| 意味 | 例文 |
Test Systemの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 3508件
Multiple integrated circuit chip structure comprises an inter-chip interface circuit 360 configured to selectively connect an internal circuit of an integrated circuit so as to test an interface circuit 385, having an ESD protection circuit 387 and an input/output circuit 389, for communicating with an external test system during a test and a burn-in procedure.例文帳に追加
多重集積回路チップ構造は、テストおよびバーン・イン手順中に外部テスト・システムと通信するためのESD保護回路387および入出力回路389を有するインターフェース回路385をテストするため集積回路の内部回路を選択的に接続するチップ間インターフェース回路360を有する。 - 特許庁
This system includes the exhalation bag capable of connecting the exhalation bag to the test tube by a hollow needle to transfer the expiration to the test tube, allows selection between the transfer of the expiration to the test tube and the direct connection to the testing device without transfer, and is applicable to the plural different types of testing devices.例文帳に追加
呼気バッグと検査管とを中空針で連結して呼気を検査管に移転可能とした呼気バッグを含み、呼気を検査管に移転するか若しくは移転せず直接検査装置に接続するかの選択を可能とし、複数の異なるタイプの検査装置に適応可能としたことを特徴とする。 - 特許庁
To provide an automatic blood sugar control protocol performing system with a semi-closed or closed loop of each independent steps [for example, test of patient, judgment of results, modification of the protocol (recommendation of a new dosage and actual estimation), information of meals, future test schedule, drug administration and so forth considering the test results] as a whole.例文帳に追加
各々が独立したものである各ステップ(例えば患者検査、結果判定、プロトコール調節(新たな服用量推奨と実計算)、食事情報、検査結果を考慮した今後の検査予定と薬剤投与など)を、半閉ループまたは閉ループでまとめて自動実行することができる血糖コントロールプロトコール実行システムの提供。 - 特許庁
This is the accelerated weathering test system of the type which is equipped with the laboratory, a test piece mount for supporting test piece with its exposed face turned to light source, a control unit for controlling power level to the light source, and the noncontact temperature sensor oriented so as to monitor working temperature of the exposed face in real time.例文帳に追加
試験室、暴露面が光源に向けられた試験片を支持する試験片取付台、光源への電力レベルを調整する制御装置、および暴露面の作業温度をリアルタイムで監視するように方向付けられた非接触温度センサを具備する種類の促進耐候性試験装置である。 - 特許庁
In this spraying corrosion testing device using a water-sealing system, a porous water-absorbing material is mounted on either or both of a lower fringe part of an upper lid of the test tank and a bottom part of a groove part of the test tank, and the bottom part of the groove part is tilted downward toward the inside of the test tank.例文帳に追加
ウォーターシール方式を用いた噴霧腐食試験装置において、前記試験槽の上蓋の下方周縁部と前記前記試験槽の溝部の底部とのどちらか一方又は両方に多孔質吸水性物質を取り付け、前記溝部の底部を前記試験槽内部に向かって下方傾斜させること。 - 特許庁
The multiple integrated circuit chip structure includes an ESD protection circuit 387 for communicating with an external test system during a test and a burn-in procedure, and an inter-chip interface circuit 360 configured to selectively connect an internal circuit of an integrated circuit so as to test an interface circuit 385 having an input/output circuit 389.例文帳に追加
多重集積回路チップ構造は、テストおよびバーン・イン手順中に外部テスト・システムと通信するためのESD保護回路387および入出力回路389を有するインターフェース回路385をテストするため集積回路の内部回路を選択的に接続するチップ間インターフェース回路360を有する。 - 特許庁
The distance between an electrode of the objective lens 7 nearest to the test sample W and the test sample is arranged the same as or smaller than that d1 to d3 between the member 12 restricting the exhaust conductance of the differential evacuation system and the test sample W.例文帳に追加
その電子線装置において、前記対物レンズ7の検査対象Wに最も近い電極と前記検査対象との間の間隔は、前記差動排気系の排気コンダクタンスを制限する部材12と前記検査対象Wとの間の距離d1〜d3と同程度、或いはそれより小さくなっている。 - 特許庁
To provide a reliable network having no non-test section, where related to a CLAD test system, a test function interlocked with a CLAD part is realized, which is combined with conventional STM and ATM transfer methods, in a device and network having an STM-ATM conversion function.例文帳に追加
本発明はCLAD試験システムに関し、STM−ATM変換機能を持つ装置及びネットワークにおいて、CLAD部と連動した試験機能を実現し、従来からのSTM及びATM転送方式と組み合わせることによって無試験区間の無い信頼性の高いネットワークを実現することを特徴としている。 - 特許庁
The method for screening the remedy of the multiple system atrophy includes dosing a test substance to a medium spiny neuron of corpus striatum in a nonhuman animal having deficient function of tubulin γ2 gene, and selecting the test substance by using one of the influences of the test substance on the shape of a mitochondrion of the neuron, the released amount of a GABAergic neurotransmitter, and the content of ATP as an index.例文帳に追加
チューブリンγ2遺伝子の機能が欠失した非ヒト動物の線条体中型有棘神経細胞に被検物質を投与し、被検物質の該ニューロンのミトコンドリアの形状、GABA性神経伝達物質放出量、ATP含有量への影響のうちいずれか1つ以上を指標ととして選択する。 - 特許庁
The JTAG test system includes a test data collection section 3 for collecting test data in synchronization with a clock with a TAP controller, and a JTAG analysis software processing section, and has a TAP state analysis processing section for performing TAP state analysis between the TAP controller 1 and the collection section 3.例文帳に追加
TAPコントローラとクロックに同期してテストデータ収集を行うテストデータ収集部とJTAG解析ソフトウェア処理実行部とを含むJTAGテストシステムであって、TAPコントローラとテストデータ収集部の間に、TAPステート解析をリアルタイムで実行するTAPステート解析処理部を設けたことを特徴とするもの。 - 特許庁
The system supports establishment of engineering for executing estimation work of plant, order receipt negotiation, procurement/purchase, technical examination, equipment design and prior design of selection, building/civil engineering work, equipment installation work, piping work, instrumentation work, electric facility work, test/adjustment, test operation, test record output, and integrated operation and a database of multidiscipline engineering information.例文帳に追加
プラントの見積もり作業、受注ネゴ、調達・購入、技術検討、機器設計と選定の先行設計、建設・土木工事、機器据付工事、配管工事、計装工事、電気設備工事、試験・調整、試運転、試験記録出力、総合運転を実施するエンジニアリング、総合エンジニアリング情報のデータベースの構築を支援する。 - 特許庁
To improve the diversity of data and to reduce labor for creating test data in the verification method of a system LSI, related to a test data creating device that is characterized by having a description method for information held by a conversion tool for creating the test data and a script converted by the conversion tool.例文帳に追加
システムLSIの検証方法において、試験データを作成するための変換ツールの保持する情報、変換ツールにて変換するスクリプトの記述方法に特徴がある試験データ作成装置に関し、データの流用性が向上するとともに、試験データ作成の労力を削減することを課題とする。 - 特許庁
Completion of safety assessment of Fast Breeder Prototype Reactor Monju Monju had suspended its commissioning test operation for 14 years due to a sodium leak accident from the secondary system during commissioning test in 1995.In the meantime, various measures were taken and the unit has resumed commissioning test operation.例文帳に追加
高速増殖原型炉もんじゅの安全性評価の完了 高速増殖原型炉もんじゅは、試運転中の1995年に発生した二次系ナトリウム漏えい事故によって試運転を中断して以降、14年間にわたって停止していたが、その間に様々な対策を実施し、試運転が再開されている。 - 経済産業省
The semiconductor test system is composed of a navigation system which makes up all conditions required for photographing/testing from design information, and a scanning electron microscope system which actually carries out photographing/testing, and then the all conditions required for photographing/testing are made up from the design information such as CAD data or the like, and the actual test is carried out in those conditions.例文帳に追加
CADデータ等の設計情報から撮影/検査に必要な全ての条件を作成し、その条件で実際の検査を行うために、半導体検査システムを設計情報から撮影/検査に必要な全ての条件を作成するナビゲーションシステムと実際の撮影/検査を実行する走査型電子顕微鏡システムとから構成させる。 - 特許庁
A system developer (a user) A selects desired software components (S101-S104), generates unit parameters (S105) and application programs (S105), executes a linkage test for them, and transmits (orders) a system configuration if no problem is found (S107-S109).例文帳に追加
システム開発者(ユーザ)Aは所望のソフトウェア部品を選定し(S101〜S104)、ユニットパラメータ(S105)、アプリケーションプログラムを作成し(S105)、連動テストを行い、問題がない場合にシステム構成情報を送信(発注)する(S107〜S109)。 - 特許庁
To provide a hot water heating system capable of outputting effective information for specifying its abnormal cause, when there is abnormality in a test run with respective heat radiating terminals of the hot water heating system.例文帳に追加
温水暖房システムの各放熱端末機毎の試運転時に異常が有る場合に、その異常原因の特定に有効な情報を出力することができる温水暖房システムを提供する。 - 特許庁
To provide a test bench conditioning system and a device for operating a system of this type, with which optimum simulation for the temperature profile of an operating fluid of a machine is possible with the slightest deviations from a preset profile.例文帳に追加
作業機械の作動流体の温度経過の最適なシミュレーションが所定経過から最小偏差により可能である試験台調整システムとこの種のシステムを作動する装置を提供すること。 - 特許庁
The alignment test tape may be used to generate an output signal indicative of optical servo system alignment, and this signal may be used to align the light source outputs of the optical servo system.例文帳に追加
整列検査テープは、光サーボシステム整列を示す出力信号を生成するために使用されてもよく、この信号は、光サーボシステムの光源出力を整列させるために使用されてもよい。 - 特許庁
To provide a testing system devised so as to be capable of efficiently pinpointing a part where a fault occurs in a system being a test object including a plurality of components, on the occasion of the occurrence of the fault.例文帳に追加
複数の構成部分を含む試験対象の機器に故障が発生したときに、効率よく故障が発生した部位を特定することができるように工夫された試験装置を提供する。 - 特許庁
A test machine 4 transmits one command for instructing classification of a plurality of inspection items into each system and execution of the classified inspection items to the electronic control device 2 for the vehicle in each system.例文帳に追加
試験機4が、複数の検査項目を系統別に分類し、分類された検査項目を実行することを指示する1つのコマンドを系統毎に車両用電子制御装置2に送信する。 - 特許庁
To provide a system and method for designing and developing a repeater system that allows for analysis of repeater performance with a variety of different components without the need to test a physical model of the repeater.例文帳に追加
リピーターの物理的モデルをテストする必要なしに、様々な異なるコンポーネントでリピーターの性能を解析することができるリピーターシステムを設計する、また開発するシステム及び方法を提供する。 - 特許庁
To obtain a mobile object radio system such as a train radio system capable of testing a state of communication to be performed by a control line and a sound line between communication equipment and radio equipment provided in a moving object such as a train and outputting a test result to a user.例文帳に追加
通信装置と移動体に備えられた無線装置とが基地局装置を介して制御回線及び音声回線により通信する移動体無線システムで通信状態を試験する。 - 特許庁
A communication confirmation test is executed from the line interface substrate 7S to the active system control substrate C0 under the state to confirm the normality of the stand-by system communication line.例文帳に追加
そしてこの状態から、回線インタフェース基板7Sから運用系制御基板C0に対して疎通確認試験を行うことにより、待機系通信路の正常性を確認するようにしている。 - 特許庁
To obtain topology information through a single link trace test by a communication system such that frames are capsulated on networks of different layers with respect to a communication system and device having a topology retrieval function.例文帳に追加
トポロジー検索機能を有する通信システム及び通信装置に関し、階層が異なる網でフレームがカプセル化される通信システムで、1回のリンクトレース試験によってトポロジー情報を得るようにする。 - 特許庁
To provide a server that performs operation test immediately before mounted on a system body, and reduces the time required for maintenance even if a failure occurs during transportation or the like, and to provide a blade server system and a transportation box.例文帳に追加
システム本体に実装する直前に動作確認を行い、輸送中等に故障が発生しても保守に要する時間を短縮することが可能なサーバ、ブレードサーバシステム及び輸送箱を提供する。 - 特許庁
To provide a waveform measuring device and a waveform measuring method capable of performing easily output of a test signal to a system to be measured, and measurement of a signal to be measured from the system to be measured, or the like.例文帳に追加
被測定系へのテスト信号の出力及び被測定系からの被測定信号の測定等を容易に行なうことができる波形測定装置および波形測定方法を実現することにある。 - 特許庁
A system-on-a-chip 40 includes support for a standard external interface, such as a Universal Serial Bus (USB) or IEEE 1394 interface, to which a host system such as flash memory test equipment can connect.例文帳に追加
システム・オン・チップ40は、フラッシュメモリテスト装置などのホストシステムを接続することのできる、ユニバーサルシリアルバス(USB)やIEEE1394インターフェースなどの標準外部インターフェースのサポートを含む。 - 特許庁
To improve work efficiency in implementing a test or fault diagnosis of a system formed from a plurality of networks, and to prevent the system or an object to be packaged from being damaged with the work.例文帳に追加
複数のネットワークで形成されるシステムのテストや故障診断を実施するに際し、その作業効率を向上させると共に、その作業に伴うシステムや実装対象への損傷を防止する。 - 特許庁
To provide a data processing system on an integrated circuit with a micro processor 1 and peripheral devices as well as an emulation unit capable of debugging and emulating the integrated circuit when an external test system is connected.例文帳に追加
外部テストシステムへの接続時に集積回路のデバッグとエミュレーションが行えるエミュレーションユニットと共に、マイクロプロセッサ1および周辺装置を備えた集積回路上のデータ処理システムを提供する。 - 特許庁
To improve an operation ratio by eliminating a system stop in renewing each device and equipment configuring a digital control system, and to shorten a renewal interval by facilitating a characteristic test after renewal.例文帳に追加
ディジタル制御システムを構成する各装置・機器の更新時に、系統停止を不要にして稼働率を向上し、更新後の特性試験を容易に行なえるようにして、更新期間を短縮する。 - 特許庁
To automatically adjust control parameters even when a machine configuration of a target system changes by automatic generation of a test motion program through acquisition of physical information of the target system.例文帳に追加
対象となる系の物理情報を取得して試験動作用プログラムを自動生成することにより対象となる系の機械構成が変わったときでも制御パラメータを自動調整するようにすること。 - 特許庁
To provide a probe card in which concentration of current of the probe card used for a test process in manufacture of a semiconductor device of SOC (System On Chip) consuming large current is prevented and damage of concentration is prevented.例文帳に追加
大電流を消費するSOC(System On Chip)などの半導体装置の製造における試験工程に用いるプローブカードの電流集中を防いでその損傷を防ぐプローブカードを提供する。 - 特許庁
To provide a design quality inspection support system that has the functions of verifying consistency and integrity of design descriptions and of generating test data in accordance with specifications for an information processing system.例文帳に追加
情報処理システムの仕様設計書より、設計仕様の一貫性と整合性を検証する機能、及び、テストデータを生成する機能を有する、設計品質検査支援システムを提供する。 - 特許庁
To provide a transmission apparatus test system capable of automatically particularizing a suspicious fault location on the occurrence of an intermittent error frame wherein particularization of the suspicious fault location is otherwise difficult.例文帳に追加
被疑箇所の特定が難しい間欠的なエラーフレーム発生時に自動的に被疑箇所を特定可能な伝送装置試験システムを提供する。 - 特許庁
To provide a system and a method for testing IC, which can efficiently prepare a program required for a test.例文帳に追加
本発明の課題は、試験に必要なプログラムをより効率良く準備することが可能なIC試験システム、及びIC試験方法を提供することである。 - 特許庁
In a management system 11 for the image forming apparatus, a management device 200 transmits data for providing instruction on the performance test, to the image forming apparatus 100.例文帳に追加
画像形成装置の管理システム11において、管理装置200は、画像形成装置100に対し、動作試験を指示するデータを送信する。 - 特許庁
To provide an image forming device capable of easily detecting the failure of a recording sheet carrying system without executing a test image reading operation by using a scanner.例文帳に追加
スキャナによるテスト画像読み取りを行うことなく、記録シート搬送系の不具合を容易に検出することができる画像形成装置を提供する。 - 特許庁
To provide a testing device for accurately and efficiently achieving a test accompanied by the extension of the terminal of a monitoring control system.例文帳に追加
監視制御システムの端末を増設する場合に、その増設に伴う試験を確実かつ高い効率で行なうことができる試験装置を提供することにある。 - 特許庁
To efficiently cool an objective component before a test, when testing the constitutional component related to a driving system of a vehicle executed in a stationary position.例文帳に追加
定置状態で行われる車両の駆動系に関連する構成部品の試験に際し、その試験に先立って対象部品の冷却を効率的に行う。 - 特許庁
To provide an inkjet printing system that can minimize the cost of a device measuring an image formed in a test print for correcting an ink impact position.例文帳に追加
インク着弾位置の補正のためのテストプリントに形成された画像を計測する装置をできるだけコストをかけなくてすむインクジェットプリントシステムを提供すること。 - 特許庁
This invention is acquired by improving a test system for testing objects to be tested which have a plurality of output pins and output a multi-level current.例文帳に追加
本発明は、複数の出力ピンを有し、多階調電流を出力する被試験対象を試験するテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁
To provide a floor heating system test running device applicable to an existing floor heating controller and capable of detecting the temperature of a plurality of warm water mats at the same time.例文帳に追加
既存の床暖房コントローラに適用可能で、かつ、複数の温水マット温度を同時に検知可能な床暖房システム試運転装置を提供する。 - 特許庁
DEVICE CONNECTED TO FIBER CHANNEL, MARGIN TEST METHOD FOR THIS DEVICE, FAILURE SITE SPECIFYING METHOD FOR SYSTEM PROVIDED WITH DEVICE CONNECTED TO FIBER CHANNEL例文帳に追加
ファイバーチャネルに接続されるデバイス、及びこのデバイスのマージンテスト方法、並びに、ファイバーチャネルに接続されるデバイスを有するシステムの障害部位特定方法 - 特許庁
A detector is included which can detect the secondary electrons mutually and independently generated from the test piece surface by each multiple beam in the secondary optical system.例文帳に追加
前記マルチビームの各々により試料面から発生する二次電子を二次光学系において互いに独立に検出できる検出器を含む。 - 特許庁
The observation terminal 11 receives the rainfall amount data by the test instruction signal, and it judges an abnormality of the rainfall amount observation system 10A so as to be displayed on a display part 18.例文帳に追加
観測端末11は、試験指示信号による雨量データを受信して雨量観測システム10Aの異常を判定し、表示部18に表示する。 - 特許庁
In a first step, a memory input signal when defective memory operation is caused in an actual device test of a semiconductor memory in a state mounted on a system is extracted.例文帳に追加
第1ステップでは、システムに搭載された状態での半導体メモリの実機テストでのメモリ動作不良発生時のメモリ入力信号を抽出する。 - 特許庁
To provide a semiconductor test device capable of operating by a DDR system using a pattern memory without changing an operation frequency of a rate signal.例文帳に追加
レート信号の動作周波数を変更することなく、パターンメモリを用いてDDR方式で動作することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁
To solve the problem that a system check list in which no omission exists in data items being test objects and no overlapping exist among confirmation data items can not easily be prepared in the conventional manner.例文帳に追加
従来は、テスト対象のデータ項目に漏れがなく且つ確認データ項目間に重複がないシステムチェックリストを容易に作成することができない。 - 特許庁
To provide a job seeker introducing system capable of dissolving troublesomeness regarding an ability test for a job offering side and a job seeker.例文帳に追加
求人側及び求職者に対する技能検査に関する煩雑さを解消することができる求職者紹介システムを提供することを課題とする。 - 特許庁
| 意味 | 例文 |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|