「Line Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

DEFECT MARKER, DEFECT MARKING PROCESSING LINE, METHOD OF MARKING DEFECT, AND METHOD OF MANUFACTIRING DEFECT-MARKED COIL例文帳に追加

欠陥マーキング装置、欠陥マーキング処理ライン、欠陥マーキング方法及び欠陥マーキングされたコイルの製造方法 - 特許庁

The simulation defect sample 10 is so attached to the defect inspecting device that the simulation defect 13 is diagonal to the scan line of the defect inspecting device.例文帳に追加

この模擬欠陥１３が欠陥検査装置の走査ラインに対して斜めになるように、模擬欠陥サンプル１０を欠陥検査装置に取り付ける。 - 特許庁

To make it possible to enhance the detection accuracy of a line defect and to enhance the identification accuracy of the point defect and the line defect in inspection of a TFT array.例文帳に追加

ＴＦＴアレイの検査において、線欠陥の検出精度を高めることができ、また、点欠陥と線欠陥の識別精度を高めること。 - 特許庁

LINE INSPECTION DEVICE FOR METAL SURFACE DEFECT例文帳に追加

金属表面欠陥ライン検査装置 - 特許庁

To improve the detection accuracy of an adjacent defect line.例文帳に追加

隣接欠陥ラインの検出精度の向上を実現する。 - 特許庁

LINE DEFECT DETECTION METHOD AND DEVICE FOR SCREEN例文帳に追加

画面の線欠陥検出方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DETECTING LINE DEFECT ON PANEL例文帳に追加

パネルの線欠陥検出方法及び装置 - 特許庁

INSPECTION METHOD AND INSPECTION DEVICE OF LINE WIDTH AND DEFECT例文帳に追加

線幅や欠陥の検査方法及び検査装置 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING STEEL PLATE DEFECT IN ROLLING LINE例文帳に追加

圧延ラインにおける鋼板欠陥の検出方法 - 特許庁

It is a defect data analysis method to analyze the defect distribution status based on defect position coordinates detected by an inspection device to classify into any one of the distribution characteristics categories among iterations defect, high density defect, line distribution defect, ring/massive distribution defect, and random defect.例文帳に追加

検査装置によって検出された欠陥位置座標に基づいて欠陥の分布状態を解析し、繰り返し欠陥、密集欠陥、線状分布欠陥、環・塊状分布欠陥、ランダム欠陥のうちいずれかの分布特徴カテゴリに分類する。 - 特許庁

To interpolate a spot defect and a line defect of a photographed image caused by image element defects of a digital camera.例文帳に追加

デジタルカメラの撮像素子欠陥により生じた撮影画像の点欠陥や線欠陥を補間する。 - 特許庁

To prevent a point defect or a line defect of a thin film semiconductor device used for a display or the like.例文帳に追加

ティスプレイなどに用いられる薄膜半導体装置の点欠陥や線欠陥を防止する。 - 特許庁

To eliminate a line trouble caused by harmful defect, without beforehand cutting the harmful defect portion.例文帳に追加

有害欠陥部分を事前にカットすることなく、有害欠陥によるライントラブルを解消する。 - 特許庁

To provide a line defect detection method with which even a line defect in a gate direction can be clearly detected in defect detection of a TFT array substrate, and a line defect detection apparatus.例文帳に追加

ＴＦＴアレイ基板の欠陥検出において、ゲート方向の線欠陥でも明確に検出することができる線欠陥検出方法及び線欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

In the flat-panel X-ray detector, a line defect connected in a line may be generated and further, an uncertain defective line that cannot be determined to be a defect at a glance may be present at times, in a line adjacent to the line defect.例文帳に追加

フラットパネルＸ線検出器では線状につながった線欠陥が生じる場合があり、さらにその線欠陥に隣接するラインに一目では欠陥とわかりづらい不確かな欠陥ラインが存在する場合がある。 - 特許庁

To make detectable not only a white line but also a black line in a line defect, and to enhance detection precision.例文帳に追加

線欠陥で白線に限らず黒線も検出でき、さらに検出精度の向上を目的とする。 - 特許庁

Then, the detection device determines a point defect and a line defect from the defect pixel candidates in each classification after movement.例文帳に追加

そして、検出装置は、移動後の前記種別ごとの欠陥画素候補から、点欠陥又は線欠陥を決定する。 - 特許庁

To provide an inspection method for inspecting a dot-shape defect, a line shape defect, a defect in unevenness of luminance and the like in the stage of an active matrix substrate.例文帳に追加

アクティブマトリクス基板の段階で、点欠陥、線欠陥、輝度むら欠陥などを検査することができる検査方法を提供すること。 - 特許庁

To prevent a line defect from occurring by keeping a defect to a point defect even when an electron emitting element is short-circuited in use.例文帳に追加

使用中に電子放出素子が短絡しても点欠陥に留めて線欠陥になることを防止する。 - 特許庁

A linear high-luminance defect (V line defect) may occur on a photographed image due to the defect in a vertical CCD of an imaging sensor.例文帳に追加

撮像センサの垂直ＣＣＤにおける欠陥に起因して撮影画像上にライン性の高輝度の傷（Ｖライン傷）が発生することがある。 - 特許庁

To exactly detect a defect candidate area and a line unevenness area or a point defect area, when the defect candidate area is overlapped with at least one part of the line unevenness area or the point defect area.例文帳に追加

欠陥候補領域が筋ムラ領域または点欠陥領域の少なくとも一部と重複する場合において、欠陥候補領域および筋ムラ領域または点欠陥領域を的確に検出する。 - 特許庁

To provide a two-dimensional color solid-state imaging element capable of easily carrying out complement processing even on the occurrence of a longitudinal line defect or a lateral line defect.例文帳に追加

縦線欠陥や横線欠陥が発生した場合であっても、補完処理を容易に行うことができる二次元カラー固体撮像素子を得る。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE PROVIDED WITH WORD LINE DEFECT CHECK CIRCUIT例文帳に追加

ワードライン欠陥チェック回路を具備した半導体メモリ装置 - 特許庁

To provide a liquid crystal display without a line defect in pixel display.例文帳に追加

画素表示に線欠陥のない液晶表示装置を提供する。 - 特許庁

To inspect whether or not a defect such as disconnection is caused in a speaker line.例文帳に追加

スピーカラインに断線等の異常が生じていないかを検査する。 - 特許庁

To well examine a surface defect near a weld line retaining marginal welding.例文帳に追加

余盛りを残す溶接線近傍の表面欠陥を良好に検査する。 - 特許庁

SURFACE DEFECT DETECTING DEVICE FOR STEEL STRIP IN PICKLING LINE例文帳に追加

酸洗ラインにおける鋼帯の表面欠陥検出装置 - 特許庁

MARKET DEFECT DATA COUNTING METHOD, SERVICE LIFE PREDICTION LINE CREATING METHOD, MARKET DEFECT DATA COUNTING DEVICE, SERVICE LIFE PREDICTION LINE CREATING DEVICE, MARKET DEFECT DATA COUNTING PROGRAM, SERVICE LIFE PREDICTION LINE CREATING PROGRAM AND RECORDING MEDIA RECORDING PROGRAM例文帳に追加

市場不良データ集計方法、寿命予測線作成方法、市場不良データ集計装置、寿命予測線作成装置、市場不良データ集計プログラム、寿命予測線作成プロラム、及び該プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

In fatal defect automatic extracting processing, X line relief discrimination processing and Y line relief discrimination processing are continuously performed, X line relief discrimination processing is performed considering defect in the direction of Y line, Y line relief discrimination processing is performed considering defect in the direction of X line.例文帳に追加

致命不良自動抽出処理は、Ｘライン救済判定処理及びＹライン救済判定処理を連続して行い、Ｘライン救済判定処理はＹライン方向の不良を考慮して行い、Ｙライン救済判定処理はＸライン方向の不良を考慮して行われる。 - 特許庁

In the recoil line, as the position of a defect approaches an inspection base, an line speed is automatically decelerated.例文帳に追加

リコイルラインでは、欠陥のある位置が検査台に近づくと自動的にライン速度が減速される。 - 特許庁

To widen a bit line pitch and to avoid a vicinity defect of a bit line and a via contact.例文帳に追加

ビット線ピッチを緩和し、ビット線とビアコンタクトの近接不良を回避する。 - 特許庁

To simply and surely correct a defect of disconnection when a scanning line and a signal line are disconnected.例文帳に追加

走査線及び信号線の断線時に、簡潔かつ確実に断線欠陥を修正する。 - 特許庁

For a V line defect generated in an image due to defect in VCCD of an imaging sensor, the position (initial defect position) of a V line defect generated in an initial state of activation of an imaging apparatus is previously stored in a defect address memory.例文帳に追加

撮像センサのＶＣＣＤにおける欠陥に起因して画像において発生するＶライン傷について、撮像装置の起動初期状態において発生するＶライン傷の位置（初期傷位置）を傷アドレスメモリに予め記憶しておく。 - 特許庁

To solve such a problem, a photographing person operates a frame feed/zoom switch before main photographing to designate any one of a plurality of kinds of defect correcting methods including a defect correcting method by offset for correcting a V line defect and a defect correcting method of a V line defect by pixel correction.例文帳に追加

このような問題に対して、本撮影前に、撮影者がコマ送り・ズームスイッチを操作することで、Ｖライン傷を補正するオフセットによる傷補正方法および画素補間による傷補正方法を含む複数種類の傷補正方法のうち一のＶライン傷の傷補正方法を指定する。 - 特許庁

In addition, with a leak defect caused at the intersection of a gate line 1 and the data line 2, the data line 2 is cut on both sides of the gate line 1.例文帳に追加

また、ゲート線１とデータ線２との交差部にリーク不良が生じたときには、ゲート線１の両側でデータ線２を切断する。 - 特許庁

For a linear defect (V line defect) generated on an image due to defect on the vertical CCD of an imaging element (CCD), the imaging apparatus can detect an offset component equivalent to the defect level to perform correction.例文帳に追加

撮像装置では、撮像素子(ＣＣＤ)の垂直ＣＣＤ上の欠陥に起因して画像上で生じるライン性の傷(Ｖライン傷)に対して、例えば傷レベルに相当するオフセット成分を検出して補正を行える。 - 特許庁

A defect kind decision unit 47 compares the defect addresses stored in the defect address storage unit 46 to decide whether the length of the longitudinal line flaw depends upon the exposure time, and records the decision result in a defect information recording unit 48.例文帳に追加

欠陥種別判定部４７は、欠陥アドレス格納部４６に格納された欠陥アドレスを比較して、縦線キズの長さが露光時間に依存するか否かを判定し、判定結果を欠陥情報記録部４８に記録する。 - 特許庁

To provide a defect detecting method for detecting a defect such as cracking and a crack while having high detecting capability of not becoming unclear in a boundary line of the defect such as the crack without rounding a corner part of the defect such as the crack.例文帳に追加

亀裂等の欠陥の角部が丸められることなく亀裂等の欠陥の境目が不明瞭とならない高い検出能力を有する、割れや亀裂等のような欠陥を検出するための欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect marking system to a thin steel sheet capable of removing a defect mark imparted by the error operation of a defect detector without stopping a line and obtaining a product at a state an effective defect only is marked.例文帳に追加

ラインを停止すること無く、欠陥検出器の誤作動によって付された欠陥マークを除去し、有効な欠陥マークのみを付した状態で成品を得ることができる薄鋼板への欠陥マーキングシステムを提供する。 - 特許庁

An inspection device detects the line unevenness area indicating a line unevenness defect in an objective image obtained from a substrate, and the point defect area indicating a point defect.例文帳に追加

ムラ検査装置では、基板から得られる対象画像において筋ムラ欠陥を示す筋ムラ領域、および、点欠陥を示す点欠陥領域が検出される。 - 特許庁

To provide a line defect inspection method capable of detecting highly accurately even a line defect generated from linearly-aligned pixels having respectively a defect on a part in each pixel.例文帳に追加

画素内の一部に欠陥を有する画素が線状に並んで生じる線欠陥をも高精度に検出することができる線欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a laser cut apparatus for detecting any defect of a laser cut line with high accuracy, and eliminating the defect.例文帳に追加

レーザーカット線の不良を高い精度で検出して排除することができるレーザーカット装置を提供すること。 - 特許庁

By doing this, the one defect correcting method of a V line defect which is set is selectively executed in actual photographing.例文帳に追加

そうすると、本撮影時には、設定された一のＶライン傷の補正方法が選択的に実行される。 - 特許庁

A line sensor camera 5 for photographing the light beam having transmitted through a hole defect 2 or crack defect 3 of the steel strip 1 is installed above the steel strip 1.例文帳に追加

また鋼帯１の上方には、鋼帯１の穴欠陥２または割れ欠陥３を透過した光線を撮影するラインセンサカメラ５を設置した。 - 特許庁

To shorten a test time for detecting short circuit defect by detecting efficiently short circuit defect between a word line and another wiring.例文帳に追加

ワード線と他の配線間のショート不良を効率よく検出し、ショート不良を検出するためのテスト時間を短縮する。 - 特許庁