「differential test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

TRANSMISSION CIRCUIT, DIFFERENTIAL SIGNAL TRANSMISSION CIRCUIT, AND TEST APPARATUS例文帳に追加

伝送回路、差動信号伝送回路、および試験装置 - 特許庁

DC CHARACTERISTIC TEST CIRCUIT OF DIFFERENTIAL SIGNAL OUTPUT CIRCUIT例文帳に追加

差動信号出力回路のＤＣ特性テスト回路 - 特許庁

To provide a test method and a test circuit of a differential buffer for simplifying a constitution, and evaluating an offset voltage and a differential voltage of a differential signal.例文帳に追加

簡単な構成で差動信号のオフセット電圧と差動電圧の評価を行うことができる差動バッファのテスト方法およびテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit and test method for differential data driver, capable of precisely testing a differential signal, using a simple configuration.例文帳に追加

簡素な構成で精度良く差動信号のテストが可能な差動型データドライバのテスト回路及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

The offset voltage and the differential voltage of the differential buffer are evaluated by the tester based on a test pattern by using the test circuit.例文帳に追加

このテスト回路を用いて、テスタにより、テストパターンに基づいて、差動バッファのオフセット電圧と差動電圧の評価を行う。 - 特許庁

To provide a leak test method using a differential pressure type leak test device, which is capable of performing a leak test accurately in a shorter time.例文帳に追加

リークテストを、より短時間で精度良く行うことができる、差圧式リークテスト装置によるリークテスト方法を提供する。 - 特許庁

FIELD TEST METHOD FOR DIFFERENTIAL RELAY USING EXCITATION INRUSH CURRENT例文帳に追加

励磁突入電流を用いた差動継電器の現地試験方法 - 特許庁

To provide a differential input A/D converter for facilitating an operation test.例文帳に追加

動作試験を容易にする差動入力ＡＤコンバータを提供する。 - 特許庁

To provide automatic test equipment for processing a differential signal without making timing errors.例文帳に追加

タイミングエラーなく差動信号を処理する自動テスト装置の提供。 - 特許庁

The switching circuit couples the test currents with the reference currents, and thereby realizes a differential swing comparison mode and a common mode comparison mode necessary for the test of a differential signal.例文帳に追加

スイッチング回路は、試験電流と基準電流を結合し、それにより差動信号の試験に必要な差動揺れ比較モードおよびコモンモード比較モードを実現している。 - 特許庁

To provide a new method for the specific detection and differential test of neurodegeneration.例文帳に追加

神経変性の特異的検出および分別検査のための新たな方法を提供する。 - 特許庁

About one out of two conductors constituting a differential impedance test pattern 104, conductor of a characteristic impedance test pattern 105 is connected.例文帳に追加

差動インピーダンステストパターン１０４を構成する２本の配線のうち、１本について特性インピーダンステストパターン１０５の配線を接続する。 - 特許庁

To provide a test system for easily manufacturing hardware used in measurement of a differential signal.例文帳に追加

差分信号に関する測定をするためのハードウェアを容易に製造するための試験システム。 - 特許庁

To simplify a differential pressure detecting passage in a device for a leakage test which includes a temperature-sensitive member for temperature compensation.例文帳に追加

温度補償用の感温部材を含むリークテスト装置において、差圧検出路を簡素化する。 - 特許庁

To provide a bearing test apparatus capable of accurately evaluating the characteristics of differential contra-rotating bearings.例文帳に追加

差動反転軸受の特性を正確に評価することのできる軸受試験装置を提供する。 - 特許庁

To enable high-precision leak detection by a differential pressure type air leak test device while reducing the capacity of master-side and work- side two test pressure closure systems.例文帳に追加

差圧型エアリークテスト装置において、マスタ側，ワーク側の２つのテスト圧閉鎖系の容積を減少させて、高精度の漏れ検出を行う。 - 特許庁

To simplify a differential pressure detecting passage in a device for a leakage test which includes a temperature-sensitive member for temperature compensation.例文帳に追加

温度補正のための感温部材を含むリークテスト装置において、差圧検出路を簡素化する。 - 特許庁

The time from the start of the initial pressure supply to the switching to the test pressure, a pressure difference between the initial pressure and test pressure, etc., are adjusted so as to reduce the differential pressure component which does not change to zero.例文帳に追加

この差圧成分をゼロにするように、初期圧供給開始からテスト圧に切り換えるまでの時間、初期圧とテスト圧との圧力差等を調節する。 - 特許庁

This device is equipped with the reference vessel 12 capable of being inserted airtightly into the test vessel 1, an equalizing valve 3 capable of opening and closing a communicating tube for communicating the test vessel with the reference vessel, and a differential pressure gage 4 for detecting the differential pressure generated between the test vessel and the reference vessel.例文帳に追加

試験容器１内に気密に挿入可能な基準容器１２と、試験容器と基準容器間を連通する連通管を開閉可能な均圧弁３と、試験容器と基準容器間に発生する差圧を検出する差圧計４とを備える。 - 特許庁

Furthermore, in special test mode to be executed as necessary or periodically, after the opening/closing valves 27 and 28 are closed and waited for a longer waiting time than in the normal test mode, a differential pressure component which linearly changes due to leak is subtracted from the detected differential pressure to obtain a differential pressure component which does not change.例文帳に追加

さらに、必要に応じてまたは周期的に実行される特殊なテストモードでは、開閉弁２７，２８を閉じた後、通常のテストモードよりも長い待ち時間だけ待った後に、上記検出差圧から、漏れに起因してリニアに変化する差圧成分を差し引いて、変化しない差圧成分を得る。 - 特許庁

To shorten a time required for evaluation by conducting a simple function test for evaluating a cross-point voltage of a differential output of a differential output circuit.例文帳に追加

差動出力回路の差動出力の交差点電圧を評価する際、簡単な機能テストを行うことで可能とし、評価の所要時間を大幅に短縮する。 - 特許庁

For example, a test is performed by: mounting a device under test (DUT) on a test board TBD including loopback-wiring lines LNp1, LNn1, LNp2, and LNn2; and returning signals from differential transmission terminals TXp and TXn of the DUT to differential reception terminals RXp and RXn via the loopback-wiring lines.例文帳に追加

例えば、ループバック配線ＬＮｐ１，ＬＮｎ１，ＬＮｐ２，ＬＮｎ２を持つテスト用基板ＴＢＤ上に被テストデバイスＤＵＴを搭載し、ＤＵＴの差動送信端子ＴＸｐ，ＴＸｎからの信号をループバック配線を介して差動受信端子ＲＸｐ，ＲＸｎに戻すことでテストを行う。 - 特許庁

To provide an air pipe type differential distributed sensor, with which the attachment/detachment of an air pipe for a test is unnecessitated and the injection spot of test air can be fixed.例文帳に追加

試験のための空気管の着脱を不要とし、また試験空気の注入箇所の定位置化を図ること等のできる空気管式差動式分布型感知器を提供する。 - 特許庁

The differential current of an adjacent IDDQ is calculated in the second array data, and third array data including as elements the identifier of the test vector and the differential current is created (S110).例文帳に追加

第２配列データにおいて隣接するＩＤＤＱの差分電流を算出し、テストベクタの識別子および差分電流を要素とする第３配列データを生成する（Ｓ１１０）。 - 特許庁

To provide a differential device with a motor wherein the ring gear of a differential device is engaged with a driving pinion gear supported on the rotor shaft of a motor, for allowing easy performance test with the single motor.例文帳に追加

モータのロータ軸に支持させたドライブピニオンギヤに、デファレンシャル装置のリングギヤを噛合いさせてなるモータ付デファレンシャル装置において、簡易にモータ単体で性能検査できること。 - 特許庁

The differential charge amplifier processes charge signals from a rotation rate sensor, with a test signal being applied to the differential charge amplifier so that during normal operation the output of the amplifier corresponds to the test signal as well as to the charge signals.例文帳に追加

回転速度センサからの電荷信号を処理するための差動電荷増幅器であって、通常の動作中、増幅器の出力が、電荷信号と同様に、テスト信号にも対応するように、差動電荷増幅器にテスト信号が加えられる。 - 特許庁

To provide a method for inspecting airtightness by using a differential pressure type leak test relative to a finished product of a gas sensor.例文帳に追加

ガスセンサの完成品に対して、差圧式リークテストを用いて気密性を検査する方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The receiver test circuit 30 has resistor circuits 31a, 31b, 32a, 32b generating the pair of differential voltage signals of a potential difference necessary for the sensitivity test of the receiver 15.例文帳に追加

受信用レシーバテスト回路３０は、受信用レシーバ１５の感度テストに必要な電位差の１対の差動電圧信号を発生させる抵抗回路３１ａ、３１ｂ、３２ａ、３２ｂを有する。 - 特許庁

And two divided voltage are compared by a comparing circuit 150 of a differential amplifier type, test command voltage is detected, and a circuit to be tested of a semiconductor memory is shifted to a test mode.例文帳に追加

そして、２つの分圧電圧を差動増幅型の比較回路１５０によって比較しテスト指令電圧を検出し、半導体記憶装置の被テスト回路をテストモードへ移行させる。 - 特許庁

In a differential signal test mode for evaluating the differential signals, a first control circuit of the differential signal output device makes a differential signal generation circuit generate the differential signals corresponding to data signals and output them to first and second transmission terminals corresponding to a first control signal, and a second control circuit of the differential signal output device stops the operation of a common mode signal generation circuit corresponding to a second control signal.例文帳に追加

差動信号を評価する差動信号テストモードにおいて、差動信号出力装置の第１の制御回路は、第１の制御信号に応じて、差動信号生成回路にデータ信号に応じた差動信号を生成させて第１および第２の送信端子に出力させ、且つ、差動信号出力装置の第２の制御回路は、第２の制御信号に応じて、コモンモード信号生成回路の動作を停止する。 - 特許庁

The test circuit includes: first and second resistive elements connected between differential signals output from a differential buffer and first and second test channels of a tester; a first node between the first resistive element and the first test channel; a second node between the second resistive element and the second test channel; and a capacitive element between the first and second nodes.例文帳に追加

テスト回路は、差動バッファから出力される差動信号の各々とテスタの第１および第２のテストチャネルとの間にそれぞれ接続された第１および第２の抵抗素子と、第１の抵抗素子と第１のテストチャネルの間の第１のノードと、第２の抵抗素子と第２のテストチャネルの間の第２のノードと、の間に接続された容量素子とを備えている。 - 特許庁

To detect a differential nonlinear characteristic error and a miss code by a simple test procedure without requiring a special testing device outside.例文帳に追加

外部に特別な試験装置を必要とせず、簡単なテスト手順で微分非直線特性誤差及びミスコードの検出が可能とする。 - 特許庁

A capacitive coupling probe 15 capacitively coupled to the test electric wire 31 is provided, and a differential pulse detecting circuit 16 is provided for detecting a differential pulse Pd appearing on the capacitive probe 15, and informing to that effect by an informing means 17, when the differential pulse Pd is lost.例文帳に追加

被検電線31に対し容量結合する容量結合プローブ15を設け、当該容量プローブ15に現れる微分パルスPdを検出し、当該微分パルスPdが失われた時に報知手段17によりその旨報知させる微分パルス検出回路16を設ける。 - 特許庁

The reference vessel 12 is formed from a thin-walled highly heat-conductive material resistant to the maximum differential pressure, and the reference vessel 12 is inserted into the test vessel 1.例文帳に追加

基準容器１２を最大差圧に耐えかつ薄肉の良熱伝導材で形成し、この基準容器１２を試験容器１内に挿入する。 - 特許庁

This can be proved by standard tests such as the deposit and oxidation panel test(DOPT) and the pressurized differential scanning calorimetry(PDSC).例文帳に追加

これは、析出および酸化パネル試験（ＤＯＰＴ）および加圧示差走査熱量計（ＰＤＳＣ）のような標準的な試験によって証明される。 - 特許庁

The test control circuit 18 controls the connection selecting circuit 16, and sequentially switches one of the differential signal drivers 13a-13d and the differential signal receivers 14a-14d, and connects it to arbitrary one of the other.例文帳に追加

テスト制御回路１８は、接続選択回路１６を制御して、差動信号ドライバ１３ａ〜１３ｄ及び差動信号レシーバ１４ａ〜１４ｄの一方を、他方の任意の一つに順次切り替えて接続させる。 - 特許庁

To provide a semiconductor test method and a semiconductor testing device capable of determining propriety of each level and timing of differential signals Pos and NegPos individually, relative to DUT having a differential output Pos/Neg.例文帳に追加

差動出力Ｐｏｓ／Ｎｅｇを有するＤＵＴについて、差動信号ＰｏｓとＮｅｇＰｏｓのレベルとタイミングの良否を個別に判定できる半導体試験方法および半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

To test by a few operators coping with the field, and to test efficiently, accurately and quickly by operating a test terminal by a single operator, when performing an operation test of a comparison protection relay device represented by a transmission line differential current type protection relay device installed in an adjacent power station.例文帳に追加

隣接する電気所に設置される送電線差動電流式保護継電装置代表される比較保護継電装置の動作試験をするにあたり、少ない現場対応要員で試験可能であり、試験端末を一人で操作することにより、試験が効率的に、正確に、迅速に行うことができること。 - 特許庁

The control section 60 performs print density calibration based on a first correction value 43A calculated based on the first test chart 42T received by the communication section 10 and a differential of a density value of the first test chart 42T.例文帳に追加

制御部６０は、通信部１０が受信した第１テストチャート４２Ｔ及び第１テストチャート４２Ｔの濃度値の差分に基づいて算出した第１補正値４３Ａに基づいてプリント濃度のキャリブレーションを行なう。 - 特許庁

Coefficient C relating to a leaking clearance inherent to an object sample 13 is obtained from time transition data of a generated differential pressure considering a change in the test pressure, and the test of airtightness performance is conducted by using the coefficient C.例文帳に追加

テスト圧変化を考慮した発生差圧の時間変移データから、対象供試品１３固有のリークする隙間に関する係数Ｃを求め、この係数Ｃを用いて気密性能の試験を行うようにした。 - 特許庁

A differential magnetic susceptibility is obtained based on the waveform of a current applied to the coil 105 and time-derivative of magnetization change of the test piece 101.例文帳に追加

そこで、パルス印加コイル１０５への印加電流波形と磁性体試料１０１の磁化変化の時間微分に基づいて微分磁化率を求める。 - 特許庁

To previously test characteristic variations in a plurality of differential amplifying circuits being formed on a TFT array substrate for example, before forming a pixel section on the substrate.例文帳に追加

例えばＴＦＴアレイ基板に形成された複数の差動増幅回路の特性ばらつきを、当該基板に画素部を形成する前に予め検査する。 - 特許庁

On the other hand, in a test mode, the output switch circuit 12 outputs the shaped differential signals SN and SP from the waveform shaping circuit 11 as sinusoidal signals.例文帳に追加

一方、出力切換回路１２は、テストモードのときには、波形整形回路１１からの整形差動信号ＳＮ，ＳＰを正弦波信号として出力する。 - 特許庁

Then after a test pressure is supplied, opening/closing valves 27 and 28 are closed and waited for a predetermined waiting time, a leak from a work W connected to the work-side branch passage 22 is detected from a differential pressure detected at a differential pressure sensor 29.例文帳に追加

次にテスト圧を供給し、その後、上記開閉弁２７，２８を閉じ所定の待ち時間だけ待った後に、上記差圧センサ２９で検出される差圧から、上記ワーク側分岐通路２２に接続されたワークＷの漏れを検出する。 - 特許庁

A fluoroscopic image of an empty container is previously registered as a mask image data, differential computing is carried out with each test object fluoroscopic image, and foreign matter detection processing is carried out on an image data obtained as a result of the differential computing.例文帳に追加

空容器のＸ線透視画像データを予めマスク画像データとして登録しておき、各検査対象物のＸ線透視画像データとの間で差分演算し、この結果の画像データに対して異物検出処理を行う。 - 特許庁