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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > operational testingに関連した英語例文

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operational testingの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 34



例文

METHOD FOR MAKING PLURAL TESTING DEVICES OPERATIONAL例文帳に追加

複数の試験装置を使用可能にする方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MODELING OPERATIONAL SPEED OF WORKING MACHINE, METHOD AND DEVICE FOR OPTIMIZING OPERATIONAL ROUTE, AND METHOD AND DEVICE FOR TESTING OPERATIONAL SPEED例文帳に追加

加工機の動作速度モデル化方法、装置、動作経路最適化方法、装置、及び、動作速度検定方法、装置 - 特許庁

This is a method(200)for making plural testing devices operational within the system.例文帳に追加

システム内で複数の試験装置を使用可能にする方法(200)。 - 特許庁

OPERATIONAL TESTING SYSTEM AND DATA TRANSFER METHOD USED THEREIN例文帳に追加

運用試験用システムおよびこれに利用するデータ転送方法 - 特許庁

例文

To provide a transformer testing device of high operational speed and simple circuit configuration.例文帳に追加

動作速度が速く回路構成が簡単な変成器試験装置を提供すること。 - 特許庁


例文

A testing apparatus connects the output of an operational amplifier 18 to the gate of a testing object transistor 14, and allows the source of the testing object transistor 14 to negatively feed back to a negative input end of the operation amplifier 18.例文帳に追加

オペアンプ18の出力を試験対象トランジスタ14のゲートに接続し、試験対象トランジスタ14のソースは、オペアンプ18の負入力端に負帰還する。 - 特許庁

To enable an easy operation test of a maximum likelihood decoding circuit improved in operational speed without changing the operational speed of a testing arrangement.例文帳に追加

動作速度が向上した最尤復号回路の動作試験を、試験装置の動作速度を変更することなく容易に可能とする。 - 特許庁

According to an embodiment, an operational testing system comprises a relay device, a first router, and a second router.例文帳に追加

実施形態によれば、運用試験用システムは、中継装置と第1ルータと第2ルータとを有する。 - 特許庁

A multiplexer 13 used in testing the high-voltage operational circuit 11 is connected to the pads 15, 16, 17.例文帳に追加

高電圧動作回路11のテスト時に用いるマルチプレクサ13は、パッド15,16,17に接続されている。 - 特許庁

例文

When the second testing device is connected to the system, this method includes the step of making the second testing device operational together with the above interface.例文帳に追加

第2の試験装置がシステムに接続されていた場合、本方法は、第2の試験装置が前記インタフェースと共に動作できるようにするステップを含む。 - 特許庁

例文

To enable an automatic operation when an operational testing is carried out with use of only low-level controllers in a guided vehicle system.例文帳に追加

搬送車システムにおいて、下位のコントローラだけで運用試験を行うときに自動運転を可能にする。 - 特許庁

To provide a method of testing the operational margin of an information storage device having marked random variations, and an information storage device having the function of self-diagnosing the operational margin.例文帳に追加

ランダムばらつきが大きい情報記憶装置について動作余裕をテストする方法、及び動作余裕を自己診断する機能を有する情報記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide an operational testing system capable of performing an operational test of a renewal computation device without stopping operation of a currently-used computation device and a data transfer method used therein.例文帳に追加

現用演算装置の動作を停止させることなく、更新用演算装置の運用試験を実行することが可能な運用試験用システムおよびこれに利用するデータ転送方法を提供する。 - 特許庁

For important facilities and equipment, perform not only visual check, but also detailed check through testing such as operational test, leakage test and overhaul.例文帳に追加

重要な設備・機器については、目視点検だけでなく、作動試験、漏えい試験、分解点検等による詳細な点検を行う。 - 経済産業省

The testing device allows the operational amplifier 18 to operate and perform a test to make the current flowing fixed in value, in the testing object transistor 14 so that the current quantity flowing in a resistor 24 becomes fixed, by applying a desired voltage from DAC 16 to a positive input end of the operational amplifier 18.例文帳に追加

DAC16から所望の電圧をオペアンプ18の正入力端に印加することで、抵抗24に流れる電流量が一定になるように、オペアンプの18が動作して、試験対象トランジスタ14に流れる電流を一定値とする試験が行われる。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of testing a high-speed memory at a real operation speed even when the operational speed of a BIST circuit is restricted.例文帳に追加

BIST回路の動作速度を抑えても実動作速度で高速メモリのテストを実施できる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To perform operational test for a rectifier type current-limiting interruptor simply and in a short time without preparing for a dedicated testing place.例文帳に追加

整流器型限流遮断装置の動作試験を、専用の試験場を用意したりすることなく、簡単かつ短時間に行えるようにする。 - 特許庁

To provide a test circuit and a circuit testing method, which can perform the test for all clock cycles without omission, without decreasing the operational clock frequency.例文帳に追加

動作クロック周波数を落とさずに全てのクロックサイクルについてのテストを漏らさずに行うことが可能なテスト回路及び回路テスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing apparatus that easily and inexpensively performs an operational test of a digital broadcast receiver, and to provide a program used therefor.例文帳に追加

本発明は、デジタル放送受信機の動作試験を低コストで容易に行うことができる試験装置及びこれに用いるプログラムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a device and a method for updating a control program which is capable of assigning control program updating work easily without deteriorating operational efficiency of an apparatus for testing a semiconductor integrated circuit and an apparatus for testing a semiconductor integrated circuit equipped with the above device.例文帳に追加

半導体集積回路試験装置の稼働効率を低下させず、且つ、容易に制御プログラム更新作業の割り当てを行うことができる制御プログラム更新装置及び方法並びに当該装置を備える半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁

Verification by analysis, surveillance, testing and inspection is carried out to ensure that the physical state and the operation of a nuclear installation continue to be in accordance with its design, applicable national safety requirements, and operational limits and conditions.例文帳に追加

その評価は、十分に記録され、その後運転経験及び重要かつ新たな安全に関する情報に照らして更新され、並びに規制機間の権限の下で検討を受ける。 - 経済産業省

To provide a testing device of a controller, which considers dynamic characteristics of a vehicle without modifying timing in accordance with a vehicle type even when testing an operational state of an electronic control system provided with an electronic controller having a plurality of functions that differ for each vehicle type.例文帳に追加

車種ごとに異なる複数の機能を有する電子制御装置を有する電子制御システムの動作状態を試験する場合であっても、車種によってタイミングを修正することなく、車両の動的特性を考慮した制御装置の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an operational test apparatus for a USB interface capable of testing an operation of the USB interface solely by an electric device, without using a specific additional test apparatus.例文帳に追加

USBインターフェースの動作試験を実施するに際して、特別な付加的試験装置を用いることなく、当該電子機器単独で実施することが可能なUSBインターフェースの動作試験装置を提供する。 - 特許庁

If an operational fault is confirmed by a test, the layout diagram corresponding to its testing content is collated to the contrast image, and a position in which a mismatch occurs is displayed on a display means 7.例文帳に追加

試験により動作異常が確認された場合に、その試験内容に対応した上記レイアウト図と上記電位コントラスト画像とを照合し、不一致が発生した箇所を表示手段7に表示する。 - 特許庁

To provide a test item extraction device by which one can easily generate minimum necessary and sufficient testing items based on use environments and operational conditions even if one has poor experience in developing object software or a system.例文帳に追加

対象となるソフトウェアあるいはシステムの開発経験が乏しくても、利用環境や運用条件に基づいて必要十分なテスト項目を容易に生成可能なテスト項目抽出装置を提供する。 - 特許庁

The method uses control valve (28) positions as feedback into a compensation algorithm to minimize flow disturbance caused by the closing and reopening of a turbine control valve (28) during periodic operational testing.例文帳に追加

本発明の方法は、制御弁(28)位置を補償アルゴリズムへのフィードバックとして使用して、周期的動作試験中のタービン制御弁(28)の閉じおよび再開によって引き起こされる流れの乱れを最小限に抑える。 - 特許庁

This method uses control valve (28) positions as feedback into a compensation algorithm to minimize flow disturbance caused by the closing and reopening of a turbine control valve (28) during periodic operational testing.例文帳に追加

本発明の方法は、制御弁(28)位置を補償アルゴリズムへのフィードバックとして使用して、周期的動作試験中のタービン制御弁(28)の閉じおよび再開によって引き起こされる流れの乱れを最小限に抑える。 - 特許庁

Then, when the operation to alter the order of the thumbnail images is performed through an operational part, the image testing device alters by rewriting the image number attached to the medical images of the thumbnail images related to the alteration operation in accordance with the altered order (Step S16).例文帳に追加

そして、前記サムネイル画像の並び順を変更する操作が操作部を介してなされると、変更された並び順に応じて、変更操作に係るサムネイル画像の医用画像に付帯されている画像番号を書き換えて変更する(ステップS16)。 - 特許庁

To conduct tests continuously for reduction in testing time by identifying a dummy test signal at the time of operational test of an electronic circuit breaker formed so as to incorporate energization heat history properties into overcurrent tripping properties, thereby temporarily releasing the energization heat history properties.例文帳に追加

過電流引外し特性に通電熱履歴特性を取り入れるようにした電子式回路遮断器の動作テスト時に擬似テスト信号であることを検知して一時的に通電熱履歴特性を解除して、連続テストを可能してテスト時間の短縮をはかる。 - 特許庁

To provide an inexpensive testing device capable of guaranteeing a safe operation by reducing the fluctuation of the output currents of each constant voltage power source circuit and the decrease of the output voltage due to the difference of output impedances or the difference of the characteristics of operational amplifiers in plural constant voltage power circuits.例文帳に追加

複数の定電圧電源回路内の出力インピーダンスの差や演算増幅器の特性の差によって、各定電圧電源回路の出力電流のばらつきおよび出力電圧の降下が小さく、安全性な動作を保証でき、かつ安価な試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a mounting structure of a cradle which is improved so as to be safely used by mounting a draw-out type power reception/distribution apparatus housed in a switchboard thereon so as not to cause troubles for movement to an operational position and a testing position of the apparatus and a switching operation thereof, and to provide a method for assembling the cradle.例文帳に追加

配電盤に収容する引出形受配電機器を、その「運転位置」,「試験位置」への移動,機器の開閉動作などに支障を来すことのないように搭載して、安全に運用できるように改良したクレードルの取付け構造、およびその組立方法を提供する。 - 特許庁

This semiconductor tester for performing quality determination with the output signals from the plurality of devices which are testing objects input into the same pin, is equipped with a plurality of determination parts performing quality determination, and a pattern generation part for selecting one from among the plurality of determination parts for each of the devices to exercise control so that it turns into an operational state.例文帳に追加

被試験対象である複数のデバイスからの出力信号を同一ピンに入力して良否判定する半導体試験装置において、良否判定する複数の判定部と、デバイス毎に複数の判定部のうちの1つを選択して動作可能状態に制御するパターン発生部とを備える。 - 特許庁

In particular, a TFT 30 is an N channel transistor that easily generates unpaired coupling hand and carrier trapping than a P channel transistor, and a predetermined treatment such as annealing or the like effectively suppresses the degradation of operational characteristic or reliability after BT testing caused by the unpaired coupling hand or carrier trapping.例文帳に追加

特に、TFT30は、Pチャネル型トランジスタより不対結合手及びキャリアトラップが発生し易いNチャネル型トランジスタであり、アニール処理等の所定の処理によって、不対結合手及びキャリアトラップに起因して生じるBT試験後のおける動作特性及び信頼性の低下が効果的に抑制されている。 - 特許庁

例文

When testing the chip, the performance measuring circuit so measures such performances of the circuit function module as its operational speed and consuming power as to store the performance data in the corresponding storage-table circuit, and the storage-table circuit so measures the data amount fed to the circuit function module as to select its optimal clock frequency, power-supply voltage, and board bias.例文帳に追加

チップテスト時に、性能測定回路が回路機能モジュールの動作速度、消費電力などの性能を測定し該当する記憶テーブル回路に性能データを記憶させ、記憶テーブル回路は該当する回路機能モジュールに供給されるデータ量を計測して最適なクロック周波数、電源電圧、基板バイアスを選択する。 - 特許庁




  
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