「microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(150ページ目) - Weblio英語例文検索

To confirm the state of a sample in a reaction process of decomposition or synthesis with a stable quality picture at a high frame rate on a real time basis and to perform fluorescence observation in a centrifugal microscope.例文帳に追加

遠心顕微鏡において、分離あるいは合成の反応過程におけるサンプルの状態を高フレームレートで安定した画質の映像でリアルタイムに確認することが可能であると共に、蛍光観察を可能とする。 - 特許庁

To provide a method for evaluating feature values such as the area, width, and height of the whole part or specific part of an SEM image(scanning electron microscope image) to be inspected without generating the fluctuation of evaluation.例文帳に追加

検査対象のＳＥＭ像（電子顕微鏡画像）に基づいて、その全体または特定部分の面積や幅、高さなどの特徴量を評価する評価方法で、評価にバラツキが発生しない方法を提供する。 - 特許庁

The electron microscope is provided with a sample table 33 to mount a sample on it, and an electron beam imaging part in order to irradiate an electron beam on the sample mounted on the sample table 33, and to form an electron beam observation image.例文帳に追加

電子顕微鏡は、試料を裁置する試料台３３と、試料台３３に裁置された試料に対して電子線を照射し電子線観察像を結像するための電子線撮像部とを備える。 - 特許庁

To provide a laser microscope which efficiently makes multi-photon excited fluorescence obtainable in spite of attenuation of a laser beam and permits fluorescent observation by lowering laser beam intensity so as not to damage living cells.例文帳に追加

レーザ光を減衰しても効率的に多光子励起蛍光を得ることができ、生細胞にダメージを与えないようにレーザ光強度を落として蛍光観察をおこなうことが可能なレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

By using polyacrylamide as coating composition for microscope slide glass, hydrophilic property and close contact with the pathologic tissue and the cell on the surface of the slide glass is maintained, and the collateral stain is prevented or suppressed at the PAM staining.例文帳に追加

ポリアクリルアミドを顕微鏡スライドグラス用のコーティング組成物に使用することでスライドグラス表面の親水性、病理組織・細胞との密着性を保持しながらＰＡＭ染色時の共染防止ないし抑制する。 - 特許庁

To provide a minute object preparing method and device, capable of manufacturing minute objects by coupling together two members in the correct positional relationship such as a nano-tube probe, while enlarging image photographing takes place in an electron microscope device.例文帳に追加

電子顕微鏡装置内で拡大撮像しながら、ナノチューブプローブ等のように、２部材を正しい位置関係で相互に結合して微小物を製造できる微小物作成方法とその装置を開発する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of well measuring the surfaces of various samples different in properties, for example, a sample minute in difference in level and a sample large in difference in level.例文帳に追加

種々の性質の異なる試料、例えば段差の微小な試料に対しても、また段差の大きな試料に対しても、それらの試料表面を良好に測定できる走査型プローブ顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

The laser scanning type microscope is provided with a laser beam source to oscillate a laser beam, an objective lens 100 to condense the laser beam on a specimen 101, and a laser scanning means 102 to scan the condensed laser beam.例文帳に追加

レーザ走査型顕微鏡は、レーザ光を発振するレーザ光源と、このレーザ光を試料１０１に集光する対物レンズ１００と、集光されるレーザ光を走査するレーザ走査手段１０２とを備えている。 - 特許庁

To provide a cover glass for a total reflection illuminating fluorescence microscope, through which the pulling capacity of an ameba in ameboid movement and the motion of motor protein in a cell can be visualized simultaneously.例文帳に追加

本発明は、アメーバ運動におけるアメーバの牽引力と細胞内におけるモーターたん白質の動きを同時に視認することを可能にした全反射照明蛍光顕微鏡用のカバーガラスを提供するものである。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope which can switch in a simple operation a low vacuum secondary electron detection to other detections like a reflector electron detection without exposing a test piece chamber to an atmosphere.例文帳に追加

試料チャンバを大気開放することなく、低真空二次電子検出とそのほかの例えば反射電子検出等との切り換えを簡便な操作で以て行うことができる走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In the electron microscope applying a phase retrieval method, an image size decided by a pixel size p of a diffraction image, a camera length L, and a wavelength λ of irradiation beams and a sample irradiation area are set to have a constant relation.例文帳に追加

位相回復法を適用した電子顕微鏡等において、回折像の画素サイズｐ、カメラ長L、照射ビームの波長λにより決まる画像サイズと試料照射領域が一定関係になるようにする。 - 特許庁

A microscope system 200 comprises: a He ion source; a first lens 216; axis adjusting deflectors 220 and 222; a diaphragm 224; scanning deflectors 219 and 221; an ion optical device 130 including a second lens 226; and a sample chamber.例文帳に追加

顕微鏡システム２００は、Ｈｅイオン源、第一レンズ２１６、軸合せ偏向器２２０及び２２２、絞り２２４、走査偏向器２１９及び２２１、第二レンズ２２６を含むイオン光学機器１３０、並びに試料室を有する。 - 特許庁

To satisfy a problem required so as to inexpensively and easily measure zeta potential using a microscope coming into general use for the purpose of utilizing zeta potential increased in importance by accompanying the development of surface science.例文帳に追加

界面科学の発展に伴い重要性を増しているゼータ電位の利用のため、ゼータ電位測定を、一般に普及している顕微鏡を使用し、安価に且つ手軽に測定できるようにすることが求められている。 - 特許庁

A photoirradiation heating means for irradiating the sample with IR light from a horizontal direction to a sample is arranged within a heat treatment unit 4 arranged on a state of an optical microscope 1 for observing the sample from above.例文帳に追加

試料を上方から観察する光学顕微鏡１の載置台上に配置された熱処理ユニット４内には、水平方向から試料に対して赤外光照射を行なう光照射加熱手段が配置されている。 - 特許庁

To provide a confocal microscope capable of obtaining a confocal effect in all the directions in an observation image field by using a multi-pinhole array as an optical filtering element for obtaining the confocal effect.例文帳に追加

共焦点効果を得るための光学的フィルタリング素子としてマルチピンホールアレイを使用することにより、観察像面内のすべての方向について共焦点効果を得られる共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Then, by comparing the maximum contrast evaluation value for a pixel having the same position in each microscope image with the threshold for each pixel, an error region composed of pixels having the maximum contrast evaluation value lower than the threshold is extracted.例文帳に追加

そして、各顕微鏡画像での位置が同一である画素についての最大コントラスト評価値と該閾値とを画素毎に比較し、最大コントラスト評価値が閾値よりも低い画素で構成されるエラー領域を抽出する。 - 特許庁

Since illumination light reaches a ceramic substrate 12a in an uppermost layer through the groove 19, a shadow boundary X' by an outer circumferential edge X of the ceramic substrate 12a in an uppermost layer can be observed by an optical microscope.例文帳に追加

照明光は溝１９を通って最上層のセラミック基板１２ａに達するから、光学顕微鏡で最上層のセラミック基板１２ａの外周縁Ｘによる陰影境界線Ｘ’を観察することができる。 - 特許庁

To provide an inspection device and method using a scanning electron microscope which detects an highly accurate electron beam image and excludes limitation of an AD conversion element for a low sampling rate as a subject matter.例文帳に追加

高精度の電子線画像を検出すると同時に、その際問題となる低サンプリングレートに対するＡＤ変換素子の制約を排除した走査電子顕微鏡を用いた検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁

The camera port 50 is provided on an upper part of a microscope body 32 on the opposite side to the side on which the eye lens 39 is held as viewed from the optical axial direction of the light entering the lens barrel 38.例文帳に追加

そして、カメラポート５０は、鏡筒３８に入射する光軸の軸方向から見て、接眼レンズ３９が保持されている方向に対して反対側であって、顕微鏡本体３２の上部に設けられている。 - 特許庁

To provide means which allows an operator for easily acquiring a desired observation image under an arbitrary observation condition, in a scanning electron microscope having a plurality of different types of detectors.例文帳に追加

本発明の目的は、異なる種類の複数の検出器を有した走査電子顕微鏡において、任意の観察条件で操作者が所望する観察画像を容易に取得する手段を提供することにある。 - 特許庁

To obtain a microscope objective lens system comprising lenses made of only fluorite and fused quartz, capable of correcting aberrations in a far-ultraviolet region and a visible light region, and also, capable of sufficiently correcting various aberrations.例文帳に追加

遠紫外光領域と可視光領域において収差補正可能な、蛍石と石英ガラスだけで構成される顕微鏡対物レンズ系であって、諸収差を良好に補正した顕微鏡対物レンズ系を得る。 - 特許庁

The operation microscope 100 has an observation light path 109 that passes through a microscopic imaging optical system including a microscopic main objective lens system 101 and a magnification system 108 with variable magnification.例文帳に追加

本発明は、顕微鏡主対物レンズ系１０１および拡大率を可変な拡大システム１０８を含む顕微鏡結像光学系を通る観察光路１０９を備える、手術用顕微鏡１００に関するものである。 - 特許庁

To eliminate use of deposition, and improve the productivity in a preparation of a sample for a transmission electron microscope, when the thin sample which is processed and prepared by a charged particle beam is fixed to a sample holder.例文帳に追加

透過電子顕微鏡用試料の作製において、荷電粒子ビームによって加工して作製した薄片試料を試料ホルダに固定する際に、デポジションを用いないようにすることにより生産性を向上させる。 - 特許庁

To provide a supporting device capable of easily making the optical axis (center of field) of an imaging means orthogonal to the turning shaft (center of turning) of a supporting member for supporting the imaging means, and a microscope equipped therewith.例文帳に追加

撮像手段の光軸（視野中心）と撮像手段を支持する支持部材の回動軸（回動中心）とを容易に直交させることが可能な支持装置およびそれを備えた顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a polarizing unit by which switching between observation using polarized light and the one without using the polarized light can be performed by one operation and which is economically constituted, and a microscope to which the polarizing unit is attached.例文帳に追加

偏光を使用する観察と偏光を使用しない観察との切り換えを一つの動作ででき、かつ経済的に構成できる偏光ユニットおよびこれが取り付けられる顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To solve such problems that a digital camera, an improved microscope or a coordinate measuring apparatus used for measuring the dimensions, position or attitude of a blade does not provide a desired accuracy or reliability and it is expensive, bulky and slow in response.例文帳に追加

ブレードの寸法や位置や姿勢を測定するのに用いられるデジタルカメラ、改良された顕微鏡又は座標測定機械は、所望の精度や信頼性を提供せず、高価で、かさばり、応答が遅い。 - 特許庁

When the organic sample observation device is used as the stereoscopic microscope, the mirror 9 is rotated by 90° from the posture (A) and switched to a posture (B).例文帳に追加

生体試料１から放出された蛍光１７は対物レンズ７で無限遠焦点系に導入され、ダイクロイックミラー９、吸収フィルタ１３を通して撮像用投影レンズ８に導かれ、撮像装置３で撮像される。 - 特許庁

To provide an immersion system microscope objective lens which has large numerical aperture and small change over time in an immersion liquid and small degradation of image performance even when living cells, living tissues and the inside of a living body solid are observed.例文帳に追加

開口数が大きく、液浸液の経時変化が少なく、生体細胞や生体組織や生体の固体の内部の観察時にも像性能の劣化が少ない、液浸系顕微鏡対物レンズの提供。 - 特許庁

To provide a method and a device for forming a pattern with proximity field light arranged as a proximity field light lithography developed from a proximity field microscope employing a probe in which highly accurate control can be ensured while reducing the size.例文帳に追加

小型で高精度な制御ができる、探針を用いた近接場顕微鏡を発展させた近接場光リソグラフィーとして構成した近接場光によるパターン形成方法およびその装置を提供する。 - 特許庁

A microscope stage (14) includes a platform (16), a sample holder (18) mounted on the platform (16) and a positioning device (20) for moving the sample holder (18) in a displacement surface parallel to the platform (16).例文帳に追加

プラットフォーム（１６）と、プラットフォーム（１６）に載置される試料ホルダ（１８）と、プラットフォーム（１６）に平行な変位面内で試料ホルダ（１８）を移動させるための位置決め装置（２０）を備える顕微鏡ステージ（１４）が記載される。 - 特許庁

The whole stage is rotated on the second spherical seat, without marring the eucentric conditions of a rotating cylinder and a sample holder, so that the direction of the rotating shaft of the cylinder can be set to pass the center of the visual field of the electron microscope.例文帳に追加

回転シリンダや試料ホルダのユーセントリック条件を崩すことなくステージ全体を第２の球面座で回転させ、シリンダ回転軸方向を電子顕微鏡視野中心に通るように設定できるようになる。 - 特許庁

This microscope is equipped with cylindrical optical path partitions 31, 32 and 33 partitioning an observation optical path O1 near the optical axis of an objective lens from an illumination optical path for vertical dark-field O2 around the optical path O1, and realizes a vertical dark-field observation.例文帳に追加

対物レンズの光軸近傍の観察光路（Ｏ１）とその周辺の落射暗視野用照明光路（Ｏ２）とを隔てる筒状の光路隔壁（３１、３２、３３）を備えており、落射暗視野観察が可能である。 - 特許庁

To provide an acidophilic bacteria inspecting system for enabling inspection even by an inexperienced person, reducing the fatigue of an inspector, and eliminates detection omission of an acidophilic bacteria by automating the detection of acidophilic bacteria using a microscope.例文帳に追加

顕微鏡による抗酸菌検出を自動化することにより、熟練者でなくても検査を可能にし、検査者の疲労を軽減するとともに、抗酸菌の検出洩れをなくす抗酸菌検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide a method for determining the angle of incidence of the irradiating light to irradiate a portion in the vicinity of a tip of a probe to realize the high resolution and high contrast, and a scan near-field optical microscope.例文帳に追加

本発明は、高分解能及び高コントラストを実現可能としたプローブ先端近傍を照射する照射光の入射角度を決定する方法及び走査型近接場光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a halftone phase shift mask by which no correction scum of a residual defect is left when the residual defect of a halftone phase shift mask is removed by using an AFM (atomic force microscope) correcting device.例文帳に追加

ハーフトーン型位相シフトマスクの残留欠陥をＡＦＭ型修正機を用いて除去する際、残留欠陥の修正カスを残さないハーフトーン型位相シフトマスクの製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The method for manufacturing the sample to observe the defect in the silicon crystal by the transmission electron microscope comprises the steps of releasing only a shallow region on the surface of the crystal, and thinning the region to the thin piece samples.例文帳に追加

シリコン結晶中の欠陥を透過型電子顕微鏡で観察するための試料作製方法であって、結晶表面の浅い領域のみを剥離させて薄片化し薄片試料とするようにした。 - 特許庁

To provide a method for etching a wafer by which a thin film pattern having prescribed dimensional precision can be deposited on a wafer even in the case the amount to be etched can not directly be measured by using a microscope or the like.例文帳に追加

顕微鏡等を用いてエッチング量を直接計測できない場合であっても、所定の寸法精度を有する薄膜パターンをウエハ上に形成することが可能なウエハのエッチング方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a sample slide used for X-ray microscope in which a sample is arranged to be adjacent to a photoelectric transducing face, and with which transmitted X-rays are transduced into an electronic image so as to be observed, and to provide a sample holding and insertion mechanism.例文帳に追加

光電変換面に試料を近接して配置し透過Ｘ線を電子像に変換して観察するＸ線顕微鏡に使用する試料スライドおよび試料の保持挿入機構を提供することである。 - 特許庁

Thus, the operator of the fluorescence microscope can discriminate whether or not the exciting light exceeding the reference value is radiated according as the warning is given or not, and adverse influence exerted on the sample by the excess of the exciting light is avoided.例文帳に追加

これにより、蛍光顕微鏡の操作者は警告の有無によって基準値を超える励起光が照射されたか否かを判別することができ、励起光過多による試料への悪影響を回避し得る。 - 特許庁

To perform X-ray analysis without requiring the move of a specimen or the aligning of an analysis object position accompanying the move of the specimen, as to X-ray analysis at an analysis position detected by an optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡によって検出した分析位置におけるＸ線分析において、試料の移動、および試料の移動に伴う分析対象位置の位置合わせを要することなくＸ線分析を行う。 - 特許庁

The first lens-barrel upper part 130 has a reflection mirror 140 to deflect the luminous flux from a microscope body to which the lens-barrel base 110 is attached toward a reflection mirror 120 of the lens-barrel base 110 at all times.例文帳に追加

第一の鏡筒上部１３０は、鏡筒基部１１０が取り付けられる顕微鏡本体からの光束を、常時、鏡筒基部１１０の反射ミラー１２０に向けて偏向する反射ミラー１４０を有している。 - 特許庁

The bacteria measuring device 56 uses a CCD camera 60 with an optical microscope for observing bacterial threads deposited on a film 58 and uses an analyzer 62 for analysis to find the quantity and speed of the growth of the bacteria.例文帳に追加

細菌測定装置５６は、フィルム５８に付着した菌糸を、光学顕微鏡付きのＣＣＤカメラ６０で観察し、解析装置６２で解析することによって、細菌の成長量と成長速度を求める。 - 特許庁

The microscope (30 to 80) includes an illuminating optical system (40) for irradiating the analyte under a prescribed illumination condition, an imaging optical system (70) for forming an image of the analyte, and an image sensor (80) for outputting an image signal.例文帳に追加

顕微鏡（３０〜８０）は、被検体に所定照明条件で照射する照明光学系（４０）と、被検体の像を形成する結像光学系（７０）と、画像信号を出力するイメージセンサ（８０）と、を備える。 - 特許庁

When the work W is observed under a microscope, first, one of the light sources 62A, 62B and 62C is arbitrarily selected and respective filter changeover means 70A and 70B are revolved in the direction shown by an arrow to combine filters 72.例文帳に追加

顕微鏡によりワークＷを観察する際、まず、光源６２Ａ、６２Ｂ、６２Ｃの内１つを任意に選択し、夫々のフィルタ切換え手段７０Ａ、７０Ｂを矢印方向に回動してフィルタ７２を組合わせる。 - 特許庁

The shape of the surface of a disk 10 is captured as an image due to interference by using a differential interference microscope constituted of an optical detection head 16 and an analyser 22 and this image is converted to an electric signal by a photodiode 28.例文帳に追加

光学検出ヘッド１６〜検光子２２で構成される微分干渉顕微鏡を用いてディスク１０表面の形状を干渉による画像として捕らえ、この画像をホトダイオード２８で電気信号に変換する。 - 特許庁