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light interferenceの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2002件
The multiple interference film faces of the color synthesizing element 14 transmit or reflect only the light at the oscillated wavelength generated by the respective light sources so that multiplexing is performed.例文帳に追加
色合成素子14の多重干渉膜面は、各々光源の発振波長の光のみが透過もしくは反射する面となっていて、合波が行われる。 - 特許庁
Each signal light is interfered with reference light Re1 one by one at a hologram recording medium H1, and respectively produced interference fringes are recorded.例文帳に追加
これら信号光を1本ずつ参照光Re1とホログラム記録媒体H1のところで干渉させ、それぞれ生成される干渉縞を記録する。 - 特許庁
Also, many light emitting diodes and photodiodes are provided without considering the mutual interference of the light and the communication rate is improved.例文帳に追加
また、光の相互干渉を気にすることなく多数の発光ダイオード及びフォトダイオードを設けることができ、通信レートの向上を図ることができる。 - 特許庁
Laser light emitted from an interference optics 2 is made to condense onto an object surface to be measured of the measuring object 100 by using a light-condensing optics 3.例文帳に追加
干渉光学系2から出射されたレーザ光は、集光光学系3で、測定対象物100の測定対象面上に集光される。 - 特許庁
A reference optical system for irradiating the hologram photosensitive material with reference light and an object light optical system for irradiating the hologram photosensitive material with object light are used to cause the interference exposure of the hologram photosensitive material with the reference light and the object light.例文帳に追加
参照光をホログラム感光材料に照射する参照光光学系及び物体光を前記ホログラム感光材料に照射する物体光光学系を用い、参照光及び物体光をホログラム感光材料に干渉露光させる。 - 特許庁
The measurement light Ls' (the reflection light) reflected by an examined region is returned to a fiber 42 through a mirror 18, a lens 14 and a fiber 15 and mixed with the reference light Lr in a coupler 39 to enter a light detector 47 as the interference light Lc.例文帳に追加
被検部で反射された測定光Ls’(反射光)は、ミラー18、レンズ14、ファイバー15を介してファイバー42に帰還せしめられ、カプラ39において、参照光Lrと合波され、干渉光Lcとして、光検出器47へ入射する。 - 特許庁
The photosensor comprises a semiconductor chip having a light receiving part and for performing photoelectric conversion, and an interference filter arranged in an optical path of incident light on the light receiving part, and outputs an electric signal of a level corresponding to light incident on the light receiving part.例文帳に追加
本発明のフォトセンサは、受光部を有すると共に光電変換を行う半導体チップと、受光部への入射光の光路に配置された干渉フィルタとを備え、受光部へ入射する光に応じたレベルの電気信号を出力する。 - 特許庁
Although the signal light 12 passes through a recording layer 18 in a hologram recording medium, an interference pattern by the signal light 12 and reference light is recorded in volume in an area of the signal light 12 overlapping the pass-through area of the unillustrated reference light.例文帳に追加
信号光12はホログラム記録媒体内の記録層18内を通過するが、そのうち図示しない参照光の通過領域と重なり合う領域には、信号光12と参照光による干渉パターンが体積的に記録される。 - 特許庁
A diffraction grating in accordance with interference fringes of signal light and reference light of interference fringes of signal light themselves is formed by irradiating simultaneously with the signal light and the reference light Fourier-converted so as to focus at the outside of an optical recording medium using the optical recording medium in which a diffraction grating and an absorption grating can be formed by irradiation of light, and the signal light is recorded as hologram.例文帳に追加
光照射により屈折率格子と共に吸収格子を形成可能な光記録媒体を用い、光記録媒体の外部で焦点を結ぶようにフーリエ変換された信号光と参照光とを同時に照射することで、光記録媒体に信号光と参照光との干渉縞または信号光同士の干渉縞に応じた回折格子が形成され、信号光がホログラムとして記録される。 - 特許庁
The imaging means makes light L1 incident on the object O to be inspected obliquely by a required incidence angle, and makes the light incident on the hologram prototype 3, thereby obtaining an interference image by interference light of reflected light L3 reflected by the object O to be inspected or transmitted light via the object O to be inspected, and the reproduction light from the hologram prototype 3.例文帳に追加
結像手段は、前記被検物体Oに所要の入射角で斜め方向に光L1を入射する一方、前記ホログラム原器3に光を入射することによって、前記被検物体Oに反射した反射光L3又は前記被検物体Oを経由した透過光と前記ホログラム原器3からの前記再生光との干渉光による干渉画像を取得する。 - 特許庁
Diffraction light generated by an index diffraction grating 13 is made to reinterfere with a moving diffraction grating 15; an interference pattern (periodic light intensity distribution) of the interference light is allowed to vibrate by rotational vibration of a modulation mirror 16; phase modulation of the periodic light intensity distribution is performed, and then the modulated signal is detected by a light receiving part 17.例文帳に追加
インデックス回折格子13で発生した回折光を、移動回折格子15で再干渉させ、その干渉光の干渉縞(周期的な光強度分布)を変調ミラー16の回転振動で振動させ、その周期的な光強度分布の位相変調したうえで、受光部17でその変調信号を検出する。 - 特許庁
To provide a measurement method for correctly reflecting the phenomenon that a reflected light uneven interference required for the quality lies within an allowable level if it is used, permanently and frequently maintaining the accuracy, preventing the reflection light uneven interference from being altered, even if an area of a to-be-inspected surface is large, and conveniently and efficiently measuring the reflected light uneven interference.例文帳に追加
使用する場合の品質として求められる、反射光干渉ムラが許容範囲内の水準であることを正しく反映し、恒常的に高頻度で精度を保つことができ、大面積の検査面であっても、その反射光干渉ムラを変質させずに簡便に効率良く測定することができる測定方法を提供する。 - 特許庁
In FD-OCT for acquiring tomographic information from optical spectral information, data to be read out in optical interference measurement data are determined based on measurement depth of measurement light by using the measurement depth of measurement light and the characteristics of interference light to be measured, and only the determined data out of the optical interference measurement data is read out.例文帳に追加
光スペクトル情報から断層情報を取得するFD−OCTにおいて、計測光の計測深度と計測される干渉光の特性を利用して、計測光の計測深度に基づいて光干渉計測データ中の読み出すべきデータを決定し、当該光干渉計測データはこの決定されたデータのみが読み出される。 - 特許庁
The position measuring system comprises: a pointer 3 which projects concentric interference pattern light 5; detecting devices 10, 11 which detect the concentric interference pattern light 5 projected from the pointer 3; and a computer 12 which computes a positional coordinate of the center of the concentric interference pattern light projected on a display 100, based on signals output from the detecting devices 10, 11.例文帳に追加
本位置計測システムは、同心円状干渉模様光5を投射するポインター3と、ポインター3から投射された干渉模様光を検出する検出装置10,11と、検出装置10,11から得られた信号に基づいてディスプレイ100に投射された干渉模様光の中心の位置座標を求めるコンピュータ12とを備える。 - 特許庁
The optical axis of probe light and the optical axis of reference light are brought close up to a distance uninfluenced by a disturbance, and an object is irradiated with the probe light and a reference plane is irradiated with the reference light respectively, and each reflected light is allowed to interfere with each other, and displacement of the object is determined from generated interference light.例文帳に追加
プローブ光の光軸と参照光の光軸を外乱の影響を受けない距離まで近接させて、プローブ光を対象物に、参照光を参照面に各々照射し、その反射光同士を干渉させ、生じた干渉光から対象物の変位量を求める - 特許庁
The light containing the green components and the blue components of the incident light incident on the R pixel 121 is led to the G pixel 120 through the interference filter layer 115R, and also the light containing the blue components of the light led to the G pixel 120 is led to the B pixel through the interference filter layer 115G.例文帳に追加
R画素121に入射された入射光の緑色成分及び青色成分を含む光を干渉フィルター層115Rを介してG画素120に導くと共に、G画素120に導かれた光の青色成分を含む光を干渉フィルター層115Gを介してB画素に導く。 - 特許庁
In a multilayered film interference filter 407, four multilayered film interference filters each for transmitting light (rainbow) of a near-infrared wavelength area used for imaging a red light (R), a green light (G), a blue light (B) and an iris are arrayed into a square shape as a unit and the relevant square arrays are arranged in a two-dimensional manner.例文帳に追加
多層膜干渉フィルタ407においては、赤色光(R)、緑色光(G)、青色光(B)及び虹彩を撮像するために用いる近赤外波長域の光(虹)の何れかを透過させる4つの多層膜干渉フィルタを正方配列したものを単位として、当該正方配列が2次元配列されている。 - 特許庁
Interference fringes generated by object light emitted from a second original image and reference light are recorded in the recording regions B1, B2, B3 belonging to the second group; and interference fringes generated by object light emitted from a third original image and reference light are recorded in the recording regions C1, C2, C3 belonging to the third group.例文帳に追加
第2の原画像から放出された物体光と参照光とによって生じる干渉縞を第2のグループである記録領域B1,B2,B3に記録し、第3の原画像から放出された物体光と参照光とによって生じる干渉縞を第3のグループである記録領域C1,C2,C3に記録する。 - 特許庁
When a phase of the specific diffraction light in the luminous flux of wavelength λ2 passed through the surrounding region R2 coincides with a phase of luminous flux for forming a convergence spot, interference of light is caused, light quantity of luminous flux for forming the convergence spot is increased utilizing interference of this light.例文帳に追加
周辺領域R2を通過した波長λ2の光束における特定の回折光の位相が、集光スポットを形成するための光束の位相と合致するようになると、光の干渉が生じ、この光の干渉を利用して、集光スポットを形成するための光束の光量を増大する。 - 特許庁
This optical information recording is provided with a recording optical system which irradiates an information recording layer from the same surface side with object light and recording reference light so that the information is recorded on the information recording layer with an interference pattern formed by the interference of the object light and the recording reference light.例文帳に追加
本発明による光情報記録装置は、情報記録層に物体光と記録用参照光との干渉による干渉パターンによって情報が記録されるように、物体光と記録用参照光とを、情報記録層に対して同一面側より照射する記録光学系を備える。 - 特許庁
An inspection object is irradiated with inspection light, and reflected light polarized and separated by the inspection object is received, and light components of the received reflected light are subjected to photoelectric conversion, to thereby generate interference data showing the value of each polarized component, and a defect on the surface of the inspection object is detected according to the interference data.例文帳に追加
検査光を検査対象物に照射し、検査対象物において偏光分離された反射光を受光し、受光した反射光の光成分を光電変換して各偏光成分の値を示す干渉データを生成し、干渉データに基づいて、検査対象物の表面の欠陥を検出する。 - 特許庁
The interference pattern obtained with the interference optical system 5 is received with a light receiving element 7, the obtained light receiving signal phase is detected with a phase detection circuit 8 and phase amplitude is extracted with an amplitude extraction circuit 9.例文帳に追加
干渉光学系5から得られる干渉縞を受光素子7により受光し、得られた受光信号の位相を位相検出回路8により検出し、更に振幅抽出回路9により位相振幅を抽出する。 - 特許庁
By this, the optical path length is made to be deviated from the interference conditions of green light at the periphery of the display region, and as approaching the center of the display region, the optical path length is made to be satisfied in the interference conditions of the green light.例文帳に追加
これにより、表示領域の周辺では、緑色光の干渉条件から外れるような光路長とし、表示領域の中央に近づくにつれて、緑色光の干渉条件を満足する光路長とする。 - 特許庁
The light receiving intensity ratio between at measuring time and preliminary measuring time is determined, and the intensity correction of the interference fringe image is performed by use of the light receiving intensity ratio, thereby, the precision of the phase shift interference fringe simultaneous measuring apparatus is significantly enhanced.例文帳に追加
測定時と予備測定時の受光強度比を求め、この受光強度比を用いて干渉縞画像の強度補正を行うことにより、位相シフト干渉縞同時計測装置の大幅な高精度化を図ろうとするものである。 - 特許庁
This allows the display of the warning information on the front side of the reflecting mirror 10 transmitted from the display device 26 through the reflecting film 24, a second light interference film 22, a first light interference film 20, a substrate 12 and a photocatalytic hydrophilic film 14.例文帳に追加
このため、表示装置26から、反射膜24、第2光干渉膜22、第1光干渉膜20、基板12及び光触媒性親水膜14を介して、反射鏡10の表側に警告情報を表示できる。 - 特許庁
A reflection mirror 10 has a reflection film 14 on the surface of a substrate 12, a light interference film 16 on the surface of a reflection film 14, and the photocatalyst hydrophilic layer 18 on the surface of the light interference film 16.例文帳に追加
反射鏡10では、基板12の表面に反射膜14が設けられ、反射膜14の表面に光干渉膜16が設けられ、光干渉膜16の表面に光触媒親水膜18が設けられている。 - 特許庁
In this method, the hologram 10 is manufactured which has a first interference fringe 11a and second interference fringe 11b for diffracting first reproduction illumination light L1a of a first wavelength and second reproduction illumination light L2a of a second wavelength.例文帳に追加
第1波長の第1再生照明光L1aおよび第2波長の第2再生照明光L2aをそれぞれ回折する第1干渉縞11aおよび第2干渉縞11bを有したホログラム10を製造する。 - 特許庁
The critical dimension and process latitude of the main feature can be improved by constructive light field interference, or degraded by destructive light field interference.例文帳に追加
隣接するフィーチャによって生成される電界の位相に応じて、主フィーチャの臨界寸法およびプロセスラチチュードを、強め合う光電界干渉によって改善するか、または弱め合う光電界干渉によって劣化させることができる。 - 特許庁
Then, the acquisition part 400 causes the body beam and the reference beam included in respective non-interference light beams obtained by the division, to interfere with each other with phases varying according to light beams obtained by the division, thereby obtaining interference fringes of different phases.例文帳に追加
さらに、位相シフト干渉縞取得部400は、分割された各無干渉光束に含まれる物体光と参照光とを分割された光束ごとに異なる位相で干渉させて異なる位相の干渉縞を得る。 - 特許庁
Moving the mirror part 16 in such a state causes the intensity of interference light to gradually change on the imaging surface of the detection part, providing a waveform of an imaging intensity change (interference light intensity change) called an interferogram.例文帳に追加
このような状態で、可動ミラー部16を移動させると、検出部の結像面における干渉光の強度が徐々に変化し、インターフェログラムと呼ばれる結像強度変化(干渉光強度変化)の波形が得られる。 - 特許庁
A part of the measurement light L before incidence on the subject 20 is branched by a heterodyne interference optical system 12 and a frequency shift is given thereto by a frequency shifter 40 and is synthesized with the measurement light L from the homodyne interference optical system 11.例文帳に追加
ヘテロダイン干渉光学系12により、被検体20に入射する前の計測光Lを一部分岐し、それに周波数シフター40によって周波数シフトを与え、ホモダイン干渉光学系11からの計測光Lと合成する。 - 特許庁
A polarization interference system is composed of a light source 1 and an optical component 4, and the fluctuation of power of the light emitted from the optical component 4 due to the polarization interference is measured, and then the polarization crosstalk of the optical component 4 is calculated from the fluctuation.例文帳に追加
光源1と、光部品4とから偏波干渉系を構成し、その偏波干渉による前記光部品4の出射パワーの変動量を測定し、該変動量から前記光部品4の偏波クロストークを算出する。 - 特許庁
The transfer selectivity of the first complex reference light is made larger than that of the second complex reference light to sequentially decide the position where the first interference pattern is stored by using the second interference pattern as a servo pattern.例文帳に追加
第2干渉縞をサーボパターンとして用いて、第1干渉縞が格納されている位置を順次決定するように、第1複素参照光の移動選択度が第2複素参照参照光の移動選択度より大きくなっている。 - 特許庁
The beam splitter divides light emitted from the light source, irradiates a substrate where a pattern of an inspection object is formed and the transmittance control element, and generates interference light by superimposing signal light which is reflected light from the substrate on reference light which is reflected light from the transmittance control element.例文帳に追加
前記ビームスプリッタは、前記光源から出射された光を分割し、検査対象のパターンが形成された基体と前記透過率制御素子とに照射し、前記基体からの反射光である信号光と、前記透過率制御素子からの反射光である参照光と、を重ね合わせて干渉光を生成する。 - 特許庁
Further, the generation means 300 combines a body beam from a workpiece W with a reference beam from the reference surface in a non-interference state into a non-interference light beam.例文帳に追加
さらに、無干渉光束生成手段300は、ワークWからの物体光とリファレンス面からの参照光とを無干渉状態で合波して無干渉光束とする。 - 特許庁
The luminance of an interference fringe generated due to the use of the interference principle of a light is changed, and the luminance is used as a random number sequence.例文帳に追加
光の干渉原理の利用により生じる干渉縞の輝度を変化させ、その輝度を乱数列として用いることを特徴とする暗号化方法および暗号化装置を得た。 - 特許庁
The part 220 detects optical structure information from an interference signal detected by an interference light detecting part at the focal position predetermined by the part 230.例文帳に追加
光構造情報検出部220は、焦点位置指定部230から指定された焦点位置において干渉光検出部で検出した干渉信号から光構造情報を検出する。 - 特許庁
An interference pattern is formed by irradiating two transparent plates P1 and P2, each having a grating formed thereon, with illumination light and a wafer W is exposed by that interference pattern.例文帳に追加
照明光をそれぞれ回折格子が形成された2枚の透光性平板P1,P2に照射することによって干渉縞を形成し、この干渉縞でウエハWを露光する。 - 特許庁
To prevent the occurrence of interference fringes on a liquid crystal panel which is caused by bend of a touch panel due to a depressing force for input, to improve the luminance of a back light mechanism, and to prevent the occurrence of interference fringes on the liquid crystal panel.例文帳に追加
入力時の押圧力によりタッチパネルが撓み液晶パネルの干渉模様の発生防止及びパックライト機構の輝度向上と液晶パネルの干渉模様の発生防止。 - 特許庁
It allows a laser beam from a wavelength stabilization laser 20 to be obliquely-entered in this diffraction grating G and allows a first optical heterodyne interference device 30 to provide an optical heterodyne interference for a diffractive light.例文帳に追加
波長安定化レーザ20からのレ−ザ光をこの回折格子Gに斜め入射させ、回折光を第一光ヘテロダイン干渉装置30で光ヘテロダイン干渉させる。 - 特許庁
The laser interferometer improves a laser interferometer wherein a laser beam from a semiconductor laser is branched so as to be sent to a fixed mirror and a moving mirror, beams of return light from the respective mirrors are composited to obtain interference light and the movement distance of the moving mirror is detected on the basis of the interference light.例文帳に追加
本発明は、半導体レーザからのレーザ光を分岐して固定ミラーと可動ミラーとに送り、各ミラーからの戻り光を合成して干渉光を得て、この干渉光に基づいて可動ミラーの移動距離を検出するレーザ干渉計に改良を加えたものである。 - 特許庁
Light wavelength-scanned like a sinusoidal wave from an SWS light source device 10 is caused to enter the interferometer including a beam splitter BS1 and mirrors M1 and M2, and interference light obtained from the interferometer is photoelectric-converted by a photo diode PD1 to obtain an interference signal S(t).例文帳に追加
SWS光源装置10からの正弦波状に波長走査された光を、ビームスプリッタBS1、ミラーM1、M2からなる干渉計に入射させ、この干渉計から得られる干渉光をフォトダイオードPD1により光電変換して干渉信号S(t)を得る。 - 特許庁
In the laser pointer, a plate almost parallel with the half mirror 2 is used, reflection prevention films are formed on a face to be used for light division and on the opposite face so that light received by the light receiving element 4 has no interference fringes or the density of interference fringes is characterized by sufficiently low.例文帳に追加
さらに、当該レーザーポインターにおいて、当該ハーフミラー2にほぼ平行な平板を用い、光の分割に供する面と反対側の面に反射防止膜を施し、当該受光素子4で受ける光が干渉縞を有しない、または干渉縞の濃淡が十分に少ないことを特徴とする。 - 特許庁
Incident light causes light interference by the cyclic distribution of a refraction factor formed in a transparent body 11 by an ultrasonic wave when light is made incident in the propagation direction of the ultrasonic wave 12 of the transparent body 11, and only specific wavelength matched with an interference condition is reflected.例文帳に追加
透明体11の超音波12の伝播方向に光を入射すると、超音波によって透明体11内に形成された屈折率の周期的な分布によって入射光は光干渉を起こし、干渉条件に一致した特定の波長のみが反射される。 - 特許庁
This base material for target detection comprises a membranous substance on a base material, capable of performing interaction with the detection target, interfering with radiated light to radiate it as interference light, and capable of changing the wavelength of the interference light after an interaction with the detection target.例文帳に追加
膜状物を基材上に有してなり、検出標的と相互作用可能であり、照射された光を干渉して干渉光として放射し、前記検出標的と相互作用した後で前記干渉光の波長を変化可能である標的検出用基材。 - 特許庁
According to the provided optical path difference, mixed light of light from each branched transmission node 12 is bisected, the optical path difference of ΔL2A (ΔL2A=ΔL1A) is provided between the split lights and interference is caused by a light splitting/optical path difference imparting/interference means 22 at a reception node 14A.例文帳に追加
これに合わせて受信ノード14Aでは、光分割/光光路差付与/干渉手段22によって、分岐されてきた各送信ノード12からの光の混合光を2分割して、分割した光間に光路差ΔL2A(ΔL2A=ΔL1A)を与えて干渉させる。 - 特許庁
A fundus oculi observation system 1 comprises a calculator 213 configured to obtain intensity distribution of interference light from a result of the detection of the interference light LC, and a determining part 214 configured to determine an irradiation position of the signal light LS to the eye E from the obtained intensity distribution.例文帳に追加
眼底観察装置1は、干渉光LCの検出結果を基に干渉光の強度分布を求める干渉強度分布演算部213と、この強度分布に基づいて被検眼Eに対する信号光LSの照射位置を決定する照射位置決定部214とを有する。 - 特許庁
To significantly enhance the precision of a phase shift interference fringe simultaneous measuring apparatus by correcting an interference fringe image in measurement when the intensity of the interference fringe image is changed by the difference in incident light intensity or imaging time of an imaging device in the phase shift interference fringe simultaneous measuring apparatus.例文帳に追加
位相シフト干渉縞同時計測装置において、入射光強度や撮像装置の撮像時間の違いにより干渉縞画像の強度が変化する場合に、測定時の干渉縞画像を補正することにより、位相シフト干渉縞同時計測装置の大幅な高精度化を図ることにある。 - 特許庁
To prevent an interference by reflected light in a reflection mode and to improve the contrast in a transmission mode.例文帳に追加
反射モードにおいて反射光による干渉を防止すると共に、透過モードにおけるコントラストを向上させること。 - 特許庁
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