1153万例文収録!

「P- type」に関連した英語例文の一覧と使い方(64ページ目) - Weblio英語例文検索


小窓モード

プレミアム

ログイン
設定

設定


セーフサーチ:オン

不適切な検索結果を除外する

不適切な検索結果を除外しない

セーフサーチについて

P- typeの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 9428



例文

A first transfer gate 240 provided between a memory cell MC and a bit line BL has P type and N type MOS transistors Xfer (P, N) connected to a sub-word line decoder SWDec.例文帳に追加

メモリセルMCとビット線BLとの間に設けられた第1のトランスファーゲート240は、サブワード線デコーダSWDecに接続されたP型及びN型MOSトランジスタXfer(P,N)を有する。 - 特許庁

To provide a duty correction circuit that corrects a duty ratio to a desired numeric value even if the characteristics of an N-type transistor and a P-type transistor deviate from the design stage due to variations in process and change in process.例文帳に追加

プロセスバラツキや、プロセス変更によりN型トランジスタ及びP型トランジスタ双方の特性が設計段階に対してずれても、デューティ比を所望の数値に補正するデューティ補正回路を提供する。 - 特許庁

Impurity surface concentration of the first p-type region 6a is 1.8×10^13 to10^13cm^-2, and impurity surface concentration of the second p-type region 6b is 1×10^13 to 2.5×10^13cm^-2.例文帳に追加

第1のp型領域6aの不純物面濃度は、1.8×10^13〜4×10^13cm^-2であり、第2のp型領域6bの不純物面濃度は、1×10^13〜2.5×10^13cm^-2である。 - 特許庁

Al_XGa_1-XAs (X=0.46) is used as a material of the p-type AlGaAs cladding layer 34 and InGa_1-YAl_YP (Y=0.7) is used as a material for the p-type InGaAlP cladding layer 44.例文帳に追加

p型AlGaAsクラッド層34の材料にAl_XGa_1-XAs(X=0.46)が用いられ、p型InGaAlPクラッド層44の材料にInGa_1-YAl_YP(Y=0.7)が用いられている。 - 特許庁

例文

At the same time, the surface and rear insulating films react with the n-type and p-type impurities, and a PSG film and a BSG film which have almost the same width as those of the n++ and the p++ semiconductor layers are respectively formed.例文帳に追加

同時に,表面及び裏面絶縁膜は,n型及びp型の不純物と反応して,n++半導体層及びp++半導体層とほぼ同幅で,PSG膜及びBSG膜が各々形成される。 - 特許庁


例文

The N+ diffusion region 15a is formed in a part of the P-type well 4a located at the bottom of an opening 13 penetrating an element isolation film 3a, from a surface of the P-type well 4a to a predetermined depth.例文帳に追加

N+拡散領域15aは、素子分離酸化膜3aを貫通する開口部13の底に位置するP型ウェル4aの部分に、その表面から所定の深さにわたり形成されている。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a light-emitting element by which a p-type oxide layer can be formed reproducibly and stably in a light- emitting element containing the p-type oxide layer of Zn or Mg.例文帳に追加

Zn及びMgのp型酸化物層を含んだ発光素子において、該p型酸化物層の形成を再現性よく安定的に行なうことができる発光素子の製造方法を提供する。 - 特許庁

A p-type semiconductor clad layer 12, an active layer 11, and an n-type semiconductor clad layer 13 are stacked, and then holes 16 penetrating through these three layers are periodically formed to fabricate a two-dimensional photonic crystal.例文帳に追加

p型半導体クラッド層12、活性層11及びn型半導体クラッド層13に、これら3つの層を通る空孔16を周期的に設けることにより2次元フォトニック結晶を形成する。 - 特許庁

The carrier concentration at a p-type current block layer of the spot size conversion part of the semiconductor laser, where the spot size conversion part is integrated, is made lower than that at a p-type current block layer of the laser part.例文帳に追加

スポットサイズ変換部を集積化した半導体レーザにおけるスポットサイズ変換部のp型電流ブロック層のキャリア濃度を、レーザ部のp型電流ブロック層のキャリア濃度よりも低くする。 - 特許庁

例文

The semiconductor layer is also provided with first and second Si body regions 22 and 23, an SiGe body region 24 containing p-type impurities of high concentration, and an Si channel layer 25 containing p-type impurities of low concentration.例文帳に追加

また、第1,第2Siボディ領域22,23と、高濃度のp型不純物を含むSiGeボディ領域24と、低濃度のp型不純物を含むSiチャネル層25とが設けられている。 - 特許庁

例文

To do this, type n to create a new partition, then p to tell fdisk that you want a primary partition. Then type 2 to create the second primary partition, /dev/sda2 in our case.例文帳に追加

この作業のためには、新規パーティションを作成するのにn、基本パーティションを選択するのにpを入力します. そして2番目の基本パーティション、この例では/dev/hda2を作成するのに2と入力します。 - Gentoo Linux

To do this, type n to create a new partition, then p to tell fdisk that you want a primary partition. Then type 3 to create the third primary partition, /dev/sda3in our case. 例文帳に追加

この作業のためには、新規パーティションを作成するのにn、基本パーティションを選択するのにpを入力します. そして3番目の基本パーティション、この例では/dev/hda3を作成するのに3と入力します。 - Gentoo Linux

To do this, type n to create a new partition, then p to tell fdisk that you want a primary partition. Then type 2 to create the second primary partition,/dev/sda2 in our case.例文帳に追加

この作業のためには、新規パーティションを作成するのにn、基本パーティションを選択するのにpを入力します. そして2番目の基本パーティション、この例では/dev/sda2を作成するのに2と入力します。 - Gentoo Linux

To do this, type n to create a new partition, then p to tell fdisk that you want a primary partition. Then type 3 to create the third primary partition, /dev/sda3 in our case.例文帳に追加

この作業のためには、新規パーティションを作成するのにn、基本パーティションを選択するのにpを入力します. そして3番目の基本パーティション、この例では/dev/sda3を作成するのに3と入力します。 - Gentoo Linux

The p-n junction is formed by laminating, for example, an n-type layer (clad layer) 3 of a GaN compound semiconductor and a p-type layer (clad layer) 5 of the GaN compound semiconductor.例文帳に追加

たとえばGaN化合物半導体からなるn形層(クラッド層)3と、GaN化合物半導体からなるp形層(クラッド層)5とが積層されることによりpn接合が形成されている。 - 特許庁

For example, the p-n junction body, manufactured by applying and baking LaSrCoO_3 which is p-type oxide on a pellet of n-type manganese oxide by spin coating has the function of the battery action using light.例文帳に追加

例えば、p型酸化物であるLaSrCoO_3を、n型マンガン酸化物のペレット上にスピンコーテングで塗布し、焼き付けて作製したp−n接合体は、光によって電池作用の機能をもつ。 - 特許庁

A p-n tunnel junction 220 between a p-type semiconductor layer 216 and an n-type semiconductor layer 218 provides current injection for an edge-emitting nitride based semiconductor laser structure 200.例文帳に追加

p型半導体層216とn型半導体層218との間のp−nトンネル接合220は、エッジ発光型窒化物系半導体レーザ構造200のための電流注入を提供する。 - 特許庁

A semiconductor element has an MQW active layer 43 made of a first group III nitride semiconductor and a p-type contact layer 45 made of a second group III nitride semiconductor doped with the p-type impurities.例文帳に追加

半導体素子は、第1のIII族窒化物半導体からなるMQW活性層43と、p型不純物がドーピングされた第2のIII族窒化物半導体からなるp型コンタクト層45とを有している。 - 特許庁

Thereafter, P-type impurity ions 8 for element-isolating memory cells are implanted using the gate electrode 3 and the side wall oxide film 7 as masks for the formation of P-type impurity regions.例文帳に追加

その後、ゲート電極3及びサイドウォール酸化膜7をマスクとしてメモリセルの素子分離のためのP型不純物のイオン注入8をすることによって、P型不純物領域9を形成する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a p-type GaN semiconductor for stably activating a p-type impurities to reduce the contact resistance while hydrogen passivation is prevented.例文帳に追加

水素パッシベーションを防ぎつつ接触抵抗を低減するために、p型不純物の活性化処理を安定的に行うことができるp型GaN系半導体の製造方法を提供すること。 - 特許庁

The compound semiconductor substrate 10 is equipped with substrate 12 consisting of a p type compound semiconductor, and substance 14 combining with surface 12a of the substrate 12 while containing a p-type dopant atom.例文帳に追加

化合物半導体基板10は、p型の化合物半導体からなる基板12と、基板12の表面12aに結合しておりp型の不純物原子を含む物質14とを備える。 - 特許庁

A semiconductor device 100 includes a p-type buried layer 26, and a hetero-junction layer 32 of a nitride semiconductor provided on the p-type buried layer 26 and having a hetero-junction surface 3.例文帳に追加

半導体装置100は、p型の埋込み層26と、p型埋込み層26上に設けられており、ヘテロ接合面3が構成されている窒化物半導体のヘテロ接合層32を備えている。 - 特許庁

A bi-directional diode of which the threshold value is approximately Vdd is inserted between a gate and a drain using the LVP (low voltage P type transistor) instead of HVP (high voltage P type transistor) of a transfer circuit.例文帳に追加

転送回路のHVP(ハイボルテージP型トランジスタ)の代わりにLVP(ロウボルテージP型トランジスタ)を使用して、ゲートとドレインとの間に閾値がVdd程度となる双方向のダイオードを挿入する。 - 特許庁

A compound semiconductor substrate 10a comprises a substrate 12 consisting of a p type compound semiconductor, and a substance 14 bonded to a surface 12a of the substrate 12 and containing a p-type impurity atom.例文帳に追加

化合物半導体基板10aは、p型の化合物半導体からなる基板12と、基板12の表面12aに結合しておりp型の不純物原子を含む物質14とを備える。 - 特許庁

The P-type layer 48 is connected electrically to the conductive via 56 of the mutual connection constructions 42 and 43 through a transparent conductor 50, which is placed covering the P-type layer 48 and the I layer 46.例文帳に追加

P型層48は、P型層48及びI層46を覆うように配置される透明導電体50によって相互接続構造42、43の導電性ビア56に電気的に接続される。 - 特許庁

The second photo resist 5 is formed on both sides of a P-type impurity area 4 so that it may have a second opening K2 in an area overlying partly over the P-type impurity area 4.例文帳に追加

第2のホトレジスト5は、P型の不純物領域4の両側に、P型の不純物領域4に部分的にオーバーラップする領域に第2の開口部K2を有するように形成される。 - 特許庁

In this way, an electric field concentration portion when a drain voltage is high voltage is not a lower part of the joint portion between the p-type deep layer 10 and the p-type resurf layer 15, but a guard ring portion.例文帳に追加

これにより、ドレイン電圧が高電圧となった時の電界集中部分がp型ディープ層10とp型リサーフ層15の接合部分の下部ではなくガードリング部となるようにできる。 - 特許庁

In this hetero-junction bipolar transistor, an n+-type AlGaAs emitter layer 5, a p+-type GaAs base layer 6, an n-type GaAs collector layer 7, an n+-type GaAs collector cap layer 8, and a collector electrode 11 made of an alloy of AuGe and Ni sequentially formed on an n+-type GaAs substrate 1.例文帳に追加

本発明のヘテロ接合バイポーラトランジスタは、n^+型GaAs基板1上にn^+型AlGaAsエミッタ層5、p^+型GaAsベース層6、n型GaAsコレクタ層7、n^^+型GaAsコレクタキャップ層8、AuGeとNiの合金から成るコレクタ電極11を順次形成している。 - 特許庁

An N-type silicon-gerumanium mixed crystal layer 5 is formed on an N-type silicon substrate 4, and an N-type silicon layer 6 is formed thereon, and furthermore, a P-type silicon diffused layer 7 is formed in the N-type silicon layer 6.例文帳に追加

N型シリコン基板4の上にN型シリコン−ゲルマニウム混晶層5が形成され、N型シリコン−ゲルマニウム混晶層5の上にN型シリコン層6が形成され、さらに、N型シリコン層6内にP型シリコン拡散層7が形成される。 - 特許庁

The GaP light emitting device 1 has a structure of laminating an n-type GaP buffer layer 11, an n-type GaP layer 12, an N dope n-type GaP layer 13, and a p-type GaP layer 14 on an n-type GaP mono-crystal substrate 10.例文帳に追加

GaP発光素子1は、n型GaP単結晶基板10上に、n型GaPバッファ層11、n型GaP層12、Nドープn型GaP層13、p型GaP層14が積層された構造を有する。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit device forms a memory cell of an n-channel MISFETQ_L including an n-type gate electrode 10N made of a polycrystalline silicon film with impurities having an n-type conductivity type introduced, and an n-channel MISFETQ_H including a p-type gate electrode 10P made of a polycrystalline silicon film with impurities having a p-type conductivity type introduced.例文帳に追加

n型の導電型を有する不純物が導入された多結晶シリコン膜からなるn型ゲート電極10Nを備えるnチャネル型のMISFETQ_Lと、p型の導電型を有する不純物が導入された多結晶シリコン膜からなるp型ゲート電極10Pを備えるnチャネル型のMISFETQ_Hとからメモリセルを形成する。 - 特許庁

An n^+-type impurity region 52 is formed in an n^--type semiconductor layer 2 in a high potential island region 201 partitioned by a p-type impurity region 3, and first field plate 55a-55e and a plurality of second field plates are formed in multiplex above the n^--type semiconductor layer 2 between the n^+-type impurity region 52 and the p-type impurity region 3.例文帳に追加

p不純物領域3で区分された高電位島領域201内のn^-半導体層2にはn^+不純物領域52が形成されており、n^+不純物領域52とp不純物領域3との間のn^-半導体層2の上方には第1フィールドプレート55a〜55eと複数の第2フィールドプレートとが多重に形成されている。 - 特許庁

The gate interconnection 14 and the source interconnection 13 are each connected to a different N^+-type region 10, the planar shapes of two P-type regions 11 adjacent to the N^+-type region 10 differ between the N^+-type regions 10, and the planar shapes of the two N^+-type regions 10 adjacent to the P-type region 11 differ.例文帳に追加

ゲート配線14およびソース配線13は、それぞれ異なるN^+型領域10に接続されており、それらのN^+型領域10の間において、N^+型領域10に接する2つのP型領域11の平面形状が異なり、P型領域11に隣接する2つのN^+型領域10の平面形状が異なっている。 - 特許庁

A contacted area between a P-type silicon substrate 1 and an N-type low-concentration well region 2 is reduced by forming a trench on the silicon substrate at a charge accumulation region 6 of a MOS type capacitor, so that the MOS type capacitor with a reduced leakage current from the N-type low-concentration well region 2 to the P-type silicon substrate 1 can be obtained.例文帳に追加

MOS型のキャパシタの電荷蓄積領域6のシリコン基板にトレンチを設けることにより、P型シリコン基板1とN型低濃度ウェル領域2の接触面積を減少させたから、N型低濃度ウェル領域2からP型シリコン基板1へのリーク電流を低減させたMOS型キャパシタを得ることが出来る。 - 特許庁

In a semiconductor laser element 100, a buffer layer 2, an undoped GaN layer 3, an n-type GaN layer 4, an n-type crack preventive layer 5, an n-type AlGaN first clad layer 6, an MQW light emitting layer 7, a p-type AlGaN second clad layer 8, and a p-type contact layer 9 are formed sequentially on a sapphire substrate 1.例文帳に追加

半導体レーザ素子100は、サファイア基板1上に、バッファ層2、アンドープのGaN層3、n−GaN層4、n−クラック防止層5、n−AlGaNからなる第1クラッド層6、MQW発光層7、p−AlGaNからなる第2クラッド層8、p−コンタクト層9が順に形成されてなる。 - 特許庁

In the high-voltage semiconductor device (horizontal IGBT), an N-type drift region 104 and a P-type body region 105 are formed in an SOI layer 103, an N-type emitter region 106 is formed in the body region 105, and an N-type buffer region 115 and a P-type collector region 116 are formed in the drift region 104.例文帳に追加

高耐圧半導体装置(横型IGBT)において、SOI層103内にN型ドリフト領域104、P型ボディ領域105が形成され、ボディ領域内105内にN型エミッタ領域106、ドリフト領域104内にN型バッファ領域115とP型コレクタ領域116が形成される。 - 特許庁

The visible-light response type photocatalyst has a p-type organic semiconductor and a n-type organic semiconductor, wherein the photocatalyst consists of a three-layer structure in which the p-type organic semiconductor and the n-type organic semiconductor are laminated on an adsorption material layer in this order.例文帳に追加

p型有機半導体とn型有機半導体と吸着材とを含有する可視光応答型光触媒であり、具体的には、吸着材層上に、p型有機半導体層及びn型有機半導体層がこの順に積層した三層構造を有する可視光応答型光触媒に関する。 - 特許庁

A semiconductor device comprises a p-type semiconductor layer 12, an n-type source region 13, an insulator 23, an n-type semiconductor region 20, an n-type drain region 14, a p-type channel region 12a, a gate insulating film 15, a gate electrode 16, a source electrode 18, a drain electrode 19, and an electrode 21.例文帳に追加

半導体装置は、p形半導体層12と、n形のソース領域13と、絶縁体23と、n形半導体領域20と、n形のドレイン領域14と、p形のチャネル領域12aと、ゲート絶縁膜15と、ゲート電極16と、ソース電極18と、ドレイン電極19と、電極21とを備える。 - 特許庁

The semiconductor device 1 has a p-type well region 3, an n-type drift region 4, a plurality of n^+-type source regions 5, and an n^+-type drain region 6 that are formed on a p-type substrate.例文帳に追加

p型基板に、p型ウェル領域3、n型ドリフト領域4、複数のn^+型ソース領域5およびn^+型ドレイン領域6が形成された半導体装置1を、n^+型ドレイン領域6と各n^+型ソース領域5との間に形成されるチャネルがn^+型ドレイン領域6の周囲に略楕円状に配置されるような構造とする。 - 特許庁

In the nitride semiconductor element comprising an active layer between an n type nitride semiconductor and a p type nitride semiconductor, the n type nitride semiconductor has an n type multilayer film layer obtained by laminating an n type contact layer made of an AlgGa1-gN (0≤g≤0.2), a GaN layer and an InpGa1-pN (0<p<1) layer.例文帳に追加

n型窒化物半導体とp型窒化物半導体との間に、活性層を有する窒化物半導体素子において、n型窒化物半導体は、AlgGa1−gN(0≦g≦0.2)からなるn型コンタクト層と、GaN層とIn_pGa_1-pN(0<p<1)層とが積層されてなるn型多層膜層とを含む。 - 特許庁

To obtain high yield in a self-oscillating type nitride semiconductor laser element, wherein a substrate is overlaid with an n-type clad layer, an active layer and a p-type clad layer, the p-type clad layer is provided with a stripe part protruding upward, and n-type current-constriction layers are formed on both sides of the stripe part, respectively.例文帳に追加

基板1上に、n型クラッド層3、活性層4、及びp型クラッド層5が形成され、p型クラッド層5は上向きに突出するストライプ部53を具え、該ストライプ部53の両側にn型電流狭窄層6、6を形成している自励発振型の窒化物半導体レーザ素子において、従来よりも高い歩留まりを実現する。 - 特許庁

In a power transistor composed by arranging a plurality of vertical type PNP transistors on a P type silicon substrate 1, one or a plurality of electrodes parts a of N+ type embedded layer 2 for separating the collector of the plurality of vertical type PNP transistors from the P type silicon substrate 1 are provided in an active region of the power transistor.例文帳に追加

P型シリコン基板1上に縦型PNPトランジスタを複数並べて構成されたパワートランジスタにおいて、前記P型シリコン基板1と前記複数の縦型PNPトランジスタのコレクタを分離するためのN+型埋込層2の電極部aをパワートランジスタの能動領域内に1箇所または複数有する。 - 特許庁

Related to a valid imaging region 100A, an N- type impurity region 132 is formed on a P- type well layer 130 provided at the deep layer of an N- type Si substrate 110, over which an N- type photoelectric conversion region 134 and a P+ type impurity region 136 which constitute a photodiode 112 are formed.例文帳に追加

有効撮像領域100Aでは、N型Si基板110の深層に設けたP型ウエル層130の上にN−型不純物領域132を形成し、その上にフォトダイオード部112を構成するN型光電変換領域134とP+型不純物領域136を形成する。 - 特許庁

A semiconductor device 1 comprises a photo diode 2 consisting of a high-concentration N-type silicon substrate 5, a first low-concentration N-type epitaxial layer 6, a second low-concentration N-type epitaxial layer 7 and a P-type anode unloading region 8, and a semiconductor integrated circuit formed on a P-type well region 9 in the layer 6.例文帳に追加

半導体装置1を、高濃度N型シリコン基板5、第1低濃度N型エピタキシャル層6、第2低濃度N型エピタキシャル層7およびP型アノード取り出し領域8から成るフォトダイオード2と、第1低濃度N型エピタキシャル層6のP型ウェル領域9に形成した半導体集積回路とから構成する。 - 特許庁

Dopants, for example an n-type dopant like Ga which is an element of group III and p-type dopant like N which is an element of group V, are doped on a ZnO crystal layer, wherein the n-type dopant is more than the p-type dopant and the n-type dopant is dorped at the impurity concentration of 1×1018 cm-3 or higher.例文帳に追加

ZnO結晶層にドーパントとして、たとえばGaのようなIII族元素などのn型ドーパントと、たとえばNのようなV族元素などのp型ドーパントとがドーピングされ、そのn型ドーパントがp型ドーパントより多く、かつ、n型ドーパントが1×10^18cm^-3以上の不純物濃度にドーピングされている。 - 特許庁

In an oxide semiconductor light emitting element which is formed by laminating at least an n-type clad layer constituted of a ZnO semiconductor, an active layer, a p-type clad layer and a p-type contact layer one by one on a substrate, an In-doped n-type ZnO semiconductor layer is formed between the substrate and the n-type clad layer.例文帳に追加

基板上に少なくとも、ZnO系半導体で構成されたn型クラッド層、活性層、p型クラッド層、p型コンタクト層が順次積層されて成る酸化物半導体発光素子において、前記基板と前記n型クラッド層の間にInをドープしたn型ZnO系半導体層を形成する。 - 特許庁

A p^+-type base region 108, n^+-type emitter region 109, a gate insulating film 110, a gate electrode film 111, an interlayer insulating film 112, p^+-type collector layer 113, and an emitter electrode film 114, are formed on an implanted substrate 102 on which n^--type drift layer 106 and n^+-type buffer layer 107 are formed.例文帳に追加

N^−型ドリフト層106及びN^+型バッファ層107を形成した注入基板102に、P^+型ベース領域108及びN^+型エミッタ領域109、ゲート絶縁膜110、ゲート電極膜111、層間絶縁膜112、P^+型コレクタ層113、エミッタ電極膜114を形成する。 - 特許庁

Curved parts 111, 112 are provided on a core 103 part which constructs a rib type waveguide composed of a semiconductor and pairs of a p-type semiconductor region (a p-type carrier supplying part) 105a, 105b and an n-type semiconductor region (an n-type carrier supplying part) 106a, 106b are provided on the curved parts 111, 112.例文帳に追加

半導体から構成されたリブ型導波路を構成しているコア103一部に曲部111,112を設け、曲部111,112において、p形半導体領域(p形キャリア供給部)105a,115bとn形半導体領域(n形キャリア供給部)106a,106bの対を設ける。 - 特許庁

Next, an N-type well 14 is formed in the region just under the STI 12 in the N-type well resistance element forming region, and a donor diffusing region 20 is also formed in a P-type MOS transistor forming region by doping the donor in the N-type well resistance element forming region and the P-type MOS transistor forming region.例文帳に追加

次に、Nウェル抵抗素子形成領域及びP型MOSトランジスタ形成領域に対してドナーを注入して、Nウェル抵抗素子形成領域におけるSTI12の直下域にN型ウェル14を形成すると共に、P型MOSトランジスタ形成領域にドナー拡散領域20を形成する。 - 特許庁

例文

When forming a sensor region by n-type ion implantation onto a silicon substrate and then providing an HAD structure by p-type ion implantation onto a surface of the sensor region, the step of p-type ion implantation is divided into multiple times and before or after sidewall formation of a transfer gate electrode, a p-type ion is implanted into the gate electrode by self-alignment with an approximately half concentration.例文帳に追加

シリコン基板にn型イオン注入でセンサ領域を形成後、センサ領域の表面にp型イオンを注入してHAD化を行う際に、p型のイオン注入の工程を複数回に分け、転送ゲート電極のサイドウォール形成前後に、それぞれ約半分程度の濃度でp型イオンをゲート電極にセルフアラインで注入する。 - 特許庁




  
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
  
この対訳コーパスは独立行政法人情報通信研究機構の研究成果であり、Creative Commons Attribution-Share Alike 3.0 Unportedでライセンスされています。
  
Copyright 2001-2010 Gentoo Foundation, Inc.
The contents of this document are licensed under the Creative Commons - Attribution / Share Alike license.
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する
英→日 日→英
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する

©2026 GRAS Group, Inc.RSS