「model substrate」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

SUBSTRATE MODEL PREPARING DEVICE AND METHOD, AND SUBSTRATE NOISE ANALYSIS DEVICE AND METHOD例文帳に追加

基板モデル作成装置及び方法、並びに基板ノイズ解析装置及び方法 - 特許庁

In a computer of a mounting substrate analysis device, a substrate-warp analysis model storage unit 142 stores an analysis model of a mounting substrate.例文帳に追加

実装基板解析装置のコンピュータにおいて，基板反り解析用モデル記憶部１４２には，実装基板の解析用モデルが記憶されている。 - 特許庁

METHOD OF REGISTERING MODEL DATA FOR SUBSTRATE VISUAL INSPECTION AND SUBSTRATE VISUAL INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

基板外観検査のためのモデルデータの登録方法および基板外観検査装置 - 特許庁

An analysis part reads out a substrate side model and a cover side model, corresponding to each measurement from both directions.例文帳に追加

双方向からの測定に対応して、解析部は基板側モデル及びカバー側モデルを読み出す。 - 特許庁

The main substrate 5d performs model discrimination based on the low status or high status of the port for model discrimination.例文帳に追加

メイン基板５ｄは、機種判別用ポートのロー状態またはハイ状態に基づいて機種判別を行う。 - 特許庁

A division part 1c divides a substrate model 2 into plural cells 4a to 4f.例文帳に追加

分割部１ｃは、基板モデル２を複数のセル４ａ〜４ｆに分割する。 - 特許庁

A power supply wiring model, a transistor model and a substrate model are generated as components of a power supply noise analysis model from the various data thus extracted, and the power supply noise analysis model is created from the various models thus generated.例文帳に追加

そして、抽出された各種データに基づいて、電源ノイズ解析モデルの構成要素となる電源配線モデル、トランジスタモデルおよび基板モデルを生成し、生成された各種モデルを用いて電源ノイズ解析モデルを作成する。 - 特許庁

To provide a substrate model preparing device and method analyzing a substrate model obtained by mesh-dividing a substrate part in a semiconductor integrated circuit into cells having a plurality of sizes, and to provide a substrate noise analysis device and method.例文帳に追加

半導体集積回路における基板部分を複数のサイズを有するセルにメッシュ分割して得られる基板モデルを解析する基板モデル作成及び方法、並びに基板ノイズ解析装置及び方法を提供する。 - 特許庁

A model name seal 4 is stuck to the ROM 3a on a memory module substrate 3b.例文帳に追加

メモリモジュール基板３ｂ上のＲＯＭ３ａに機種名シール４を貼付する。 - 特許庁

To prevent an error in clamping a substrate by adequately changing setting of a clamping pressure in switching a model of the substrate.例文帳に追加

基板の機種切替え時にクランプ圧力が適正に設定変更され、基板クランプのミスを防止すること。 - 特許庁

The main substrate 9 writes the model dependent data in at least one of the plurality of memories 7, and reads the model dependent data at the time of start for discriminating the model.例文帳に追加

メイン基板９は、複数のメモリ７の少なくともいずれか１つに機種依存データを書き込むとともに起動時に機種依存データを読み取って機種判別を行う。 - 特許庁

When a substrate is actually produced, an image of a substrate mark is matched against the selected model template which is thus selected to recognize the substrate mark.例文帳に追加

実際の基板生産時には、このように選択されたモデルテンプレートで基板マークの画像がテンプレートマッチングされて基板マークが認識される。 - 特許庁

To provide a resin sealing apparatus that seals a plurality of chips mounted on a substrate with resin, wherein two sets of molded models, including an upper model and a lower model each are laminated, while maintaining the parallelism between the upper model and the lower model.例文帳に追加

上型と下型とを含む成形型セットが２組積層され、上型と下型との間の平行度を維持しつつ、基板に装着された複数のチップを樹脂封止する樹脂封止装置を提供する。 - 特許庁

When a desired reference is not satisfied at a result, the amount of noise transmitted through a substrate is analyzed by use of a model obtained by combining an integrated circuit model in which the ground lines of the noise source circuit and the noise-receiving circuit are separated with a substrate model.例文帳に追加

その結果、所望の基準を満たさなければ、ノイズ源回路と被ノイズ回路のグラウンド線同士を分離した集積回路モデルと基板モデルを組み合わせたモデルで、基板を介して伝播するノイズ量を解析する。 - 特許庁

A substrate cleaning method includes portioning out part of the cleaning liquid, bringing it into contact with a model piece of the same material with the substrate to be cleaned, and measuring the electrostatic potential of the model piece to monitor an electrostatic charging state of the substrate.例文帳に追加

洗浄用液体の一部を分取し、被洗浄基板と同材質のモデル片と接触させ、該モデル片の静電電位を測定することにより、基板の帯電状況を監視する基板洗浄方法。 - 特許庁

The chamber parameters are subsequently set based on the position of the substrate according to the model of the coating chambers.例文帳に追加

その後で、チャンバ・パラメータが、コーティング・チャンバのモデルにより、基板の位置に基づいて設定される。 - 特許庁

The control substrate for replacement is used as the replacement for the first control substrate provided with a model information setting section in which model information on the attachment object apparatus to which a first control substrate is attached is set and the model information is not changeable and a first control means controlling a control object apparatus according to the model information.例文帳に追加

交換用制御基板は、第１制御基板が装着されている装着対象装置の機種情報が設定され、かつこの機種情報を変更不可能な機種情報設定部と、機種情報に従って制御対象装置を制御する第１制御手段とを有する第１制御基板の交換用として使用される。 - 特許庁

An image read means reads the substrate mark (S1) and the read substrate mark is compared with a plurality of model templates in order (S4 to S7) to select a model template which is suitable to the read substrate mark (S9, S10).例文帳に追加

画像読み取り手段で基板マークが読み取られ（Ｓ１）、読み取られた基板マークと複数のモデルテンプレートを順次比較することにより（Ｓ４〜Ｓ７）、前記読み取られた基板マークに最適なモデルテンプレートが選択される（Ｓ９、Ｓ１０）。 - 特許庁

Model parameters of a substrate are calculated using the generated radial basis functions as a basis function across the entire substrate.例文帳に追加

前記基板のモデルパラメータが、生成されたラジアル基底関数を基底関数として前記基板全体にわたって使用して計算される。 - 特許庁

The temperature of the measured substrate may be estimated from the temperature of the pseudo-substrate by previously constructing a relative model of a temperature rising characteristic on the pseudo-substrate in relation to the temperature rising characteristic of the substrate to be treated.例文帳に追加

前記熱処理対象基板の昇温特性に対する擬似基板の昇温特性の相対モデルを構築しておき、擬似基板温度から計測基板の温度を推定するようにしてもよい。 - 特許庁

When the distance between the substrate and the components at the joint part is out of the predetermined range, a warp countermeasure process unit 145 executes a countermeasure process against a warp of the mounting substrate on the analysis model stored in the substrate-warp analysis model storage unit 142.例文帳に追加

反り対策処理部１４５は，接合部における基板と部品との距離が所定の範囲外である場合に，基板反り解析用モデル記憶部１４２に記憶された解析用モデルに対して，実装基板の反りへの対策処理を実行する。 - 特許庁

To provide a technology which can inspect a package substrate without requiring an equivalent circuit model.例文帳に追加

等価回路モデルを要することなくパッケージ基板の検査を実行することが可能な技術を提供する。 - 特許庁

An operator inputs the model of a substrate while viewing the display screen for teaching (S1), and pushes START button (S2).例文帳に追加

オペレータはティーチング用表示画面をみながら基板の機種を入力し（Ｓ１）、ＳＴＡＲＴボタンを押す（Ｓ２）。 - 特許庁

A step voltage is input to the electric wiring of a substrate model, and a time-domain electromagnetic field analysis is applied to the electric wiring on the substrate being selected as the object.例文帳に追加

基板モデルの電気配線へステップ電圧を入力し、基板上の電気配線を対象に時間領域の電磁界解析を行なう。 - 特許庁

To provide a SPICE model parameter output apparatus and a SPICE model parameter output method capable of accurately modeling the substrate resistance of a high-frequency MOSFET or an analog MOSFET.例文帳に追加

高周波ＭＯＳＦＥＴやアナログＭＯＳＦＥＴの基板抵抗を正確にモデル化することが可能なＳＰＩＣＥモデルパラメータ出力装置及び出力方法を提供。 - 特許庁

The analysis part calculates the theoretical polarization state of the light, based on the substrate side model and the theoretical polarization state of light, based on the cover side model, respectively.例文帳に追加

解析部は基板側モデルに基づく光の理論的な偏光状態及びカバー側モデルに基づく光の理論的な偏光状態をそれぞれ算出する。 - 特許庁

A model for substrate confirmation for confirming whether the substrate is set correctly or not is produced from the image of the reference substrate, after mounting S2 and removing treatment of a model for inspecting soldering corresponding to a site of not being mounted yet is effected employing the image.例文帳に追加

また実装後基準基板Ｓ２の画像からは、基板が正しくセットされているかどうかを確認するための基板確認用モデルが生成され、またこの画像を用いて未実装部位に対応するはんだ検査用モデルを削除する処理が行われる。 - 特許庁

A substrate inspection and measurement apparatus 10 in which, based on a receipt in which an inspection and measurement coordinate as a model at a substrate W is stored, the model of the substrate W mounted on a convey stage 13 is inspected and measured determines the actual coordinate of the model at the substrate W mounted on the convey stage 13 and registers the determined actual coordinate in the receipt (Steps S114 and S415).例文帳に追加

基板Ｗにおけるモデルの検査・測定座標を記憶したレシピに基づいて搬送ステージ１３上に載置された基板Ｗにおけるモデルを検査・測定する基板検査・測定装置１０は、搬送ステージ１３上に載置された基板Ｗにおけるモデルの実座標を特定し、特定した実座標をレシピに登録する（ステップＳ１１４、Ｓ４１５）。 - 特許庁

The analysis of the entire substrate of the measured critical dimension data is modeled by a response model of the critical dimension.例文帳に追加

測定したクリティカルディメンジョンデータの全基板解析が、クリティカルディメンジョンの応答モデルによってモデル化される。 - 特許庁

METHOD OF CALCULATING MODEL PARAMETERS OF SUBSTRATE, LITHOGRAPHIC APPARATUS, AND APPARATUS FOR CONTROLLING LITHOGRAPHIC PROCESSING BY LITHOGRAPHIC APPARATUS例文帳に追加

基板のモデルパラメータを計算する方法、リソグラフィ装置、およびリソグラフィ装置によってリソグラフィ処理を制御する装置 - 特許庁

This image forming apparatus 1 equipped with a plurality of pieces of hardware, operating as a predetermined model following model dependent data different for each model, is provided with a plurality of control boards 5, a plurality of memories 7 and a main substrate 9.例文帳に追加

この画像形成装置１は、機種ごとに異なる機種依存データに従って所定の機種として動作する複数のハードウェアを有する装置であって、複数の制御基板５と、複数のメモリ７と、メイン基板９とを備えている。 - 特許庁

When registering a model (matching model) by edge codes for inspection of components mounting conditions, the edge code image produced from an image of a designated reference substrate are compared with the matching model, and image zones corresponding to the component are extracted.例文帳に追加

部品実装状態の検査のためにエッジコードによるモデル（マッチングモデル）を登録すると、所定の基準基板の画像から生成したエッジコード画像をこのマッチングモデルにより照合し、部品に対応する画像領域を抽出する。 - 特許庁

The method for manufacturing the mold includes: a process of fixing a needle model 100 that has a sharp-pointed end 130 and is formed of silicone, to a silicon substrate 140; a process of accumulating a mold material on a side of the silicon substrate 140 where the needle model 100 is fixed; and a step of removing the silicon substrate 140 and the needle model 100.例文帳に追加

先鋭状の先端部１３０を有する、シリコンで形成された針模型１００をシリコン基板１４０に固定するステップと、前記シリコン基板１４０の前記針模型１００を固定した面側に鋳型材料を堆積するステップと、前記シリコン基板１４０および前記針模型１００を除去するステップとを備える。 - 特許庁

To provide a method of forming a substrate model which enables potential variation analysis of an integrated circuit substrate for large-scale integrated circuits and an analyzing method and apparatus, using the same.例文帳に追加

大規模な集積回路の集積回路基板の電位変動解析を可能にする基板モデルの作成法，及びそれを用いた解析法及び装置を提供する。 - 特許庁

To improve the efficiency of production of a substrate by reducing the time required for reading in mounting data and housing as much as possible, even if the production model of the substrate is changed.例文帳に追加

基板の生産機種が変更になっても、極力装着データの読込み及び格納に要する時間を減少させ、基板の生産効率の向上を図る。 - 特許庁

To accurately predict an impurity concentration profile formed in a semiconductor substrate, by implanting impurities into the substrate through an amorphous film in a low-energy ion implantation method using an analytical model.例文帳に追加

低エネルギーイオン注入により非晶質膜を通じて半導体基板中に形成された不純物濃度プロファイルを解析モデルを用いて高精度に予測する。 - 特許庁

To provide a device and a method for analyzing the substrate model obtained by dividing a substrate part in a semiconductor integrated circuit into cells with a plurality of sizes in mesh and a device and a method for analyzing substrate noise.例文帳に追加

半導体集積回路における基板部分を複数のサイズを有するセルにメッシュ分割して得られる基板モデルを解析する基板モデル作成及び方法、並びに基板ノイズ解析装置及び方法を提供する。 - 特許庁

The method of processing the substrate using the multi-layer processing sequence, the multi-layer/multi-input/multi-output (MLMIMO) model and the library is provided.例文帳に追加

本発明は、多層処理シーケンス、多層/多入力/多出力(MLMIMO)モデル及びライブラリを用いた基板処理方法を供する。 - 特許庁

Marking head coordinates of a laser unit are set on a setting model basis of a substrate, and the laser unit is moved to a wait position for marking.例文帳に追加

基板の設定モデル別にレーザーユニットのマーキングヘッド座標を設定し、マーキングのための待機位置にレーザーユニットを移動させる。 - 特許庁

First, a model is provided to predict thermally-induced field deformation information of a plurality of fields of the substrate.例文帳に追加

始めに、基板の複数のフィールドの熱的に引き起こされるフィールド変形についての情報を予測するためにモデルが設けられる。 - 特許庁

The model creation means 4 removes an element propagating noise via a substrate, to the contact detected by the contact detection means 3 from the generation source of noise for creating a model for data analysis.例文帳に追加

モデル作成手段４は、ノイズの発生源からコンタクト検出手段３により検出されたコンタクトまでの基板を介してノイズを伝搬する素子を除いてデータ解析用モデルを作成する。 - 特許庁

The analysis part performs fitting, based on the calculated polarization state of light based on the substrate side model, the calculated polarization state of light based on the cover side model, the polarization state measured from the substrate side, and the polarization state measured from the cover side.例文帳に追加

解析部は、算出した基板側モデルに基づく光の偏光状態、算出したカバー側モデルに基づく光の偏光状態、基板側から測定した偏光状態、及び、カバー側から測定した偏光状態に基づいて、フィッティングを行う。 - 特許庁

In a model of a different screen size, the DVD unit 3 and the MPEG substrate 5 can be freely arranged regardless of the layout of the substrate for control by making the DVD unit 3 and the MPEG substrate 3 a unit when the layout of the substrate for control of a digital television is different.例文帳に追加

また、画面サイズの異なる機種において、デシタルジョンの制御用基板のレイアウトが異なる場合であってＤＶＤユニット３とＭＰＥＧ基板５をユニット化することで、制御用基板のレイアウトに拘らず自由に配置することが可能となる。 - 特許庁

A component inspecting machine 1 captures an image of a model of the substrate after components are implemented, and receives an image of the same substrate from a solder print inspecting machine 3 as an inspecting machine in a previous process.例文帳に追加

部品検査機１は、部品実装後基板のモデルを撮像するとともに、前工程の検査機であるはんだ印刷検査機３から同一基板の画像の提供を受ける。 - 特許庁

The three-dimensionally cultured human skin model includes (A) a fibroblast-containing substrate layer, (B) a dendritic cell-containing substrate layer and (C) an epidermal cell-keratinizing cell layer, in this order from the bottom.例文帳に追加

下から順に、Ａ 繊維芽細胞を含む支持体層、Ｂ 樹状細胞を含む支持体層、およびＣ 表皮角化細胞層、を含むことを特徴とする三次元培養ヒト皮膚モデル。 - 特許庁