1153万例文収録!

「expected pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索


小窓モード

プレミアム

ログイン
設定

設定

Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > expected patternに関連した英語例文

セーフサーチ:オン

不適切な検索結果を除外する

不適切な検索結果を除外しない

セーフサーチについて

expected patternの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 149



例文

A distribution in expected pattern is formed in this dielectric layer structure by etching, doping, injection or diffusion to form a distribution of at least one kind of dielectric coefficients on each dielectric layer.例文帳に追加

この誘電層構造にエッチング、ドープ、或いは注入或いは拡散の方式により予定パターンの分布を形成し、各一つの誘電層に少なくとも一種類の誘電係数の分布を形成する。 - 特許庁

The input pattern is imparted to the semiconductor integrated circuit 112 from the test bench 102, and an output from the semiconductor integrated circuit 112 and the output expected value automatically prepared within the test bench 102 are compared.例文帳に追加

そして、テストベンチから入力パターンを半導体集積回路112へ与えるとともに、半導体集積回路からの出力とテストベンチ内で自動作成した出力期待値を比較する。 - 特許庁

This semiconductor device 1 having a testing circuit 2 operating at a high speed, internally stores a high speed pattern generating circuit 3 for coverting a low speed test pattern of a reference clock, an input signal and an output expected value signal inputted from the low speed LSI tester into a test pattern of a speed adapted to the testing circuit 2 operating at a high speed.例文帳に追加

高速動作する試験回路2を有する半導体装置1において、低速LSIテスター12から入力する基準クロック,入力信号及び出力期待値信号の低速テストパターンを、高速動作する試験回路2に適応する速度のテストパターンに変換するための高速パターン発生回路3を内蔵したものである。 - 特許庁

An external inspection circuit 24 includes a control circuit 38 stored with a test pattern producing program for producing a test pattern according to a signal SIG2, a signal generator 40 for outputting a signal SIG4 (frequency setting signal) according to the test pattern, and a comparison discriminator 42 for comparing a signal SIG3 with an expected value to output a comparison result.例文帳に追加

外部検査回路24はテストパタン生成プログラムが記憶され、信号SIG2に応じてテストパタンを生成する制御回路38と、テストパタンに応じて信号SIG4(周波数設定信号)を出力する信号発生器40と、信号SIG3と期待値とを比較して比較結果を出力する比較判定器42とを含む。 - 特許庁

例文

This semiconductor test system comprises a pattern memory storing the pattern data for generating a test pattern for a DUT(device under test) test, a DUT output signal evaluating means comparing an output signal with an expected signal and generating fail data when a noncoincidence occurs, the data fail memory storing the fail data caused by the noncoincidence, and a compressing means compressing the fail data.例文帳に追加

DUTテスト用のテストパターンを生成するためのパターンデータを格納するパターンメモリと、出力信号と期待信号を比較し、不一致があった場合にフェイルデータを発生するDUT出力信号の評価手段と、不一致に起因するフェイルデータを格納するデータフェイルメモリと、フェイルデータを圧縮する圧縮手段とにより構成される。 - 特許庁


例文

This semiconductor testing device having a constitution wherein a prescribed test pattern is applied from a PE card to the DUT, and a pattern outputted from the DUT corresponding to the test pattern is compared with an expected value pattern, and coincidence of the patterns is detected, has a fail control means for summarizing fail information of the DUT input through the PE card relative to each DUT, and transferring it to the PE card.例文帳に追加

PEカードからDUTに所定のテストパターンを印加し、DUTからテストパターンに応じて出力されるパターンを期待値パターンと比較してこれらパターンの一致の有無を検出するように構成された半導体試験装置において、PEカードを介して入力されるDUTのフェイル情報をDUTごとに集約してPEカードへ転送するフェイル制御手段を設けたことを特徴とするもの。 - 特許庁

To make a player hopeful of execution of a special game even while special patterns are being varied when the execution of the special game cannot be expected and to secure the pattern variation time at least for a prescribed period of time without hindering the pattern control process.例文帳に追加

特別遊技実行手段による特別遊技が実行中において、特別遊技の実行の期待がなくなった特別図柄の変動中でも特別遊技実行への期待感を持たせ、また図柄制御処理に支障を来すことなく図柄変動時間を所定時間以上確保する。 - 特許庁

During the suggestion presentation, when it is determined that the specified variation pattern is a first variation pattern, an integrated controlling CPU sets a larger value as the acquirable expected value at a high probability when the game state is in a probability variable state than in a probability non-variable state.例文帳に追加

示唆演出中、統括制御用CPUは、指定された変動パターンが第1変動パターンであると判定した場合、遊技状態が確変状態であるときには非確変状態であるときと比較して高確率で大きい値を取得する期待値として設定する。 - 特許庁

To provide a water-proof floor heating panel with high quality in which electric heater wires can be precisely buried in prescribed positions, a heat generation can be expected as correctly as designed and a fine surface pattern is formed without disappearance.例文帳に追加

電熱ヒータ線が所定の位置に正確に埋設されて設計通りの正確な発熱が期待でき、また、表面の模様が流れることなく綺麗で、高品質の防水性に優れた床暖房パネルを提供する。 - 特許庁

例文

The player having a timely stopping operation skill is urged to select one of two when receiving this report and stops the pattern corresponding to the winning generator expected by him in this new game.例文帳に追加

よって、目押しのできる遊技者は、上記報知を受けることで2者択一の選択を迫られ、自分が予想する当選役に対応する図柄を停止させるべく遊技を行うという新規な遊技が提供される。 - 特許庁

例文

To provide a method for manufacturing a part with an irregular surface by which bubbles are not entrained when an ionizing radiation-curd resin is applied to a mold having an irregular pattern and the deterioration of production efficiency is hardly expected.例文帳に追加

凹凸パターンを有する成形型に電離放射線硬化樹脂を塗布したときに気泡を巻き込ませず、生産効率を低下させることの少ない表面凹凸部品の製造方法を提供すること。 - 特許庁

The built-in self-test circuit generates a pattern for memory test in a programmable manner conforming to indication input through the TAP controller and output it, also, compares data read from the external memory with an expected value and judges the data.例文帳に追加

ビルトインセルフテスト回路は、TAPコントローラを介して入力される指示に従ってプログラマブルにメモリテスト用パターンを生成して出力し、且つ、外部メモリから読み込んだデータを期待値と比較判定する。 - 特許庁

To generate an expected value required at the time of write-in test of byte mask for a memory in which a burst address in generated and in/from which parallel pattern data columns given externally to this burst address can be written and read out.例文帳に追加

メモリの内部でバーストアドレスを発生し、このバーストアドレスに外部から与えた並列パターンデータ列を書き込み、読み出すことができるメモリに対し、バイトマスク書き込み試験時に必要とする期待値を発生させる。 - 特許庁

To provide a metal wire which has high barrier property to metal such as copper(Cu) even in a groove buried wiring pattern having a high aspect ratio where the high step coverage of a barrier metal cannot be expected, and to provide its information.例文帳に追加

バリアメタルの高いステップカバレッジが期待できない高アスペクト比の溝埋め込み構造配線パターンにおいても、銅(Cu)などの金属に対して高いバリア性を有する金属配線及びその形成方法を提供する。 - 特許庁

In the inkjet recording head, a wiring pattern for detecting leakage of ink is provided on a portion of an electric substrate where the leakage of ink is expected to occur, to always detect the leakage of ink when the power is supplied to the inkjet recording device and during operation of the device.例文帳に追加

インク漏れが発生すると考えられる部分の電気基板に、インク漏れ検出用の配線パターンを設けて、インクジェット記録装置の電源投入時、および動作中に常時インク漏れの検知を行う。 - 特許庁

Therefore, processing for detecting coincidence of a known pattern added to a top of a received frame is started from the time that the ACK frame is expected to be received, not adopting a usual method for detecting power change.例文帳に追加

このため、通常の電力変化を検出する方法ではなく、ACKフレームが受信されると予想される時点から受信フレームの先頭に付加される既知パターンの一致を検出する処理を開始するようにする。 - 特許庁

Next, when a characteristic vector x of an unknown pattern is given, an error distribution corresponding to the assembly of difference vectors is used as a probability density function Fe to calculate an expected value of the probability density function Fc of a category C.例文帳に追加

次に、未知パターンの特徴ベクトルxが与えられたとき、差分ベクトルの集合に対応する誤差分布を確率密度関数F_e として用いて、カテゴリCの確率密度関数F____c の期待値を求める。 - 特許庁

To obtain a print result expected by a user without causing distortion or moire even when the size of a pattern bit map to be processed by a printer exceeds the largest size that can be processed by the printer.例文帳に追加

印刷装置が処理すべきパターンビットマップのサイズが印刷装置で処理可能な最大のサイズを超えている場合であっても、歪みやモアレを発生させることなく、ユーザが期待する印刷結果を得ること。 - 特許庁

A reproduction jitter calculation section 1501 calculates the reproduction jitter from the expected value error of the amplification value data of the reproduction signal of the edge with respect to the amplification value data of the equalization signals of the edge of the mark included in the prescribed pattern.例文帳に追加

再生ジッタ算出部1501で、所定パターンに含まれるマークのエッジの等化信号の振幅値データに対するエッジの再生信号の振幅値データの期待値誤差から再生ジッタを算出する。 - 特許庁

The test result dout is compared with the test pattern din of the expected value by a data comparator 70, and the comparing result compout is held by an output control circuit 80 and fed out synchronously with the test clock tck.例文帳に追加

テスト結果doutは、データ比較器70によって期待値のテストパターンdinと比較され、この比較結果compoutが出力制御回路80に保持され、テストクロックtc kに同期して外部へ出力される。 - 特許庁

Test input of the random pattern and an output from the memory 101 compose a test input of the logic circuit 103, it is decided whether a fault exists or not by taking the output response into a compression circuit 106 and comparing it with an expected value.例文帳に追加

ランダムパタンのテスト入力と、メモリ101からの出力を論理回路103のテスト入力とし、その出力応答を圧縮回路106に取り込んで期待値と比較することで、不良があったかどうかを判断する。 - 特許庁

To provide a device for automatic accompaniment, with which the performance timing of the automatic accompaniment pattern of an obbligato or a submelody can be homologized more musically to a melody or the like which is played by a player which is by right difficult to be would by expected.例文帳に追加

本来想定することの難しい演奏者のメロディ等に、オブリガートや副旋律の自動伴奏パターンの演奏タイミングをより音楽的に対応させることができる自動伴奏装置を提供せんとするものである。 - 特許庁

To provide a highly reliable semiconductor device complying with a demand for microfabrication by enabling a pattern of expected design to be formed by removing an effect of halation from a substrate during lithography without forming an antireflective film.例文帳に追加

反射防止膜を形成せずとも、リソグラフィー時における下地からのハレーションの影響を除去し、所期の寸法のパターンを形成することを可能として、微細化の要請に応じた信頼性の高い半導体装置を実現する。 - 特許庁

An edge having the closest value is extracted from a measuring object pattern irradiation image of the camera 2 based on the calculated expected output of the camera 2, and correspondence to a measured value of the camera 1 is performed to obtain distance information.例文帳に追加

算出したカメラ2の予測出力に基づいて、カメラ2の計測物体パターン照射画像からもっとも近い値を持つエッジを抽出してカメラ1の計測値との対応付けを実行して距離情報の取得を行なう。 - 特許庁

The pattern data PTN of the output expected values corresponding to input signals IN1-INm are inputted in series from a test input terminal 9, converted into parallel data by a S/P converter 7, and fed to a first input side of a comparator 5.例文帳に追加

入力信号IN1〜INmに対応した出力期待値のパターンデータPTNが、試験入力端子9から直列に入力され、S/P変換器7で並列データに変換されて比較器5の第1の入力側に与えられる。 - 特許庁

The apparatus comprises a DUT having means for self-heating according to an external control signal pattern, a sensor for directly monitoring the temperature of the DUT and means for generating the control signal pattern so that the temperature of the DUT coincides with an expected value, based on the output of the sensor, thus making the DUT temperature controllable.例文帳に追加

外部からの制御信号パターンに応じて自己発熱する発熱手段を備えたDUTと、このDUTの温度を直接監視するセンサと、このセンサの出力に基づき、前記DUTの温度が期待値に一致するような前記制御信号パターンを発生する手段を備え、DUTの温度が制御できるように構成する。 - 特許庁

To easily produce a mold wherein spherical magnetic members are arranged at a small pitch and to cetainly poduce an anisotropic conductive sheet small in the pitch of conductive parts and having a complicated pattern and expected conductivity.例文帳に追加

小さいピッチで球状の磁性部材が配列されてなる金型を容易に製造することができる方法の提供、導電部のピッチが小さくて複雑なパターンで、所期の導電性を有する異方導電性シートを確実に製造することができる方法の提供。 - 特許庁

To provide a system coordination system of a distributed power generating facility capable of operation in high energy efficiency and an effective use of a power generating facility by making calculation on a changing pattern beforehand, in case a change in load is expected at the site of a customer.例文帳に追加

需要家サイトにおいて負荷変動が生ずる場合に、変動前にその変動パターンを予測することにより、高いエネルギー効率で運転が可能であって、発電装置の有効活用が可能な分散型発電装置の系統連系システムを提供する。 - 特許庁

While other chaki are expected to be well-ordered and decent in shape and also are valued for their abstraction, Oribe ware include a number of representational articles, such as irregularly-shaped Kutsukake chawan (tea bowls shaped like a shoe of old times), those with a checkered or geometric-pattern hand painting, and in later years, tableware and incense burners in the shape of a sensu (folding fan) and the like. 例文帳に追加

整然とした端正な形を好み、抽象を重んじる他の茶器とは違い、歪んだ形の沓(くつかけ)茶碗や、市松模様や幾何学模様の絵付け、後代には扇子などの形をした食器や香炉など、具象的な物が多い。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

This circuit is provided with a memory 10 provided with an additional memory cell for storing defective data bit information on a memory cell, a comparing circuit 20 comparing output data DATO of the memory 10 with its expected value EXP for each data bit, and a BIST circuit 30 generating a required and sufficient test input pattern for detecting the defect of memory cells constituting the memory 10 and the expected value EXP and controlling test sequence.例文帳に追加

メモリセルの不良データビット情報を格納するための付加メモリセルを備えたメモリ10と、そのメモリ10の出力データDATOとその期待値EXPをデータビットごとに比較する比較回路20と、そのメモリ10を構成するメモリセルの不良を検出するために必要十分なテスト入力パターンおよび上記期待値EXPを発生しテストシーケンスをコントロールするBIST回路30とを備えた。 - 特許庁

Alternatively, the light collected by the collectors 38, 52 is filtered by a spatial filter having a circular gap of an angle related to angle difference of expected pattern scattering, and the signals obtained from a narrow angle and a wide angle collection channels may be compared to distinguish between micro-scratches and particles.例文帳に追加

あるいは、集束器38,52によって集束された光線は、予測されるパターン散乱の角度差に対応する角度の環状ギャップを有する空間フィルタによって濾波され、狭角および広角集束経路から得た信号は比較され、マイクロスクラッチと粒子との間を識別する。 - 特許庁

Among the entering pattern Ps, an arrival just-before period (the time t(b)-the time t(c, d)) as a period just before the expected time (t) when the yarn guide 33 arrives at a target folding-back point B, the target traveling speed Vt1 of the yarn guide 33 is set constant.例文帳に追加

進入パターンPsのうち、前記糸ガイド33が目標の折り返し点Bへ到達する予定の時刻tの直前の期間としての到達直前期間(時刻t(b)〜時刻t(c、d))では、前記糸ガイド33の目標走行速度Vt1が一定に設定される。 - 特許庁

As regards each transmission pattern wherein the number of terminals does not exceed the minimum integer number n_m, the wireless access point calculates an expected value t_n of the number of times of success in reception or interception and a distribution rate d_n of each terminal on the basis of the link loss rates L_i and the maximum number M of times of transmission in unicast communication (steps S6 to S10).例文帳に追加

無線アクセスポイントは、最小の整数n_mを超えない送信パターン各々について、リンクロス率L_iとユニキャスト通信の最大送信回数Mとに基づいて、端末各々の受信又は傍受の成功回数の期待値t_nと配信率d_nとを算出する(ステップS6〜S10)。 - 特許庁

When variation is conducted with the first special pattern display device, the first jackpot as 15 round type or the second jackpot as 7 round type appears but none of the third jackpot or the fourth jackpot as 2 round type with the putout of balls not expected in substance.例文帳に追加

第1特別図柄表示装置が変動する場合、大当り種別として、15ラウンドの大当りである第1大当り、または、7ラウンドの大当りである第2大当りとなり、実質的に出玉が望めない2ラウンドの大当りである第3大当り、または、第4大当りとはならない。 - 特許庁

Even when multiple plotting is required, divided forms of the pattern is are made the same, and the divided patterns are outputted in a multiple state by utilizing the compressed expression of the lithography data except the case where the effect of superimposing different divided forms of patterns such as the occurrence, etc., of a plotting field boundary or minute graphic is expected.例文帳に追加

また、多重描画が必要な場合でも、描画フィールド境界や、微小図形の発生等のように異なる分割形状のパターンを重ねる効果がある場合以外は、パターンの分割形状を同一とし、その描画データの圧縮表現を利用して、多重に出力する。 - 特許庁

Since the left rotation reel 22a is controlled to make the specific operation with specific probability when the result in the special pattern game becomes the prize-winning of a big win, the prize-winning of the big win can be expected when the left rotation reel 22a is controlled to make the specific operation when starting the variation.例文帳に追加

左回転リール22aが特定の動作に制御されるのは、特別図柄ゲームの結果が大当たり入賞になる場合に所定確率で行われるので、変動開始時に左回転リール22aが特定の動作に制御された場合は、大当たり入賞を期待できる。 - 特許庁

To provide a method for knitting a knitted fabric without having a problem of not obtaining an expected inlay state since an inlay yarn is pushed out to the outside of tooth opening even on inserting the inlay yarn from a race bar which is not in the uppermost step, and capable of extending the range of a pattern expression, and also to provide a device for designing.例文帳に追加

最上段ではないレースバーからインレイ糸を挿入しても、インレイ糸が歯口外に押し出されて期待するインレイ状態が得られなくなる問題が発生しないで、柄表現の範囲を広げることができる編地の編成方法、およびデザイン装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit for shortening an inspection time by inputting an expected value of output judgement from the outside without increasing terminals and enhancing facilitating of design and enlargement of a test pattern, and to provide a method of inspecting the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

端子を増やさずに出力判定の期待値を外部から入力できるようにし、設計の容易性、テストパターンの拡張性を高めることができ、また、検査時間を短縮することができる半導体集積回路および半導体集積回路の検査方法を提供する。 - 特許庁

The liquid crystal display which displays images on the liquid crystal display panel 3 having a liquid crystal layer and electrodes to apply data voltages on the liquid crystal layer is equipped with a heating means 4, 5 which memorize the program viewing pattern (history) and heat the liquid crystal display panel 3 a predetermined time prior to the start time of broadcasting the program expected to be viewed based on the program viewing pattern.例文帳に追加

液晶層と該液晶層にデータ電圧を印加する電極とを有する液晶表示パネル3を用いて画像を表示する液晶表示装置において、番組視聴パターン(履歴)を記憶しておき、その番組視聴パターンに基づき、視聴が予想される番組の放送開始時刻の所定時間前に、前記液晶表示パネル3に対して熱を加える加熱手段4、5を備えてなるものである。 - 特許庁

A test pattern success/failure judging circuit includes a second logical circuit group capable of holding the parallel signals for a plurality of channels outputted from a receiving circuit 15, a third logical circuit group generating the expected value of the signal newly outputted from the receiving circuit, and a fourth logical circuit group comparing the parallel signals presently received from the receiving circuit and the expected value, thereby no signal synchronization is required for this signal comparison.例文帳に追加

受信回路(15)から先に出力された複数チャネル分のパラレル信号を保持可能な第2論理回路群と、この保持信号に基づいて、上記受信回路から新たに出力される信号の期待値を生成する第3論理回路群と、受信回路から現在取り込まれたパラレル信号と上記期待値とを比較する第4論理回路群とを含んでテストパターン合否判定回路を構成することにより、上記信号比較における信号同期を不要とする。 - 特許庁

The method is characterized that a wiring pattern is formed by forming a resist coating film where a circuit is expected to be formed after a 1st thin metal coating film is formed on a surface of an insulating substrate, removing the resist coating film after etching, and then forming the 2nd metal coating film by carrying out electrolytic plating.例文帳に追加

絶縁基板の表面に薄い第一金属皮膜を形成した後、回路の形成を予定する部分にレジスト皮膜を形成し、次いで、エッチング除去を行った後、レジスト皮膜を除去し、次いで、電解メッキを行うことにより第二金属皮膜を形成して、配線パターンを形成することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a housing for an electronic apparatus which has excellent exhaust heat properties without having a major effect on component mounting on a motherboard substrate and its pattern design, out of electronic apparatuses for electrically connecting a plurality of printed boards by using the motherboard substrate, under a high vacuum environment especially where no heat transfer by convection is expected.例文帳に追加

マザーボード基板を使用して複数のプリント基板間の電気的な接続を行う電子機器のうち、特に対流による熱伝達が見込めない高真空環境下においてマザーボード基板の部品実装及びパターン設計に大きな影響を与えることなく、高い排熱特性を有する電子機器の筐体を提供する。 - 特許庁

A result image data compression part 5 performs the same arithmetic processing as that to the expected value image data to result image data generated by an image processing circuit 11 that is a verification object according to the input pattern data 21 to thereby generate result image compression data smaller in size than the result image data for each page of the moving image.例文帳に追加

入力パターンデータ21に応じて、検証対象の画像処理回路11により結果画像データを生成し、結果画像データ圧縮部5により、期待値画像データに対するのと同じ演算処理を行って、動画像の1ページ分ずつ、結果画像データよりもサイズの小さい結果画像圧縮データを生成する。 - 特許庁

The number of lit lamps which are three-dimensionally displayed in four auxiliary display regions SD of an auxiliary display part 83 is gradually increased as Pachinko balls enter a start winning hole 34 while a player is playing the game, so that the player can confirm the expected number of times of execution of pattern variation displayed in a liquid crystal display part 81.例文帳に追加

遊技中において、始動入賞口34にパチンコ玉が入ると補助表示部83の4つの補助表示領域SDに立体表示されたランプの点灯数が徐々に増加するようになっており、遊技者は、液晶表示部81に表示される絵柄変動の実行予定回数を確認することができる。 - 特許庁

To improve the conventional technique with a CNT which is expected to be applied to a nanoelectronics element, involving however such problems that the CNT is very difficult to be handled and it is extraordinarily difficult for CNTs of desired size to be arranged in an array in the vertical or horizontal direction in a regular pattern in any positions, which is inevitably required, in particular, when applied to an electronic device.例文帳に追加

CNTは、ナノエレクトロニクス素子への応用が期待されているが、取り扱いが非常に困難であり、特に電子デバイスへの応用に際して必要不可欠な任意の位置に規則的に、しかも希望のサイズのCNTを垂直又は水平方向に配列させることが極めて困難である。 - 特許庁

To provide a positive photosensitive resin eliminating difficulty of a conventional technique, used for fine pattern formation in semiconductor production, and enhancing resist sensitivity more than in conventional products, wherein an effect of reduction of a foreign matter or the like after development is expected, and also to provide a novel dithiol compound which is used suitably for production of the positive photosensitive resin.例文帳に追加

従来技術の難点を解消し、半導体製造の微細なパターン形成に用いられ、従来品よりもレジスト感度を高めることができると共に、現像後の異物の低減等の効果が期待されるポジ型感光性樹脂、及び、このポジ型感光性樹脂の製造に極めて好適に用いることができる新規ジチオール化合物を提供する。 - 特許庁

On the printed board 4, the circuit patterns are formed in the expected pattern width by alternating a process of blowing an etchant from an etching nozzle (liquid chemical nozzle) 1 onto the printed board 4 which is being carried and a process of blowing air from an air nozzle 11 onto the printed board 4 so that the etchant is removed from on the printed board 4.例文帳に追加

搬送状態にあるプリント基板4上にエッチングノズル(薬液ノズル)1よりエッチング液を吹き付ける工程と、該エッチング液がプリント基板4上から除去されるべく、プリント基板4上にエアーノズル11より気体を吹き付ける工程とが交互に繰返されるようにして、プリント基板4上に回路パターンが所期のパターン幅として形成されるようにしたものである。 - 特許庁

This circuit is provided with a normal circuit for performing a scan test, a BIST control circuit having a mode 1 in which operation is automatically stopped after writing a pattern in the memory and a mode 2 in which a value written from the memory is read and compared with the prescribed expected value, and a memory write prohibiting circuit fixing an input signal to the memory while the normal circuit is in a scan test.例文帳に追加

スキャンテスト可能な通常回路と、前記通常回路に接続されるメモリとを有する半導体回路において、前記メモリにパターンを書き込みして自動に停止するモード1と前記メモリから書き込んだ値を読み出して所定の期待値と比較するモード2とを有するBIST制御回路と、通常回路がスキャンテストにある間、前記メモリへの入力信号を固定するメモリ書込禁止回路と、を備える構成とした。 - 特許庁

例文

On the other hand, as pointed out by the People’s Bank of China, under the country’s current economic growth pattern, investment is greatly outstripping consumption. As this imbalance expands,46 inflationary pressure will increase over the short term if the above-mentioned blind investment and substandard redundant construction in some industries continue to expand, while the medium- to long-term problems expected to become major restrictive factors to the sustainable growth of the Chinese economy are the emergence of excess supply capacity (through expansion of production capacity) that exceeds demand,47 the expansion of deflationary pressures, the worsening of corporate management and shakeout along with the intensification of competition, and the accompanying growth of non-performing bank loans and worsening unemployment.48例文帳に追加

他方、中国人民銀行も指摘しているように、現在の中国の経済成長パターンは、投資が消費を大幅に上回っており、その不均衡が拡大しつつある中で46、前述した一部の業種で見受けられる盲目的な投資・低水準の重複建設が今後も拡大し続ければ、短期的にはインフレ圧力が増大する一方で、中長期的には需要を上回る生産能力拡大による過剰供給能力の顕在化47・デフレ圧力の拡大、競争激化に伴う企業経営の悪化及び企業淘汰、それに伴う銀行の不良債権の拡大、失業問題の悪化等が中国経済の持続的発展に対して大きな制約要因となることが予想される48。 - 経済産業省




  
Copyright Ministry of Economy, Trade and Industry. All Rights Reserved.
  
本サービスで使用している「Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス」はWikipediaの日本語文を独立行政法人情報通信研究機構が英訳したものを、Creative Comons Attribution-Share-Alike License 3.0による利用許諾のもと使用しております。詳細はhttp://creativecommons.org/licenses/by-sa/3.0/ および http://alaginrc.nict.go.jp/WikiCorpus/ をご覧下さい。
  
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する
英→日 日→英
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する

©2026 GRAS Group, Inc.RSS