「Probing」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a device capable of probing under reduced effects of an electron beam.例文帳に追加

電子線の影響を少なくしてプロービングできる装置を提供する。 - 特許庁

DEFECT PROBING METHOD FOR CONCRETE DUE TO STRIKE BASED ON ATTENUATION OF ENERGY例文帳に追加

エネルギーの減衰に基づいた打撃によるコンクリートの欠陥探査方法 - 特許庁

To prevent a bonding pad and an internal wire insulated from the bonding pad from being short-circuited due to a probing on a probing pad.例文帳に追加

プロービング用パッドへのプロービングに起因してボンディング用パッドとボンディング用パッドとは絶縁されるべき内部配線がショートするのを防止する。 - 特許庁

PROBE MASK FOR FACILITATING SIGNAL PROBING FOR DENSELY ARRANGED ARRAY例文帳に追加

密に配置されたアレイに対する信号プロービングを容易にするプローブマスク - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF PROBING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体素子の製造方法および半導体素子へのプロービング方法 - 特許庁

These... these aliens that you're looking for, they're not the probing kind are they?例文帳に追加

おい、エイリアンを 探しているんだろ 彼らはそんな人種に 見えないが? - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

To provide a limit value probing device and method which is capable of efficiently generating a controllable region by rapidly probing a limit value of a control parameter.例文帳に追加

制御パラメータの限界値を迅速に探査し、制御可能領域を効率よく生成することができる限界値探査装置及び方法を提供すること。 - 特許庁

In the semiconductor device including rewiring, an I/O cell connected with a probing pad and an I/O cell having no probing pad exist mixedly.例文帳に追加

再配線を含む半導体装置において、プロービングパッドに接続された入出力（Ｉ／Ｏ）セルと、プロービングパッドを持たない入出力セルとが混在している - 特許庁

To enhance a resolution of a probe image in probing a relatively shallow region.例文帳に追加

比較的浅い領域の探査における探査画像の分解能を高める。 - 特許庁

To improve the recognition accuracy of an electrode pad at the time of bonding and probing.例文帳に追加

ボンディング及びプロービング時の電極パッドの認識精度を向上させる。 - 特許庁

To realize a probe radar and a probing method while considering the directivity of an antenna.例文帳に追加

アンテナの指向性を考慮した探査レーダ及び探査方法の実現。 - 特許庁

To provide equipment 1 for probing an accident point which enables safe and easy probing of the accident point of distribution lines W1, W2 and W3 where a ground fault or the like has occurred.例文帳に追加

地絡等の発生した配電線Ｗ１，Ｗ２，Ｗ３の事故点を安全かつ容易に特定可能な事故点探査装置１を提供すること。 - 特許庁

Thus, the reflected wave reception part 9 is prevented from receiving the probing waves from approaching vehicles running on the opposite lane and receives only the reflected wave R of the probing wave T.例文帳に追加

これにより、反射波受信部９では、対向車からの探査波が受信されるのを防止し、探査波Ｔの反射波Ｒのみを受信する。 - 特許庁

A probing wave transmission part 2 consists of a transmission part 3, a transmission element 4, a transmission lens 5, and a probing wave polarizing mechanism 6 (a polarizer 7 and an actuator 8).例文帳に追加

探査波発信部２を、発信回路３、発信素子４、発信レンズ５、探査波偏光機構６（偏光子７、アクチュエータ８）から構成する。 - 特許庁

NONDESTRUCTIVE SAMPLE PROBING METHOD AND APPARATUS BY X-RAY INTERFEROMETER例文帳に追加

試料のＸ線干渉計による非破壊的探査方法及びその装置 - 特許庁

METHOD FOR CONNECTION OF PROBER SIDE OF PROBING DEVICE WITH TESTER SIDE THEREOF AND STRUCTURE THEREOF例文帳に追加

プローバ装置のプローバ側とテスタ側との接続方法及びその構造 - 特許庁

Simultaneously the permanent magnet (15.4) is pulled apart from the probing system (15) to reduce suction force which affects between the probing system (15) and the stylus equipment (17).例文帳に追加

同時に、永久磁石（１５．４）が探針システム（１５）から引き離され、探針システム（１５）およびスタイラス機器（１７）の間に作用する吸引力が減少する。 - 特許庁

The optics (2) comprises a first beam path (11) for viewing the eye (8), a second beam path (12) for probing the eye (8) with a probing beam, and a third beam path (13) for detecting a part of a probing beam reflected from the eye (8).例文帳に追加

光学素子（２）は、目（８）を見るための第１のビーム経路（１１）と、目（８）をプローブビームで探査するための第２のビーム経路（１２）と、目（８）から反射されたプローブビームの一部を検出するための第３のビーム経路（１３）とを含む。 - 特許庁

To provide a semiconductor device for preventing an exfoliation and a scattering of a nonconductor resin applied for a batch wafer probing inspection even when a usual probing inspection is conducted after the batch wafer probing inspection, and to provide its inspecting method.例文帳に追加

ウェーハ一括プロービング検査後に通常プロービング検査を実施する場合でも、ウェーハ一括プロービング検査のために塗布した不導体樹脂の剥がれや飛散を防止する半導体装置及びその検査方法を提供する。 - 特許庁

A bonding area as an area for wire bonding and a probing area as an area to which a probe needle is applied in probing are prepared for an external electrode pad, and an ESD protective element and its electric discharge route are arranged below the probing area.例文帳に追加

外部電極パッドに対して、ワイヤボンディング用のエリアであるボンディングエリアとプロービングにおいてプローブ針が当てられるエリアであるプロービングエリアとを設け、ＥＳＤ保護素子及びその放電経路をプロービングエリアの下方に配置する。 - 特許庁

Two probing stakes 30 are driven with a suitable interval in between in the ground 1 buried with a foreign matter 2a such as the buried pipe by, for example, a hammer, and then the probing stakes 30 are vibrated by striking them by a force not moving positions of the probing stakes 30.例文帳に追加

埋設管等の異物２ａが埋設された地中１に、例えばハンマで探査杭３０を２本適長間隔空けて打ち込み、次いで、探査杭３０の位置が移動しないような力で探査杭３０を打って振動させる。 - 特許庁

To shorten an arranging interval of two receiving elements more than a wavelength of a probing wave.例文帳に追加

２個の受信素子の配置間隔を探査波の波長に比べて短くする。 - 特許庁

Probe chip adapters 70 to 76 are connected to a probing chip 54, extending from the measuring probe 50.例文帳に追加

測定プローブ50から延びたプロービング・チップ54に接続するプローブ・チップ・アダプタ70〜76。 - 特許庁

To realize simplifying screening (selection) of a defective memory cell in a probing test.例文帳に追加

プロービングテストにおける不良メモリセルのスクリーニング（選別）の簡便化を実現する。 - 特許庁

The probing device 103 comprises a probing body 107 connected to a coaxial connector 105a on a printed board 105, and a probe holder 108 for slidably holding a probing body 107 within a constant range from a center of a fixed position.例文帳に追加

プローブ装置１０３は、プリント基板１０５上の同軸コネクタ１０５ａに接続されるプローブ本体１０７と、プローブ本体１０７をその定常位置を中心とした一定の範囲内でスライド自在に保持するプローブホルダ１０８を備えている。 - 特許庁

When selecting electrical characteristics in a wafer, normality/defectiveness is decided by contacting a probing needle with the wafer probing test pads A1, A3, ..., An-1 and the bonding pads B2, B4, ..., Bn which are not paired with the probing test pads A1, A3, ..., An-1.例文帳に追加

ウェーハでの電気的特性選別時は、ウェーハプロービングテスト用パッドＡ１，Ａ３，……，Ａｎ−１と、プロービングテスト用パッドＡ１，Ａ３，……，Ａｎ−１の対とならないボンディングパッドＢ２，Ｂ４，……，Ｂｎとにプロービング針を接触させ良否判定を実施する。 - 特許庁

A probing system 100,101 comprises a probing accessory 103 for electrically connecting to a complementary probe accessory 109 connected to a test point where the probing accessory 103 captures and releases the complementary probe accessory 109 by application of tensil forces.例文帳に追加

プロービングアクセサリ１０３を有し、テストポイントに接続された相補型プローブアクセサリ１０９に電気的に接続され、プロービングアクセサリ１０３が張力の印加により相補型プローブアクセサリ１０９を捕捉および開放する、プロービングシステム１００，１０１。 - 特許庁

After a wafer W is placed on a θ stage 21 arranged on an input side of a probing tester 3 to perform positioning the wafer W and the external appearance test of each semiconductor chip, this wafer W is placed on the probing tester 3 to perform the probing test.例文帳に追加

プロービングテスト装置３の入側に配置されたθステージ２１にウエハＷを載せて、このウエハＷの位置決めと各半導体チップの外観検査を行った後に、このウエハＷをプロービングテスト装置３に設置してプロービングテストを行う。 - 特許庁

The sensor board is electrically coupled to the socket, and the sensor board has a probing point.例文帳に追加

センサーボードはソケットに電気的にカップリングしており、センサーボードはプローブポイントを有する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASUREMENT OF PROBING DISTANCE OF SUBSURFACE RADAR FOR TUNNEL-BORING MACHINE例文帳に追加

トンネル掘進機の地中探査レーダの探査距離測定方法及び測定装置 - 特許庁

To provide a device capable of accurately probing the underground condition in the front side of a tunnel.例文帳に追加

正確にトンネル前方の地中の状態を探査できる装置を提供する。 - 特許庁

P2P probing using a corrected packet-pair scheme in parallel is utilized.例文帳に追加

修正されたパケットペア方式を並行して使用するＰ２Ｐプロービングが利用される。 - 特許庁

To provide a radar probing device and the like suitable for detecting other electric wave source.例文帳に追加

他の電波発信源を検知するのに好適なレーダ探知装置等を提供する。 - 特許庁

DEVICE EQUIPPED WITH FREELY ATTACHABLE/DETACHABLE PROBING SYSTEM AND MEASURING INSTRUMENT WITH THIS DEVICE例文帳に追加

着脱自在の探針システムを備える装置および該装置を備える計測機器 - 特許庁

The rough approaching of a probing is carried out utilizing a magnification lower than a magnification for usual view.例文帳に追加

通常見る倍率よりも低倍の倍率を利用してプロービングの粗寄せができる。 - 特許庁

To perform a work to allow a probe to approach a sample surface in nano probing in a short time.例文帳に追加

ナノプロービングにおいてプローブを試料表面に近づける作業を短時間で行う。 - 特許庁

To provide an ultrasonic probing apparatus which is simple and low- cost and whose precision and accuracy are enhanced.例文帳に追加

簡易・安価で確度と精度の向上を図った超音波探査装置を提供する。 - 特許庁

And the usual probing inspection is conducted with the use of the other region on the pad electrode.例文帳に追加

そして通常プロービング検査は、パッド電極上の別の領域を用いて行う。 - 特許庁

The bonding pads 9 and the probing pads 11 are disposed mutually at intervals.例文帳に追加

ボンディング用パッド９とプロービング用パッド１１は互いに間隔をもって配置されている。 - 特許庁

To bring a contact pin into contact with a probing target in excellent conditions when retrying.例文帳に追加

リトライに際して、コンタクトピンとプロービング対象体とを良好な状態で接触させる。 - 特許庁

Changes in air pressure are detected by a feeler 11 to accomplish a detection in probing.例文帳に追加

空気圧の変動をフィーラ１１で検出し、これでプロービングの検出を行うようにした。 - 特許庁

PROBE TIP TO DEVICE PAD ALIGNMENT IN OBSCURED VIEW PROBING APPLICATIONS例文帳に追加

不明瞭な表示を有するプロービングアプリケーションにおけるデバイスパッドに対するプローブチップのアライメント - 特許庁

A probing device 100 for testing an object W in a vacuum state is provided.例文帳に追加

被検査体Ｗを真空状態で検査するプローブ装置１００が提供される。 - 特許庁

In the sixth process, wafer probing 5 is performed for an electrical property test of semiconductor wafer.例文帳に追加

第６工程で、半導体ウエハの電気的特性試験のためにウエハプロービング５をする。 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING AVAILABLE BAND BY VARIABLE SPEED PROBING USING ZOOM IN/OUT METHOD例文帳に追加

ズームイン／アウト方式を用いた可変速度プロービングによる利用可能帯域計測方法 - 特許庁