「expected pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The comparator 12 compares the output pattern with an expected value pattern output from an expected value pattern generator 11 and outputs signal showing the comparison results to the controller 15.例文帳に追加

比較部１２はこの出力パターンと、期待値パターン発生部１１から出力された期待値パターンとを比較し、比較結果を示す信号を制御部１５へ出力する。 - 特許庁

If the final variation pattern does not constitute the special pattern (S2839: NO), the expected winning finish pattern is converted again into the originally displayed pattern to be displayed (S2845).例文帳に追加

最終変動図柄が特定図柄を構成しない場合（Ｓ２８３９：ＮＯ）、リーチ図柄を最初に表示された図柄に再び変換して表示する（Ｓ２８４５）。 - 特許庁

On the special pattern display device 102, an expected value and the acquired random number information showing the details of the expected value are displayed together with a special pattern.例文帳に追加

前記特別図柄表示装置１０２には、特別図柄の表示と共に、期待値と該期待値の内容である取得乱数情報が表示される。 - 特許庁

The expected pattern is formed using reticle data and exposing data, and hence the hierarchical structures of the data of the divided regions on the expected pattern become proximate to result in suited data to the pattern computation.例文帳に追加

レチクルデータおよび露光用データを用いて予想パターンを作成したため、予想パターンでの各分割領域毎のデータの階層構造が近くなり図形演算に適したデータになる。 - 特許庁

To form respective circuit patterns on a printed board in the expected pattern width.例文帳に追加

プリント基板上に、回路パターン各々を所期のパターン幅として形成すること。 - 特許庁

The output result of the model 1 is collated with an expected value pattern 6 previously stored in an expected value collation part 7.例文帳に追加

シミュレーション・モデル１の出力結果は、期待値照合部７によって予め記憶されている期待値パタン６と照合される。 - 特許庁

A device 42 under test prepares test patterns comprising a combination of an impressed pattern P_1 and an expected pattern which is an output of a normal tested pattern corresponding to the pattern P_1.例文帳に追加

テスト装置４２が、印加パターンＰ_１とこれに対応する正常な被テストデバイスの出力である期待パターンとの組み合わせから成るテストパターンを準備する。 - 特許庁

The semiconductor device includes a pattern generation section (109); and a pattern check section (107) for comparing an output signal from the resistor with the expected value.例文帳に追加

パターン生成部（１０９）と、上記レジスタの出力信号を期待値と比較するパターンチェック部（１０７）とを設ける。 - 特許庁

While, a pattern unbelonging to the stoppage expected pattern group is displayed in a different mode so as to be darkly displayed.例文帳に追加

一方、前記停止予期図柄グループに属さない図柄は、暗く表示させるように異なった態様で表示させる。 - 特許庁

This reduces the processing data quantity and the calculation time in the simulation of the entire exposure pattern, based on the expected pattern.例文帳に追加

予想パターンに基づいて全体露光パターンをシミュレーションした際の処理データ量および計算時間を短縮できる。 - 特許庁

When the NORMAL pattern N_[i] is read, the reading time expected for the NORMAL pattern N_[i+1] is calculated.例文帳に追加

ＮＯＲＭＡＬパターンＮ＿[ｉ]を読み出した時、ＮＯＲＭＡＬパターンＮ＿[ｉ＋１]の読み出し予想時刻を算出する。 - 特許庁

The test device 2 evaluates the circuit 4 by collating the output pattern P_3 with the expected pattern.例文帳に追加

テスト装置２は、出力パターンＰ_３を期待パターンと照合することによって、ＰＬＬ内蔵回路４の評価を行う。 - 特許庁

Then the inspection value is compared with the inspection expected value to evaluate the formed TEG pattern.例文帳に追加

さらに、検査値と検査期待値とを比較し、作成したＴＥＧパターンを評価する。 - 特許庁

An arrangement pattern determining means 1e determines the arrangement pattern candidate having the maximum expected non-access time value as a data rearrangement pattern.例文帳に追加

そして、配置パターン決定手段１ｅにより、無アクセス時間期待値が最も大きくなる配置パターン候補がデータ再配置のための配置パターンに決定される。 - 特許庁

When comparing the edge points on the expected layout pattern and the corresponding edge points on the designed layout pattern, a yield test is carried out first, and then the point on the expected layout pattern is moved to a higher yield position.例文帳に追加

予測レイアウト・パターン上のエッジ点と設計レイアウト・パターン上の対応点との比較では、まず最初に歩留りテストを実施し、その後に予測レイアウト・パターン上の点を歩留りがより高い位置へ移動させる。 - 特許庁

The IC tester gives a test pattern signal to a device to be measured, judges good or bad of the device by comparing the output data obtained from the device to be measured and the pattern signal of expected value, and makes an expected value pattern generation circuit 36 constituted with a hardware generate the expected value pattern signal.例文帳に追加

被測定デバイスに対してテストパターン信号を与え、該被測定デバイスから得られる出力データと期待値パターン信号との比較によって、当該被測定デバイスの良否を判定するＩＣテスタであって、前記期待値パターン信号をハードウエアで構成された期待値パターン発生回路３６から発生するＩＣテスタ。 - 特許庁

To provide a pattern simulating method reducing the errors caused by the pattern size differences in the multiple exposure area when comparing the substrate pattern with an expected pattern.例文帳に追加

基板パターンを予想した予想パターンとの比較の際の多重露光領域でのパターンの大きさの相違に起因するエラーの発生を抑制したパターンシミュレーション方法を提供する。 - 特許庁

The stoppage expected pattern group is composed of the fixing stopping pattern and a pattern included in a predetermined classification group so as to be related to the fixing stopping pattern.例文帳に追加

また、前記停止予期図柄グループは、前記確定停止図柄と、当該確定停止図柄に対し関連するように予め定めた分類グループに含まれる図柄とで構成されている。 - 特許庁

When checking the drawing by comparing the substrate pattern with the expected pattern, a simulation pattern can be formed with reduced errors caused by the pattern size differences in the multiple exposure area.例文帳に追加

基板パターンを予想した予想パターンと比較して検図する際に、多重露光領域でのパターンの大きさの相違に起因するエラーの発生を防止したシミュレーションパターンを形成できる。 - 特許庁

A pattern generator PG generates expected value data EXP showing an expected value of the signal S1 to be tested which is input to an I/O terminal P_IO.例文帳に追加

パターン発生器ＰＧは、Ｉ／Ｏ端子Ｐ_ＩＯに入力される被試験信号Ｓ１の期待値を示す期待値データＥＸＰを発生する。 - 特許庁

When an electron beam is scanned across the test structure, an expected intensity pattern is produced and imaged as a result of the expected voltage potentials of the test structure.例文帳に追加

電子ビームがテスト構造にわたって走査されるとき、予期された輝度パターンが作られ、テスト構造の予期された電位の結果、画像化される。 - 特許庁

An expected value image data generation part 2 generates expected value image data according to input pattern data 21, and an expected value image data compression part 3 performs irreversible arithmetic operation thereto to generate expected value image compression data smaller in size than the expected value image data for each page of a moving image.例文帳に追加

入力パターンデータ２１に応じて、期待値画像データ生成部２により期待値画像データを生成し、期待値画像データ圧縮部３により不可逆な演算処理を行って、動画像の１ページ分ずつ、期待値画像データよりもサイズの小さい期待値画像圧縮データを生成する。 - 特許庁

If a final variation pattern constitutes a special pattern (S2839: YES), an expected winning finish pattern is converted into the same pattern as the final variation pattern (S2841) and the display of the special pattern is informed by an informing means (S2843).例文帳に追加

最終変動図柄が特定図柄を構成する図柄である場合（Ｓ２８３９：ＹＥＳ）、リーチ図柄を最終変動図柄と同じ図柄に変換し（Ｓ２８４１）、特定図柄が表示されていることを報知手段により報知する（Ｓ２８４３）。 - 特許庁

A transmission signal (a) of a data producing circuit 101 and an expected value signal (a) of an expected value data producing circuit 121 are produced by the same data pattern.例文帳に追加

データ発生回路１０１の送信信号ａ及び期待値データ発生回路１２１の期待値信号ａは同じデータパターンにより発生する。 - 特許庁

A value found by adding the measurement error MIS due to the characteristics of the pattern to an actual superposition error (true value) is assumed as an expected value (the true value + MIS = the expected value).例文帳に追加

実際の重ね合わせ誤差（真値）にパターンの特性に起因する測定誤差（ＭＩＳ）を加えたものを期待値とする（真値＋ＭＩＳ＝期待値）。 - 特許庁

When the detection section 10 detects the coincidence between the received pattern P10 and the detected pattern and outputs a trigger signal Tr, the detection section allows a PN pattern generating section 11 to start production of a PN pattern or allows a frame pattern expected value register 13 to start an output of a frame pattern.例文帳に追加

受信パターンＰ１０と検出パターンとの一致が検出されてトリガ信号Ｔｒが出力された時点で、ＰＮパターン生成部１１からＰＮパターンの発生を開始させ、又は、フレームパターン期待値レジスタ１３からフレームパターンの出力を開始させる。 - 特許庁

To form an antenna pattern having expected pattern width by removing a conductive film by a desired width.例文帳に追加

導電膜を所期の幅で除去することで、所期のパターン幅を有するアンテナパターンを形成することができるアンテナの製造方法を提供する。 - 特許庁

To inspect whether or not an input data pattern fulfills time periodicity in a logic analyzer without giving an expected value data pattern.例文帳に追加

ロジックアナライザにおいて、期待値データパターンを与えることなく入力データパターンが時間的周期性を満たすかどうかを検査できるようにする。 - 特許庁

An expected value generation circuit 22 generates an expected value pattern on the basis of output patterns of the reference semiconductor integrated circuits 32A, 32B, and 32C, and a determination circuit 24 compares the expected value pattern generated by the expected value generation circuit 22 with an output pattern of the semiconductor integrated circuit 34 to be tested to determine whether the semiconductor integrated circuit 34 to be tested passes or fails the test.例文帳に追加

期待値生成回路２２で、基準の半導体集積回路３２Ａ、３２Ｂ、３２Ｃの出力パターンに基づいて期待値パターンを生成し、判定回路２４で、期待値生成回路２２で生成された期待値パターンとテスト対象の半導体集積回路３４の出力パターンとを比較することにより、テスト対象の半導体集積回路３４のパス／フェイル判定を行う。 - 特許庁

When the test pattern is input to the input terminal, an expected value expected to be output from the output terminal is output to determine whether the each DUT is troubled or not, using the expected value.例文帳に追加

入力端子にテストパターンが入力された場合に出力端子から出力されると期待される期待値を出力し、この期待値を利用して個々のＤＵＴが故障しているか否かを判定する。 - 特許庁

An expected value calculation means 1d calculates an expected non-access time value indicating an expected value of the time where no access occurs to any of the disk nodes for each of the generated arrangement pattern candidates.例文帳に追加

さらに、期待値計算手段１ｄにより、生成された配置パターン候補それぞれについて、いずれかのディスクノードに対して発生するアクセスがない時間の期待値を示す無アクセス時間期待値が算出される。 - 特許庁

If the results of the prediction simulation do not satisfy an expected value, the optimum CP pattern is selected from the CP pattern groups (32 to 34) instead of the CP pattern (33) so that electron beam exposure is performed.例文帳に追加

予測シミュレーション結果が期待値を満足しない場合は、ＣＰパターン（３３）の代わりに、ＣＰパターン群（３２〜３４）から最適ＣＰパターンを選択し、電子線露光を行う。 - 特許庁

To provide a game machine which hardly bores players and is capable of improving interest in games by displaying directive expected values for patterns expected to stop to become patterns superior in a game to each pattern expected to stop when pattern variation is started.例文帳に追加

図柄の変動開始を契機に、停止する予定の各図柄に対して、それが遊技上優位な図柄となる演出期待値をそれぞれ表示していくことで、遊技者に対して、飽きにくく、且つ遊技に対する興趣の向上を図ることが可能な遊技機を提供する。 - 特許庁

An inspection expected value indicating the shape of a target TEG pattern is calculated on the basis of the variation condition and the inspection condition of the TEG pattern.例文帳に追加

また、ＴＥＧパターンのバリエーション条件、及び検査条件に基づいて、目標とするＴＥＧパターンの形状を示す検査期待値を算出する。 - 特許庁

Timing to change the scroll direction thus becomes random based on relation between the reversed pattern number when the reach condition is decided and the expected stopped pattern.例文帳に追加

これにより、リーチ状態決定時における逆転図柄数と予定停止図柄との関係に基づいて、スクロール方向を切換えるタイミングがランダムになる。 - 特許庁

Input pattern data IP and output expected value data EP are stored in a buffer of a memory dedicated tester 30.例文帳に追加

メモリ専用テスタ３０のバッファには、入力パターンデータＩＰと出力期待値データＥＰとが格納されている。 - 特許庁

A reversed pattern number is renewed for every starting winning by a reversed pattern number counter, and when generation of a reach (ready- for-winning) condition is decided, a reversal starting pattern is determined based on the reversed pattern number at the time and an expected stopped pattern (S73-S77).例文帳に追加

逆転図柄数カウンタにより始動入賞毎に逆転図柄数を更新し、リーチ状態を発生させることが決定された場合に、その時の逆転図柄数と予定停止図柄とに基づいて逆転開始図柄を決定する（Ｓ７３〜Ｓ７７）。 - 特許庁

In a verification support device 100, test patterns 213 and 214 are generated by a test pattern generation part 201 to execute simulation and an expected value is judged by an expected value judgement part 204.例文帳に追加

検証支援装置１００では、テストパターン生成部２０１により、テストパターン２１３，２１４を生成してシミュレーションを実行し、期待値判定部２０４により期待値判定する。 - 特許庁

An interruption expected value collation part 10 collates an output result obtained when a hardware interruption is generated in a simulation model 1 with a previously stored interruption expected value pattern 9.例文帳に追加

シミュレーション・モデル１でハードウェア割り込みが生じているときの出力結果は、割り込み期待値照合部１０によって予め記憶されている割り込み期待値パタン９と照合される。 - 特許庁

To count up a counter, without having to input clocks as many as the expected count number, and greatly reduce the test pattern length.例文帳に追加

期待したカウント数分のクロックを入力すること無くカウンタをカウントアップでき、テストパターン長を大幅に削減する。 - 特許庁

It is checked whether an output pattern matches the expectation value when an input pattern is given to a verification object 100 to update an expected value list 130.例文帳に追加

検証対象１００に入力パターンが与えられたときの出力パターンと期待値とが一致しているか否かを確認して、期待値リスト１３０を更新する。 - 特許庁

Related to the conductive film pattern 2p, an opening 2h is provided at an exposure-expected point of an external lead wiring diagram, so that the conductive film pattern 2p is prevented from peeling or dropping when pierced.例文帳に追加

導電膜パターン２ｐには外部リード図の露出予定地点に開口２ｈを設けておき、突き刺しに伴う該導電膜パターン２ｐの剥離や脱落を防止する。 - 特許庁

A pattern belonging to a stoppage expected pattern group constituted by including at least a fixing stopping pattern for constituting the same pattern group finally fixed and stopped among revarying second patterns 20, is brightly displayed at lot-redrawing time.例文帳に追加

再抽選時において、再変動する第２図柄２０のうち、最終的に確定停止する同一図柄群を構成する確定停止図柄を少なくとも含んで構成された停止予期図柄グループに属する図柄を明るく表示させる。 - 特許庁

Test pattern data is generated based on this read out program data, and memory BIST is performed by comparing data read out after the test pattern data is written in a memory to be tested with expected value pattern data corresponding to the test pattern data.例文帳に追加

この読み出されたプログラムデータに基づいてテストパタンデータを生成し、被テスト対象メモリがテストパタンデータを書き込んだ後で読み出されたデータと、当該テストパタンデータに相当する期待値パタンデータとを比較することによりメモリＢＩＳＴを行う。 - 特許庁

The variation display of a special pattern is performed (S2831), a left special pattern display portion 27a and a right special pattern display portion 27b are temporarily stopped in the same pattern after the passage of a preset time (S2833, S2835), and screen display is performed even in an expected winning finish (S2837).例文帳に追加

特別図柄を変動表示させ（Ｓ２８３１）、所定時間経過後に左特別図柄表示部２７ａと右特別図柄表示部２７ｂを同一の図柄で仮停止させ（Ｓ２８３３，Ｓ２８３５）、リーチデモ画面表示（Ｓ２８３７）を行う。 - 特許庁