「基準試料」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

基準姿勢から±一定角度範囲で回転可能な回転部材１６の先端部に、ベース３１と該ベース３１に対して回転自在に配された試料支持部材３２とを有する試料支持台３０を、ホルダー１０を介して設置する。例文帳に追加

This sample support stage 30 has a base 31 and a sample support member 32 rotatably arranged to the base 31, and is arranged via a holder 10 in a tip part of a rotary member 16 rotatable in a ± specific angle range from a reference attitude. - 特許庁

周波数検出に用いる位相同期ループ（ＰＬＬ）を距離制御系と一致させ、プローブ・試料表面の距離変化に対する振動周波数の変化を電圧制御発振器として用い、基準周波数に合わせる方法によりプローブ・試料表面の距離制御を行なう。例文帳に追加

By a method for matching a phase lock loop (PLL) used for detecting frequencies with a distance control system, using changes in vibration frequencies to changes in the distance between the probe and the surface of the sample as a voltage control oscillator, and matching them with a reference frequency, the distance between the probe and the surface of the sample is controlled. - 特許庁

後方散乱電子線回折パターン法（ＥＢＳＰ法）を用いて、同じ試料座標上で外形形状と結晶方位の位置関係が明確な基準試料を用いて比較測定する事で、被検体の外形形状と結晶方位の位置関係を明確にする。例文帳に追加

A position relation between an external shape and the crystal orientation of a specimen is clarified by comparative measurement using a reference sample having a clear position relation between the external shape and the crystal orientation on the same sample coordinate, by using a back-scattered electron beam diffraction pattern method (EBSP method). - 特許庁

そして、オートフォーカス機構の変位対象物を試料表面（４）に設定し、試料表面の基準点からの変位量を測定し、変位した点をオートフォーカス機構の制御の動作点として光学装置の対物レンズ（６）の焦点を制御する。例文帳に追加

The displacement object of the autofocus mechanism is set to the surface (4) of the sample, displacement quantity from a reference point on the surface of the sample is measured, and a displaced point is set as the acting point of the control of the autofocus mechanism, thereby controlling the focus of the objective (6) of the optical device. - 特許庁

探針接近機構により探針と試料を接近させた状態で試料表面に光学顕微鏡の焦点を合せ、このときの駆動機構部の位置情報を記憶し、位置情報を基準として自動測定時の光学顕微鏡の焦点合せを行う。例文帳に追加

A focal point of the optical microscope is converged on the sample surface under the condition where the probe is approached to the sample by the prove approaching mechanism, positional information of the driving mechanism is stored at this time, the focusing for the optical microscope in the automatic measurement is carried out using the positional information as a reference. - 特許庁

加算点１１には基準入力としてランプ波形Ｅｉ＝Ｃ・t、試料片に印加される荷重σに対応した信号Ｅｌおよび試料片のひずみεに対応した信号Ｅｅが入力され、偏差信号Ｅｅｒｒが出力される。例文帳に追加

A ramp waveform Ei=C.t as a reference input, a signal El corresponding to a load σ applied to a sample piece, and a signal Ee corresponding to a strain ω of a sample piece are input to an adding point 11, and a deviation signal Eerr is output. - 特許庁

欠陥検出手段で検出した欠陥の位置座標を基準にして、その近傍にイオンビームなどによってマーキングし、試料を透過型電子顕微鏡で観察して、マーキングと欠陥との相対位置関係から、欠陥部を特定し、目的とする欠陥部を含む試料を確実に作製する。例文帳に追加

In this method, based on position coordinates of the defect detected by defect detecting means, marking is made in the vicinity of the defect by using an ion beam, etc., sample is monitored with transmission electron microscope to specify the defective section from relative positional relationship between the marking and the defect, and then sample including the target defective section will surely be prepared. - 特許庁

試料吸収スペクトルからデータが抽出され（ステップＳ１）、予め登録されている基準スペクトルデータのうちの２つが読み出されて（ステップＳ２）、試料スペクトルデータが何れに近いかが比較判定され、近い方が選択される（ステップＳ３）。例文帳に追加

Data are extracted from the absorbing spectrum of a sample (step S1) and two data among preliminarily registered reference data are read (step S2) to compare two data to judge either one of two data to which the sample spectrum data are near, to select the nearer one (step S3). - 特許庁

基準物質４４に代えて電極棒６ａ，６ｂの間にセットされる測定試料の温度を温度センサ３４によって測定すると共にその温度を変化させながらその測定試料の電流、電圧、電気抵抗等を測定する熱分析装置の温度校正方法である。例文帳に追加

This temperature calibrating method for the thermal analyzer is constituted so as to measure not only the temperature of a measuring sample set between electrode rods 6a and 6b in place of a reference substance 44 with a temperature sensor 34 but also the current, voltage, electric resistance or the like of the measuring sample while changing the temperature of the measuring sample. - 特許庁

欠陥検出手段で検出した欠陥の位置座標を基準にして、その近傍にイオンビームなどによってマーキングし、試料を透過型電子顕微鏡で観察して、マーキングと欠陥との相対位置関係から、欠陥部を特定し、目的とする欠陥部を含む試料を確実に作製する。例文帳に追加

In this method, based on position coordinate of the defect detected by defect detecting means, marking through ion beam, etc. is provided around the position coordinate, sample is observed with a transmission electron microscope to identify the defective area from relative positional relationship between the marking and the defect, reliably preparing sample which contains the target defective area. - 特許庁

この操作で設定した回転角φｎおよび測定したあおり角ωｎを用いて、回転角φおよびあおり角ωと所定の基準面に対する試料面の傾きとの間の関係に基づき試料面の傾きを求め、その傾きを補正する。例文帳に追加

The inclination of the surface of the sample is calculated on the basis of the relation between the angle ϕof rotation, the flapping angle ω and the inclination of the surface of the sample to a predetermined reference surface by using the angle ϕn of rotation set by this operation and the measured flapping angle ωn to be corrected. - 特許庁

別の態様では、複数の産地におけるコメ試料について、脂肪酸成分を抽出しメチルエステル化して得た脂肪酸誘導体の水素安定同位体比を質量分析により測定して基準データとして予め取得し、産地判別対象のコメ試料について同様に測定した照合データを基準データと比較する。例文帳に追加

In another embodiment, the hydrogen stable isotope ratio of a fatty acid derivative obtained by methyl esterifying an extracted fatty acid component is measured beforehand as reference data about rice samples in a plurality of production areas, by using the mass spectrometry, and collation data obtained by conducting a similar measurement about a rise sample of a production area being an object to be determined are compared with the reference data. - 特許庁

試料を透過した赤外光が入射される比較室と、前記試料の吸収を受けない赤外光が入射される基準室との間に生じるガスの移動をフローセンサで検出する検出器において、エッチングおよびパターン成形により、前記比較室と前記基準室と前記フローセンサが基板中に立体形成されたことを特徴とする検出器。例文帳に追加

In the detector for detecting the movement of gas which is generated in between a comparison chamber with infrared light passing through a sample incident thereon, and a reference chamber with infrared light which is not absorbed by the sample by a flow sensor, the comparison chamber, the reference chamber, and the flow sensor are formed three-dimensionally through etching and pattern formation. - 特許庁

一定周期で試料流路および基準流路の切換を行い、試料中の特定成分の濃度を測定する単一の試料セル部を有する流路切換式分析計であって、少なくとも前記いずれかの流路にオーバーフローラインを設け、該オーバーフローラインに前記所定の容量を有する部材を設けることを特徴とする。例文帳に追加

This passage changeover type analyzer having a single sample cell part for measuring the concentration of a specific component in a sample by switching between a sample passage and a reference passage at a fixed period is characterized by providing an overflow line at least in either of the passages, and providing a member having a prescribed capacity in the overflow line. - 特許庁

試料の前方、すなわち、一次ビームが入射する試料面を基準としてビーム光源と同じ側にＸ線検出器を設置する従来の特性Ｘ線検出法と比較して、検出器と試料の位置関係の制限が少なく、格段に効率よくＸ線検出を行うことができる方法を提供することを課題とする。例文帳に追加

To provide a method capable of performing X-ray detection remarkably efficiently with little restriction of position relation between a detector and a sample in comparison with a conventional characteristic X-ray detection method wherein an X-ray detector is installed in front of the sample, namely, on the same side as a beam light source based on the sample surface entered by a primary beam. - 特許庁

例えばステッパーのようなパターン形成装置のパターン形成条件により、得られる試料像にばらつきがある場合であっても、簡便、迅速、かつ、確実に、複数の基準画像と試料像のパターンとのマッチングを行うことにより測定領域を設定することのできる試料像測長方法を提供する。例文帳に追加

To provide a sample image length measurement method by which the measurement area can be set by easily, quickly and surely performing matching of a plurality of standard images and the sample image even when the obtained sample images are various on the basis of a pattern forming condition of a pattern forming device such as a stepper. - 特許庁

アミノ酸類−亜鉛錯体1gに対し10〜60ml（25℃基準）のギ酸を加えて撹拌して形成したスラリーに酢酸を添加することによりスラリー状の試料を調製し、該試料について過塩素酸を用いた滴定を行うことにより前記試料中のアミノ酸類−亜鉛錯体に含まれるアミノ酸類を定量する。例文帳に追加

A slurry-like sample is prepared by adding acetic acid to slurry formed by adding formic acid of 10-60 ml (25°C reference) to amino acids-zinc complex of 1 g and stirring them, and amino acids contained in the amino acids-zinc complex in the sample are quantitatively determined by titrating the sample using perchloric acid. - 特許庁

好ましい態様において、特殊な条件下で試料とセンサーアレイとを接触し、非結合性の試料成分を除去し、表面上の質量増加を決定し、パターン認識ソフトウェアを用いて前記質量増加データと参照用基準とを比較し、可溶性成分の存在に関して液体試料を測定する。例文帳に追加

In a preferred embodiment, the liquid sample is tested for the presence of soluble constituent(s) by contacting a sample with a sensor array under specific conditions, removing unbound sample constituent(s), determining the mass increase on the surface and comparing the mass increase data with a reference standard using pattern recognition software. - 特許庁

既知の物質に異なる励起波長の紫外線を照射し、各励起波長における試料からの蛍光強度と波長を分析して、蛍光強度がピークとなるときの励起波長を基準励起波長とし、蛍光強度がピークとなった蛍光波長を基準蛍光波長とするとき、次の過程を含む。例文帳に追加

A known substance is irradiated with ultraviolet light having different excitation wavelengths, fluorescence intensity and a wavelength from the sample are analyzed at each excitation wavelength. - 特許庁

試料Ｓからのラマン散乱光及び励起レーザ光１に起因するレーリー散乱光と基準光１３とを多波長同時検出手段８に導入し、各散乱光１ａのスペクトル及び基準光１３のスペクトルを測定する。例文帳に追加

Rayleigh scattering light caused by the Raman scattering light and the excitation laser light 1 from a sample S and reference light 13 are introduced into a multiple wavelength simultaneous detection means 8, and a spectrum of each scattering light 1a and a spectrum of the reference light 13 are measured. - 特許庁

本発明の課題は、試料上の基準点である参照マークを参照しつつイオンビームにより加工を進める集束イオンビーム加工方法において、基準点確認に多くの時間をとられることなく、微細な加工を精度よく仕上げることができる加工方法を提供することにある。例文帳に追加

To provide a processing method which can finish fine processing with accuracy without taking much time for check of a datum point, in a con verged ion beam processing method for proceeding with processing by ion beams while referring to the reference mark being the datum point on a sample. - 特許庁

高周波特性の異なる少なくとも３つの補正データ取得用試料を、基準測定系と実測測定系で測定し、実測測定系で測定した測定値と基準測定系で測定した測定値とを、伝送路の誤差補正係数を用いて関連付ける数式を決定する。例文帳に追加

At least three samples for collecting correction data having different high-frequency characteristics are measured with a reference measurement system and an actual measurement system, and a formula for correlating the measurement value measured with the actual measurement system and the measurement value measured with the reference measurement system is determined by using an error correction coefficient of a transmission path. - 特許庁

本発明は試料保持皿に蓄えられる熱の影響およびサンプルと基準物間の加熱レートの差を考慮したのものであり、保持皿に関連する熱流およびサンプルと基準物間の加熱レートの差を計算することにより、より正確な熱流測定値を得ることを可能にした。例文帳に追加

This calorimeter enables to obtain an accurate heat flow measured value, by calculating a heat flow related to a holding plate and the difference of a heating rate between a sample and a reference material, in consideration of the influence of the heat stored in the sample holding plate and the difference of the heating rate between the sample and the reference material. - 特許庁

好感度の大きなにおいなど、高価値のにおいを任意の時刻に任意の場所で再現する携帯用の手段を提供し、またいくつもの基準ガスまたは基準試料をにおい識別装置の近傍に用意する必要があった従来の校正作業を改善する。例文帳に追加

To provide a portable means for reproducing a smell of great value such as an intensive smell of good sensitivity or the like at an arbitrary time in an arbitrary place and to improve conventional calibration work necessary for preparing many reference gases or reference samples in the vicinity of a smell discrimination device. - 特許庁

そして、基準像と比較対象像とで相互相関関数を演算して、比較対象像が基準像からどの方向にどれだけずれているかを求め、そのずれをキャンセルするように電子ビーム１１偏向系５を制御して試料ドリフトを補正する。例文帳に追加

The correlation function of the reference image and the image to be compared are computed to obtain the direction and quantity of displacement of the image from the reference image, and an electron beam 11 deflecting system 5 is controlled so as to cancel that displacement, and the sample drift is corrected. - 特許庁

高周波特性の異なる少なくとも３つの補正データ取得用試料を、基準測定系と実測測定系で測定し、実測測定系で測定した測定値と基準測定系で測定した測定値とを、伝送路の誤差補正係数を用いて関連付ける数式を決定する。例文帳に追加

At least three samples for correction data acquisition which have different high-frequency properties are measured with a reference measurement system and an actual measurement system, and a formula for associating a measured value obtained by the actual measurement system with a measured value obtained by the reference measurement system is determined by using an error correction coefficient of a transmission line. - 特許庁

さらに試料を搭載し基準面上で移動するＸＹ移動部１２と、走査範囲の広さが異なる２つの移動方式のいずれかを選択しＸＹ移動部を基準面上で移動させるＸＹ移動機構（１２ａ，１５，１３，３１）とを備えている。例文帳に追加

And besides, this device is equipped with an XY moving part 12 for loading the sample 16 and for moving it on a reference plane, and an XY moving mechanism (12a, 15, 13, sliding members) for selecting either of two moving systems having different-area scanning ranges and for moving the XY moving part 12 on the reference plane. - 特許庁

検査基準決定装置１は、試料の欠陥候補領域が有する外観的特徴量により欠陥であるかどうかを判定する検査基準を、その特徴量からなる刺激に対する検査員Ｍの応答を数値化した心理測定曲線、に基づいて決定する。例文帳に追加

The inspection standard determining apparatus 1 determines the inspection standard which is used for determining as to whether a defect candidate area of a sample is a defect, by using the appearance feature quantity of the defect candidate area, based on the psychological measurement curve obtained, by digitizing the response of the inspector M to a stimulation consisting of the feature quantity. - 特許庁

反射電子像を測定した条件と同等の条件で膜厚既知の試料からの反射電子信号強度を測定して基準強度とし、反射電子像の反射電子強度と基準強度との強度比の分布を画像表示する。例文帳に追加

The intensity of the reflected electron signal from a sample with a known membrane thickness under the condition equal to the measuring condition of the reflected electron image is measured to be set to reference intensity and the distribution of the intensity ratio of the reflected election intensity of the reflected electron image and the reference intensity is displayed as an image. - 特許庁

試料と試薬との反応液を保持するための複数の反応槽５６と、特定の部位を認識させるための基準部６６′と、を備えた分析用具Ｙ′であって、上記基準部６６′は、反射率が他の部位とは異なったものとされている。例文帳に追加

The analyzing implement Y' is equipped with a large number of reaction tanks 56 for holding the reaction solution of a sample with a reagent and a standard part 66' for recognizing a specific region, and the standard part 66' is different from another region in reflectivity. - 特許庁

補正用データ取得試料１１Ｂのインピーダンスを、基準測定装置１と実測測定装置２とによりそれぞれ測定したうえで、実測測定装置に２よる測定結果と基準測定装置２による測定結果との間の相互関係式を求める。例文帳に追加

The impedance of data acquisition sample 11B for correction is measured with a reference measurement device 1 and an actual measurement device 2, respectively, and a correlation between the measurement result by the actual measurement device 2 and the measurement result by the reference measurement device 1 is obtained. - 特許庁

周波数ごとに、試験治具２６と基準治具１６とで、残留誤差補正データ取得用試料を測定し、第１の数式を用いて算出した基準治具１６での測定値の推定値に含まれる誤差を算出するための第２の数式を求める。例文帳に追加

For every frequency, the sample for residual error correction data acquisition is measured with the test tool 26 and the reference tool 16, then the second equation for calculating error included in the estimation value of the measurement value measured by the reference tool 16 calculated by the first equation is obtained. - 特許庁

基準試料である健常者のマススペクトルを得てこのマススペクトルから選出したイオンを前駆イオンとするマススペクトルを取得する（（a）〜（d））。例文帳に追加

A mass spectrum of an able-bodied person as a reference sample is obtained, and a mass spectrum where an ion selected from the former mass spectrum is set as a precursor ion is obtained ((a) to (d)). - 特許庁

試料の繰り返し測定時、データ処理部３では使用される基本測定条件に応じて対応する基準データを読み出し、そのデータに基づく処理を実行する。例文帳に追加

A data processing part 3 reads corresponding reference data according to the basis measuring conditions to be used at repetitive measuring of samples and executes processing based on the data. - 特許庁

オペレータは、疑似リファレンス画像Ｓref1の基準ラインプロファイルＬref1，Ｌref2間に試料形状のラインプロファイルが収まるように、疑似リファレンス画像Ｓref1の位置を面画上で移動させる。例文帳に追加

The position of the pseudo reference image Sref1 is moved by an operator so that the line profile of the shape of the sample is positioned between the reference line profiles Lref1, Lref2 of the pseudo reference image Sref1. - 特許庁

撮像位置Ｃにある試料１の表面１ａおよび基準識別部２の画像を、初期化したように画像処理手段１５で画像処理して、表示する。例文帳に追加

An image of a surface 1a and a reference identification part 2 of the sample 1 existing in an imaging position C is displayed as initialization by performing image processing by an image processing means 15. - 特許庁

蛍光基準試料に第１、第２照明光を順次に照明し、第１、第２分光分布Ｅｒ１、Ｅｒ２を取得し、第１、第２全分光放射率係数Ｂｒ１、Ｂｒ２を求める。例文帳に追加

The fluorescent reference sample is sequentially illuminated by first and second illuminating light beams to acquire first and second spectral distributions Er1 and Er2, and first and second total spectral emissivity coefficients Br1 and Br2 are obtained. - 特許庁

同一マイクロプレート上でインキュベーションさせた基準試料における判定像の大きさまたは形状に基づいて判定のためのしきい値が判定しきい値自動設定部２３で設定される。例文帳に追加

A judge threshold value is set on the basis of the size or shape of the judge image of a reference specimen incubated on the same microplate in a judge threshold value automatic setting part 23. - 特許庁

ステージ１２をステージ移動機構１４で移動させ、試料１１または反射率既知の基準反射板１３を測定位置選択的に位置させる。例文帳に追加

The stage 12 is moved by a stage moving mechanism 14, and the sample 11 or a reference reflecting plate 13 of known reflectivity is positioned selectively at a measuring position. - 特許庁

吸光度測定部Ａは、試料測定セル１０と基準測定セル１１に光源１２の光を照射し受光器１３、１４で透過光を測定し吸光度を測定する。例文帳に追加

In the absorbancy measuring part A, a sample measuring cell 10 and a reference measuring cell 11 are irradiated with the light of a light source 12 and the transmitted light is measured by photodetectors 13 and 14 to measure absorbancy. - 特許庁

セル１２ｓ内に基準液Ｓを満たし、セル１２ｘ内に試料液Ｓを満たし、電極ｓ１，ｓ４間及び電極ｘ１，ｘ４間に電流供給部１４から電流ｉを流す。例文帳に追加

A reference liquid S is filled in a cell 12s, the sample liquid X is filled in a cell 12x, and an electric current i is made to flow between electrodes s1, s4 and between electrodes x1, x4 from a current supply part 14. - 特許庁

位置時間測定回路１６は、試料１０の励起に同期した基準時間パルスと検出タイミングパルスとの時間差を示す信号を生成し、データ処理装置１８に送る。例文帳に追加

A position time measuring circuit 16 generates signals indicating a time difference between a reference time pulse synchronizing with the excitation of a specimen 10 and a detection timing pulse, and send them to a data processing device 18. - 特許庁

相対補正アダプタ３１の誤差要因を補正データ取得試料１１Ｂの基準測定治具測定値および実測測定治具測定値から同定する。例文帳に追加

An error factor of the relative correction adapter 31 is identified from an actual measurement device measurement value and a reference measurement device measurement value of a correction data acquisition sample 11B. - 特許庁

前記試料側検出器６Ａ及び基準物質側検出器８Ａに段付リング６２を固着し、これを把持具１６で把持してその高さを調節できる高さ調節機構をそれぞれに設ける。例文帳に追加

A height regulation mechanism for fixing the stepped rings 62 to the sample side detector 6A and the reference substance side detector 8A and grasping a grasping tool 16 to regulate the height of both detectors 6A and 8A is provided. - 特許庁

各薄片試料１０の切断面の画像から三次元イメージを合成する際、キャリアテープ２に付けられた基準マーク１２を用いて各画像の位置合わせを行う。例文帳に追加

When the three- dimensional image is synthesized from the image of the cut surface of the lamina sample 11, the alignment of each image is performed using the reference mark 12 applied to the carrier tape 2. - 特許庁