「microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(146ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a microscope capable of realizing the high-speed switching of the wavelength of light irradiated to a sample and illumination with little uneveness, and acquiring an image sufficiently utilizing the dynamic range of an imaging apparatus.例文帳に追加

標本に照射する光の波長の高速での切り換えとムラの少ない照明と撮像装置のダイナミックレンジを十分に活用した画像取得とが可能な顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope that stably and easily holds specimen placing members of various shapes and enables a specimen placed on each specimen placing member to be satisfactorily observed.例文帳に追加

種々の形状を有する標本載置部材を安定して、かつ簡単に保持することができ、標本載置部材に載置された標本を良好に観察することができる顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a test piece observation method capable of allocating an observation field of vision selectively to a portion required for observation of the test piece that is an observation object, and to provide an electron microscope.例文帳に追加

本発明は、観察対象となる試料の観察に要する個所に対し、選択的に観察視野を割り当てることが可能な試料観察方法、及び電子顕微鏡の提供を目的とする。 - 特許庁

A light wave interference device 50 for detecting the moving amount ΔL of a stage 22 or an objective lens 23 is assembled in the microscope device whose focusing is performed by moving the stage 22 or the lens 23 up and down.例文帳に追加

ステージ２２又は対物レンズ２３を上下動させて焦準を行う顕微鏡装置に、ステージ２２又は対物レンズ２３の移動量ΔＬを検出するための光波干渉計５０を組み込んだ。 - 特許庁

To provide a video type microscope which is capable of suppressing formation of bright points which are light source images within the image of a subject photographed in photographing a subject having a smooth surface.例文帳に追加

滑らかな表面を有する被写体を撮影する際に、撮影された被写体の画像内に光源像である輝点が形成されることを抑制可能なビデオ型顕微鏡を、提供する。 - 特許庁

Semiconductor ultrafine particles having reinforced compatibility with the specific phase in a phase separation system are allowed to coexist in the phase separation system, and the semiconductor ultrafine particles are detected by a confocal microscope.例文帳に追加

相分離系における特定の相への相溶性が増強された半導体超微粒子を該相分離系に共存せしめ、共焦点顕微鏡により該半導体超微粒子を検出する。 - 特許庁

To provide a method capable of performing observation of an arbitrary sample or detection of charge-up at a measuring section in a scanning electron microscope without requiring modification of a hardware.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡において任意のサンプルの観察あるいは測定部位におけるチャージアップの検出を、ハードウェアの改造を必要とせずに、実施できる方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The scanning laser microscope 100 is further equipped with an X-Y fine focus adjustment stage 135 for moving the confocal pinhole 133 in a direction nearly orthogonal with the optical axis of the detecting optical system C.例文帳に追加

走査型レーザー顕微鏡１００は、さらに、共焦点ピンホール１３３を検出光学系Ｃの光軸にほぼ直交する方向に移動させるためのＸＹ微動ステージ１３５を備えている。 - 特許庁

To provide an X-ray analysis apparatus, capable of surely observing a sample and performing desired X-ray analysis even when the sample cannot be observed easily with an ordinary optical microscope.例文帳に追加

通常の光学顕微鏡によっては観察しにくい試料であっても、これを確実に観察することができ、所望のＸ線分析を行うことができるＸ線分析装置を提供すること。 - 特許庁

The microscope includes at least two objective lenses and the image forming lens.例文帳に追加

試料から生じる蛍光を受光する対物レンズと、この対物レンズを通った光を結像する結像レンズを有する顕微鏡において、前記顕微鏡は少なくとも２組の対物レンズおよび結像レンズを備えている。 - 特許庁

The invention is characterized by constituting the electron gun, the electron microscope and the electron beam drawing device by using each electron beam emission element.例文帳に追加

また、先端部に閉構造領域を有するカーボンナノチューブであって、閉構造領域に存在する五員環を頂点とする頂角を７０°以上のものを用いて電子線放出素子とすることを特徴とする。 - 特許庁

In this way, since a transmission electron image is obtained by the electron beam scanning at searching for the visual field as for this invention of the electron microscope, the magnetized state remains unchanged from searching for the visual field up to the photographing time.例文帳に追加

このように、本発明の電子顕微鏡においては、視野探しの時に電子線を走査させて透過電子像を得ており、視野探しから撮影にかけて集束レンズの励磁状態は変化しない。 - 特許庁

The probe 1 of a probe microscope made of a carbon nanotube is put directly above the defect 2 to be repaired and pulse voltage is applied to the probe to form a carbon-containing film 4 directly below the probe.例文帳に追加

カーボンナノチューブでできたプローブ顕微鏡の探針1を修正しようとする欠陥2の直上に持って行き、探針にパルス電圧をかけて探針直下にカーボン含有膜4を生成する。 - 特許庁

To provide an ultrahigh vacuum scanning probe microscope capable of performing in situ observation with an atomic-level resolution of a surface structure, while applying a stress to a sample in ultrahigh vacuum.例文帳に追加

超高真空中において試料に応力を印加しながらその表面構造の原子レベルの分解能でのその場観察を行うことができる超高真空走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To realize a transmission electronic microscope which can prevent beams having large energy density from entering into the light receiving surface of a camera when it is changed from an enlarged image observation mode into a diffraction image observation mode.例文帳に追加

拡大像観察モードから回折像観察モードに切り替わった場合にエネルギ密度が大きなビームがカメラの受光面に入射することを防止しうる透過電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide a surface observation method using a scanning probe atomic force microscope capable of observing various differences of the surface state, especially the difference of hydrophobicity or hydrophilicity of the surface.例文帳に追加

表面状態の種々の相違、特に表面の疎水性あるいは親水性の差を観察することができる走査プローブ原子間力顕微鏡を用いた表面の観察方法を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection device and its method capable of simultaneously performing macro inspection by visual observation and micro inspection with a microscope for a substrate on a stage part rotated to an optional inclination angle.例文帳に追加

任意の傾斜角度に回動させたステージ部上の基板に対し、目視によるマクロ検査と顕微鏡によるミクロ検査を同時に行える外観検査装置及び外観検査方法を提供する。 - 特許庁

The real-time rapid and accurate evaluation and measurement of the durability of the bacterial spore can be carried out by measuring the hardness of the spore by an interatomic force microscope or the like equipped with a cantilever.例文帳に追加

カンチレバーを装備する原子間力顕微鏡等により、芽胞の硬度を測定することにより、リアルタイムで迅速かつ正確な細菌芽胞の耐久性の評価・測定を行なうことができる。 - 特許庁

The microscopic image of a substantially wide visual field is obtained by photographing respective scenes by moving the microscope on the XY plane by fixing a preparation to the camera, and compositing and displaying the same.例文帳に追加

カメラにプレパラートを固定して顕微鏡の方をＸＹ面上を移動させるようにして各場面を撮影し、それを合成表示する事で実質的な広い視野の顕微鏡画像を得るようにした。 - 特許庁

To properly offset external disturbance by correcting deflection of a primary electron without impairing original operability of a scanning electron microscope even when changing a converging condition of an electron lens.例文帳に追加

電子レンズの収束条件を変化させた場合にも，走査電子顕微鏡本来の操作性を損なうことなく一次電子の偏向を補正して外部擾乱の相殺が適切に行えることを目的とする。 - 特許庁

Specially, when the semiconductor layer is silicon, the defect is evaluated with the microscope of the confocal optical system after etching process with the process liquid of ammonia water and hydrogen peroxide water to remove a part of the semiconductor layer.例文帳に追加

特に半導体層がシリコンであれば、アンモニア水、過酸化水素水よりなる処理液でエッチング処理し、半導体層の一部を除去した後、コンフォーカル光学系のレーザ顕微鏡で評価する。 - 特許庁

The selectively activated convex surface provides an activated region having an adhesive characteristic, when activated (typically using a laser passed through an optical path in the microscope).例文帳に追加

この選択的に活性化された凸状表面は、活性化された場合（典型的には、顕微鏡における光学光路を通るレーザを用いて）、接着特性を有する活性化された領域を提供する。 - 特許庁

To provide a sample observation method and a microscope capable of observing a sample containing photochromic molecules with super resolution, by surely inducing fluorescence suppress; effects, without generating residual fluorescent components.例文帳に追加

フォトクロミック分子を含む試料を、蛍光抑制効果を確実に誘起して、残留蛍光成分を生じることなく超解像で観察できる試料観察方法および顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In order to solve the problems, the scanning electron microscope is proposed that is equipped with a function in which device conditions are monitored based on information obtained in a state that electron beam does not reach a sample.例文帳に追加

上記課題を解決するために、電子ビームを試料に到達させない状態で、得られた情報に基づいて、装置コンディションをモニタする機能を備えた走査電子顕微鏡を提案する。 - 特許庁

In the evaluation of the image resolution of a microscope, since subjectivity of the evaluator is not included, high accuracy and good reproducibility of the evaluation value of the image resolution can be obtained.例文帳に追加

このような構成によれば、顕微鏡の像分解能の評価において、評価者の主観が入り込まないので、像分解能の評価値に対して高い精度と良い再現性を達成できる。 - 特許庁

The substrate for reaction chip is composed of an organic polymer, which reduces the relative fluorescence intensity of visible light transmitted through a slide glass for fluorescence microscope to 10 or smaller, when fluorescence spectra are measured.例文帳に追加

蛍光スペクトルを測定したとき、蛍光顕微鏡用スライドガラスに対する可視光における相対蛍光強度が１０以下であることを特徴とする有機系高分子からなる反応チップ用基板。 - 特許庁

To provide a confocal scanning type microscope which can easily acquire an observation picture focused on an observation target part, and in which reproducibility in measurement using the observation picture is improved.例文帳に追加

観察対象部で焦点の合った観察画像を容易に取得可能で、また観察画像を用いた計測での再現性を向上させた共焦点走査型顕微鏡を提供することを課題とする。 - 特許庁

To enable a scanning capacitance microscope dopant profile measurement or an electron beam holography dopant profile measurement for a cross section of a thin piece cut from a desired region in a semiconductor device by a focused ion beam apparatus.例文帳に追加

半導体デバイスの所望領域から集束イオンビーム装置で切り出した薄片の断面の、走査キャパシタンス顕微鏡ドーパントプロファイル測定もしくは電子線ホログラフィードーパントプロファイル測定を可能にする。 - 特許庁

To provide a negative resist composition which retains solubility in an alkali developer while improving dry etching resistance and resistance to an electron beam from a scanning electron microscope (SEM).例文帳に追加

ドライエッチング耐性および走査電子顕微鏡（ＳＥＭ）による電子線への耐性を向上させるとともにアルカリ現像液に対する溶解性を維持したネガ型レジスト組成物を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a compact and inexpensive multiphoton-excitation laser scanning microscope for observing multiphoton fluorescence having a plurality of wavelengths by irradiating a specimen with ultrashort pulsed laser light having a plurality of wavelengths.例文帳に追加

複数波長の超短パルスレーザ光を標本に照射して、複数波長の多光子蛍光を観察することができる、小型で、しかも、コストの低い多光子励起走査型レーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Alternatively, an inert gas can be injected into the scanning electron microscope at the point where the electron beam impinges the specimen to neutralize a charge build-up on the specimen by the ionization of the inert gas by the electron beam.例文帳に追加

あるいは、非活性ガスは、電子ビームが標本に当たる点で走査電子顕微鏡に注入されて、電子ビームによる不活性ガスのイオン化によって標本上の電荷蓄積を中和化し得る。 - 特許庁

To provide an electron gun capable of improving accuracy and reliability of a device by stabilizing an electron source in an electron beam application device such as a scanning electron microscope and an electron beam lithography device.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡や電子線描画装置など、電子線応用装置において、電子源の安定化を図り、装置の精度および信頼性を向上させる電子銃を提供する。 - 特許庁

A scanning type laser microscope 2 has irradiation means which irradiates the top of a sample 38 with a beam emitted from a light source 4 through an objective lens 34 and generates fluorescence from the sample 38.例文帳に追加

走査型のレーザー顕微鏡２は、光源４から出射したビームを対物レンズ３４を介して標本３８上に照射して、この標本３８から蛍光を発生させる照射手段を有する。 - 特許庁

To provide a microscope device, fit for the purpose of presentation of a lock-in free detection method and simultaneous detection of various vibration modes, that utilizes coherent anti-Stokes Raman scattering method.例文帳に追加

コヒーレントアンチストークスラマン散乱法を利用する顕微鏡装置において、ロックインフリーな検出方法を提示し、かつ多種の振動モードを同時検出する目的に適った顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope for laser welding, capable of protecting eyes from an intense light, such as flashes and plasma generated during laser welding, and confirming a welding part with naked eyes by magnifying it in real time.例文帳に追加

レーザー溶接時に発生する閃光，プラズマなどの強力な光から目を保護すると共にリアルタイムで溶接部位を拡大して肉眼で確認できるレーザー溶接用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a focus maintenance device capable of detecting AF light only even when a wavelength of AF light is overlapped with wavelengths of signal light and illumination light and a microscope apparatus having the focus maintenance device.例文帳に追加

ＡＦ光の波長が信号光・照明光の波長と重複しても、ＡＦ光のみを検出できる焦点維持装置、及び、この焦点維持装置を有する顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

In the evaluation method for the SOI wafer where the semiconductor layer, an insulation layer, and a supporting substrate are formed in sequence, a defect in the semiconductor layer is actualized and evaluated with the laser microscope of a confocal optical system.例文帳に追加

半導体層、絶縁層、支持基板が順次形成されたＳＯＩウエーハの評価方法であって、半導体層に存在する欠陥を顕在化させ、コンフォーカル光学系のレーザ顕微鏡で評価する。 - 特許庁

To provide a method appropriate for wafer edge observation using an electron microscope for investigating generation factors of foreign substances or the like, when these foreign substances or defects are discovered in wafer inspection.例文帳に追加

ウェハ検査において異物や欠陥を見つけた場合に、これら異物等の発生原因を探求するための電子顕微鏡を用いたウェハエッジ観察に関する好適な方法を提供する。 - 特許庁

By the above mechanism, a processing by using an ion beam, and observation of secondary electron image in optional direction through an electron microscope are made possible without taking out a fine piece of sample from the sample stand.例文帳に追加

このような構成によれば、微小試料片を試料台から取り外すことなく、イオンビームによる加工および任意の方向からの二次電子像および電子顕微鏡観察が可能となる。 - 特許庁

The scanning electron microscope 1 is provided with electron guns 3A, 3B, and electron beam B_1 emitted from the electron gun 3A has a higher energy than the electron beam B_2 emitted from the electron gun 3B.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡１は電子銃３Ａ，３Ｂを備え、電子銃３Ａから放出される電子ビームＢ_１は、電子銃３Ｂから放出される電子ビームＢ_２よりも高いエネルギーを有している。 - 特許庁

To provide an observation technology by a phase retrieval type electron microscope, making the intensity distribution of a parallel electron beam with a microscopic diameter in measuring a real image and an electron diffraction pattern bright and uniform.例文帳に追加

実像と電子回折像を測定する際の微小径かつ平行な電子線を、明るくかつ均一な強度分布にする位相回復方式の電子顕微鏡による観察技術を提供する。 - 特許庁

To apply thin film processing by the other pre-processing method on a sample processed by a focused ion beam processing method or the like, and to observe and analyze it as it is by an electron microscope.例文帳に追加

本発明の目的は、集束イオンビーム加工法などにより加工した試料をさらに他の前処理法で薄膜加工し、そのまま電子顕微鏡により観察および分析することにある。 - 特許庁

To obtain a photoemission electron microscope of which position alignment of an analysis portion and a photoelectron observation portion by an Auger electron spectral analysis on the test piece for obtaining a photoelectron observation image with high resolution is easy.例文帳に追加

分解能の高い光電子観察画像を得るために、試料上で、オージェ電子分光分析による分析部位と光電子観測部位との位置合わせが容易な光電子顕微鏡装置を得る。 - 特許庁

The compound adheres spontaneously and irreversibly to DNA in an aqueous medium, and the marked DNA can be detected by means of a fluorescence microscope or known staining techniques.例文帳に追加

水溶性媒質中でこれらの化合物は自然に又は不可逆的にＤＮＡに吸着し、この標識されたＤＮＡは蛍光顕微鏡で、あるいは周知の染色法などで検出される。 - 特許庁

To produce a scanning tunnel microscope(STM) probe preventing the contamination of a probe and using the function of STM without improving an STM device to obtain high resolving power.例文帳に追加

探針の汚染を防ぎ、ＳＴＭ装置に改良を加えることなく、ＳＴＭの機能を使用して、しかも、高い分解能を得ることができる走査トンネル顕微鏡探針の作製方法を提供する。 - 特許庁