「Test condition」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

The gas tightness of the chamber is improved by a gas sealing mechanism to cope with an environmental test and production under a pressurized condition and a decompressed condition.例文帳に追加

気体封止機構によりチャンバーの機密性を高め、加圧条件・減圧条件での環境試験と生産に対応する。 - 特許庁

The JTAG test is carried out before sleep restoration processing during the sleep restoration time from a sleep condition to an ordinary operation condition.例文帳に追加

ＪＴＡＧテストは、スリープ状態から通常動作状態へのスリープ復帰時におけるスリープ復帰処理の前に実行される。 - 特許庁

The program circuit 24 confirms a cut-off state of a fuse with a severer condition in a test mode than that in the normal condition.例文帳に追加

プログラム回路２４は通常モードにおけるよりもテストモードにおいて厳しい条件でヒューズの切断状態を確認する。 - 特許庁

An optimizing device W has a test calculation condition analysis processing means 60 as a means for performing processing, while grasping the change characteristics of a test calculation object to be calculated as a test and a test calculation instruction means 70 for generating an instruction for performing test calculation.例文帳に追加

最適化装置Ｗは、試算を行う試算対象の変化特性を把握し、処理を行う手段である試算条件分析処理手段６０と、試算を行うための命令を発生する試算命令手段７０とを有している。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device which is provided with a test mode capable of testing a test block selected out of a plurality of circuit blocks, and can test the test block under a condition of voltage distribution nearly equal to its real working condition even when the device is in the test mode.例文帳に追加

複数の回路ブロックから選択された試験ブロックについて試験が行われるテストモードを備える半導体集積回路装置において、テストモード時においても実使用状態に近い電圧分布のもとで、試験ブロックを試験することが可能な半導体集積回路装置を提供することである。 - 特許庁

A controller 30 records test data in a PCA area of the optical disk 10 and selects a recording condition which minimizes the jitter of the test data.例文帳に追加

コントローラ３０は、光ディスク１０のＰＣＡエリアにテストデータを記録し、該テストデータのジッタが最小となる記録条件を選択する。 - 特許庁

To obtain a photographing condition and to set it without test exposure to a test object and independently of a method for radioscopic control.例文帳に追加

被検体に対しテスト曝射を行うことなく、また、透視制御の方法に依存することなく撮影条件を求めて設定する。 - 特許庁

To provide an apparatus that can generate a test model corresponding to test condition by a simple operation and can increase the circuit design efficiency.例文帳に追加

この発明は、簡単な操作だけで、テスト条件に応じたテストモデルを生成することができ、回路設計時の効率化が図れる。 - 特許庁

Similarly, registered test cases can be collectively deleted and the registered test cases can be collectively copied by specifying the range to be registered while considering the combination of the test target screen and the test condition.例文帳に追加

また、同様に登録されているテストケースを一括で削除、登録されているテストケースをテスト対象画面とテスト条件の組み合わせを考慮して登録する範囲を指定し、一括でコピーすることが可能である。 - 特許庁

To provide a highly accurate modeling for an adaptation method of a control parameter of an internal combustion engine even when a discrepancy exists between the test condition determined by the test planning method and the actual test condition.例文帳に追加

本発明は、内燃機関の制御パラメータの適合方法に関し、実験計画法により決定した試験条件と実際の試験条件との間にずれが生じた場合であっても高い精度でモデル化を行うことを目的とする。 - 特許庁

When an inspection condition with respect to the test piece of an object to be inspected cannot be obtained from the inspection condition of the defaults and the inspection condition prepared in the past, it is prepared newly.例文帳に追加

検査対象の試料に対する検査条件が、デフォルトの検査条件、及び、過去に作成した検査条件から得られない場合には新たに作成する。 - 特許庁

To provide a method and a testing system capable of generating common test-condition data to a plurality of testing apparatuses, and generating the test-condition data in each apparatus by taking into consideration a difference in the performance of an apparatus in a short period of time, in the method for generating the test-condition data of the wafer visual testing apparatus.例文帳に追加

ウエーハ外観検査装置の検査条件データを生成する方法において、複数台の検査装置に対する共通の検査条件データを生成し、機差を考慮した装置毎の検査条件データを短時間で生成できる方法及び検査システムを提供する。 - 特許庁

A plurality of different test condition data A-N are successively outputted from a test controller 1, the output number of the test condition data is counted by a counter circuit 3, and the data writing clock outputted from the test controller 1 according to the counted value is distributed by a clock distributing circuit 4 to write corresponding test condition data in analog and digital characteristic measuring circuits 61-6n, respectively.例文帳に追加

テストコントローラ１から順次複数の異なる試験条件データ「Ａ」〜「Ｎ」を出力し、カウンタ回路３にて試験条件データの出力数を計数し、その計数値に応じてテストコントローラ１から出力されるデータ書込クロックをクロック分配回路４によって分配して、各アナログ・ディジタル特性測定回路６１〜６ｎに夫々対応する試験条件データを書き込ませる。 - 特許庁

In this condition, gas is spouted from the levitation table 12 to put the test work WT in the levitated condition, and the contacting condition of the table 12 with the test work WT is inspected on the basis of the result from measuring by the tester T.例文帳に追加

そして、その状態で浮上テーブル１２から気体を噴出させてテストワークＷＴを浮上状態とし、テスタＴによる計測結果に基づきこれら浮上テーブル１２とテストワークＷＴとの接触の状態を検査する。 - 特許庁

Measured values in a condition where the electronic component 110 is mounted on the second test jig 140 are corrected relatively to a condition where it mounted on the first test jig 130 and moreover to a condition where it mounted on the reference jig 120.例文帳に追加

電子部品１１０を第２の試験治具１４０に実装した状態での測定値を、第１の試験治具１３０に実装した状態に相対補正し、さらに、基準治具１２０に実装した状態に相対補正する。 - 特許庁

When an MEA ability test is carried out, humidification condition of a supply gas is arranged at a low humidification condition of relative humidity ≤40%.例文帳に追加

ＭＥＡの能力検査を行うに当たり、供給ガスの加湿状況を相対湿度４０％以下という低加湿状況とする。 - 特許庁

To carry out a burn-in test under the condition near to an actual using condition, in a semiconductor integrated circuit of a D-class amplifier (digital amplifier).例文帳に追加

Ｄ級増幅器（デジタルアンプ）の半導体集積回路において、実際の使用状態に近い状況でバーンイン試験を行なう。 - 特許庁

To provide a frame relay line test method by which a test of a frame relay line is conducted under a condition close to an actual operating state, even missing of a test packet can be detected and no error due to an intermingled packet from other line is caused.例文帳に追加

実際の使用状態に近い条件で試験が行え、試験用パケットの紛失も検知でき、他回線からのパケット混入によるエラーが発生しないようにする。 - 特許庁

The primality test is carried out only on the prime number candidates P' which do not satisfy this condition (S3).例文帳に追加

この条件を満たさない素数候補Ｐ′についてのみ、Ｓ３での素数判定を行う。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR PROVIDING RADIO-FREQUENCY CONDITION TO TEST RADIO COMMUNICATIONS EQUIPMENT例文帳に追加

無線通信設備をテストするための無線周波数条件を提供するための装置および方法 - 特許庁

Under this condition, when a test switch 18 is pressed, a magnet coil 2 of the electric lock 1 is magnetized.例文帳に追加

この状態で試験スイッチ１８を押圧操作すると、電気錠１のマグネットコイル２が付勢される。 - 特許庁

An automatic operation means 12 operates automatically the distributed power source in the determined test operation condition.例文帳に追加

決定された試験運転条件で分散電源を、自動運転手段１２が自動運転する。 - 特許庁

To provide vibration test device having a large diameter capable of restraining an unnecessary rigid vibration condition.例文帳に追加

不要なリジッド振動状態を抑える大直径を有した振動試験装置を提供する。 - 特許庁

in medicine, a sign, symptom, or medical condition that leadsto the recommendation of a treatment, test, or procedure. 例文帳に追加

医学において、治療、検査または手術が推奨される徴候、症状、病状など。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

To reduce the number of setting times of test conditions by storing the frequently set test conditions in a test condition memory section in consideration of the fact that a plurality of same test conditions are set in the past in the setting of test conditions.例文帳に追加

本発明の課題は、試験条件の設定において、過去に複数の同一の試験条件が設定された経緯によって、設定の多い試験条件を試験条件記憶部に保持させることにより、試験条件の設定回数を低減させることである。 - 特許庁

Under this condition, the pressure test is conducted by applying high voltage E for the pressure test to stem pins Fv and Fc connected to grids G3A, G3B, G5S, G5V, etc.例文帳に追加

この状態でグリッドＧ３Ａ，Ｇ３Ｂ，Ｇ５Ｓ，Ｇ５Ｖ等に接続されたステムピンＦｖ，Ｆｃに耐圧試験用の高電圧Ｅを印加して、耐圧試験を行う。 - 特許庁

The first test coupon and the second test coupon which is longer than the first test coupon are prepared, and each signal attenuation amount of the first test coupon and the second test coupon is measured, respectively, under identical condition, and the difference between measured values of each attenuation amount of the second test coupon and the first test coupon is used as a measured value of the signal attenuation amount.例文帳に追加

第１テストクーポンと、第１テストクーポンよりも長さが大きい第２テストクーポンとを用意し、上記第１テストクーポン及び第２テストクーポンのそれぞれの信号減衰量をそれぞれ同じ条件で測定し、上記第２テストクーポン及び上記第１テストクーポンのそれぞれの減衰量の測定値の差を信号減衰量の測定値とする。 - 特許庁

This test pattern evaluating device 2 comprising an evaluating condition output section 21, a test result input section 22 and a test pattern editing section 23, outputs test pattern evaluating conditions to a test pattern testing section 1 for carrying out testing of a test pattern using a tester to a semiconductor device to be measured, and corrects the test pattern.例文帳に追加

本発明のテストパターン評価装置２は、評価条件出力部２１と、試験結果入力部２２と、テストパターン評価装置２３とを備え、測定対象の半導体装置に対してテスタを用いてテストパターンの試験を行うテストパターン試験部１に対してテストパターンの評価条件の出力したり、テストパターンの修正を行う。 - 特許庁

The self-diagnostic result and the test condition are collated each time the self-diagnostic result by a self-diagnostic function is obtained, and the lot information of the product performed with the test on the test condition affected by the self-diagnostic result is output.例文帳に追加

前記自己診断機能による自己診断結果が出る度に、前記自己診断結果と、前記試験条件とを照合し、前記自己診断結果による影響を受ける試験条件にて試験を行った製品のロット情報を出力する。 - 特許庁

The test condition changing means 16 sets a correction testing condition which is different from a j-th inspection condition, j=j+1, when the comparison result outputted from the characteristics comparing means 15 does not agree, and the correction test conditions is newly set as the j-th test condition this is outputted to the testing means 12, and testing is executed again.例文帳に追加

検査条件変更手段１６は、特徴比較手段１５から出力される比較結果が不一致の場合に、第ｊ検査条件と異なる修正検査条件を設定してｊ＝ｊ＋１とし、この修正検査条件を新たな第ｊ検査条件として検査手段１２に出力し、再検査が実施される。 - 特許庁

The CPU 7 is connected to a test circuit 11, provides various status signals indicating the working condition of the protective relay for the test circuit 11, the test circuit 11 starts processing according to a test switch on signal by a test switch (not shown), and provides the prescribed test signal for one analog filter 2.例文帳に追加

更にまた、ＣＰＵ７はテスト回路11と接続しており、保護継電器の動作状況を表す種々のステータス信号をテスト回路11へ与えるべくなしてあって、テスト回路11はテストスイッチ（図示せず）によるテストスイッチＯＮ信号に応じて処理を開始し、また一つのアナログフィルタ２へ所定のテスト信号を与える。 - 特許庁

By testing the contact condition of the probes 7A and 7B with respect to the semiconductor wafer 2 before conducting a test, it is prevented that the probes 7A and 7B might be damaged by the test performed under imperfect contact condition thereof.例文帳に追加

半導体ウエハ２に対するプローブ７Ａ、７Ｂの接触状態を試験前に検査することにより、不完全な接触状態での試験によるプローブ７Ａ、７Ｂの破損を未然に防止する。 - 特許庁

To provide a substrate tester and a test condition setting method capable of selecting a test condition suited to a substrate even when surface pattern information of the substrate is unobtainable in advance.例文帳に追加

基板表面のパターンの情報が事前に得られなくても、基板に適した検査条件を選択することができる基板検査装置および検査条件設定方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

A recording pulse condition for the shortest recording mark in a recording pulse standard condition is changed to perform test writing on an optical disk (S2 and S3), the test writing is reproduced (S4), and a recording pulse condition for making reproduced signal quality good is selected (S5).例文帳に追加

記録パルス標準条件における最短の記録マークに対する記録パルス条件を変化させて、光ディスク上に試し書きを行い（Ｓ２、Ｓ３）、試し書きを再生し（Ｓ４）、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択する（Ｓ５）。 - 特許庁

A control part 20 sets a production coating condition 35 according to a test coating condition 32 and a previously calculated coating condition coefficient 34, and outputs it to a pressure adjustment part 50.例文帳に追加

制御部２０は、試験塗布条件３２と、予め算出された塗布条件係数３４と、に基づいて、生産塗布条件３５を設定し、圧力調整部５０に出力する。 - 特許庁

To reduce a workload for preparing a test case condition corresponding to a system LSI of different specifications by using the existing test items.例文帳に追加

既成の試験項目を用いて、異なる仕様のシステムＬＳＩに対応したテストケース生成条件を作成する作業量を削減することを目的とする。 - 特許庁

A test data generating part 14 generates test data based on the pattern identification code and condition identification code stored in the telephone number management data.例文帳に追加

試験データ生成部１４は、電話番号管理データに格納されているパターン識別コードおよび条件識別コードに基づいて試験データを生成する。 - 特許庁

To provide a synchronous semiconductor memory which can discriminate easily normal/defective condition at the time of dynamic burn-in test by doubling operation speed in a test mode.例文帳に追加

テストモード時の動作速度を２倍にすることにより、動的バーインテストの際の良否判定を容易にできる同期型半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

The operator can confirm the medical image collected by the test and the test object's condition by a monitor screen.例文帳に追加

これにより、オペレータは、検査によって収集される医用画像と検査を受ける被検体の様子とを、ひとつのモニタの画面で確認することができる。 - 特許庁

To provide a connectability evaluation system capable of conducting a test wherein various modes of quality deterioration and the worst condition occurring on a network in a test environment are simulated.例文帳に追加

試験環境のネットワークで生じ得る品質劣化の様々な態様や最悪条件を模擬した試験を行える接続性評価システムを提供する。 - 特許庁

Thus, the logic circuit part of the test mode circuit 12 is reset, by OR-condition of the set level of a test terminal 13R and the level of the power line 3.例文帳に追加

そこで、テストモード回路１２のロジック回路部を、テスト端子１３Ｒの設定レベルと電源線３のレベルとのＯＲ条件によってリセットする。 - 特許庁

To reduce various kinds of constraints imposed to a driving condition of a gear for an abrasion test, and to conduct the abrasion test while observing it through a box from an outside.例文帳に追加

摩耗試験用の歯車の駆動条件に課せられる種々の制約を少なくし、また、箱体の外部から透視しながら摩耗試験を行う。 - 特許庁

To provide a tire testing device which supports a load of a measured tire, constitutes a road face for a flat test, and carries out a test under a condition near an actual road face.例文帳に追加

被験タイヤの荷重を支持できると共に、平坦な試験用の路面を構成でき、実路面に近い状態で試験できるタイヤ試験装置を提供する。 - 特許庁

The test monitoring device 20 sends out a test termination signal to the control parameter adjustment device 10 when a predetermined termination condition is met.例文帳に追加

テスト監視装置２０は、予め定められた終了条件を満たす場合、制御パラメータ調整装置１０にテスト終了信号を送出する。 - 特許庁

An image forming apparatus regards a start signal as a trigger, and writes the positioning test pattern between papers (Lb) when continuously writing a plurality of normal images, and reads the test pattern with a sensor on an intermediate transfer belt in order to regulate an image formation control condition to be fed back.例文帳に追加

スタート信号をトリガとし、複数枚の通常画像を連続して書込む際の紙間（Lb）で位置合わせ用等のテストパターンを書込む。 - 特許庁