「基準試料」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

試料４の表面にＸ，Ｙ方向の基準となる端部を有した基準部材１８を設ける。例文帳に追加

A reference member 18 having ends to serve as reference in the X- and the Y-direction is installed on the surface of a specimen 4. - 特許庁

重み係数設定フェーズでは、無蛍光基準試料及び蛍光基準試料に環境光４を照明し、両試料放射光の分光分布Ｅｗｅ、Ｅｒｅを取得し、蛍光基準試料３の基準全分光放射率係数Ｂｒｅ（λ）を求める。例文帳に追加

In a weight coefficient setting phase, a non-fluorescent reference sample and a fluorescent reference sample are illuminated by ambient light 4 to acquire spectral distributions Ewe and Ere of light emitted from both samples, and a reference total spectral emissivity coefficient Bre(λ) of the fluorescent reference sample 3 is obtained. - 特許庁

光量検出部Ｓは、光触媒機能を評価する際の基準となる試料のための基準試料用検出部２０と、光触媒機能が評価される試料のための評価試料用検出部２１とから構成されている。例文帳に追加

The quantity-of-light detection sections S comprises a detection section 20 for reference samples for a sample that becomes a reference when evaluating photocatalyst functions; and a detection section 21 for evaluating samples for the sample whose photocatalyst functions are evaluated. - 特許庁

本発明は、測定試料に応じた基準値を選択するに当たって特に測定試料に記録媒体を取り付けておく必要がなく、測定試料に応じた基準を自動的に選択することができる光沢測定装置を提供する。例文帳に追加

To provide a gloss measuring apparatus capable of automatically selecting a reference corresponding to a measurement sample without particularly attaching a recording medium to the measurement sample when selecting a reference value corresponding to the measurement sample. - 特許庁

電子ビームＥＢを偏向することによって基準部材１８のＸ，Ｙ方向の基準端部を検出し、基準端部を基準として電子ビームを偏向し、基準端部から所定の距離の試料部の信号を検出しながら、試料の所定領域の像信号を取得する。例文帳に追加

The reference ends in X- and Y-directions of this member 18 are sensed by deflecting an electron beam EB, and the electron beam is deflected by reference to the determined ends, and image signals for the specified region on the specimen are produced while the signals for the specimen part at a certain distance from the reference ends are sensed. - 特許庁

この種のものとしては、表面の硬い基準試料を用いたものが公知であるが、基準試料と光線ガイドとの間で良好な光線の伝達ができず、正確な測定基準が得られないという欠点があった。例文帳に追加

The existing light standards used hard materials. Standards produced of such a material has a weakness in that not all light transmitted by the light guide reached the standard, and often failed to standardize the light intensity measuring equipment.  - 特許庁

その測定キュベットにおいては、試料スペクトルI(λ)を得るための少なくとも１つの試料測定に加え、基準スペクトルI_0(λ)を得るための少なくとも１つの基準測定が基準液体を用いて実施される。例文帳に追加

In the measurement cuvette, at least one reference measurement for acquiring a reference spectrum I_0(λ) is executed by using a reference liquid in addition to at least one specimen measurement for acquiring a specimen spectrum I(λ). - 特許庁

一対の穴４３のそれぞれに、測定試料２２を収容した試料容器２４、および基準物質２３を収容した試料容器２４を挿入することによって、感熱板１６上の所定位置にそれらの試料容器２４を載置する。例文帳に追加

The sample container 24 which houses a measuring sample 22 and the sample container 24 which houses a reference substance 23 are respectively inserted in a pair of the holes 43 to be placed on the heat-sensitive plate 16 at a predetermined position. - 特許庁

人体から試料又はデータを収集する方法、人体から収集された試料又はデータを用いて基準と比較するなどの分析を行う方法。例文帳に追加

Methods of extracting samples and data from the human body, or methods of analysing, e.g., comparing such samples and data with standards.  - 特許庁

基準信号検出時には、校正ガスを、校正ガス導入管２３から試料本管４内の試料ガス圧よりも高い圧力で供給する。例文帳に追加

At the reference signal detection time, the calibration gas is supplied from the calibration gas introduction pipe 23 at the higher pressure than the sample gas pressure in the sample main pipe 4. - 特許庁

（Ａ）試料に前記基準励起波長の紫外線を照射して、試料からの蛍光波長を分析する過程。例文帳に追加

The excitation wavelength when the fluorescence intensity is at its peak is defined as a reference excitation wavelength, and the fluorescence wavelength when the fluorescence intensity is at its peak is defined as a reference fluorescence wavelength. - 特許庁

これにより試料層に基準粉体が直接落下して衝突することがないので、試料層の機械的なダメージを低減できる。例文帳に追加

Therefore, the reference powders do not drop and impinge directly on the sample layer, and thereby minimizing the mechanical damages of the sample layer. - 特許庁

第一の流体路５中の試料を被測定物（サンプル液）とし、第二の流体路６中の試料を基準物（リファレンス液）とする。例文帳に追加

The sample in the first fluid channel 5 is set as a measuring target (sample liquid) and the sample in the second fluid channel 6 is set as a reference article (reference liquid). - 特許庁

試料交換を行った際は、受光器７の応答を観察しながら基準位置を再現するように試料３等の姿勢を補正する。例文帳に追加

When the sample is exchanged, posture of the sample 3 or the like is corrected so as to reproduce the reference position, while observing responses of the light receiver 7. - 特許庁

また、前記吸光分析計を用いた試料流体測定装置であっては、前記基準流体が試料を精製した流体とすることが好適である。例文帳に追加

In the sample fluid measuring apparatus using the absorption spectrometer, it is preferable to use a fluid acquired by purifying the sample as the reference fluid. - 特許庁

解析対象試料の各タンパク質を、基準試料と比較して、各タンパク質の量的変化を入力する(入力ステップ）。例文帳に追加

Each protein of an analyzed sample is compared with a reference sample and the quantitative alternation of each protein is inputted (input step). - 特許庁

試料を検査し又は試料の物理量を測定する光学装置の焦点及びオートフォーカス機構の焦点を基準系に整合させる。例文帳に追加

The focus of the optical device for inspecting a sample or measuring the physical quantity of the sample and the focus of an autofocus mechanism are matched with the reference system. - 特許庁

水平部材１０ａ，１０ｂの先端部に測定試料又は基準物質を載置するための試料及び基準物質載置部１２ａ，１２ｂが設けられており、試料及び基準物質載置部１２ａ，１２ｂよりも基端側に錘載置部１４ａ，１４ｂが設けられている。例文帳に追加

Sample and standard substance mount portions 12a, 12b are provided for mounting measuring samples or standard substances on the top ends of the horizontal members 10a, 10b, and then dead weight mount portions 14a, 14b are provided in the places nearer to the base end sides than the sample and standard substance mount portions 12a, 12b. - 特許庁

記録した値を試料中に存在する亜ジチオン酸塩の量の基準とする。例文帳に追加

The recorded value is set as the standard quantity of the dithionite existing in the sample. - 特許庁

基準ガスと試料ガスの水蒸気量が異なることに起因する誤差をなくす。例文帳に追加

To eliminate errors caused by a difference in the amounts of water vapor in reference gas and sample gas. - 特許庁

ナノメーター標準原器としての標準試料は、比較の基準となる標準長さを有している。例文帳に追加

A standard sample as the nanometer standard has a standard length being a reference for comparison. - 特許庁

標準試料１４は定性・定量測定時の基準として用いられる。例文帳に追加

A standard sample 14 is used as a reference in a quantitative and a qualitative measurement. - 特許庁

回転式ミラー装置（５）及び基準試料は、閉鎖ハウジング（１３）内に配置されている。例文帳に追加

The rotary mirror device (5) and a reference sample are arranged in an enclosed housing (13). - 特許庁

シート状試料の反射特性測定装置の校正方法及び校正に用いられる校正基準板例文帳に追加

CALIBRATING METHOD OF MEASURING APPARATUS OF REFLECTION CHARACTERISTIC OF SHEET-LIKE SPECIMEN, AND CALIBRATION STANDARD PLATE USED FOR CALIBRATION - 特許庁

採取した未固結試料が「土塊の状態Ｂ」「基準比重Ｃ」「基準固化強度Ｄ」を満たした場合に、前記条件で本施工を行う。例文帳に追加

When the collected unconsolidated sample satisfies a "clod state B", "reference specific gravity C" and "reference solidification strength D", the main construction is performed under the conditions. - 特許庁

検査対象物ＯＢの画像読取に先立って、基準線を有する補正用基準試料を準備し、その基準線が副走査方向Ｙと略平行となるように補正用基準試料をテーブル１上に保持するとともに、画像読取装置により補正用基準試料を読取って補正用画像を得る。例文帳に追加

Prior to a read of an image of an object OB to be inspected, a reference sample for correction which has a reference line is prepared and held on the table 1 so that the reference line is almost parallel to a vertical scanning direction Y, and the reference sample for correction is read by an image reader to obtain an image for correction. - 特許庁

計算機１３は、あらかじめ明るさの基準となるデータ、及び色合いの基準となるデータ、位置の基準となるデータをメモリに格納し、顕微鏡１のステージに基準試料をセットする。例文帳に追加

A computer 13 stores data being the reference of the brightness, data being the reference of the color tone and data being the reference of a position to a memory in advance, and sets a reference specimen to the stage of the microscope 1. - 特許庁

酸化分解された基準試料水は、測定セル８に移送され、吸光度測定部９で波長２２０ｎｍの基準試料水の硝酸イオンの吸光度が測定される。例文帳に追加

The oxidized and decomposed reference sample water is transferred to a measuring cell 8, and the absorbance of nitrate ion of the reference sample water of wavelength of 220 nm is measured by an absorbance measuring part 9. - 特許庁

試料容器１１に試料が入れられ、基準側の材料容器に基準となる材料が入れられ、液体収納筒１４に液体が注入された状態で電源がＯＮされる。例文帳に追加

The sample is put in a sample container 11 while a reference material is put in a material container on a reference side and a power supply is turned on in a state that a liquid is injected in a liquid housing cylinder 14. - 特許庁

基準試料ＷＰの表面に、複数（例えば４つ）の同心円からなる図形パターンを形成し、この基準試料ＷＰを電子線でスキャンすることによって得られる電子信号に基づいて画像（スキャン画像）を形成する。例文帳に追加

A figure pattern consisting of a plurality of (e.g. four) concentric circles is formed on a reference sample WP and an image (scanned image) is formed based on an electron signal obtained by scanning the reference sample WP with an electron beam. - 特許庁

本発明の目的は、未知試料中の基準物の識別、並びに該基準物に含まれる不純物の識別及び定量を容易に且つ正確に行える試料識別方法を提供することにある。例文帳に追加

To provide a method for identifying a sample for easily and accurately conducting an identification of a reference material in an unknown sample, as well as an identification and of determination impurities contained in the reference material. - 特許庁

内側面は、基準直線に沿って試料１から検出器１４に向かって、円弧の曲率半径が小さくなるとともに、円弧と基準平面とが交わる円弧交点と、基準直線と円弧含有平面とが交わる基準交点とを結ぶ線分と、基準交点から試料１側の基準直線との成す角が小さくなるよう構成されている。例文帳に追加

The inside surface is constructed so that a curvature radius of an arc may decrease from a sample 1 to a detector 14 along the reference line and an angle formed by a line segment and a reference line from a reference intersection to the sample 1 side may decrease, which connects an arc intersection at which an arc and a reference plane intersect and a reference intersection at which the reference line and a plane including an arc intersect. - 特許庁

従って、試料の非対称性と一致する基準非対称性を有する標準試料の分極の大きさ及び方向を、試料のそれと評価することができる。例文帳に追加

Accordingly, the magnitude and direction of polarization of the standard sample having the reference asymmetry coinciding with the asymmetry of the sample can be evaluated with respect to those of the sample. - 特許庁

次いで、固体試料Ｓに対して垂直方向磁場Ｂを印加し、垂直方向磁場Ｂを基準として固体試料Ｓを回転振動させ、その周期から固体試料Ｓの磁気異方性を導出する。例文帳に追加

Then, a vertical magnetic field B is applied to the solid sample S, the solid sample S is rotated and vibrated with the vertical magnetic field B as a reference, and the magnetic anisotropy in the solid sample S is derived from the period. - 特許庁

試料について、基準画像と試料像のパターンとのマッチングを行って迅速に測長を行うことができる試料像測長方法を提供する。例文帳に追加

To provide a sample image length measurement method by which the length measurement can be quickly performed by performing a matching of a standard image and a pattern of the sample image, with respect to a sample. - 特許庁

試料の傾斜角や高さに依存することなく、精度のよい試料の画像計測が行なえる電子線装置と電子線装置用基準試料を提供する。例文帳に追加

To provide an electron beam system and a datum sample therefor, capable of carrying out a precise image measurement of a sample, without depending on the tilt angle nor the height of the sample. - 特許庁

（請求項１）の技術分野は光度測定装置用の基準試料であり、関連発明（請求項２）の技術分野は測定基準を提供する光度測定装置用基準装置であるが、基準試料と基準装置とは一般的に組み合わせて用いられるものであるから、両発明の技術分野は直接関連性を有し、産業上の利用分野は同一である。例文帳に追加

The technical field of the specified invention (Claim 1) is in the reference material for light intensity measuring equipment. The technical field of the related invention (Claim 2) is the standardization unit to prove measurement standard for light intensity measuring equipment. These two inventions have direct relationship since the combination of standard material and standard-measuring units is generally used, and their industrial fields of application of both inventions are the same.  - 特許庁

モニタ検出器１０５は、試料１１０を照明する光強度を測定し、それを予め測定された基準発光源１０８のレベルと比較する。例文帳に追加

The monitor detector 105 measures light intensity to illuminate the specimen 110, and compares it with the level of a reference light emitting source 108 measured in advance. - 特許庁

測定装置の位置に応じて、その後、試料Ｘ（測定位置）へ、又は、参照基準７（較正位置）へ通過する。例文帳に追加

In accordance with the position of a measurement device, the light passes to a sample X (measurement position) or to a reference criterion 7 (calibration position) thereafter. - 特許庁

投光器１５は、平行光を検査光として入射角θ１で試料１１または基準反射板１３に照射する。例文帳に追加

A projector 15 irradiates the sample 11 or a reference reflecting plate 13 with parallel light as inspection light at an incidence angle θ1. - 特許庁

先ず、基準となる試料をＣＣＤカメラ３を用いて撮影しながら、透過照明５の明るさ及び光学レンズ４の絞りを調整する。例文帳に追加

First, lightness of a transmission illumination 5 and the diaphragm of an optical lens 4 are controlled, while photographing a sample to be a reference by using a CCD camera 3. - 特許庁

これにより、基準となる試料を必要とすること無く、光学検出器の出力値を補正することが可能な表面検査装置を実現することができる。例文帳に追加

Thereby, the surface inspection device for correcting output values of the optical detectors can be achieved without needing a standard sample. - 特許庁

分光結晶１３は、基準直線が試料１と検出器１４とを結ぶ軸に一致するよう配置されている。例文帳に追加

The dispersive crystal 13 is arranged so that the reference line may agree with an axis connecting the sample 1 and the detection part 14. - 特許庁

位置センサーから出力される位置信号に基き可動ステージが作動され試料が電子光学系の基準位置に所定精度で一致される。例文帳に追加

The movable stage is operated based on a position signal outputted from the position sensor, so that the sample is made to meet the reference position of the electronic optical system. - 特許庁

これによって、実際の試料注入時点を基準ゼロとした真の保持時間と保持時間タイマ６５の計時とが一致する。例文帳に追加

A true retention time where an actual sample injection time point serves as a zero reference is thereby consistent with a clocked time of the retention time timer 65. - 特許庁