「Test System」に関連した英語例文の一覧と使い方(50ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a test system for easily changing connection states between measuring instruments and tested devices without requiring knowledge of hardware.例文帳に追加

ハードウエアの知識がなくても、測定器と被試験器との間の接続状態を変更することを、容易に行うことができることのできる試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide improved high-frequency characteristic measurement system (10) and method for measuring characteristics of a high-frequency characteristic test object such as an antenna (12).例文帳に追加

アンテナ（１２）などの高周波特性試験対象物の特性測定を行うための改良した高周波特性測定システム（１０）及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a thermal inspection system and method including an external flow covering a componenet under test in order to construct proper film cooling and an aerodynamical power dispersion.例文帳に追加

適切なフィルム冷却及び空力分散を構築するために供試の構成要素を覆う外部流を含む熱検査システム及び方法を提供すること。 - 特許庁

The air bag inhibiting system as a test device supplies a second output signal detecting that the passenger model 107 enters the inhibiting zone 103.例文帳に追加

テスト用装置であるエアバッグ抑制システムは、乗客モデル107が抑制ゾーン103に入ったことを検出したことを示す第２出力信号を供給する。 - 特許庁

An analyzing part 1404 analyzes detected description information for each of a system-mode operation and a test mode operation relating to the verification object circuit.例文帳に追加

解析部１４０４は、検出された記述情報を、検証対象回路に関するシステムモード動作およびテストモード動作の各々について解析する。 - 特許庁

To provide a data transmission device wherein the assembling and test time of an apparatus panel for electronic apparatus system configuration is shortened, and electromagnetic interference is prevented.例文帳に追加

電子機器システム構成のための機器パネルの組み立てや試験時間の短縮化、および電磁障害防止を図ったデータ伝送装置を提供する。 - 特許庁

To improve the level of a license examination test corresponding to the speed of an engineering level in response to the demand of growing and securing of a communication system engineer related to an Internet.例文帳に追加

インターネット関連通信システム技術者の育成および確保の要望に対し、検定試験のレベルを技術レベルの速度に対応して向上させる。 - 特許庁

The system comprises a first integrated circuit 102 having input and output pins 240, a normal operation logic 230, and a test control logic 200.例文帳に追加

システムは、入力ピンおよび出力ピン２４０と、通常動作ロジック２３０と、テスト制御ロジック２００とを有する第１の集積回路１０２を備えている。 - 特許庁

To provide scan test equipment which can reduce external terminals to be installed as much as possible to ensure many scan chains in a scan chain system.例文帳に追加

スキャンテスト装置に設ける外部端子をできるだけ削減し、該スキャンチェーン装置内にスキャンチェーンを多く確保できるスキャンテスト装置を提供する。 - 特許庁

The biological substance test device represents such a system constitution as to separately comprise reagents for each specimen, the microreactor loaded with a fluid transmission element, and a control/detective component.例文帳に追加

生体物質検査デバイスは、検体ごとの試薬類・送液系エレメント搭載マイクロリアクタと、制御・検出コンポーネントとを別個にするシステム構成となっている。 - 特許庁

In a system for debugging by performing a test, information is transmitted from a target processor to a host processor in a group of packets which can include one or more packets.例文帳に追加

試験してデバッグするシステムにおいて、情報が対象プロセッサからホストプロセッサに対して、１つ以上のパケットを含み得るパケットのグループ中で送信される。 - 特許庁

A control part 11 of this test data generation system 10 specifies a character code included in a conversion range, for each record constituting production data.例文帳に追加

テストデータ生成システム１０の制御部１１は、本番データを構成する各レコードにおいて、変換対象範囲に含まれる文字コードを特定する。 - 特許庁

To take out only a specified rack on the way without changing a program in a host computer, in a system which carries racks holding test tubes, etc.例文帳に追加

試験管等を保持するラックを搬送するシステムにおいて、ホストコンピュータのプログラムを変更することなく特定のラックのみを途中で取り出せるようにする。 - 特許庁

To provide an image forming system and fault discrimination method in which a fault can easily be segmented by using particular test data.例文帳に追加

特別なテストデータを用いることで簡単に障害の切り分けを行えるようにした画像形成システムおよび障害判別方法を提供する。 - 特許庁

In the function test item development support system, a product name of a product to be referred to in quality function development operation is retrieved from quality function development data in product name retrieval processing S1.例文帳に追加

製品名検索処理Ｓ１では、品質機能展開作業時において参考にする製品の製品名を品質機能展開データから検索する。 - 特許庁

A second integrated circuit 102 of the system comprises the input and output pins 240, the normal operation logic 230, and the test control logic 200.例文帳に追加

システムの第２の集積回路１０２は、入力ピンおよび出力ピン２４０と、通常動作ロジック２３０と、テスト制御ロジック２００とを有している。 - 特許庁

To provide an electric test system and method, efficiently performing a short circuit checking inspection and a capacitor reverse mounting checking inspection.例文帳に追加

短絡確認検査及びコンデンサ逆実装確認検査を効率的に実施可能な電気的試験システム及び電気的試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a log generation system, a log generation device, and a program capable of obtaining a standardized test result regardless of a model of an LSI tester.例文帳に追加

ＬＳＩテスタの機種によらず、標準化されたテスト結果を得ることができるログ生成システム、ログ生成装置及びプログラムを提供すること。 - 特許庁

To obtain a system and method for test by which a device to be tested can be tested for an A/D- or D/A-converting function by using a memory tester.例文帳に追加

メモリテスタを用いて被試験デバイスのＡＤ変換機能またはＤＡ変換機能の試験が可能なテストシステムおよびテスト方法を実現する。 - 特許庁

To provide a model parameter sampling method and circuit simulation system, wherein the correlations between characteristics that test elements come to assume due to their assigned locations are reflected in model parameters.例文帳に追加

素子が配置される位置による特性の相関をモデルパラメータに反映させたモデルパラメータ抽出手法および回路シミュレーションシステムを提供する。 - 特許庁

To reduce labor and time used in a test for soundness confirmation or the like of a highly integrated logic integrated circuit used in a safety protection system of a plant.例文帳に追加

プラントの安全保護系システムに用いられる高集積な論理集積回路の健全性確認などの試験に費やす手間と時間を短縮させる。 - 特許庁

To shorten the time required for a fatigue test in the FeRAM of a shared sense amplifier system.例文帳に追加

本発明は、シェアードセンスアンプ方式のＦｅＲＡＭにおいて、ファティーグ試験に要するテスト時間を短縮できるようにすることを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

To provide a test method for semiconductor memory circuits capable of transmitting path-fail data of a plurality of memories incorporated in a system LSI at a short period of time.例文帳に追加

システムＬＳＩに内蔵された複数のメモリのパスフェイルデータを、短い時間で送信できる半導体メモリ回路のテスト方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a system of excellent cost efficiency provided with ability for generating quickly, easily and accurately a test gas having a relative humidity of 0-100%.例文帳に追加

相対湿度が０％と１００％の間の試験ガスを早く簡単に正確に生成する能力を備えた、費用効果の良いシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a system for game hall which can appropriately execute a trial hitting even when ball chipping or the like occurs during a test mode for performing the trial hitting.例文帳に追加

試打ちを行うためのテストモードとした場合に、玉毀れ等が発生しても、適切に試打ちを実行し得る遊技場用システムを提供する。 - 特許庁

A circuit operation verification system includes a computer, a programmable logic device constituting a circuit to be tested, a test bench unit for performing operation verification of the circuit to be tested.例文帳に追加

回路動作検証システムは、計算機と、被テスト回路が構成されたプログラマブルロジックデバイスと、被テスト回路の動作検証を行うテストベンチ部と、を備える。 - 特許庁

To provide a PCR test system that surely detects microbes by a PCR method without performing false-negative determination when the microbes are mixed in products or the like.例文帳に追加

微生物が製品等に混入していた場合に、偽陰性判定をすることなくPCR法で確実に検出可能なPCR検査システムを提供すること。 - 特許庁

To provide a test scenario for GUI-based software which is described in a GUI-independent command system to accommodate GUI differences.例文帳に追加

ＧＵＩに依存しないコマンド体系で記述することにより、ＧＵＩの違いを意識する必要のないＧＵＩを利用したソフトウェアのテストシナリオを提供すること。 - 特許庁

To provide an electronic interlocking device capable of easily and quickly performing a prior test without requiring an assistance by an external support system or the like.例文帳に追加

外部支援システムなどによる助力を必要とせず、事前試験を簡易かつ迅速に行うことができる電子連動装置を提供すること。 - 特許庁

To develop a test system for identification and characterization of an APJ receptor ligand which is usable for prevention or treatment, etc., of a heart disease.例文帳に追加

心疾患の予防または治療等で用いることができるＡＰＪ受容体リガンドを同定および特徴付けするための試験システムを開発すること。 - 特許庁

To provide a hot water supply system capable of deriving a piping capacity from a mixer to a heating section in a bath test operation of supplying water into a bathtub.例文帳に追加

浴槽に水を供給する風呂試運転時に、混合器から加熱部までの配管容量を導出することができる給湯システムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device reducing overhead time and reducing test time, by reducing the traffic of a command of a system bus.例文帳に追加

システムバスのコマンドの通信量を軽減することでオーバーヘッド時間を短縮し、試験時間を短縮することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To execute easy trouble sorting, between the telephone line of an ADSL circuit and the processor within a station and the circuit test in an ADSL system.例文帳に追加

ＡＤＳＬシステムでＡＤＳＬ回線の電話線路とセンタ局内の処理部との容易な障害切分けと回線試験とを実行することができる。 - 特許庁

To provide an access conflict generation system adapted so that access signals can surely and rapidly conflict in an access conflict test.例文帳に追加

アクセス競合試験において、アクセス信号の確実な競合が速やかに実現し得るように構成されたアクセス競合発生システムを提供する。 - 特許庁

To provide a method and a system for testing conductivity of Ethernet in an arbitrary test section from a terminal.例文帳に追加

イーサネットワークにおいて、端末機器から任意の試験区間に対して、容易に実施可能な導通性試験方法および導通性試験システムを提供する。 - 特許庁

The apparatus and method include an alignment apparatus and alignment test targets, and methods of using them to align the light source outputs of the optical servo system.例文帳に追加

この装置および方法は、整列機器、整列検査対象、および、それらを用いて光サーボシステムの光源出力を整列させる方法を含む。 - 特許庁

The test system 100 includes a server device 110, the transmission-side terminal unit 120, and the reception-side terminal unit 130 that are connected via a communication line.例文帳に追加

試験システム１００は、通信回線を介して接続された、サーバ装置１１０、送信側端末装置１２０、及び、受信側端末装置１３０を含む。 - 特許庁

The outlier classification element may also operate in conjunction with a smoothing system to smooth the data and classify tendency and regions from test result references.例文帳に追加

アウトライヤー分類エレメントは、さらに、データをスムージングし、かつ、テスト結果基準からの傾向および領域を分類するために、スムージングシステムと共に動作し得る。 - 特許庁

To provide a semiconductor tester which can perform a test on even an asynchronous DUT without changing the configuration of a timing signal generation system within the tester.例文帳に追加

装置内部のタイミング信号発生系統の構成を変更することなく、非同期形ＤＵＴの試験も行える半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and a system estimating whether a defect detected in a test of a gas turbine engine is related to a performance problem of the engine or not.例文帳に追加

ガスタービンエンジンの試験において検出された欠陥がエンジンの性能問題に関連するのか否かを評価する方法及びシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a picture processing system with which order reception and a picture test can immediately be performed after photography and useless original picture data is not transmitted.例文帳に追加

撮影後すぐに注文受付及び画像検定を行なうことができ、かつ無駄な原画像データの送信を行なわない画像処理システムを提供する。 - 特許庁

To provide a test system in which various tests can be performed for many memory modules in conditions being close to actual use and of which a development cost and a manufacturing cost are lower.例文帳に追加

多数のメモリモジュールに対して実使用に近い条件で多様な試験が可能であり、開発コストや製造コストの低い試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a communication program testing method and a communication program testing system for performing the communication load test of a program by minimizing the consumption of the resource of a server.例文帳に追加

サーバのリソースの消費を最小限にしてプログラムの通信負荷試験を行う通信プログラム試験方法及び通信プログラム試験システムを提供する。 - 特許庁

A system control section 100 performs timing control of adjustment, and at the time of this adjustment, a recording head 60 discharges ink to a recording medium for printing a test pattern.例文帳に追加

システム制御部１００が調整のタイミング制御を行い、この調整の際に記録ヘッド６０が記録媒体にインクを吐出してテストパターンを印字する。 - 特許庁

A test system for the memory device is provided with a tester 102 for applying a plurality of different redundancy tests on the memory device based on a plurality of different testing conditions.例文帳に追加

メモリデバイスのテストシステムは、複数の異なる試験条件に基づいて、複数の異なるリダンダンシテストをメモリデバイスに対して行うテスタ１０２を備える。 - 特許庁