「FIB」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

(iii) When providing a credit rating or making it available for inspection, are the statutory items (Article 313(3)(iii)(a)-(k) of the FIB Cabinet Office Ordinance) publicized accurately (Article 313(3)(iii))? 例文帳に追加

ハ 格付付与の前提として使用するデータは、格付付与方針等に則って適切なものを選択しているか。 - 金融庁

A shared sample holder 5 of FIB device is set to a sample jogging device of 9 TEM, and the orientation of a sample 6 is detected.例文帳に追加

ＦＩＢ装置共用試料ホルダ５をＴＥＭの試料微動装置にセットして、そのときの試料6の向きを検出する。 - 特許庁

An irradiation axis of an FIB irradiation system 16 and an irradiation axis of a STEM observation electron beam irradiation system 5 are made almost orthogonal, and the sample 7 is arranged at the intersection position and the FIB cross-section working face of the sample is made a thin-film face of the STEM observation sample.例文帳に追加

ＦＩＢ照射系１６の照射軸とＳＴＥＭ観察用電子ビーム照射系５の照射軸をほぼ直交させ、その交差位置に試料７を配置して、試料のＦＩＢ断面加工面をＳＴＥＭ観察用試料の薄膜面にとる。 - 特許庁

The manufacturing method of a selected area aperture plate includes: forming a preliminary fabrication region 16 (2 μm or less) by FIB fabrication in an aperture plate 11 composed of a single material such as tantalum or molybdenum with a depth of tens μm or more whose mechanical strength is secured and which screens an electron beam; and next, forming a fine pore 15 of 1 μm or less.例文帳に追加

機械的強度を確保した電子線を遮蔽する数10 μm以上の厚さのタンタル、モリブデンなどの単一材料で構成された絞りプレート11に、FIB加工により予備加工領域16(2μm以下)を形成し、次に1μm以下の微細孔15を形成する。 - 特許庁

To provide a sample support member for electron microscopic observation capable of easily fixing and safely treating an extracted minute sample piece when extracting a more minute sample piece from a sample by FIB working and working it into a TEM sample.例文帳に追加

本発明の目的は、FIB加工で試料から、より微小な試料片を摘出し、TEM用試料に加工する際に、摘出した前記微小試料片を容易に固定、安全に取扱うことが可能な電子顕微鏡観察用試料支持部材を提供することにある。 - 特許庁

Alternatively, when a glass wall expanded and thinned in a depressurized atmosphere by an increase in vacuum is not durable and broken, a smooth robust tip having no unevenness is formed of an FIB deposition film on the pipet tip, and this is used to vacuum-suck the particle.例文帳に追加

もしくは真空度を上げて減圧雰囲気に引き伸ばして薄くなったガラス壁が耐えられなくて破損する場合にはピペット先端にFIBデポ膜で硬い丈夫な凹凸のない滑らかな先端を作製し、これを用いて高い真空度でパーティクルを真空吸引する。 - 特許庁

An irradiation axis of an FIB irradiation system 16 is made to almost perpendicularly cross with that of an electron beam irradiation system for STEM observation 5, the sample 7 is arranged on the crossing position, and an FIB cross section processing face is used for a thin film face for STEM observation.例文帳に追加

ＦＩＢ照射系１６の照射軸とＳＴＥＭ観察用電子ビーム照射系５の照射軸をほぼ直交させ、その交差位置に試料７を配置して、試料のＦＩＢ断面加工面をＳＴＥＭ観察用試料の薄膜面にとる。 - 特許庁

The complex device including the FIB lens barrel and the SEM lens barrel has a slit formed into a shape to be worked at an aperture for the FIB, whereby ion beam work is performed by transferring a pattern to a sample surface instead of running a converged ion beam thereon.例文帳に追加

本発明はＦＩＢ鏡筒と、ＳＥＭ鏡筒を備えた複合装置において、ＦＩＢ用のアパーチャに加工形状のスリットを備えることにより、集束したイオンビームの走査ではなく試料面にパターンを転写することによりイオンビーム加工するようにした。 - 特許庁

According to the image displayed on the display area of the monitor, an area having a contrast as an evidence indicating the area is processed by FIB is identified.例文帳に追加

このモニター上の表示画面上の像から、ＦＩＢで加工された痕跡を示すコントラストを有する領域が確認できる。 - 特許庁

(ii) The electronic media used for storage shall have sufficient durability to last for the storage period prescribed in Article 315(2) of the FIB Cabinet Office Ordinance. 例文帳に追加

②保存に使用する電子媒体は金商業等府令第315条第２項に規定する保存期間の耐久性を有すること。 - 金融庁

When the amount of the first element existing in the damage layer becomes smaller than a predetermined threshold, end of the second FIB processing is determined.例文帳に追加

ダメージ層に存在する第１の元素の量が所定の閾値より小さくなったとき、第２のＦＩＢ加工の終了を決定する。 - 特許庁

When a quotation key is pressed in comment input (Fib.4(f)), a quotation selection screen of the plurality of received messages is displayed (Fig.4(g)).例文帳に追加

そして、コメント入力（図４（ｆ））において引用キーを押下すると、前記複数の受信メッセージの引用選択画面（図４（ｇ））となる。 - 特許庁

However, in cases where a Financial Instruments Business Operator meets all of the requirements specified in Article 148 of the FIB Cabinet Office Ordinance, they will be permitted as an exception. 例文帳に追加

が、金商業等府令第 148条に定める要件を全て満たした場合には、例外的に認められているところである。 - 金融庁

(3) MEASURES FOR ENSURING THE PROPER BUSINESS OPERATION OF A CREDIT RATING AGENCY [ARTICLE 306(1)(IV) OF THE FIB CABINET OFFICE ORDINANCE] 例文帳に追加

ハ 取締役会等は、法令等遵守に関する施策について、定期的にその効果を確認し必要な改善を図っているか。 - 金融庁

(8) MEASURES WHEREBY A THIRD PARTY CAN EXAMINE THE VALIDITY OF CREDIT RATINGS PERTAINING TO ASSET SECURITIZATION PRODUCTS FROM AN INDEPENDENT STANDPOINT [ARTICLE 306(1)(IX) OF THE FIB CABINET OFFICE ORDINANCE] 例文帳に追加

① 例えば、信用格付を行う部門と手数料に関する交渉を行う部門を分離するなどの措置を採っているか。 - 金融庁

(9) MEASURES FOR ESTABLISHING A POLICY FOR DETERMINING REMUNERATION, ETC., AND FOR ENSURING THAT THE SAID POLICY DOES NOT UNDERMINE THE FAIR AND APPROPRIATE EXECUTION OF ITS CREDIT RATING BUSINESS, ETC. [ARTICLE 306(1)(X)OF THE FIB CABINET OFFICE ORDINANCE] 例文帳に追加

② 信用格付業に関して知り得た情報について、秘密として特定する範囲を明確に定めているか。 - 金融庁

More specifically, the ground plane film 1 is subjected to FIB processing (Ga ion irradiation) to remove a part of the film to make a structure having a recess.例文帳に追加

具体的には、グランドプレーン膜１に、ＦＩＢ加工（Ｇａイオン照射）により、膜の一部を除去して凹部を有する構造とする。 - 特許庁

This cross section form observation method includes a process for forming a protective film on a specimen surface by a deposition method; a process for forming a protective film for working on the protective film by using a FIB; and a process for cutting the specimen with the protective film for working formed thereon by using the FIB to observe its cross section.例文帳に追加

試料表面に蒸着法により保護膜を形成する工程と、前記保護膜上にＦＩＢを用いて加工用保護膜を形成する工程と、前記加工用保護膜の形成された試料をＦＩＢにより切断し、断面を観察する工程とを含む。 - 特許庁

To provide an observation method of an FIB-processed sample by an electron microscope, which enables the identification of a processed part of the sample that is processed into a thin film for a short time by FIB (focused ion beam) and enables the reduction of the time duration from setting of the processed sample to observation of the processed position.例文帳に追加

短時間にＦＩＢで薄膜状に加工された試料の加工部分を見出し、電子顕微鏡への加工済み試料のセットから加工位置の観察までの時間を短縮することができるＦＩＢによる加工試料の電子顕微鏡による観察方法を実現する。 - 特許庁

A pipet 1 having less unevenness by FIB processing and having a pointed tip is made to be close to a particle 2 so as to contact it, the inside of the pipet is vacuumed to adsorb the particle 2 and pick up and move it to the outside of a specimen, and the inside of the pipet 1 is brought into an atmospheric or pressurized state to throw away the particle 2.例文帳に追加

FIB加工で端面の凹凸が少なく先端を尖らせたピペット1をパーティクル2に接するまで近づけピペット内を真空に引きパーティクル2を吸着させて後持ち上げ試料外に移動し、ピペット1内を大気または加圧にしてパーティクル2を捨て去る。 - 特許庁

(1) ARTICLE 325 OF THE FIB CABINET OFFICE ORDINANCE REGARDING FINANCIAL INSTRUMENTS BUSINESS, ETC. (HEREINAFTER REFERRED TO AS THE “FIB CABINET OFFICE ORDINANCE”) 例文帳に追加

具体的には、検査を実施するに際しては、継続的に信用格付業者に関する情報の収集・分析を行っている監督部局から当該検査対象先に関する情報を受領し、かつ、監督部局が当該検査対象先に有している問題意識等を共有した上で、検査に臨む必要がある。 - 金融庁

To solve the following problem: a time for obtaining an FIB related to packet transfer processing vary widely and diversities of a data communication cannot be fitted together.例文帳に追加

パケットの転送処理に関連するＦＩＢを得るための時間のバラツキが大きく、かつデータ通信の多様化に整合させることができない。 - 特許庁

To provide a working observation device capable of observing and analyzing the state of a cross section being worked by an FIB (focused ion beam) apparatus during processing.例文帳に追加

ＦＩＢ装置で加工している断面の状態を、加工中に観察、分析を行うことがができる加工観察装置を提供する。 - 特許庁

To deposit a super-conductive film (a super-conductor) for obtaining super-conductive characteristic in a relatively easy manner by using a focused ion beam (FIB) apparatus.例文帳に追加

集束イオンビーム装置を用いて比較的容易に超伝導特性が得られる膜超電導膜（超電導体）の成膜を可能にする。 - 特許庁

To provide a method for quickly modifying a circuit at a low cost by a FIB treatment equipment, without having to increase wiring delay in any and all case.例文帳に追加

あらゆるケースにおいて配線遅延を大きくすることなく、ＦＩＢ加工装置により迅速且つ安価に回路変更を行うこと。 - 特許庁

To use in common a sample stand both at the FIB processing time and at the SEM observation time, and to prevent collision between a device body and the sample stand.例文帳に追加

ＦＩＢ加工時とＳＥＭ観察時とで試料台を共用するとともに、装置本体と試料台が衝突することを防止する。 - 特許庁

In case that the raw detector signal shows a characteristic corresponding to the region of the reference trace, FIB operation is finished or changed 1740.例文帳に追加

該生の検知器信号が基準トレースの該領域に対応する特性を提示する場合にＦＩＢ操作を終了するか又は変更する。 - 特許庁

To provide a method for performing milling and imaging in a focused ion beam (FIB) system employing an inductively coupled plasma ion source.例文帳に追加

誘導結合プラズマ・イオン源を使用した集束イオン・ビーム（ＦＩＢ）システムにおいてミリングおよび画像化を実行する方法を提供すること。 - 特許庁

Reports regarding international businesses (Article 173 (2) of the Cabinet Office Ordinance regarding Financial Instruments Business, etc. (hereinafter referred to as the “FIB Cabinet Office Ordinance”) 例文帳に追加

イ．国際業務に関する報告書（金融商品取引業等に関する内閣府令（以下「金商業等府令」という。）第173条第２号） - 金融庁

(ii) Supervisors shall check whether the contents and methods of business operations as specified under Article 259 of the FIB Cabinet Office Ordinance include the following items: 例文帳に追加

② 金商業等府令第259条に規定する、業務の内容及び方法には、次の事項が記載されているか否かを確認するものとする。 - 金融庁

To provide a method for STEM sample preparation and analysis that can be used in a FIB-STEM system without a flip stage.例文帳に追加

フリップステージなしにＦＩＢ−ＳＴＥＭシステムで使用されることができるＳＴＥＭサンプル作製および解析のための方法を提供する。 - 特許庁

A router R receiving route information with NO-INJECT attached reflects the route information on an FIB but does not reflect the route information on a RIB.例文帳に追加

ＮＯ−ＩＮＪＥＣＴが付加された経路情報を受信したルータＲは、当該経路情報をＦＩＢに反映するが、ＲＩＢには反映しない。 - 特許庁

To achieve efficient processing into a desired shape in sample-dependent FIB processing without being affected by a personal difference between workers.例文帳に追加

試料依存性があるＦＩＢ加工において、作業者の個人差の影響を受けることなく、希望の形状に効率良く加工できるようにする。 - 特許庁

(i) Whether the credit rating agency has stipulated in its internal rules, etc. specific methods for preparing and storing the books and documents listed in Article 315 of the FIB Cabinet Office Ordinance. 例文帳に追加

①社内規則等に、金商業等府令第315条に掲げる帳簿書類の作成及び保存の方法が具体的に定められているか。 - 金融庁

In switching from imaging to milling, only the BDA is changed, the electrode voltage in the FIB column is not changed and also the position of a beam is not changed.例文帳に追加

前記画像化からミリングへの切換えの際には、ＢＤＡだけを変更し、ＦＩＢカラム内の電極電圧は変更せず、ビームの位置変更もしない。 - 特許庁

After that, the blank 5 is sharpened by the focused ion beam (FIB) process, and a sharp edge (cutting blade edge) 9 with an atomically sharp edge cutting blade is produced.例文帳に追加

その後、ブランク５を集束イオンビーム（ＦＩＢ）加工により尖鋭にして原子的に鋭利な切刃端を持つ新しいシャープエッジ（切刃端）９を生成する。 - 特許庁

Regarding “the explanations provided in a method and to an extent necessary for enabling the customer to understand” specified under Article 117 (1) (i) of the FIB Cabinet Office Ordinance. 例文帳に追加

金商業等府令第117条第１項第１号に規定する「当該顧客に理解されるために必要な方法及び程度による説明」について - 金融庁

(ii) The electronic media for storage shall have sufficient durability to last for the storage period prescribed in Article 157(2) and Article 181(3) of the FIB Cabinet Office Ordinance. 例文帳に追加

② 保存に使用する電子媒体は金商業等府令第157条第２項及び第181条第３項に規定する保存期間の耐久性を有すること。 - 金融庁

(3) Items to Be Specified in Documents Prescribed under Article 9(i) of the FIB Cabinet Office Ordinance.(Documents Specifying Framework for Business Execution Such as Staffing and Organization) 例文帳に追加

（３）金商業等府令第９条第１号の書類（業務に係る人的構成及び組織等業務執行体制を記載した書面）の記載事項 - 金融庁

(14) MEASURES FOR PREVENTING FALSE REPRESENTATIONS BEING MADE ABOUT THE GENERAL NATURE PERTAINING TO THE RESULTS OF CREDIT STATUS ASSESSMENTS OF FINANCIAL INSTRUMENTS OR CORPORATIONS AND PREVENTING REPRESENTATIONS WHICH MAY CAUSE MISUNDERSTANDING ABOUT IMPORTANT MATTERS [ARTICLE 306(1)(XV) OF THE FIB CABINET OFFICE ORDINANCE] 例文帳に追加

② 監督委員会が付与された権限を適切に行使し、実効的な監督業務を行うための人的体制を整備しているか。 - 金融庁

(15) MEASURES TO PREVENT ACTS FROM BEING MISTAKEN AS ACTS PERTAINING TO THE CREDIT RATING BUSINESS, IN CASES WHERE ACTS PERTAINING TO ANCILLARY BUSINESS ARE CONDUCTED [ARTICLE 306(1)(XVI) OF THE FIB CABINET OFFICE ORDINANCE] 例文帳に追加

④ 監督委員会は監督業務において把握した重要な事項を遅滞なく取締役会等に報告することとなっているか。 - 金融庁

The stress and distortion amount on the surface and in the cross section of a silicon exposed by box working of a silicon substrate by FIB are quantitatively measured by Raman spectrometry.例文帳に追加

シリコン基板をＦＩＢにて、ボックス加工して露出させたシリコン断面や表面の応力やひずみ量をラマン分光によって定量的に測定する。 - 特許庁

When a sample 5 processed by an FIB apparatus is inserted into a body tube of the electron microscope, the microscope is automatically set into a scanning secondary electron image acquisition mode.例文帳に追加

ＦＩＢ装置で加工された試料５は、電子顕微鏡鏡筒内に挿入されると、装置は走査２次電子像取得モードに自動的に設定される。 - 特許庁

An electrode of the 4PAFM probe is constituted by manufacturing three slits on a chip of a cantilever using a focused ion beam system (FIB).例文帳に追加

４ＰＡＦＭのプローブの電極は、集束イオンビームシステム（ＦＩＢ）を用いたカンチレバーのチップ上に、３つのスリットを作製することにより構成されている。 - 特許庁

A composite charged particle beam device equipped with an FIB column and an SEM column is provided with an SE3 detector detecting a secondary electron (referred to herein as a third-order electron) emitted by a back scattered electron generated when a sample is irradiated with an electron beam and colliding a structure in a sample chamber.例文帳に追加

本発明では、FIBカラムとSEMカラムを備える複合荷電粒子線装置に、電子ビームを試料に照射したときに発生する後方散乱電子が試料室の構造物に衝突することによって放出される二次電子（本明細書では、三次電子という）を検出するSE3検出器を設けている。 - 特許庁