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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 2次電子の意味・解説 > 2次電子に関連した英語例文

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2次電子の部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 326



例文

いで、回路基板電子部品4を実装する。例文帳に追加

Next, electronic components 4 are mounted on the circuit board 2. - 特許庁

対物レンズで収束された1電子Yによって試料5を走査することにより発生した2次電子Zに基づいて試料5の像観察を行なう電子線装置0において、2次電子Zを電気的信号に変換するための2次電子検出器の前方に2次電子Zのエネルギーに基づいて2次電子Zを選択的に2次電子検出器に送るための選択装置1を設けた。例文帳に追加

In an electron beam device 20 for monitoring the image of a sample 5, according to secondary electrons Z generated by scanning of the sample 5 with primary electrons Y converged by an objective lens, a selecting means 21 for selectively applying the secondary electrons Z, according to energy of the secondary electrons Z, to a secondary electron detector 2 is provided in front of the electron detector 2 for converting the secondary electrons Z into electrical signals. - 特許庁

このコンバータの下側は二電子計測器3を備える。例文帳に追加

The instrument is also provided with a two-dimensional electronic measuring instrument 3 on the bottom side of the converter 2. - 特許庁

更に、2次電子検出器5には試料から発生した2次電子を補集補助する第3補助電極1を検出器前面に設置する。例文帳に追加

Furthermore, a third auxiliary electrode 12 for trapping assisting the secondary electrons generated from the testpiece 2 is installed at the secondary electron detector 5 in front of the detector. - 特許庁

例文

に、電子線照射装置13が、冷却装置1から順移送されるシリンジ外筒体に個別的に電子線を照射し、滅菌する。例文帳に追加

Next, the electronic beam irradiation apparatus 13 individually irradiates the syringe outer cylinder 2 carried in order from the cooler 12 with electronic beams for sterilization. - 特許庁


例文

電子線装置は、電子銃1,,3からの一電子線を収束させて試料15上で走査し、試料15から放出される二電子線を検出して試料15の評価を行う。例文帳に追加

This electron beam system converges a primary electron beam from electron guns 1, 2 and 3 to scan it on a sample 15, and detects secondary electron beams emitted from the sample 15 to evaluate the sample 15. - 特許庁

第1の電子から電子ビーム3を試料7に走査し、試料7から放出された2次電子2次電子検出手段13が検出し試料7の表面形状をCRT17に表示する。例文帳に追加

An electron beam 3 from a first electron gun 2 is scanned on a specimen 7, and a means of detecting a secondary electron 13 detects the secondary electron 12 discharged from the specimen 7 to display the surface shape of the specimen 7 on a CRT 17. - 特許庁

に、パッキン8の中空部を通じて電子部品の所定部位が露出するように、母材5、6内に電子部品を配置する。例文帳に追加

Next, the electronic part 2 is arranged within the base materials 5 and 6, so that prescribed section of the electronic part 2 is exposed through the hollow of the packing 8. - 特許庁

二 電子公告(会社法第二条第三十四号に規定する電子公告をいう。項において同じ。)例文帳に追加

(ii) By Electronic Public Notice (meaning an electronic public notice as prescribed in Article 2, item (xxxiv) of the Companies Act; the same shall apply in the following paragraph).  - 日本法令外国語訳データベースシステム

例文

電子発光システムは、透明な材料でつくられた元の第1の電極()を有する電子発光装置(1)を備えている。例文帳に追加

An electronic light emission system includes an electronic light emitting device (1) having a two dimensional first electrode (2) made of a transparent material. - 特許庁

例文

前記対物レンズには、軸付近に保持される2電子を検出する他の電子検出器(116)が備えられて良い。例文帳に追加

The objective lens may be equipped with another electron detector (116) for detecting secondary electrons that are kept closer to an axis. - 特許庁

電子は、電子線放出部とウェーネルト開口部1Bの重なり部分から放出され、マルチビームとなる。例文帳に追加

Primary electron beams 2 are emitted from partial areas of the emitter 11B which are facing the Wehnelt openings 12B, becoming the multiple beams. - 特許庁

に、当該得られた電子画像データに対し、電子部品の実装により生じる明暗11の集合体に外接する外接線15を描く。例文帳に追加

Then, a circumscribed line circumscribing an aggregate of light and darkness 11 generated by mounting the electronic component 2 is drawn relative to the acquired electronic image data. - 特許庁

試料への電子ビームの照射によって発生した2次電子等の二発生電子14は、レンズ磁場により拘束されて螺旋状に上方に向かう。例文帳に追加

Secondarily generated electrons 14, such as secondary electrons generated by the irradiation of the electron beam on the sample 2, are bound by a lens magnetic field and advances upward in spiral form. - 特許庁

2次電子は、2次電子検出器アレイ1の各検出器で検出され、ライトガイド13により、真空チャンバー15の窓16を介して光電子増倍管11に導かれる。例文帳に追加

The secondary electrons are detected by respective detectors of a secondary-electron detector array 2, and they are guided to a photomultiplier 11 via the window 16 of a vacuum chamber 15. - 特許庁

いで前記ウエハWに対して電荷密度が6.7×10^-3C/nm^以下の電子線を照射し、前記電子線の照射により放出された2次電子を検出する。例文帳に追加

Next, the wafer W is irradiated with an electron beam having a charge density ≤6.7×10^-3 C/nm^2, and secondary electrons emitted by irradiation of the electron beam are detected. - 特許庁

イ 電子管であって、の(一)又は(二)に該当するもの((三)に該当するものを除く。)例文帳に追加

a) Electron tubes that fall under the following 1. or 2. (excluding those that fall under 3. following  - 日本法令外国語訳データベースシステム

ト 電子的又は磁気的に同調可能な帯域阻止フィルターであって、の(一)及び(二)に該当するもの例文帳に追加

(g) Electronically or magnetically tunable band-elimination filters that fall under the following 1. and 2.  - 日本法令外国語訳データベースシステム

上層MgO15aは下層のMgO15bに比べて2電子放出係数が小さいものとする。例文帳に追加

Secondary electron emission coefficient of the upper layer MgO 15a is made smaller than that of the lower layer MgO 15b. - 特許庁

Mg_XZnO層とMg_YZnO層3の界面で電子ガスが発生する。例文帳に追加

Two-dimensional electron gas is generated on the interface of the Mg_XZnO layer 2 and an Mg_YZnO layer 3. - 特許庁

電子カメラから順出力されるデータをCPU40が処理し、HDD5等に保存する。例文帳に追加

A CPU 40 processes data sequentially outputted from an electronic camera 2 and stores the data to an HDD 52. - 特許庁

そのときの2次電子14のエネルギーは、全て試料への印加電圧以上となる。例文帳に追加

The energy of the secondary electrons 14 at that time is always set to a value of the application voltage to the sample 2 or higher. - 特許庁

に、電子部品を電極15と電極5が向い合う所定の位置に配置する。例文帳に追加

An electronic component 2 is arranged at a specified position where the electrode 15 faces an electrode 25. - 特許庁

に、ダウンロードした電子データに、パーソナルコンピュータによって文字や画像を入力する。例文帳に追加

Then, the user enters letters and images in the downloaded electronic data, using the personal computer 2. - 特許庁

(2) のものは,第57/A条,第84/E条(3),第84/H条(3)及び第84/K条(2)に定める規則及び条件に基づいて電子的に提出することもできる。例文帳に追加

(2) The following may also be filed electronically, under the rules and conditions lay down in Article 57/A, Article 84/E (3), Article 84/H (3) and Article 84/K (2): - 特許庁

非接触温度測定装置1は、試料台の温度分布を測定する装置であり、試料台上0に載置される試料ベース10と、電子線を照射する電子線源と、電子線照射によって誘起される二電子を検出する二電子検出器3と、検出した二電子に基づいて温度分布を測定する温度測定部(信号処理部7)とを備える。例文帳に追加

A noncontact temperature measuring device 1 measures the temperature distribution of a sample stand and comprises: a sample base 10 placed on the sample stand 20, an electron beam source 2 for applying electron beams; a secondary electron detector 3 detecting secondary electrons induced by the irradiation of electron beams; and a temperature measurement section (signal processing section 7) for measuring temperature distribution, based on the induced secondary electrons. - 特許庁

元的に配列された複数の電子線源から放出された電子線3は、照明レンズ4、5によって、開口付遮蔽板6上に、各々の電子線源の像を結ぶ。例文帳に追加

Electron beams 3 emitting from a plurality of one-dimensionally arrayed electron beam sources 2 produce images of the respective electron beam sources 2 through illumination lenses 4, 5 onto a shielding plate 6 with apertures. - 特許庁

本発明は、電子及び前記電子銃から放出された一電子を検査対象に照射する静電レンズより成る対物レンズ7を有する電子光学系と、前記対物レンズの外側に配置された差動排気系1と、を備えた電子線装置1に関する。例文帳に追加

The electron beam equipment 1 is provided with an electronic optical system with an electron gun 2 and an objective lens 7 composed of an electrostatic lens which irradiates primary electrons emitted from the electron gun to a test sample and with a differential exhaust system 12 arranged outside of the objective lens. - 特許庁

に、電子貨幣行使サイト3から取引サイトに認証暗号73が送られ、各電子貨幣が有効であると認められた後、電子貨幣行使サイト3において商品が選択されると、取引サイト電子貨幣行使サイト3に選択を受け付けた旨の通知を送る。例文帳に追加

The authentication code 73 is sent from the electronic money use site 3 to a transaction site 2 then, after each of the electronic money is identified to be valid, when goods is chosen in the electronic money use site 3, the transaction site 2 sends notice of acceptance of the choice to the electronic money use site 3. - 特許庁

さらに、電子ビーム源である強誘電体層の表面に、二電子放出能力の高いMgO膜や窒化アルミニウム膜等を積層して、電子ビーム放出密度を高める。例文帳に追加

Furthermore, on the surface of the ferroelectric layer 2 of the electron beam source, MgO films or aluminum nitride films or the like are laminated which have high secondary electron discharge ability, and electron beam discharge density is enhanced. - 特許庁

また、絶縁変圧器5の二側には電子発生部3にのみ接続される第1の端子5aと、電子発生部3、電子加速部及び直流電源1に接続される第の端子5bとが配置されている。例文帳に追加

Furthermore, on the secondary side of the insulated transformer 5, the first terminal 5a connected only to the electron generation part 3, and the second terminal 5b connected to the electron generation part 3, the electron acceleration part 2 and the direct-current power source 1 are arranged. - 特許庁

チャンバー3内にはSEM8が配設され、このSEM8は、ウェハ上に電子ビームを走査させ、その時にウェハの表面から放出される2次電子像を観察し、ウェハ表面の画像(SEM画像)を生成する。例文帳に追加

A SEM 8 is arranged inside of the chamber 3, and this SEM 8 scans the wafer 2 with the electron beam, and observes a secondary electronic image emitted from a surface of the wafer 2, and generates an image (SEM image) of the surface of the wafer 2. - 特許庁

(1) 第52A 条(2)において一般的に制限を受けるものに限らず, 電子提出の条件はの事項を含むものとする。例文帳に追加

(1) Without limiting the generality of subregulation 52A(2), the terms and conditions for electronic filing shall include the following: - 特許庁

(2) 規則52A にかかわらず,登録官は, 電子提出されたの書類又は物の受領又は登録を拒絶することができる。例文帳に追加

(2) Notwithstanding regulation 52A, the Registrar may refuse to accept or to register any document or thing which is filed electronically if- - 特許庁

(2) 指示書は,電子的手段によって提出される特許出願の提出及び処理に関する条件,例えば,のような事項を設定する。例文帳に追加

(2) The instructions shall establish the conditions relating to filing the patent applications submitted by electronic means and processing the same, such as: - 特許庁

(1) 特許庁は,のものを公表する。 1. 出願公開 2. 特許明細書,及び3. 特許公報 公表は電子形態で行うことができる。例文帳に追加

(1) The Patent Office shall publish 1. laid-open publications [Offenlegungsschriften]; 2. patent specifications; and 3. the Patent Gazette [Patentblatt]. Publication may be in electronic form.  - 特許庁

に、この承認状況メッセージ413と電子署名データ414をWWWサーバ2へアップロードする。例文帳に追加

Then, the approval situation message 413 and the electronic signature data 414 are up-loaded to the WWW server 2. - 特許庁

電子ビーム描画装置1は、電子ビームを照射する電子と、電子ビーム15のビーム軸の下流方向に順配置されたアライナ14と、ブランキング電極6と、偏向器7と、第1成形アパーチャ11とを有する。例文帳に追加

This charged particle beam drawing device 1 includes: an electron gun 2 for emitting an electron beam; and an aligner 14, a blanking electrode 6, a deflector 7 and a first shaping aperture 11 which are sequentially arranged in the downstream direction of the beam axis of the electron beam 15. - 特許庁

イオンビーム放射装置3から発生したイオンを半導体素子のパッド部aに付着させることで放出される2次電子2次電子受光部5で検出する。例文帳に追加

Secondary electrons are emitted by making ions generated from an ion beam radiating device 3 adhere to the pad parts 2a of the semiconductor device 2, and the secondary electrons are detected by a secondary electron light receiving part 5. - 特許庁

設定した焦点及び非点収差制御値1により二電子像取得を行い、そのデータ3に対し、二電子像の流れと方向及び明瞭度を評価する操作4を行う。例文帳に追加

A secondary image is acquired 2 based on the set focal point and astigmatism control 1, and the flow, direction and articulation of the secondary electron image are evaluated 4 for the data 3. - 特許庁

そして、半導体集積回路の表面に電子ビームを照射して2次電子検出器10により荷電粒子を検出することにより、上層及び下層配線の観察パターンを得る。例文帳に追加

The observed patterns of the upper- and lower-layer wiring sections 1 and 2 are obtained by projecting an electron beam upon the surface of the integrated circuit and detecting secondary charged particles by means of a secondary electron detector 10. - 特許庁

設計データ作成システムは、顧客Cから受け取った建築物に係る設計図書を電子化した後、電子化された設計図書に示された建築物を三元形状として表した三元形状データを作成する。例文帳に追加

In a design data preparing system 2, design drawings and specifications related to a structure received from a client C is computerized and afterwards, 3D form data expressing the structure shown on the computerized design drawings and specifications as a 3D form are prepared. - 特許庁

ホトカソード(200)から第2段目のダイノードユニット(DY1)は、ホトカソード(200)からの光電子を受ける第1ダイノードを支持しており、第1段目のダイノードユニット(DY2)は、第1ダイノードからの二電子を受ける第2ダイノードを支持する。例文帳に追加

A dynode unit (DY1) at a second stage from a photocathode (200) supports a first dynode receiving photoelectrons from the photocathode (200), a first-stage dynode unit (DY2) supports a second dynode receiving secondary electrons from the first dynode. - 特許庁

に、電子線透過膜の中心部にマスクを形成し、電子線透過膜の周縁部に多結晶ダイヤモンド薄膜からなる厚さが50μm以上の支持枠3を気相合成する。例文帳に追加

Then a mask is formed at the central part of the electron beam transmission membrane 2, and a supporting frame 3 with ≥50 μm thickness comprising a polycrystalline diamond thin film is synthesized in a vapor phase at the periphery of the electron beam transmission membrane 2. - 特許庁

いで、PC4は、生成した管理データに基づいて、電子カメラとの間で画像データを送受信し、PC4側の画像データを更新するとともに、電子カメラ側の画像データを更新する。例文帳に追加

Then the PC 4 transmits/receives image data with the electronic camera 2 on the basis of the produced management data to update the image data of the PC 4 and updates the image data of the electronic camera 2. - 特許庁

電池を充電する際に、ファン14の冷却対象となる二電池又は電子部品を二電池の充電時において冷却する必要があるか否かを判定する。例文帳に追加

A control part determines whether the cooling-target secondary battery 2 or the cooling-target electronic component needs to be cooled by the fan 14 when the secondary battery 2 is charged. - 特許庁

に、帳票生成サーバは、第電子メールを受信し解析することで、第電子メールが第1の電子メールの送信失敗によるエラーメールであると判断した場合には、第の生成条件に応じて生成した第の帳票ファイルを再生成する。例文帳に追加

Then, the form generation server 2 receives and analyzes the second electronic mail, so that when determining that the second electronic mail is an error mail due to the failure of the transmission of the first electronic mail, the form generating server 2 generates a second form file generated according to second generation conditions again. - 特許庁

電子署名装置1は、印影データ、秘密鍵、電子証明書、電子証明書を利用するための管理ツール及び電子署名プログラム9を記憶し、ディスプレイとマウス等を備えるコンピュータに接続されると、プログラム9は、コンピュータ側に読み出され、コンピュータの機能を実現させる。例文帳に追加

This digital signature device 1 stores seal stamp data, a secret key, a digital certificate and a management tool for using the digital certificate and a digital signature program 9, and when this device is connected to a computer 2 equipped with a display and a mouse or the like, the program 9 is read by the computer 2 side, and the computer 2 is made to achieve the following functions. - 特許庁

イ 電子計算機又は数値制御装置により制御される測定装置であって、の(一)及び(二)に該当するもの例文帳に追加

(a) Measurement equipment controlled by computers or numerically-controlled coordinate measurement equipment, that falls under the following 1. and 2.  - 日本法令外国語訳データベースシステム

例文

(四) (二)に該当するフレーミングカメラに用いることができる電子管又は電気制動シャッターであって、のいずれかに該当するもの例文帳に追加

4. Electron tubes and electrically triggered shutters usable in framing cameras falling under 2. and that fall under any of the following  - 日本法令外国語訳データベースシステム

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日本法令外国語訳データベースシステム
※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
  
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