「expected pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

A path pattern generating circuit 18 provides a pattern generated thereby to a path pattern insertion selector 17, which inserts the pattern to a prescribed position of a transmission frame of an input signal and supplies the resulting frame to the switch core circuit 12, and the comparator circuit 14 compares its output with an expected value generated by path setting of the switch.例文帳に追加

パスパターン生成回路18で生成したパターンをパスパターン挿入セレクタ17に提供して入力信号の伝送フレームの所定位置に挿入してスイッチコア回路12に供給し、その出力とスイッチのパス設定で生成した期待値とを比較する。 - 特許庁

Voltage outputted from the data input/output terminal 102 is taken in a general purpose PROM writer as a theoretical value, its input pattern is compared with an expected value pattern, and connection is confirmed.例文帳に追加

データ入出力端子１０２から出力した電圧を論理値として、汎用ＰＲＯＭライターに取り込み、その入力パターンと期待値パターンとを比較し、接続の確認を行う。 - 特許庁

The result of simulation with delay fetched by the second test pattern generation circuit 15 is forcedly assigned to the corresponding scan flip-flop as a PLS test pattern with expected value.例文帳に追加

第２のテストパターン生成回路１４で取り込まれたディレイ付きのシミュレーション結果は、対応するスキャンフリップフロップに期待値付きＰＬＳ用テストパターンとして強制的に割り付けされる。 - 特許庁

A value of the pattern data read from each position at this time point is compared with an expected value to diagnose the propriety of normality in the operation.例文帳に追加

この時点で各位置から読み出したパターンデータの値と期待値とを比較処理し、正常に動作しているか否かを診断する。 - 特許庁

To provide a Pachinko game machine capable of displaying a variation graph of expected values on the occurrence of a big win to the frequency of pattern variation.例文帳に追加

図柄変動回数に対する大当り発生の期待値の変化グラフを表示することができるパチンコ遊技機を提供する。 - 特許庁

Cycle shift parts 5 are each provided in signal paths in which an expected value pattern S2 is inputted to each of a timing generating device 3 and a logic comparing circuit 2 from a timing generating part 1, and the expected value pattern is shifted by the same number of cycles according to the cycle displacements of a DUT at each cycle shift part 5.例文帳に追加

タイミング発生部１からタイミング発生器３と論理比較回路２とそれぞれ期待値パターンＳ２を入力する信号経路上に、それぞれサイクルシフト部５を設け、各サイクルシフト部５において、ＤＵＴ４のサイクルずれに合わせて、期待値パターンを同一サイクル数ずつシフトさせる。 - 特許庁

To determine a variable pattern for expected stop symbols based on commands and game information concerning a game machine such as a Pachinko game machine.例文帳に追加

パチンコ機等の遊技機に関し、コマンドと遊技情報とにもとづいて、停止予定図柄の変動パターンを決定することができるようにする。 - 特許庁

Therefore, the reception signal having the data pattern matched with that of the transmission signal (b) is compared with the expected value signal (b) and in the case of coincidence, synchronism can be confirmed.例文帳に追加

従って、送信信号ｂとデータパターンの一致する受信信号と期待値信号ｂとを比較し一致で同期確認ができる。 - 特許庁

Next, a circuit of this technique matches the pattern for a data output path, and reverses appropriate data output so as to obtain expected test data.例文帳に追加

次に、本技術による回路は、パターンをデータ出力経路に一致し、予期されるテストデータを獲得するよう適切なデータ出力を反転する。 - 特許庁

The alignment coordinate is used to perform alignment of a detection image and the design information for correction of a shift amount and comparison is made with the pattern of a coordinate expected to have the same pattern, thereby performing pattern comparison by image detection for one die.例文帳に追加

位置合わせ座標で検出画像と設計情報の位置合わせを行いずれ量を補正し、同一なパターンが期待できる座標のパターンと比較することにより、１ダイのみの画像検出であってもパターン比較を行うことができる。 - 特許庁

To implement a function verification by inputting arbitrary image data within small circuit scale, without the need to prepare a test pattern or an expected value.例文帳に追加

テストパターンや期待値を予め用意する必要がなく、少ない回路規模で、任意の画像データを入力して機能検証の実施を可能にする。 - 特許庁

To provide a received data synchronizing device capable of synchronizing at high speed received data with expected value data even though their phases do not coincide due to a false synchronous pattern.例文帳に追加

偽同期パターンにより位相が不一致となっても受信データと期待値データとの同期を高速にとることができる受信データ同期装置を提供する。 - 特許庁

Next, the technique of the present invention matches the pattern for the data output path, inverting the appropriate data outputs to obtain the expected tester data.例文帳に追加

次に、本発明の技術による回路は、パターンをデータ出力経路に一致し、予期されるテストデータを獲得するよう適切なデータ出力を反転する。 - 特許庁

The processed results by the logic section 2 are compared with the pattern data PTN of the output expected values, and the compared results are outputted from a test output terminal 6.例文帳に追加

比較器５では、ロジック部２の処理結果が出力期待値のパターンデータＰＴＮと比較され、その比較結果が試験出力端子６から出力される。 - 特許庁

The wireless access point determines a transmission pattern minimizing the sum of expected values t_n, among the transmission patterns where the number of terminals does not exceed the minimum integer number n_m (step S11).例文帳に追加

無線アクセスポイントは、最小の整数ｎ_mを超えない送信パターンの中から、の期待値ｔ_nの和が最小となる送信パターンを決定する（ステップＳ１１）。 - 特許庁

In a step S2, etching time corresponding to an etching shift amount for obtaining expected sizes of the sparse pattern and dense pattern using the exposure amount determined by the first correlation is determined using second correlation, pre-obtained, between etching times of the space pattern and dense pattern and the etching shift amount.例文帳に追加

ステップＳ２では、予め取得された、疎パターン及び密パターンにおけるエッチング時間とエッチングシフト量との第２の相関関係を用いて、第１の相関関係により決定された露光量による疎パターン及び密パターンをそれぞれ所期の寸法とするためのエッチングシフト量に対応したエッチング時間を決定する。 - 特許庁

The expected time is decided to correct the revolution jitters by the sum of the coefficient applied to the integrated term, the proportional term, and the difference term of the timing error (tes) between the reading time of the NORMAL pattern already read and the expected time.例文帳に追加

予想時刻は、回転ジッタを補償するように、すでに読み出されたＮＯＲＭＡＬパターンの読み出し時刻と予想時刻との間のタイミング誤差（tes）の積分項、比例項、及び差分項のそれぞれに係数をかけた項の和によって決定する。 - 特許庁

In addition, the chip is a data source, a test pattern is generated by the data source, the test pattern is transmitted to a data destination by using the set of signal paths, the received pattern is compared with expected data at the data destination and whether or not the defective signal path exists is determined by utilizing this comparison result.例文帳に追加

また、前記チップはデータ・ソースであり、このデータ・ソースでテスト・パターンを生成し、信号パスの組を使用してテスト・パターンをデータ宛先に送り、データ宛先で、受け取ったパターンを期待されるデータと比較し、この比較の結果を利用して、欠陥のある信号パスが存在するかを判定する。 - 特許庁

This invention is achieved by improving an IC tester which provides an object to be tested with a test pattern and compares output of the object to be tested with an expected value to perform tests.例文帳に追加

本発明は、被試験対象に試験パターンを与え、被試験対象の出力と期待値とを比較し、試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a game machine improved in amusement by raising the expectation for a big-winning independently of orders of the pattern display to be usually expected.例文帳に追加

普段予想される図柄表示の順番にとらわれることなく、大当たりの期待度をより高めて、興趣性を向上することができる遊技機を提供すること。 - 特許庁

After each iteration of the FEC decoder, the detected unique word pattern is compared with the expected one and the frame sync is detected if the number of unique word errors has decreased.例文帳に追加

ＦＥＣ復号器の各反復の後、検出したユニークワードパターンは予想されるものと比較され、ユニークワードエラー数が減少していた場合、フレームシンクが検出される。 - 特許庁

NAND circuits 4g and 4h input outputs of EXCLUSIVE-OR circuits 3g and 3h, deciding timing signals 4a and 4b generated from a timing generator 1 and an expected value pattern 4e to be output from a pattern generator 6.例文帳に追加

ＮＡＮＤ回路４ｇ，４ｈはＥＸＯＲ回路３ｇ，３ｈ各々の出力とタイミング発生器１の発生する判定タイミング信号４ａ・４ｂとパタン発生器６から出力される期待値パタン４ｅを入力とする。 - 特許庁

A foot pattern 200 is so formed that the area S2 of a part 202 outer than an expected position A-A' of its end surface if an electronic component is fixed at a proper position be larger than the area S1 of a part 201 inner than the expected position (S1<S2).例文帳に追加

フットパターン２００は、電子部品が適正な位置に固定された場合のその端面の予想位置Ａ−Ａ’よりも内側部分２０１の面積Ｓ１に比して前記予想位置よりも外側部分２０２の面積Ｓ２が大きくなるように形成されている（Ｓ１＜Ｓ２）。 - 特許庁

The test pattern of an LSI for control is stored in a memory LSI as expected value data, and when the input/output timing is adjusted, the device is coped with all of the test patterns in a common discrimination circuit by means of discriminating with comparison of expected value data in the memory LSI and input data.例文帳に追加

制御用ＬＳＩのテストパターンをメモリＬＳＩに期待値データとして記憶し、入出力タイミング調整時には、入力データとメモリＬＳＩ内の期待値データを比較判定することで、共通の判定回路で全てのテストパターンに対応する。 - 特許庁

Information for generating a pseudo memory defective pattern is automatically extracted based on information about memory circuit constitution of a test specification 2 and redundancy circuit constitution, a pseudo memory pattern information file 10 is prepared, while a relieving code expected value is automatically extracted, and a relieving code expected value file 11 is prepared (STP6).例文帳に追加

試験仕様書２のメモリ回路構成及び冗長回路構成に関する情報に基づいて、擬似メモリ不良パターンを発生させるための情報を自動抽出して擬似メモリ不良パターン情報ファイル１０を作成すると共に、救済コード期待値を自動抽出して救済コード期待値ファイル１１を作成する（ＳＴＰ６）。 - 特許庁

A scanning test of a combination circuit 200 is performed on the basis of a test pattern generated by a scan pattern generation circuit 300, a comparison control circuit 400 compares a test result with an expected value to check the shifting of the flip-flops 100-105.例文帳に追加

スキャンパターン生成回路３００で生成したテストパターンに基づいて組み合せ回路２００のスキャンテストを実行し、比較制御回路４００がテスト結果と期待値との比較を行い、フリップフロップ１００〜１０５のシフト動作の確認を行う。 - 特許庁

The interference elimination section 13 manages the radio wave interference basic model pattern data and the time when the data are applied and eliminates the interference radio wave noise while selecting the radio wave interference basic model pattern data corresponding to the expected electronic range cooking.例文帳に追加

干渉除去部１３では、電波干渉基本モデルパターンデータとそれを適用する時間を管理しており、予想される電子レンジの調理に対応して、電波干渉基本モデルパターンデータを切り換えながら干渉電波ノイズを除去する。 - 特許庁

The comparison effective signal generating section 70 received a comparison stop signal 72 and a comparison enable-signal 74, and outputs a comparison effective signal 22 indicating whether comparing an expected value pattern signal with an output pattern signal in the comparator is effective or not.例文帳に追加

比較有効信号生成部７０は、比較停止信号７２および比較可能信号７４を受け取り、比較器における期待値パターン信号と出力パターン信号の比較が有効であるか否かを示す比較有効信号２２を出力する。 - 特許庁

A scan flip-flop for control and a scan flip-flop for observation are added before a head element and after a tail element of continuous uninspected elements respectively to input a second input value pattern and to observe a second expected value pattern.例文帳に追加

検査を受けなかった連続する素子の先頭素子の前、最後尾の素子の後に、それぞれ、制御用スキャンフリップフロップ、観測用スキャンフリップフロップを追加し、第２の入力値パターンの入力及び第２の期待値パターンの観測を行う。 - 特許庁

In this semiconductor memory test apparatus 1, when a test of a device 20 of a synchronous type to be tested is performed, output data of the device 20 to be tested corresponding to a test pattern is held by an output holding part 11, it is compared with expected value data by an expected value data comparing part 12, and log data are generated.例文帳に追加

本発明の半導体メモリ試験装置１は、同期型の被試験デバイス２０の試験を行う際、テストパターンに対応する被試験デバイス２０の出力データを出力保持部１１で保持し、期待値比較部１２にて期待値データと比較してログデータが生成される。 - 特許庁

To provide a yarn in which color tone changes following wearing or dyeing and a fabric utilizing the above yarn, by which unique color tone or the change of color pattern can be expected when used.例文帳に追加

着用や染色に伴って色調の変化する糸およびこの糸を利用した、使用に伴って個性的な色調や色調パターンの変化を期待できる布帛を提供する。 - 特許庁

Further, the douser film 26 can be easily formed into an expected pattern by forming the douser film 26 on the flat translucent sheet prior to the folding process.例文帳に追加

また、折曲げ加工を施す前の平坦な透光性シートに対して遮光膜２６を形成することにより、遮光膜２６を所望のパターンで形成することを極めて容易に可能とする。 - 特許庁

A detachable region is produced by surrounding perforation along an expected cutting-off partitioning line 20 around some part of a camouflage pattern printing partitioning region 11 formed on a base material sheet 10.例文帳に追加

基材シート１０に構成したカムフラージュパターン印刷区画領域１１の一部を、切り取り予定区画線２０にミシン加工を周設することにより、切り離し可能な領域とする。 - 特許庁

A test scenario describing an arbitrary parameter is imparted to the test bench 102, the input pattern and the output expected value are automatically generated within the test bench 102, and they are stored in the memory 104 within the test bench 102.例文帳に追加

任意のパラメータを記述するテスト・シナリオをテストベンチ１０２に与えて、テストベンチ内で入力パターンおよび出力期待値を自動生成し、テストベンチ内メモリ１０４に蓄積する。 - 特許庁

To solve the problem wherein a serviceman has to set an adjustment value again to allow an image forming apparatus to print a test pattern when he cannot obtain an expected image position in confirming print output by the eye.例文帳に追加

サービスマンは印刷出力を目で確認するとき、期待する画像位置が得られない場合、再度、調整値を設定し、テストパターンを画像形成装置に印刷させなければならない。 - 特許庁

All shot reticle patterns corresponding to divisions of a liquid crystal panel divided every shot are OR-computed to form an expected pattern showing the layout state of all exposed regions of the liquid crystal panel.例文帳に追加

液晶パネル領域をショット毎に分割したレチクルの全ショット分をＯＲ演算して、液晶パネル領域の全露光領域を配置させた状態を示す予想パターンを作成する。 - 特許庁

The semiconductor test system 200 includes test pattern generators 210 and 250 associated with the respective stations 230 and 260 to generate a test pattern and expected data provided for semiconductor devices on the associated station in response to a test instruction provided by a host 100, and comparators 220 and 240 associated with the respective stations to compare the expected data and data output from the semiconductor devices on the associated station.例文帳に追加

半導体テストシステム(200)はステーション(230,260)に各々対応し、ホスト(100)から提供されるテスト命令に応答して対応するステーション上の半導体装置に提供されるテストパターンと期待データを生成するテストパターン発生器(210,250)と、ステーションに各々対応し、期待データと対応するステーション上の半導体装置から出力されるデータを比べる比較器(220,240)を含む。 - 特許庁

On the other hand, when it is determined that the specified variation pattern is a second variation pattern, the integrated controlling CPU sets a smaller value as the acquirable expected value when determination of a jackpot is yes than when determination of a jackpot is no.例文帳に追加

その一方、統括制御用ＣＰＵは、指定された変動パターンが第２変動パターンであると判定した場合、大当り判定が肯定であるときには否定であるときと比較して高確率で小さい値を取得することができる期待値として設定する。 - 特許庁

In a system for providing the service, a communication terminal 202 comprises a power meter 201 and a living rhythm recognition means 204 for extracting a living pattern based on a measured power usage and comparing the living pattern with an expected parameter to determine whether there is an anomaly.例文帳に追加

本サービスを提供するシステムは、通信端局202に電力使用量計201と、計測した電力使用量に基づいて生活パターンを抽出し、該生活パターンとその予想パラメータとを比較して、異常の有無を判定する生活リズム確認手段204を備える。 - 特許庁

A test pattern data is input into a data input of the IP core 12, an output data output from a data output of the IP core 12 is compared with an expected value for the test pattern data, and the power source noise resistance is inspected when testing a function of the IP core 12.例文帳に追加

ＩＰコア１２のデータ入力にはテストパターンデータが印加され、ＩＰコア１２のデータ出力から出力される出力データとテストパターンデータに対する期待値と比較してＩＰコア１２のファンクションテスト時に電源ノイズ耐性の検査を行う。 - 特許庁

When an expected value X is present in a serial pattern stored in scan data memories SDM11 to SDM14, the value is detected in real time, and mask signal generating parts SG11 to SG14 generate mask signals.例文帳に追加

スキャンデータメモリＳＤＭ１１〜ＳＤＭ１４に格納されたシリアルパターン中に期待値「Ｘ」が存在する場合、リアルタイムで検出してマスク信号発生部ＳＧ１１〜ＳＧ１４がマスク信号を発生する。 - 特許庁

To provide a pachinko game machine which can inform the players of the expected defining time in the figure generation process before the figure generation process for defining the figures is started in the win figure pattern.例文帳に追加

当り図柄態様で図柄確定する図柄生成行程が開始される前に、遊技者に該図柄生成行程の確定予定時間を報知し得るパチンコ遊技機を提供することを目的とする。 - 特許庁

An input pattern and an output expected value for the simulation are expressed by a structural body constituted of a starting pointer, a data size, a next pointer and a parameter of control information on a memory 104 within a test bench 102.例文帳に追加

テストベンチ１０２内では、シミュレーションのための入力パターンおよび出力期待値はメモリ１０４上の開始ポインタ、サイズ、次ポインタ、制御情報のパラメータからなる構造体で表現する。 - 特許庁

To provide a method of setting two of an exposure quantity tolerance, a pattern size tolerance, and a defocusing tolerance (set tolerances) and designing a photomask according to an expected value of the remaining tolerance (unset tolerance).例文帳に追加

露光量裕度、パターンサイズ裕度及びデフォーカス裕度の内の２つを設定（設定裕度）し、残りの裕度（未設定裕度）の期待値に基づきフォトマスクを設計する方法を提供する。 - 特許庁

After power supply voltage drop completion in a power supply domain D113, the test control section 103 transmits a test pattern through the address/data bus 101 to the functional circuit block D109 and compares a result with an expected value.例文帳に追加

電源ドメインＤ１１３の電源電圧降圧完了後、テスト制御部１０３は、アドレス／データバス１０１を介して機能回路ブロックＤ１０９にテストパターンを送信し、その結果を期待値と比較する。 - 特許庁