「interferometer」に関連した英語例文の一覧と使い方(16ページ目) - Weblio英語例文検索

LASER INTERFEROMETER USING THIN FILM OPTICAL SENSOR WHICH CAN TRANSMIT LASER LIGHT, AND DISPLACEMENT, VELOCITY SENSOR USING THE SAME例文帳に追加

レーザー光が透過することが出来る薄膜光センサーを用いたレーザー干渉計とこれを使用した変移、速度センサー - 特許庁

To provide an optical fiber homodyne laser interferometer that has a simple constitution and can perform precise detection of a cantilever.例文帳に追加

構成が簡単で、的確なカンチレバーの検出を行うことができる光ファイバ式ホモダインレーザ干渉計を提供する。 - 特許庁

SINGLE CRYSTAL DIAMOND CUTTING TOOL, METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, AND METHOD FOR MANUFACTURING DIFFRACTION GRATING FOR X-RAY TALBOT INTERFEROMETER例文帳に追加

単結晶ダイヤモンド切削刃具及びその製造方法、並びにＸ線タルボ干渉計用回折格子の製造方法 - 特許庁

Light of the light source 10 is made to interfere by a Michelson interferometer 20, and an interference signal is thinned by a PDC 40.例文帳に追加

光源１０の光をマイケルソン干渉計２０により干渉させ、干渉信号をＰＤＣ４０により間引きする。 - 特許庁

To provide a method and device for determining elements or the like of the Jones matrix of an optical device without requiring an interferometer.例文帳に追加

干渉計を必要としない、光学装置のジョーンズマトリクスの要素等を決定する方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a delay interferometer for restricting the influence of a high-order component in compensation materials, which is caused by an optical phase adjustment board.例文帳に追加

光学位相調整板による補償材の高次成分の影響を抑制可能な遅延干渉計を実現する。 - 特許庁

A beam 348 adjusted by a compensator is provided as output from the compensator 340 and the adjusted beam is received by an interferometer 342.例文帳に追加

補正部により調整されたビーム３４８は補正部３４０から出力され、干渉計３４２に受光される。 - 特許庁

This asymmetrical optical fiber Mach-Zehnder interferometer 10 is equipped with a 1st optical fiber 20 and a 2nd optical fiber 22.例文帳に追加

非対称光ファイバ・マッハ−ツェンダ干渉計１０は、第１の光ファイバ２０と、第２の光ファイバ２２とを備えている。 - 特許庁

A measuring system 122 measures a position of an XYθ stage 102 with a laser interferometer 201 and a linear scale 202.例文帳に追加

測長システム１２２は、ＸＹθステージ１０２の位置をレーザ干渉計２０１とリニアスケール２０２を用いて測定する。 - 特許庁

In the first place, intervals among the optical planes (S1, S2, and S3) are measured along a reference axis (34) by means of an interferometer (24).例文帳に追加

最初に、光学面（Ｓ１、Ｓ２、Ｓ３）の間隔が、干渉計（２４）を用いて参照軸（３４）に沿って測定される。 - 特許庁

To more accurately measure wave aberration of a projection optical system in a projection lithography having an interferometer mounted.例文帳に追加

干渉計を搭載した投影露光装置において、投影光学系の波面収差をより高精度に計測すること。 - 特許庁

To build an optical interferometer into a molding machine to minimize the interplanar eccentricity of a measuring surface to a reference plane.例文帳に追加

成形機に光学干渉計を組み込んで基準面に対する測定面の面間偏芯量を最小にする。 - 特許庁

The sample 12 is scanned along its surface with a laser interferometer 48 and a vibration speed of the surface of the sample 12 is derived.例文帳に追加

レーザ干渉計４８を試料１２の表面に沿って走査し、試料１２の表面の振動速度を求める。 - 特許庁

At the same time, an interferometer system, e.g., Z interferometers 43A and 43B, are used to measure the positional information of the wafer stage.例文帳に追加

同時に、干渉計システム、例えばＺ干渉計４３Ａ，４３Ｂを用いて、ウエハステージの位置情報を計測する。 - 特許庁

To provide an air conditioner system, an interferometer system, and an exposure device system in which vibration caused by an air conditioner is less.例文帳に追加

空調に原因する振動が少ない空調システム、干渉計システム、及び露光装置システムを提供すること。 - 特許庁

LASER INTERFEROMETER FOR MEASURING RANGE, EXPOSURE APPARATUS, DEVICE MANUFACTURING METHOD, SEMICONDUCTOR MANUFACTURING FACTORY AND METHOD FOR MAINTAINING EXPOSURE APPARATUS例文帳に追加

レーザ干渉計測長器、露光装置、デバイス製造方法、半導体製造工場および露光装置の保守方法 - 特許庁

To provide a displacement measuring interferometer which minimizes nonlinear errors and errors induced by diffraction, and is superior in expandability.例文帳に追加

非線形誤差及び回折で誘発される誤差を最小化し、拡張性に優れた変位測定干渉計を提供する。 - 特許庁

To provide an interferometer capable of widening a measuring region with a large diameter without requiring an expensive wavelength plate.例文帳に追加

高価な波長板を必要とせず、また大口径で測定領域の広域化も可能な干渉計を提供する。 - 特許庁

To effectively detect occurrence of shifting in relative positions of a plurality of interferometer mirrors on a stage.例文帳に追加

ステージ上の複数の干渉計ミラーの相対的な位置が変形した場合にその発生を効果的に検出する。 - 特許庁

To provide a wavelength scanning interferometer advantageously used for highly accurately measuring an absolute distance to a moving object.例文帳に追加

移動する被検体までの絶対距離を高精度に計測するために有利な波長走査干渉計を提供する。 - 特許庁

To provide a radiation phase image radiographing apparatus by using a Talbot interferometer performing a radiation phase imaging with large size.例文帳に追加

タルボ干渉計を利用した放射線位相画像撮影装置において、大サイズの放射線位相イメージングを可能とする。 - 特許庁

DETECTION POINT SCANNING METHOD BY OPTICAL INTERFEROMETER INTEGRATED DRIVING IN OPTICAL COHERENCE TOMOGRAPHY AND OPTICAL COHERENCE TOMOGRAPHY DEVICE例文帳に追加

光コヒーレンストモグラフィーにおける光干渉計一体駆動による検知点走査方法及び光コヒーレンストモグラフィー装置 - 特許庁

The multi-rate receiver includes a single demodulator 80 such as a photo interferometer used at frequency division data rates.例文帳に追加

マルチレート受信機は複数の分周データレートに使用される、光干渉計のような単一の復調器８０を含む。 - 特許庁

The retardation plate is fixed with an adhesive after it is determined in the direction of minimizing the polarization leakage of the interferometer systems.例文帳に追加

リターデーションプレートは、干渉計システムの偏光漏洩が小さくなる向きに定められた後、接着剤で固定される。 - 特許庁

To provide an interferometer apparatus for easily performing alignment work of incident light beam while being simple in constitution.例文帳に追加

簡単な構成でありながら、入射する光ビームのアライメント作業を容易に行なえる干渉計装置を提供する。 - 特許庁

To provide a compact interferometer wherein no large frictional force is generated, nor error occurs due to tilting of a moving mirror.例文帳に追加

コンパクトでなお且つ移動鏡の傾きによる誤差や大きな摩擦力を生じることのない干渉計を提供する。 - 特許庁

The temperature of the sample m can precisely be obtained by measuring the temperature of the substrate W using the interferometer 11.例文帳に追加

干渉計１１を利用して、基板Ｗの温度を計測することで、試料ｍの正確な温度を知ることができる。 - 特許庁

To provide an optical measurement apparatus comprising an interferometer having improved measurement quality especially by avoiding of noise signals.例文帳に追加

特に雑音信号の回避によって測定品質が改善された干渉計を備えた光学測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a multi-wavelength interferometer capable of carrying out an interference measurement using multiple wavelengths without moving an optical element to be measured.例文帳に追加

被測定光学素子を移動することなく複数の波長による干渉測定が可能な多波長干渉計を得る。 - 特許庁

To measure a plasma density by using an interferometer with a single optical path to measure the phase distribution of a laser light.例文帳に追加

レーザー光の位相分布測定によって単一光路の干渉計を用いてプラズマ密度の測定を可能にする。 - 特許庁

To contribute to the suppression of a cost by eliminating the measuring shaft of an interferometer even at the time of measuring the profile irregularity of a long size mirror.例文帳に追加

長尺鏡の面精度を計測する際にも、干渉計の計測軸を削減してコストの抑制に寄与する。 - 特許庁

A nonlinear gain medium 4, in which a change in refractive index is optically induced in at least one of two optical paths 2, 3 of a Michelson interferometer 1, is provided, so that mode-locked laser oscillation takes place in the inside of the interior of the interferometer 1.例文帳に追加

マイケルソン干渉計１の２本の光路２，３のうち少なくとも一方に光学的に屈折率変化が誘起される非線形利得媒質４を設けるとともに、前記マイケルソン干渉計１の内部でモード同期レーザ発振を発生させる。 - 特許庁

A first plate interferometer 17 measures the position of the substrate table 14 in a direction X and its rotation amount around a Z-axis, and a second plate interferometer 18 measures a position of the mobile table 15 in the direction X and its rotation amount around the Z-axis.例文帳に追加

第１プレート干渉計１７は基板テーブル１４のＸ方向の位置及びＺ軸周りの回転量を計測し、第２プレート干渉計１８は移動テーブル１５のＸ方向の位置及びＺ軸周りの回転量を計測する。 - 特許庁

A method for measuring an aspherical surface object includes a step of obtaining shape data of a first lens surface 91 and a second lens surface 92 of an aspherical lens 9 by reflected wave surface measurements using a first interferometer 1A and a second interferometer 1B, and a step of approximating each of the shape data with Zernike polynomial.例文帳に追加

第１干渉計１Ａと第２干渉計１Ｂとを用いた反射波面測定により、非球面レンズ９の第１レンズ面９１および第２レンズ面９２の形状データを求め、各形状データをツェルニケ多項式で近似する。 - 特許庁

The second interferometer I_2 emits measuring light and obtains a second interference fringe image based on return light that returns to the second interferometer I_2 again after being reflected from a mirror surface S_1 formed on a surface of the reflecting plane mirror F_1.例文帳に追加

そして、第２の干渉計Ｉ_2は、測定光を照射し、折り返し平面鏡Ｆ_1の表面に形成された鏡面Ｓ_1で反射され、再び第２の干渉計Ｉ_2に戻ってきた戻り光を基に、第２の干渉縞画像を取得する。 - 特許庁

In the positioning device that includes a laser interferometer loaded on a slider, and a fixed mirror, the slider is positioned by measuring the length, based on laser interference, by using laser light making a round trip between the laser interferometer and the fixed mirror.例文帳に追加

スライダに搭載されたレーザ干渉計と、固定ミラーとを備え、前記レーザ干渉計と前記固定ミラーとの間で往復するレーザ光を用いてレーザ干渉に基づく測長を行うことで前記スライダを位置決めする位置決め装置である。 - 特許庁

The recipient inputs the second photon into the Mach-zehnder interferometer after the second photon passes the 1/4 wavelength retarder at a time 2 after the time 1, and photon measurement is performed for each of two outputs of the Mach-zehnder interferometer.例文帳に追加

受信者は時刻１よりも後の時刻２に第２の光子を、上記１／４波長遅相子を通過させた後で上記マッハ−ツェンダー干渉計に入力し、上記マッハ−ツェンダー干渉計の２つの出力それぞれにおいて光子の測定を行う。 - 特許庁

The beam production mechanism contains a beam splitter which partitions beam into a reference beam and a measuring beam, a reference mirror for providing a plane mirror interferometer, and a reflection surface which radiates at least one reference beam used for a differential plane mirror interferometer.例文帳に追加

ビーム生成機構は、ビームを基準ビームと測定ビームに分割するビームスプリッタ、平面鏡干渉計を提供する基準鏡、および、示差平面鏡干渉計に使用する少なくとも１つの基準ビームを放射する反射表面を有する。 - 特許庁

A first laser interferometer 41 and a second laser interferometer 42 each include a light source, a mirror 104 attached to a stage 105, and an optical system which receives light reflected by the mirror 104 after being emitted from the light source.例文帳に追加

第１のレーザ干渉計４１と第２のレーザ干渉計４２は、それぞれ、光源と、ステージ１０５に取り付けられるミラー１０４と、光源から出射された後にミラー１０４で反射されて戻った光を受光する光学系とを備える。 - 特許庁

Lights are applied to the entire surface of mono-axis diffraction grating 10 or bi-axis diffraction grating, and the respective wavefront information of plus first-order diffracted light and minus first-order diffracted light is evaluated by a shape measuring interferometer such as Fizeau type interferometer 11 or the like.例文帳に追加

１軸回折格子１０または２軸回折格子の全面に光を照射し、＋１次回折光と−１次回折光のそれぞれの波面情報をフィゾー型干渉計１１などの形状計測用干渉計で評価する。 - 特許庁

A delay demodulating device 1 includes: an optical input waveguide 2 to which a DQPSK (Differential Quadrature Phase Shift Keying) signal is input; a Y-branch waveguide 3 for causing branching of the optical input waveguide 2; a first Mach-Zehnder interferometer (MZI) 4; and a second Mach-Zehnder interferometer 5.例文帳に追加

遅延復調デバイス１は、DQPSK信号が入力される光入力導波路２と、光入力導波路２を分岐するＹ分岐導波路３と、第１のマッハツェンダー干渉計（MZI）４と、第２のマッハツェンダー干渉計５と、を備える。 - 特許庁

The delay demodulation device 1 includes a light input waveguide 2 to which a DQPSK (Differential Quadrature Phase Shift Keying) signal is input, a Y branch waveguide 3 for branching the light input waveguide 2, a first Mach-Zehnder interferometer (MZI) 4, and a second Mach-Zehnder interferometer (MZI) 5.例文帳に追加

遅延復調デバイス１は、DQPSK信号が入力される光入力導波路２と、光入力導波路２を分岐するＹ分岐導波路３と、第１のマッハツェンダー干渉計（MZI）４と、第２のマッハツェンダー干渉計５と、を備える。 - 特許庁

In the phase contrast X-ray imaging apparatus using an X-ray interferometer, a known reference material similar to a sample in shape and internal density distribution is installed in a light path different from the light path in the interferometer in which the sample is installed.例文帳に追加

Ｘ線干渉計を用いた位相コントラスト型Ｘ線撮像装置において、試料が設置された干渉計内の光路とは異なる光路に、形状及び内部密度分布が試料と類似し、且つ既知の参照体を設置する。 - 特許庁

To provide a phase monitor which can adjust a phase of an interferometer without causing the deterioration of a waveform by dithering control, and discriminates not only a size and a code of a phase but also whether a phase of each interferometer is set at a desired phase.例文帳に追加

ディザリング制御による波形劣化を引き起こすことなく、干渉計の位相調整が可能で、位相の大きさ、符号だけでなく、各干渉計の位相が所望の位相に設定されているかを単体で判別する位相モニタ装置を提供する。 - 特許庁

Related to a Mach-Zehnder interferometer type optical circuit 111 as an optical device, first - third stages of asymmetric Mach-Zehnder interferometer type optical circuits 113_1, 113_2, and 113_3 are connected in sequence, arranged in spiral, on a substrate 112.例文帳に追加

光デバイスとしてのマッハ・ツェンダ干渉計型光回路１１１は、基板１１２上に第１段〜第３段の非対称型マッハ・ツェンダ干渉計型光回路１１３_1、１１３_2、１１３_3を順に接続し、これらを渦巻き状に配置した構成となっている。 - 特許庁