「alignment marks」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

First alignment marks 52 for measuring the distortion of a reticule caused by errors or the like, when the reticule is formed, are arranged in grillages 45'.例文帳に追加

レチクルの製作時の誤差等に起因する歪を計測するための第１のアライメントマーク５３を、グリレージ部４５′に配置する。 - 特許庁

To obtain an electro-optic device capable of catching 1st and 2nd alignment marks in the same depth of a field.例文帳に追加

第１のアライメントマークと第２のアライメントマークとを同一の被写界深度内に捉えることができる電気光学装置を得ること。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor device capable of forming alignment marks having improved visibility in a simple process.例文帳に追加

より視認が容易なアライメントマークを簡素な工程で形成することが可能な、半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

Alignment marks 33, 34 are formed, respectively in the liquid crystal cell 16 and the flexible substrate 21 with which the liquid crystal module is provided.例文帳に追加

液晶モジュールが備える液晶セル１６とフレキシブル基板２１とにはそれぞれアライメントマーク３３、３４が形成されている。 - 特許庁

Alignment marks are formed at one part of region, except for the region where the absorber patterns are formed such as the peripheral part of a mask.例文帳に追加

マスクの周辺部等の吸収体パターンが形成される領域以外には、その一部にアライメントマークが形成されている。 - 特許庁

Alignment marks AM1 to AM4 including a cross pattern and a plurality of concentric circular patterns are formed on an upper surface of the substrate 9.例文帳に追加

基板９の上面に、十字パターンと複数の同心円パターンとを含むアライメントマークＡＭ１〜ＡＭ４が形成されている。 - 特許庁

By using the reference marks 42 as alignment reference, the respective mounting parts 20 are subjected to dicing and separated into individual semiconductor devices.例文帳に追加

基準マーク４２を位置あわせ基準として用い、各搭載部２０毎にダイシングして個別の半導体装置に分離する。 - 特許庁

A new mark image is obtained from aligned marks on a substrate in a semiconductor process after processing according to the method for substrate alignment.例文帳に追加

基板整列方法によると、半導体工程が行われた基板上の整列マークから新しいマークイメージを獲得する。 - 特許庁

To provide a process of manufacturing a CSP adapted such that alignment marks can be surely recognized after forming post electrodes.例文帳に追加

ＣＳＰの製造工程において、ポスト電極形成後においてアライメントマークを確実に認識することができるようにする。 - 特許庁

The height from the semiconductor element 11 of the alignment marks 15 is higher than that of the connection electrodes.例文帳に追加

そして、この半導体装置１０は、半導体素子１１からの高さが接続電極よりも大きいアライメントマーク１５を備える。 - 特許庁

A relative position of the marks on the front and rear sides of the substrate is obtained, and the alignment errors of the front and rear sides of the whole body of the substrate are measured.例文帳に追加

基板の表裏側にあるマークの相対位置を求めて、基板全体での表裏側のアラインメントエラーを計算する。 - 特許庁

To make it possible to read and photograph alignment marks even in the case the kind of board to be tested is changed.例文帳に追加

検査すべき基板の種類が変更されても、アライメントマークをそれぞれ読み取り可能及び撮影可能にすることにある。 - 特許庁

To provide an image sensor substrate for improving the mounting accuracy of a semiconductor substrate by canceling limitation caused by arrangement positions of alignment marks for alignment provided in the semiconductor substrate.例文帳に追加

半導体基板に設ける位置合わせ用のアライメントマークの配置位置による制約を解消し、半導体基板同士の実装精度を向上させるイメージセンサ用基板を提供する。 - 特許庁

The alignment means 20 can confirm the direction around the cylinder axis by a relative position in the circumferential direction of alignment marks 21, 22 provided on the sensor body 10 and the housing 1.例文帳に追加

位置合わせ手段２０は、前記センサ本体１０と前記ハウジング１とに設けられた位置合わせマーク２１，２２の周方向の相対位置により、前記筒軸周りの向きが確認可能である。 - 特許庁

To independently check the aligment marks of a mask and work respectively separately with a CCD camera and to respectively movably set the alignment points of the mask and the alignment points of the work.例文帳に追加

マスクとワークのアライメントマークをそれぞれ別々にＣＣＤカメラで独立的に確認でき、しかもマスクのアライメントポイントとワークのアライメントポイントとをそれぞれ移動可能に設定できるようにする。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing an electrooptical device in which accurate alignment can be achieved by forming alignment marks in arbitrary positions on a substrate without affecting practical use areas.例文帳に追加

実用領域に影響を及ぼすことなく、基板上の任意の位置にアライメントマークを形成して精度の良い位置合せを実現できる電気光学装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

A brazed sub-wavelength grating 10 is used to deflect sub-beams created by diffracting the alignment beam from the alignment mark P1 onto the reference marks G91, G93, and G96.例文帳に追加

アライメントマークＰ１から基準マークＧ９１、Ｇ９３、Ｇ９６上へとアライメントビームを回折することによってもたらされたサブビームを偏向するためにブレーズ型サブ波長格子１０を使用する。 - 特許庁

The alignment sensor recognizes and measures alignment marks (P1) on the substrate passing by the sensor during relative motion of the substrate and a patterning subsystem under control of a positioning subsystem.例文帳に追加

アライメントセンサは、位置決めサブシステムの制御の下での基板とパターニングサブシステムとの相対運動中にセンサの傍を通過する基板上のアライメントマーク（Ｐ１）を認識して測定する。 - 特許庁

Further, the method includes a step for causing a moire pattern to be generated from the alignment mark and determining the relative position of the first and second alignment marks (10, 11) on the basis of the periodicity of the moire pattern.例文帳に追加

さらに、方法は、位置合せマークからモアレ縞を発生させ、第１及び第２の位置合せマーク（１０、１１）の相対位置をモアレ縞の周期性に基づいて決定するステップを含む。 - 特許庁

This device 100 automatically carries out the alignment of the reference hole for alignment pierced at the printed circuit board and the marks for alignment of the mask films for the front surface and the rear surface, thereby carrying out the alignment of the mask films for both the front and rear surfaces of the printed circuit board.例文帳に追加

この発明の装置１００は、プリント基板に穿設された位置合わせ用の基準穴と、表面用および裏面用のマスクフィルムの位置合わせ用のマークとの位置合わせをそれぞれ自動的に行うことにより、プリント基板の表裏両面に対するマスクフィルムの位置合わせを行う。 - 特許庁

The alignment mark of the mask and the alignment mark of the panel to be attached are detected while being shifted timewise without moving the position of an alignment microscope in the XYθ directions and, as the result, the mask and the panel are relatively moved such that the detected both alignment marks comes to a prescribed positional relation.例文帳に追加

マスクのアライメントマークと貼り合せを行なうパネルのアライメントマークとを、アライメント顕微鏡の位置をＸＹθ方向には移動させないで時間的にずらして検出し、検出した両アライメントマークが所定の位置関係になるように、マスクとパネルとを相対的に移動させる。 - 特許庁

Scattering lights from the first and second alignment marks enter an observation optical system having an optical axis oblique from the first surface of the first member held on the first stage to form the images of the first and second alignment marks on an image plane.例文帳に追加

第１のステージに保持された第１の部材の第１の面に対して斜めの光軸を有する観測光学系に、第１のアライメントマーク及び第２のアライメントマークからの散乱光が入射し、第１のアライメントマーク及び第２のアライメントマークが像面に結像する。 - 特許庁

The template with the alignment marks is equipped with a flexible substrate, a template mold formed on the flexible substrate including patterns and the alignment marks formed on the template mold and having a refractive index larger than that of the template mold.例文帳に追加

整列マークが形成されたテンプレートにおいて、可撓性基板と、可撓性基板上にパターンを含めて形成されたテンプレートモールドと、テンプレートモールドに形成され、テンプレートモールドより高い屈折率を有する整列マークと、を備える整列マークが形成されたテンプレートである。 - 特許庁

Image pickup means for detecting alignment marks are arranged at optional positions, the TFT substrate is moved, by a stage, for the image pickup means installed on the fixed positions and the image pickup means can photograph the alignment marks by the stage movement.例文帳に追加

本発明は、アライメントマークを検出する撮像手段を任意の位置に設置し、この固定位置に設置された撮像手段に対してＴＦＴ基板をステージによって移動させ、このステージ移動によって撮像手段によるアライメントマークの撮像を可能とする。 - 特許庁

The aligner measures the surface position of a street line SL with respect to the alignment marks AM formed on the line SL by irradiating the surface of the line SL which is different from the marks AM with light ILX.例文帳に追加

ストリートラインＳＬ上に形成されたアライメントマークＡＭに対し、アライメントマークＡＭとは異なるストリートラインＳＬ上に照明光ＩＬ__Xを照射してストリートラインＳＬの表面位置を計測する。 - 特許庁

Alignment marks 12 and 22 are given on surfaces of parent and child chips 10 and 20 so that, when the child chip 20 is correctly joined to the parent chip 10, the marks are positioned as opposed to each other.例文帳に追加

親チップ１０および子チップ２０の表面には、それぞれアライメント用マーク１２，２２が、子チップ２０を親チップ１０に正しく接合させたときに互いに対向し合う位置に配置されている。 - 特許庁

The terminal region T is provided with first and second alignment marks 26 and 27 for positioning the flexible printed circuit board 24.例文帳に追加

そして、端子領域Ｔには、フレキシブルプリント基板２４の位置決めを行うための第１及び第２アライメントマーク２６，２７が設けられている。 - 特許庁

The element of the first pattern and the element of the second pattern superimpose each other, to form the set of the alignment marks, the periphery of which is formed by small elements.例文帳に追加

第一パターンと第二パターンの要素が重なって、アラインメントマークのセットを形成し、その縁部は小型要素によって形成される。 - 特許庁

In the electrooptical device, the wiring covers the alignment marks at least partially in plan view on either substrate.例文帳に追加

当該電気光学装置において、一方の基板上で平面的に見て、前記配線は、アライメントマークを少なくとも部分的に覆っている。 - 特許庁

To provide a pattern forming device and a pattern forming method capable of forming alignment marks in a membrane constituted by liquid repellent agent.例文帳に追加

撥液剤により構成された膜にアライメントマークを形成することができるパターン形成装置およびパターン形成方法を提供する。 - 特許庁

The alignment camera corrected with a reference pattern of a reference scale is used to image 1st to 3rd marks formed on a member for correction.例文帳に追加

基準スケールの基準パターンにて校正されたアライメントカメラで校正用部材に形成された第１〜第３のマークを撮像する。 - 特許庁

An image input part 11 inputs two or more sheets of pictures of alignment marks imaged by changing height with an image pick-up unit 20.例文帳に追加

画像入力部１１は，撮像ユニット２０により高さを変えて撮像された複数枚のアライメントマークの画像を入力する。 - 特許庁

With the alignment marks 41, 42 as position references, the resin insulating layers 20, 21, 31, 32 are irradiated with laser beams to form via holes 25, 27.例文帳に追加

位置合わせマーク４１，４２を位置基準として樹脂絶縁層２０，２１，３１，３２にレーザを照射してビア穴２５，２７を形成する。 - 特許庁

When a measurement section case is located at the middle of both eyes while a television monitor 9 is observed, an alignment mark disappears, and marks M are displayed.例文帳に追加

テレビモニタ９を見ながら両被検眼Ｅの中間に測定部筐体を合わせると、アライメントマークが消えてマークＭが表示される。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing semiconductor device which can use a number of marks for alignment without occupying a wide area.例文帳に追加

広い領域を占有することなく多くのアライメント用のマークを利用することが可能な半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To make it possible to surely observe alignment marks within the surface of a panel, independently of kind of liquid crystal to be used, and to perform positioning with high precision.例文帳に追加

用いられる液晶の種類を問わず、パネル面内のアライメントマークを確実に観察可能として、高精度の位置合わせを行なう。 - 特許庁

To provide a magnetic head for perpendicular magnetic recording and a magnetic disk drive, capable of suppressing a data erasure caused by alignment marks.例文帳に追加

アライメントマークによるデータの消去を抑制することが可能な垂直磁気記録用の磁気ヘッド及び磁気ディスク装置を提供する。 - 特許庁

To provide a marking device which forms alignment marks for aligning respective layers for production of a multilayered circuit board with good accuracy.例文帳に追加

多層回路基板製造において、各層の位置合わせを精度良く行うためのアライメントマークを形成するマーキング装置を提供する。 - 特許庁

Photographed image data is image-processed to compute positional displacements of the suction position of each IC chip T with reference to the alignment marks.例文帳に追加

撮影した画像データの画像処理を行ない、アライメントマークを基準として、各ＩＣチップＴの吸着位置の位置ズレを演算する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which alignment marks can easily be recognized even in forming an underfill resin covering connection electrodes.例文帳に追加

接続電極を覆うアンダーフィル樹脂が形成されている場合にも、アライメントマークの認識が容易な半導体装置を提供する。 - 特許庁

A pair of mutually opposed alignment marks 51a, 51b are formed on both sides of the dicing region 60 on the wafer 10.例文帳に追加

即ち、半導体ウェハ１０上のダイシング領域６０の両側に、互いに対向する１対のアラインメントマーク５１ａ，５１ｂを形成する。 - 特許庁

The display panel and the switching liquid crystal panel comprise alignment marks for aligning and sticking these panels, respectively.例文帳に追加

表示パネル及びスイッチング液晶パネルは、これらのパネル同士を位置合わせして貼り合わせるためのアライメントマークをそれぞれ備えている。 - 特許庁

To improve the truble caused by difficulty in objectively judging whether alignment is proper or not in the alignment using alignment marks at the time of mounting a flexible board and an IC for driving to a liquid crystal panel.例文帳に追加

フレキシブル基板や駆動用ＩＣの液晶パネルへの実装作業における位置合わせマークを用いた位置合わせにおいて、位置合わせの適否の判断を客観的に行うことの困難性に起因するトラブルを改善することを課題とする。 - 特許庁

The alignment mark 33 on the cell side consists of two separation marks 331, 332 which are provided at a fixed interval in the direction perpendicular to the alignment direction X, and aligned so that positions of both ends in the alignment direction X may become the same position.例文帳に追加

セル側アライメントマーク３３は、配列方向Ｘに対して垂直な方向に一定の間隔をあけて設けられると共に、配列方向Ｘの両端部の位置が同一の位置となるように揃えられた２つの分離マーク３３１、３３２からなる。 - 特許庁

By acquiring images of the position information marks 2b and 2c by a plurality of image acquiring devices and moving each image acquiring device based on the information of the positions of the alignment marks 2aR, 2aG and 2aB included in the acquired position information marks 2b and 2c, the alignment mark of the mask can be easily put in the field of view of the image acquiring device in a short period of time.例文帳に追加

位置情報マーク２ｂ，２ｃの画像を複数の画像取得装置により取得し、取得した位置情報マーク２ｂ，２ｃの画像に含まれるアライメントマーク２ａＲ，２ａＧ，２ａＢの位置の情報に基づいて、各画像取得装置を移動することにより、画像取得装置の視野内に、マスクのアライメントマークを短時間で容易に入れることができる。 - 特許庁