「limit test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

Heavy Metals Limit Test例文帳に追加

重金属試験法 - 厚生労働省

Microbial Limit Test例文帳に追加

微生物限度試験法 - 厚生労働省

This test doesn't have a time limit. 例文帳に追加

このテストに時間制限はありません。 - Tanaka Corpus

This test doesn't have a time limit.例文帳に追加

このテストに時間制限はありません。 - Tatoeba例文

A control unit transmits a test instruction to a limit switch, the test instruction triggers an electronic self-test in the limit switch and the control unit monitors the result of the self-test.例文帳に追加

制御ユニットはテスト命令を限界スイッチに送信し、該テスト命令は限界スイッチで電子的自己テストをトリガし、該自己テストの結果を制御ユニットが監視する。 - 特許庁

DOG ENGAGEMENT STRUCTURE IN LIMIT SWITCH MECHANISM OF LOAD TEST MACHINE例文帳に追加

荷重試験機のリミットスイッチ機構におけるドグの係合構造 - 特許庁

The test results shall be recorded to 2 significant figures. In cases where the results are below the detection limit, record the test result with the detection limit, e.g., as <20 Bq/kg.例文帳に追加

検査結果は、有効数字２桁で記載する。ND となった場合には検出限界を明記し<20 Bq/kgのように記載する。 - 厚生労働省

At S12, a test is conducted to confirm whether or not a high-limit switch is off and the fryer controller indicates an unusual high-limit.例文帳に追加

ここで、ハイリミットスイッチがＯＦＦとなり、フライコンの表示がハイリミット異常となることをテストする。 - 特許庁

To control a docking position of a test head by a plurality of position limit switches provided on the test head.例文帳に追加

テストヘッドのドッキング位置をテストヘッドに設けられた複数のポジションリミットスイッチで制御する。 - 特許庁

To provide a test conducting server enabling a testee to download test questions at any desired time and take a test keeping to the fixed time- limit.例文帳に追加

受験者が好きな時にいつでも試験問題を自分のコンピュータにダウンロードして、決められた試験時間を守って受験することができる試験実施サーバを提供する。 - 特許庁

The upper limit value and the lower limit value of dispersion of the Weibull slope, corresponding to a Weibull slope of the test result, are read from the comparison data group 72 (means 75).例文帳に追加

比較データ群７２から、試験結果のワイブルスロープに対応するワイブルスロープのばらつきの上限値および下限値を読み取る（手段７５）。 - 特許庁

A controller is coupled to receive the test signal and to perform a protective action when the test signal exceeds a predetermined limit.例文帳に追加

制御装置は、テスト信号を受信するように接続され、テスト信号が事前に設定された限界値を超えると保護動作を実行する。 - 特許庁

An overlapping range, between the upper limit value and the lower limit value of the dispersion of the Weibull slope, is determined, and the upper limit value and the lower limit value of the overlapping range are determined, as a range of the Weibull slope estimated from the test result, to thereby perform narrowing procedure (means 76).例文帳に追加

ワイブルスロープのばらつきの上限値と下限値間の重複範囲を求めて、その重複範囲の上限値と下限値とを、試験結果から見積られるワイブルスロープの範囲として定める絞り込む（手段７６）。 - 特許庁

To extract threshold value test items (test path) with high correctness including an upper limit value, a vicinity value, and an abnormal value, and only items sufficiently needed for threshold value test in the early stage of development.例文帳に追加

正当性が高く、上限値、近傍値、異常値を含む限界値テスト項目（テスト経路）、また、限界値テスト用に十分必要なテスト項目のみを、開発段階の早期に抽出する。 - 特許庁

A tester processor 10 expands a test range by the portion of the resolution of a measurement, and it sets a pass value and a fail value which correspond respectively to its upper limit and its lower limit.例文帳に追加

テスタプロセッサ１０は、試験範囲を測定の分解能分広げた後に、その上限と下限のそれぞれに対応したパス値とフェイル値をセットする。 - 特許庁

An intermediate value of an upper limit and a lower limit of the delay time by which a correct test data pattern is obtained is set in the delay time of the variable delay elements 134, 144.例文帳に追加

正しい試験データパターンが得られた遅延時間の上限及び下限の中間値を、可変遅延素子１３４、１４４の遅延時間に設定する。 - 特許庁

To provide a novel test writing method for making recording laser power follow a substantially intermediate part of a limit value of cross erasure suppression and a limit value of writing error suppression.例文帳に追加

記録レーザパワーをクロスイレーズ抑制の限界値と書き込みエラー抑制の限界値の中間近傍に追従させる新たなテストライトの手法を提供する。 - 特許庁

Further, whether a limit time (e.g., one hour) has elapsed from the start of test run is determined (step S108).例文帳に追加

さらに、試運転開始から制限時間（例えば1時間）を経過したかが判定される（ステップＳ１０８）。 - 特許庁

Concretely, the reset limit circuit limits current quantity for setting the word line to the reset level during a test.例文帳に追加

具体的には、リセット制限回路はテスト時にワード線をリセットレベルにするための電流量を制限する。 - 特許庁

When the concentration of the compound in the sample exceeds the solubility limit, particles of the test compound precipitate.例文帳に追加

試料中の化合物の濃度が溶解度限界を超える場合、試験化合物の粒子が沈殿する。 - 特許庁

To provide a method for simply estimating limit sliding speed and a limit PV value of a one-side intermittent slide from limit PV values of a bicontinuous slide measured by a combination of hollow cylinder test pieces.例文帳に追加

、中空円筒試験片同士の組合せで測定された両連続摺動の限界PV値から片側間欠摺動の限界すべり速度および限界PV値を簡便に推算する方法を提供する。 - 特許庁

If discrimination at S7 shows that it's on a high-limit test, S10 determines whether temperature of a thermostat is higher than a temperature set for the test directed by a fryer controller.例文帳に追加

Ｓ７の判別でハイリミットテスト中であれば、Ｓ１０で、サーミスタの温度がフライコンから指示されたテスト用の設定温度以上か否かが判別される。 - 特許庁

When a user selects the displayed load test to apply for participation in the test, the test management server 3 receives the participation application in the order of receipt until the number of participants reaches the upper limit of a range of the number of participants necessary for the load test, and registers the users in a test registrant management database 38.例文帳に追加

表示されている負荷テストをユーザが選択して参加申し込みをすると、テスト管理サーバ３は、当該負荷テストに必要な参加者数レンジの範囲の上限に至るまで、先着順に参加申込を受け付けて、テスト登録者管理データベース３８に登録する。 - 特許庁

By this method, a group delay within the limit of fixed offset of device under test and chromatic dispersion can be obtained.例文帳に追加

これにより、被測定デバイスの一定オフセットの範囲内までの群遅延と、色分散とを求めることができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory capable of setting an optional upper limit value of the number of error correction times when a test is performed.例文帳に追加

試験時にエラー訂正回数の上限値を任意に設定可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a controlling method thereof capable of executing a performance limit test for a tRP period.例文帳に追加

ｔＲＰ期間の性能限界試験を実行可能な半導体装置及びその制御方法を提供する。 - 特許庁

The testing program includes a category weighting table 25 having a statistic weighting ratio, reference weighting ratio, an upper limit value and a lower limit value, which are set to each category obtained by classifying test cases.例文帳に追加

テストケースを分類したカテゴリに対して、統計重み付け比率、基準重み付け比率、上限値、下限値が設定されたカテゴリ重み付けテーブル２５を設けた。 - 特許庁

The image forming apparatus is also equipped with a setting means for setting a gain of an analog-digital conversion means such as an AFE to an upper limit value or a lower limit value at the test mode.例文帳に追加

また、この上限値が設定された場合と下限値が設定された場合とで、デジタル画像信号が不変であるビットを検出する手段を設ける。 - 特許庁

Since the limit region exists, when test data are recorded from the inner peripheral side to the outer peripheral side, the test data are never written outside the outermost peripheral cylinder [Max].例文帳に追加

限界領域が存在するので試験データを内周側から外周側に記録してゆくとき、試験データが最外周シリンダ［Max］より外側に書き込まれることはない。 - 特許庁

To provide a random number test circuit having no limit on a total number of a random number necessary for test, and preventing increase of a circuit scale even if handling a large number of data necessary for the test to allow miniaturization.例文帳に追加

検定に必要な乱数の総数に制限がなく、多量の検定に必要なデータ数を扱ったとしても回路規模が増大せず、小型化が可能な乱数検定回路を提供することを可能にする。 - 特許庁

To provide a method for estimating the limit breaking load of a spot welded part in a new test condition or an actual member.例文帳に追加

新たな試験条件あるいは実部材でのスポット溶接部の破断限界荷重の推定方法を提供すること。 - 特許庁

To select a mode and to evaluate the limit of the operation of an internal circuit only with a testing source voltage applied in test mode.例文帳に追加

テストモード時に印加するテスト用電源電圧だけでモード選択と内部回路の動作限界評価を可能にする。 - 特許庁

The docking position and height of the test head are automatically controlled by the plurality of the position limit switches and one down limit switche operated by engaging and disengaging sensitive projections provided on the test head and sensitive holes formed in a probe card.例文帳に追加

テストヘッドに設けられた感知突起とプローブカードに形成された感知ホールが相互に着脱されることによって作動する複数個のポジションリミットスイッチと一つのダウンリミットスイッチでテストヘッドのドッキング位置および高さを自動的に制御する。 - 特許庁

If the switch device is drawn in a test position, the interlock contact S1 is turned on, the position limit switch LS3 is turned off, and an test position indicating lamp R4 is turned on.例文帳に追加

一方、開閉機器が引き出されて試験位置にある場合は、インターロック接点Ｓ１はオンとなるが位置リミットスイッチＬＳ３はオフなので、試験位置表示ランプＲ４が点灯する。 - 特許庁

A current value of each power source is detected from each power source circuit 11a, 12a, etc., from comparators 11d, 12d, etc., during the test, and compared with each limit value, and it is determined whether the current value exceeds a limit value or not.例文帳に追加

試験中にコンパレータ１１ｄ、１２ｄ，・・・により電源回路１１ａ、１２ａ，・・・から電源の電流値を検出して各リミット値と比較しリミット値を超えているか否かを判定する。 - 特許庁

To execute reliable and accurate non-destructive test in real time even in a limit environment.例文帳に追加

この発明は、極限環境においても、リアルタイムで、信頼性の高い高精度な非破壊試験の実施を実現し得るようにすることにある。 - 特許庁

This management table 35 compares a bad block allowable total number optionally set to a bad block allowable total number value setting register with the total number of the bad blocks of the test which a bad block total number counter counts, and when a counter value reaches the allowable limit, a flag of upper limit of the bad blocks is set and the test failure is determined.例文帳に追加

この管理テーブル３５は、バッドブロック総数許容値設定レジスタに任意に設定されたバッドブロック総数の許容値とバッドブロック総数カウンタによりカウントされるテストのバッドブロックの総数とを比較し、カウンタ値が許容値に達した際にバッドブロック数上限フラグを立てテストフェイルとする。 - 特許庁

Regarding n pieces of test pieces, the minimum value of X found by Expression (1) is used as a fracture limit parameter, and it is evaluated that the delayed fracture is not generated when the value of X under the usage condition is less than the fracture limit parameter.例文帳に追加

ｎ本の試験片について、式（１）より求めたＸの最小値を破壊限界パラメータとし、使用条件におけるＸの値が、破壊限界パラメータ未満であれば遅れ破壊を発生しないと評価する。 - 特許庁

Also, when the concentration of the explosive substance in the test room 10 exceeds the specified ratio of the explosion lower limit of the explosive substance, the supply of a power into the test room 10 is stopped excluding powers to supply/exhaust means 34 and 36 in the test room 10.例文帳に追加

また、試験室１０内における爆発性物質の濃度が、爆発性物質の爆発限界下限の一定割合を越えた場合には、試験室１０の給排気手段３４，３６に対する電力の供給を除いて、試験室１０内への電力の供給を停止する。 - 特許庁

This system comprises first resistance specification test circuits 108, 300, 400 which are connected to bit lines of a memory array 102, test resistance of each memory cell 310, 410 in the memory array 102, and decide whether the resistance is in a range of the highest limit and the lowest limit or not.例文帳に追加

メモリアレイ１０２のビット線に連結し、メモリアレイ１０２内の各メモリセル３１０、４１０の抵抗を試験し、その抵抗が所定の上限および下限内にあるか否かを決定する第１の抵抗仕様試験回路１０８、３００、４００を含んでいる磁気抵抗メモリアレイ集積回路用の組み込み自己試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a method for assessing fatigue-limit surface pressure of a bearing material for a wheel that assesses the fatigue-limit surface pressure of a rolling contact metallic material, such as, steel for rolling bearing based on the result of a fatigue test of short time.例文帳に追加

短期間の疲労試験の結果から、転がり軸受用鋼等の転がり接触する金属材料の疲労限面圧を精度良く推定することができる車輪用軸受材料の疲労限面圧の推定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for estimating the fatigue limit surface pressure of a rolling contact metal material capable of precisely estimating the fatigue limit surface pressure of the rolling contact metal material such as rolling bearing steel or the like from the result of a short-term fatigue test.例文帳に追加

短期間の疲労試験の結果から、転がり軸受用鋼等の転がり接触する金属材料の疲労限面圧を精度良く推定することができる転がり接触金属材料の疲労限面圧の推定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for estimating the fatigue limit surface pressure of a rolling bearing material for an airplane capable of precisely estimating the fatigue limit surface pressure of the rolling contact metal material such as rolling bearing steel or the like from the result of a short-term fatigue test.例文帳に追加

短期間の疲労試験の結果から、転がり軸受用鋼等の転がり接触する金属材料の疲労限面圧を精度良く推定することができる航空機用転がり軸受材料の疲労限面圧の推定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for estimating the fatigue limit surface pressure of a rolling bearing material for a railroad vehicle capable of precisely estimating the fatigue limit surface pressure of the rolling contact metal material such as rolling bearing steel or the like from the result of a short-term fatigue test.例文帳に追加

短期間の疲労試験の結果から、転がり軸受用鋼等の転がり接触する金属材料の疲労限面圧を精度良く推定することができる鉄道車両用転がり軸受材料の疲労限面圧の推定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for estimating the fatigue limit surface pressure of a light load condition rolling bearing material capable of precisely estimating the fatigue limit surface pressure of a rolling contact metal material such as rolling bearing steel or the like from the result of a short-term fatigue test.例文帳に追加

短期間の疲労試験の結果から、転がり軸受用鋼等の転がり接触する金属材料の疲労限面圧を精度良く推定することができる軽負荷条件転がり軸受材料の疲労限面圧の推定方法を提供する。 - 特許庁