「entry test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To enter efficiently super VIH(SVIH) conditions to a test mode by suppressing restriction of a test device and possibility of erroneous entry of a user side at the time of entry of serial test.例文帳に追加

シリアルテストエントリ時におけるテスト装置の制約およびユーザ側の誤エントリの可能性を抑制して効率的にスーパＶＩＨ（ＳＶＩＨ）条件のテストモードにエントリする。 - 特許庁

A test apparatus 900 is used to test a communication control apparatus 10 working as an unauthorized entry preventing apparatus for preventing unauthorized entry to a communication device.例文帳に追加

試験装置９００は、通信装置に対する不正な侵入を防止する不正侵入防止装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

To realize a test mode entry method using key entry by continuous test mode cycle used in a conventional SDRAM/DDR-SDRAM, in a FCRAM command system.例文帳に追加

FCRAM のコマンド体系において、従来のSDRAM/DDR-SDRAM で使用されている連続したテストモードサイクルによるキーエントリを使用したテストモードエントリ方法を実現する。 - 特許庁

From this test result and records of entry into the rooms, the source of infection is specified (S15).例文帳に追加

この検査結果及び入室記録から感染源を特定する（Ｓ１５）。 - 特許庁

Therefore, as entry to the test mode is possible without using high voltage SVIH, entry to the test mode is possible even when it is incorporated in a registered DIMM.例文帳に追加

したがって、高電圧ＳＶＩＨを使用せずにテストモードにエントリすることができるので、レジスタードＤＩＭＭに組込んだ場合でもテストモードにエントリすることができる。 - 特許庁

The test-mode entry circuit 100 includes an n-bit shift register 101, a control circuit 102 and a test mode signal generation circuit 103.例文帳に追加

テストモードエントリ回路１００は、ｎビットシフトレジスタ１０１、制御回路１０２及びテストモード信号発生回路１０３を備える。 - 特許庁

The personal computer acts like an entry section that enters test items of the mobile telephone system and a control section that executes the test to automatically take care of the test items and to record the test result.例文帳に追加

パーソナルコンピュータの役割は、携帯電話システムの試験項目を入力する入力部と試験を実施する制御部によって自動的に試験項目を消化し、試験結果を記録する。 - 特許庁

When a test personnel conducts a test and a mobile terminal 11 dials a test use special number, an exchange 13 sends display and announcement to urge entry of a test personnel ID and a password to the mobile terminal 11.例文帳に追加

試験者が試験実行の際に、移動端末１１から試験用の特殊番号に発信すると、交換機１３は試験者ＩＤと暗証番号の入力を促す表示およびアナウンスを移動端末１１に行う。 - 特許庁

When the new test number appears in the database 700 as an entry, a unique identifier related to the entry is compared with index information including (1) the identifier of the sub-test and (2) the present test flow context information 300 (908).例文帳に追加

新しいテスト番号がデータベース７００内でエントリとして現われた場合、エントリに関連づけられた一意的な識別子を、（１）サブテストの識別子と（２）現在のテストフローコンテキスト情報３００とを含むインデックス情報と比較する（９０８）。 - 特許庁

This DDR SDRAM is provided with a test mode entry signal generating circuit making a test mode entry signal TMODE a 'H' level in accordance with that a first command CMDA, a second command CMDB, a test mode entry set command TMESA, a third command CMDC, and a test mode register set command TMRSA are inputted continuously synchronizing with a rise edge of a clock signal CLK.例文帳に追加

このＤＤＲ ＳＤＲＡＭは、第１コマンドＣＭＤＡ、第２コマンドＣＭＤＢ、テストモードエントリセットコマンドＴＭＥＳＡ、第３コマンドＣＭＤＣ、およびテストモードレジスタセットコマンドＴＭＲＳＡがクロック信号ＣＬＫの立上がりエッジに同期して連続的に入力されたことに応じてテストモードエントリ信号ＴＭＯＤＥを「Ｈ」レベルにするテストモードエントリー信号発生回路を備える。 - 特許庁

This device is provided with a test mode discriminating circuit 26 in which a test mode entry signal TME is activated in accordance with an address key in a WCBR cycle of a first time, and test mode signals TM1-TM4 are selectively activated in accordance with an address key in a WCBR cycle of a second time while the test mode entry signal TME is activated.例文帳に追加

１回目のＷＣＢＲサイクルでアドレスキーに応じてテストモードエントリ信号ＴＭＥを活性化し、テストモードエントリ信号ＴＭＥが活性化されている間に２回目のＷＣＢＲサイクルでアドレスキーに応じてテストモード信号ＴＭ１〜ＴＭ４を選択的に活性化するテストモード判別回路２６を設ける。 - 特許庁

By this constitution, data writing and reading are continuously conducted with a plurality of test patterns by only dynamically changing input data for testing and conducting test mode entry for test performing.例文帳に追加

このような構成によって、試験のための入力データを動的に変更させ、試験を行うためのテストモードエントリを行うだけで、複数のテストパターンでのデータの書き込みと読み出しが連続して行われる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which erroneous entry can be easily recognized by a user when a test mode is erroneously entered.例文帳に追加

テストモードが誤ってエントリーされた時にはユーザから容易に認識できる半導体装置を提供するにある。 - 特許庁

Based on this test, we found that the "entry rates (for the previous period and earlier)" have an effect on the "(current) exit rate."例文帳に追加

これによると、「（前期以前の）開業率」が「（当期の）廃業率」に影響を与えているという結果が得られた。 - 経済産業省

The method and apparatus of the present invention provides for a test stand, a plurality of X-ray test phantoms(10, 20, 30, 40, 50, 60, 70) and a computer program for data entry, analysis and storage of the test results.例文帳に追加

一般的に、本発明の方法及び装置は、テスト台と、複数のＸ線テスト模型（１０、２０、３０、４０、５０、６０、７０）と、データ入力、分析、及びテスト結果の保存のためのコンピュータプログラムとを提供する。 - 特許庁

The distortion correction device 14 is provided with a test video display means 16, a coordinate entry device 18, a pointer 20 and a distortion correction circuit 22.例文帳に追加

歪み補正装置は、テスト映像表示手段１６、座標入力装置１８、ポインタ２０、歪み補正回路２２を備える。 - 特許庁

The test device acts like entering data to mobile telephones in place of manual entry according to commands from the personal computer to instruct operations and transmitting data of its display section being the result of entry to the personal computer.例文帳に追加

試験装置の役割は、パーソナルコンピュータからの動作を指示するコマンドとデータにより携帯電話への手入力を代替し、入力結果である表示部のデータをパーソナルコンピュータに送信する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which entry to a test mode is possible even when an external signal is inputted through a register.例文帳に追加

レジスタを介して外部信号を入力する場合でもテストモードにエントリすることが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

The configuration of a simple voltage detector and an ordinary latch allows easy entry into the test and trimming mode when the integrated circuit is not in the intended application, but prohibits entry into the test and trimming mode when the integrated circuit operates in the intended application.例文帳に追加

簡単な電圧検出器と通常のラッチの構成により、集積回路が意図された用途にないときには試験とトリミング・モードに容易に入ることができるが、集積回路が意図された用途で動作しているときには試験とトリミング・モードに入ることが禁止される。 - 特許庁

When the external power source potential EXVDD exceeds the prescribed standard range, entry for a test mode can be performed without making a signal SVIH set to a test mode have a high potential.例文帳に追加

外部電源電位ＥＸＶＤＤが所定の規格範囲を超える高い電位である場合には、テストモードに設定する信号ＳＶＩＨを高電位にすることなくテストモードへのエントリが可能となる。 - 特許庁

Based upon the output of the test on the entry of the comparison matrix, it is identified whether the received electronic image data are inclusive of a fog scene or not.例文帳に追加

次に、比較マトリクスのエントリについてのテスト出力に基づいて、受け取られた電子画像データにかぶりシーンが含まれているか否かが判定される。 - 特許庁

The bit to be selected is determined by an index mask, while being reflected with the variance of valid test values (and valid retrieve key segment values) in a table entry.例文帳に追加

選択されるビットは、テーブル・エントリにおける有効なテスト値（および有効な検索キー・セグメント値）の分散を反映して、インデックス・マスクによって決定される。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which can perform a normal operation even when entry is performed erroneously for a test mode and external applying voltage for an internal circuit is low.例文帳に追加

誤ってテストモードにエントリしたときで、内部回路への外部印加電圧が低いときでも、通常動作が可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

Semiconductor modules 100, 110 are provided with semiconductor memories 11-18, a registered buffer 20, a PLL circuit 30 and a test mode entry circuit 40.例文帳に追加

半導体モジュール１００，１１０は、半導体記憶装置１１〜１８と、レジスタードバッファ２０と、ＰＬＬ回路３０と、テストモードエントリ回路４０とを備える。 - 特許庁

In this browsing method, when a user seeing browsing data sent from a center unit make a request operation such as code entry, test data specifying Internet contents are sent to the center unit (P1).例文帳に追加

センター装置から送られた閲覧データをみてユーザがコード入力等のリクエスト操作を行なうと、センター装置にインターネットコンテンツを特定するテキストデータが送られる（Ｐ１）。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which erroneous entry for a test mode at the time of ordinary use can be surely prevented and various operation tests can be surely performed at the time of shipping.例文帳に追加

通常使用時におけるテストモードへの誤エントリーを確実に防止しながら、出荷時には各種動作試験を確実に行い得る半導体装置を提供する。 - 特許庁

In the semiconductor memory device adopting a shared type sense amplifier, entry for a test mode is performed, a transfer gate used for the shared type sense amplifier, a pre-charge circuit, and the sense amplifier are controlled individually.例文帳に追加

シェアード型センスアンプを採用した半導体記憶装置において、テストモードにエントリし、シェアード型センスアンプに用いられるトランスファゲート、プリチャージ回路、センスアンプを個別に制御する。 - 特許庁

To provide a subscriber line automatic test system that needs no operator, then requires no labor such as hearing of fault contents and data entry and precludes the possibility of wrong hearing or the like.例文帳に追加

オペレータを必要とせず、したがって、故障内容の聞き取り、データ入力等の手間が要らず、また、聞き違い等の発生する恐れがない加入者回線自動試験システムを提供する。 - 特許庁

In a semiconductor device having a test mode for testing, the device is provided with a circuit generating a first signal based on a dummy command signal inputted plural times and generating a second signal indicating entry for a corresponding test mode or exit from a corresponding test mode based on an address signal and the first signal.例文帳に追加

試験を行うためのテストモードを有する半導体装置において、複数回入力されるダミーコマンド信号に基づいて、第１の信号を生成し、アドレス信号及び第１の信号に基づいて、対応するテストモードへのエントリ又は対応するテストモードからのエクジットを指示する第２の信号を生成する回路とを備えるように構成する。 - 特許庁

By reading the bar code of the test container of which the degree of agglutination is to be observed immediately before the input of the degree of agglutination, automatically invoking a form for the entry of the degree of agglutination of the test container to a screen by the computer, and inputting it, copy error of the degree of agglutination is prevented.例文帳に追加

また、凝集度を入力する直前に凝集度を観察する試験容器のバーコードを読み取り、その試験容器の凝集度を記入するためのフォームをコンピューターにより自動的に画面に呼び出して入力することにより、凝集度の転記ミスを防止する。 - 特許庁

To enable performing simply and surely test mode entry without increasing circuit scale of a semiconductor memory and reducing integration regardless of synchronous type or asynchronous type of a semiconductor device, in a semiconductor device and its test method.例文帳に追加

本発明は半導体装置及びその試験方法に関し、半導体装置が同期型であるか非同期型であるかに関わらず、半導体装置内の回路を大規模化及び集積度の低下を招くことなく、簡単、且つ、確実にテストモードエントリを行うことを可能とすることを目的とする。 - 特許庁

When the apparatus is used as an apparatus, having a sealing structure substantially preventing the entry of air and moisture, a plurality of the test strips housed in the apparatus are provided.例文帳に追加

当該装置は実質的に空気および湿気の侵入を阻むシール構造を有するものとしてこの装置を使用するには、装置内に格納される複数枚の検査用細片が提供される。 - 特許庁

(ii) Individual rocket stages, or re-entry vehicles or components therefor, guidance sets or thrust vector controllers, or production equipment or tools, test equipment, or parts therefor 例文帳に追加

（二）　多段ロケットの各段、再突入機若しくはその部分品、誘導装置若しくは推力の方向を制御する装置又はこれらの製造用の装置若しくは工具、試験装置若しくはこれらの部分品 - 日本法令外国語訳データベースシステム

The semiconductor device having a test mode for conducting a test is equipped with a first circuit that generates a first signal based upon a first dummy command signal inputted a plurality of times, and a second dummy command signal and a third dummy command signal different from the first dummy command signal and generates a second signal designating an entry into a corresponding test mode or an exit from the corresponding test mode based upon the first signal.例文帳に追加

試験を行うためのテストモードを有する半導体装置において、複数回入力される第１のダミーコマンド信号と、前記第１のダミーコマンド信号とは異なる第２のダミーコマンド信号及び第３のダミーコマンド信号とに基づいて第１の信号を生成し、前記第１の信号に基づいて、対応するテストモードへのエントリ又は対応するテストモードからのエクジットを指示する第２の信号を生成する第１の回路を備えるように構成する。 - 特許庁

In regard to a clinical test, the remote entry system sends the inspection result entered into a terminal computer 31 of the medical institution 3 to a server computer 11 of a case report support institution 1 for clinical tests.例文帳に追加

本発明は、臨床試験において、医療機関３の端末コンピュータ３１で入力された検査結果を臨床試験の症例報告支援機関１のサーバコンピュータ１１に送信するリモートエントリーシステムである。 - 特許庁

In a clinical test, the remote entry system sends evaluation of the inspection result entered from a terminal computer 31 of the medical institution 3 to the server computer 11 of a case report support institution 1 for clinical tests.例文帳に追加

本発明は、臨床試験において、医療機関３の端末コンピュータ３１で入力された検査結果の評価を、臨床試験の症例報告支援機関１のサーバコンピュータ１１に送信するリモートエントリーシステムである。 - 特許庁

In a FCRAM, when receiving a mode register set detecting signal bMSET generated by a command detecting circuit and a detecting signal AILTC<;7>; of arbitrary one bit VA<;7>; of an address signal input, a mode register set or test mode entry is switched in accordance with a logic level of the signal AILTC<;7>;.例文帳に追加

FCRAM において、コマンド検知回路で生成されたモードレジスタセット検知信号bMSET とアドレス信号入力の任意の１ビットVA<7> の検知信号AILTC<7>を受け、信号AILTC<7>の論理レベルに応じてモードレジスタセットまたはテストモードエントリを切り換える。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a method of testing the same, wherein a test mode entry can easily and securely be performed without making circuits in the semiconductor device large in scale nor lowering the degree of integration without reference to whether the semiconductor device is a synchronous type or an asynchronous type.例文帳に追加

本発明は、半導体装置及びその試験方法に関し、半導体装置が同期型であるか非同期型であるかに関わらず、半導体装置内の回路を大規模化及び集積度の低下を招くことなく、簡単、且つ、確実にテストモードエントリを行うことを可能とすることを目的とする。 - 特許庁

We employed five indices in our analysis: the entry rate; the exit rate; the Tokyo Stock Price Index (TOPIX); the lending rate 21); and the index of wages. We statistically tested causal connections (Granger causality test) between indices by applying the vector auto regression (VAR) model to long-term chronological data for each index.例文帳に追加

分析対象として、「開業率」、「廃業率」、「東証株価指数」、「貸出金利」、「賃金指数」という5種類の指標を採用し、各々の長期時系列データを用いてVARモデルを適用することで、各指標間の因果関係を統計的に検証した（Grangerの因果性テスト）。 - 経済産業省

The table creation apparatus 100 is provided with a condition item database 120 for storing all the condition values, a result item entry rule definition database 121 in which one or more condition values are associated with known result values expected from the condition values and are stored, and a control unit for controlling for creating the test item list.例文帳に追加

表作成装置１００は、全ての条件値を格納する条件項目データベース１２０と、１又は複数の条件値と、該条件値から期待される既知の結果値と、が対応付けて格納されている結果項目記入ルール定義データベース１２１と、テスト項目リストを生成するための制御を行う制御部と、を備える。 - 特許庁

The control unit performs: processing to extract condition values of a count specified by the condition item database 120; and processing to read a known result value expected by the condition value from the result item entry rule definition database 121 and create the test item list in which the condition value is associated with a corresponding result value.例文帳に追加

制御部は、条件項目データベース１２０から指定された個数の条件値を抽出する処理と、条件値から期待される既知の結果値を、結果項目記入ルール定義データベース１２１から読み出して、該条件値と対応する結果値とを対応付けたテスト項目リストを生成する処理と、を行う。 - 特許庁

To provide an improved circuit and a method permitting a special operation mode, and a circuit and a method decreasing possibility in which erroneous entry is performed for a special operation mode by unexpected acci dental operation, in an integrated circuit having a special operation mode such as a special test mode and the like as well as a normal operation mode.例文帳に追加

通常動作モードと共に特別テストモード等のような特別動作モードを有する集積回路において、特別動作モードをイネーブルにする改良した回路及び方法と、予期しない偶発的行為により誤って特別動作モードへエントリする可能性を少なくする回路及び方法。 - 特許庁

The computer 2 carries out score entry processing which includes a step for reading the test paper 4 through the image scanner 3 to acquire the image information, a step for acquiring the student information and the grading information as text information by image-processing the marks of the image information, and a step for storing at least the acquired student information and the grading information in a storage section.例文帳に追加

前記コンピュータ２は、イメージスキャナ３からテスト用紙４を読み取りそのイメージ情報を取得するステップと、前記イメージ情報の前記マークを画像処理することにより前記学生情報及び前記採点情報とをテキスト情報として取得するステップと、少なくとも取得された前記学生情報及び前記採点情報を記憶部に記憶させるステップとを含む成績記帳処理を行うことを特徴とする成績処理システム１である。 - 特許庁