料からなる基板とこの上に成膜されたIII族化合物導体層を有し、発光波長の波長分布σが5nm以の化合物導体ウェーハを提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor wafer which includes a substrate made of a material different from a compound semiconductor forming a semiconductor layer and a group III compound semiconductor layer formed thereupon, and has an emission light wavelength distribution σ of ≤5 nm. - 特許庁

複数の導体チップを積層した導体装置(システムインパッケージ)において、段側の導体チップの配線端子を露出させるために上段側の導体チップのチップサイズが制約される。例文帳に追加

To solve a problem that the chip size of a semiconductor chip arranged on the upper side is restricted in order to expose a wiring terminal of a semiconductor chip arranged on the lower side in a semiconductor device (System in Package) obtained by laminating a plurality of semiconductor chips. - 特許庁

位置決めステージ4にて実装基板2上の電極位置を導体デバイス1の田バンプに位置決めし、搭載ノズル5を降させて導体デバイス1の田バンプを実装基板2に接触させる。例文帳に追加

Positions of electrodes of the mounting board 2 are determined so as to align with solder bumps of the semiconductor device 1 by a positioning stage 4, and solder bumps of the semiconductor device 1 are brought into contact with the mounting board 2 by letting down the loading nozzle 5. - 特許庁

読出ゲート部ROGの部に導体領域EPCR_2を設け、導体領域EPCR_1に繋げて、導体領域EPCR_1と導体領域EPCR_2とでオーバーフローバリア領域OFBの全周囲を取り囲むようにする。例文帳に追加

A semiconductor area EPCR_2 is provided at a lower part of a reading gate part ROG and connected to the semiconductor area EPCR_1 so that the semiconductor area EPCR_1 and the semiconductor area EPCR_2 can surround the entire fringe of the overflow barrier area OFB. - 特許庁

透明絶縁性基板1の裏面には、n型導体層5、活性層6、p型導体層7が方向に向かって順に積層され、n型導体層5〜p型導体層7までで、LEDを構成している。例文帳に追加

An n-type semiconductor layer 5, an active layer 6, and a p-type semiconductor layer 7 are stacked downward in this order on a back surface of the transparent insulating substrate 1 and form an LED. - 特許庁

主コイル111及び112の径はシールドコイル131及び132の径に比し同等以であり、補助コイル141及び142の径はシールドコイル131及び132の径に比し小さい。例文帳に追加

The radii of the main coils 111 and 112 are equal to or less than those of the shield coils 131 and 132, and the radii of auxiliary coils 141 and 142 are smaller than those of the shield coils 131 and 132. - 特許庁

ランド部3と電子部品6のピン5を田付け接合した後、田ごて1が次のランド部3に移動する間に田ごて1の部に付着している溶融田2Aを導電部10に流出させて取り除く。例文帳に追加

After the land part 3 is soldered to a pin 5 of an electronic part 6 for joint, a molten solder 2A sticking to the lower part of the soldering iron 1 is made to flow to the conductive part 10 for removal while the soldering iron 1 moves to the next land part 3. - 特許庁

導体装置の第3の導体領域(23)は、第2の導体領域(22)の外側面(22b)と第1の導体領域(21)の外側面(21a)を包囲して方に延伸する外縁領域(23a)を有する。例文帳に追加

The third semiconductor region (23) of the semiconductor device has an outer edge region (23a) extending downwards in such a manner that it encircles the outer side (22b) of a second semiconductor region (22), and the outer side (21a) of a first semiconductor region (21). - 特許庁

面内位相差値が100nm以上170nm以である透明高分子フィルムに金属薄膜からなる透過反射層が積層されてなることを特徴とする透過反射性位相差素子。例文帳に追加

A semitransmission semireflection type phase difference element is produced by laminating a semitransmission semireflection layer made of a metal thin film on a transparent polymer film having100 nm and ≤170 nm in-plane phase difference. - 特許庁

例文

セラミックス配線基板上に導体素子等を田層を介して接合搭載するにあたって、田層中に大きなSn合金粒の発生を抑制することによって、導体素子の接合強度の低等を防止する。例文帳に追加

To prevent deterioration or weakening in the bonding strength of a semiconductor element by reducing generation of the large-sized Sn alloy particle in a soldering layer in bonding and mounting the semiconductor or other elements on a ceramics wiring board through the use of a soldering layer. - 特許庁

索引トップ用語の索引



  
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する
英→日 日→英
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する

©2024 GRAS Group, Inc.RSS