「optical microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(20ページ目) - Weblio英語例文検索

The focus stabilization mechanism of the microscope, etc., comprises, constituting the optical machine consisting of optical system sections fabricated to a type symmetrical with the optical axis in both of weights and shapes and peripheral sections having a sample positioning mechanism, by combining respective components which has nearly zero for the dependence on temperature.例文帳に追加

光軸に重量、形状とも対象型につくられた光学系部と試料位置決め機構を有す周辺部とからなる光学機械において、それぞれのコンポーネントを温度依存性がゼロに近いものを組み合わせて構成したことを特徴とする顕微鏡等のフォーカス安定性機構。 - 特許庁

The optical element prepared from the optical ceramic is particularly suitable for use as a lens system in combination with lenses of glass, but also with other ceramic lens, in particular also in the field of digital cameras, mobile phone cameras, microscope, microlithography, optical data storage or other applications in the field of consumer or industry applications.例文帳に追加

光学セラミックから成る光学素子は、特にデジタルカメラ、携帯電話用カメラ、顕微鏡、マイクロリソグラフィー、光データ記憶、あるいはコンシューマあるいは産業分野における他用途において、ガラスレンズ、あるいは他のセラミックレンズと組み合わせたレンズ系として利用可能である。 - 特許庁

To provide a laser scanning microscope capable of efficiently detecting fluorescence generated by excitation with a laser beam from a first scanning optical system with preventing entry of a second laser beam into the first scanning optical system even when a plurality of scanning optical system are used.例文帳に追加

複数の走査光学系を使用した場合においても、第２のレーザ光が第１の走査光学系の光検出系に進入することを防ぎ、第１の走査光学系のレーザ光により励起された蛍光を効率良く検出することが可能な走査型レーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Regarding the optical microscope including a finite objective lens or a pair of infinite objective lenses and an imaging lens, by dividing an optical path behind the imaging lens into two and making a difference in optical path lengths, two images having different focuses are projected on the light receiving surface of an image acquisition apparatus such as a CCD camera.例文帳に追加

有限系対物レンズ、あるいは、一対の無限系対物レンズと結像レンズを備えた光学顕微鏡において、結像レンズ以降の光路を二つに分け、光路長に差を与えることにより、二つの焦点の異なる像をＣＣＤカメラ等の画像取得装置の受光面に投影する。 - 特許庁

In the optical microscope 6, some spots 2 on an object 1 are observed by using an optical transmission screen 3 with modifiable lighting arranged on the path 9 of an optical beam and capable of forming a screen picture substantially coincident with the spots on the object in the object surface 7.例文帳に追加

光学顕微鏡６は、光学ビームの通路９に配置されて物体のスポットと実質的に一致したスクリーン映像を物体面７の中に発生する事のできる照射変更自在型光学伝送スクリーン３を使用して物体１の数スポット２を観察する事のできる顕微鏡である。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope which prevents second laser light from impinging on a light detection system of a first scanning optical system to efficiently detect fluorescence excited by the laser light of the first scanning optical system in the case a plurality of scanning optical systems are used.例文帳に追加

複数の走査光学系を使用した場合においても、第２のレーザ光が第１の走査光学系の光検出系に進入することを防ぎ、第１の走査光学系のレーザ光により励起された蛍光を効率良く検出することが可能な走査型レーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope optical system capable of improving workability in micromanipulation without the need of the change of magnification performed by the rotation of an objective lens by a revolver by disposing a high magnifying power observation optical system to face oppositely to a low magnifying power observation optical system.例文帳に追加

低倍率の観察光学系と高倍率の観察光学系を対向させて配置することにより、レボルバでの対物レンズの転換による倍率の変換を行う必要がなく、マイクロマニピュレーションでの作業性の向上が図れる顕微鏡光学系を提供する。 - 特許庁

A microscope apparatus includes: an observation optical system 70 for magnifying and observing the specimen; and an illuminating device 80 for emitting spot light serving as an index when the specimen is positioned within the field of view of the observing optical system 70 or for emitting illuminating light for illuminating the inside of the field of view of the observation optical system 70.例文帳に追加

顕微鏡装置は、試料を拡大観察する観察光学系７０と、試料を観察光学系７０の視野内に位置させる際の指標となるスポット光、または観察光学系７０の視野内を照明するための照明光を照射する照明装置８０と、を備える。 - 特許庁

To provide an optical trap probe near-field light microscope, capable of obtaining a high S/N ratio in a near-field light detection signal captured stably and detected by an optical trap probe, and to provide a near-field optical detection method.例文帳に追加

本発明は、光トラッププローブを安定的に捕捉でき、かつ検出される近接場光検出信号において高いＳ／Ｎを得ることを可能とする光トラッププローブ近接場光学顕微鏡装置及び近接場光検出方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope, the so-called proximity field optical microscope which can modulate P-polarized component of linear polarization to allow laser radiation on probe tip etc., and also can modulate scattered light as a SNOM signal to observe optical properties of a sample, even when the probe measures the sample while always contacting it.例文帳に追加

レーザーをプローブ先端などへ直線偏光のＰ偏光成分を変調して照射できるようにし、更には、プローブが試料と常に接触しながら測定する場合においても、ＳＮＯＭ信号としての散乱光を変調し得て、試料の光物性を観察することのできる走査型プローブ顕微鏡、所謂近接場光学顕微鏡を得ようとする。 - 特許庁

To provide a device in which the change in the power and/or wavelength of a laser beam source does not affect the power of the light coupled to an optical assembly and a confocal scanning microscope as the device for coupling the light of at least one wavelength of the laser beam source the optical assembly and the confocal scanning microscope.例文帳に追加

この発明は、レーザ光源の少なくとも１つの波長の光を光学組立物に結合するための装置および共焦点走査型顕微鏡であって、レーザ光源のパワーおよび／または波長における変化が光学組立物に結合される光のパワーに影響を及ぼさない装置および共焦点走査型顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

An optical microscope device is provided with a casing 20 which stores an optical member 21, a sample room 10 having an airtight structure and an environmental control section which controls temperature and humidity of the sample room 10 and controls temperature of the casing 20.例文帳に追加

光学顕微鏡装置は、光学部材２１を収納する筺体２０と気密構造の試料室１０と試料室１０の温度および湿度を制御するとともに筺体の温度を制御する環境制御部を備えている。 - 特許庁

To provide a laser scan type microscope wherein an aperture diaphragm is arranged in front of a detector so as to have at least one detection optical path, and by which various kinds of wavelength of detected light are focused in the aperture diaphragm plane in the detection optical path.例文帳に追加

検出器の前に孔絞りが配置されている、少なくとも１つの検出光路を有するレーザ走査型顕微鏡であって、検出された光のさまざまな波長を検出光路内の孔絞り平面内へフォーカシングする。 - 特許庁

Illumination light is applied to the objective lens 19 to observe an image forming spot, and the position of the image forming spot and the mark 17a for alignment of the diffraction optical element 17 are made to coincide with each other while observing them by an optical microscope, etc.例文帳に追加

対物レンズ１９に対して照明光を当ててその結像スポットを観察し、結像スポットの位置と回折光学素子１７の芯合わせ用マーク１７ａとを光学顕微鏡などで観察しつつ一致させる。 - 特許庁

In the stereoscopic microscope, an objective optical system 21 is arranged in a longitudinal direction state and a zoom optical system 22 is arranged in a lateral direction state and is divided into two groups arranged parallel to each other so that they are in the same level in a longitudinal direction.例文帳に追加

対物光学系２１を縦向き状態で配置する一方、ズーム光学系２２は横向き状態で配置し、且つ該ズーム光学系２２が縦方向で同じレベルとなる２系統に分かれた並列状態で配置されている。 - 特許庁

To provide a focus detector which adapts itself to an objective lens form a low power to a high power and can widen the AF capturing range of the high-power objective lens and an optical microscope or optical inspection apparatus having the same.例文帳に追加

低倍から高倍までの対物レンズに適合し、且つ、高倍対物レンズでのＡＦ捕捉範囲を広くすることが可能な焦点検出装置及びそれを備えた光学顕微鏡又は光学検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an illumination optical system for enabling bright phase difference observation and dark field observation by obtaining annular illumination without losing light intensity from a light source, and to provide an illumination optical system for an exposure device and a microscope lighting system using it.例文帳に追加

光源からの光量を損失することなく輪帯照明を得られ、明るい位相差観察や暗視野観察が可能な照明光学系、露光装置用の照明光学系とそれを用いた顕微鏡照明装置。 - 特許庁

To provide an automatic focusing optical device which does not occupy a space between an objective lens and a second objective lens and permits a quick focusing operation for a specimen, and to provide an inverted microscope having the automatic focusing optical device.例文帳に追加

対物レンズと第２対物レンズとの間をオートフォーカス光学装置が占有することなく、かつ標本に対する俊敏な合焦動作を可能にするオートフォーカス光学装置と、これを有する倒立顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To detect light emission from a detection object substance, in the presence of a foreign substance of emitting self-fluorescence, in a technology for measuring and analyzing fluorescence or phosphorescence by using an optical system of a confocal optical microscope.例文帳に追加

共焦点光学顕微鏡の光学系を用いて蛍光又はりん光を計測し分析する技術に於いて、自家蛍光を発する夾雑物の存在下で、検出対象物質からの発光を検出できるようにすること。 - 特許庁

The microscope 1 provided with an illuminating optical system 5, an objective lens 6, and a spectroscope 14 is provided with an imaging optical system 12 taking an entrance aperture 14a of the spectroscope 14 and a pupil surface 7 of the objective lens as a conjugate pair.例文帳に追加

照明光学系５、対物レンズ６および分光器１４を備える顕微鏡１において、分光器１４の入射開口１４ａと対物レンズの瞳面７とを共役とする結像光学系１２を備えるようにする。 - 特許庁

To provide an electric field modulation spectrum near-field optical microscope devised to analyze linear and nonlinear physical characteristics by obtaining a spectrum as optical responsiveness by electric field modulation in a local region of an nm order.例文帳に追加

ｎｍオーダの局所領域において電場変調による光学応答性としてのスペクトルを得、線形及び非線形の物理特性を解析するようにした電場変調スペクトル近接場光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

An electrically driven zoom lens barrel 23 of the optical microscope 20 is arranged so as to extend in a Z axis direction at a side of a sample mounting stand 30, and an optical axis conversion mirror is arranged at an upper end part of the electrically driven zoom lens barrel 23.例文帳に追加

光学顕微鏡２０の電動ズーム鏡筒２３は、試料載置台３０の側方においてＺ軸方向に延びるように配置され、光軸変換ミラーは電動ズーム鏡筒２３の上端部に配置されている。 - 特許庁

The light released by the illumination light source 11 for alignment is guided to an alignment light exit section 13 for darkfield illumination across an optical fiber 14 and irradiates a work mark WAM from outside the optical path of the imaging system of the alignment microscope 1.例文帳に追加

アライメント用照明光源１１が放出する光は、光ファイバ１４を介して暗視野照明用アライメント光出射部１３に導かれ、アライメント顕微鏡１の結像系の光路外からワークマークＷＡＭを照明する。 - 特許庁

A microscope (detecting means) 10 observes a polarization holding optical fiber 1 in a direction parallel to an irradiation direction of refractive index varying exciting light A and a computer 18 finds the bearing of the optical fiber 1 according to the observed image.例文帳に追加

顕微鏡（検出手段）１０は、屈折率変化誘起光Ａの照射方向と平行な方向から偏波保持光ファイバ１を観察し、コンピュータ１８は、この観察像に基づいて偏波保持光ファイバ１の方位を求める。 - 特許庁

The lens barrel 10 for an optical observing device having a linearly variable visual field height in length and/or height, especially for the microscope, includes an optical path in which at least two optical elements 23, 24 are disposed, wherein at least the two optical elements 23, 24 are disposed to be movable independently of each other in the optical path.例文帳に追加

長さおよび／または高さで線状に可変の視野高を有する光学観察装置、特に顕微鏡のための鏡胴（１０）であって、前記鏡胴（１０）が、少なくとも２つの光学要素（２３、２４）が配設された光学光路を有する鏡胴において、 少なくとも２つの光学要素（２３、２４）が互いに独立して可動式に光学光路内に配設されている鏡胴である。 - 特許庁

This multiwavelength observation optical probe microscope has an optical probe, capable generating an optical field localized on the leading end thereof, a light source for emitting a plurality of selectable exciting lights in the optical probe and a scanning means for scanning the optical probe.例文帳に追加

光プローブと、光検出手段と、データ収集手段と、光源が少なくとも２つ以上の選択可能な波長の励起光を発生できるとともに、さらに、動的光路変更手段を有し、励起光の光路の制御を行うことによって、同一試料に対して複数の蛍光イメージを取得することで、複数種の蛍光標識を識別して相対的な位置情報を解析できるようにした。 - 特許庁

The device has a positioning unit (20) having: a main body (22); an objective holder (24) movably supported on the main body and adapted to hold the microscope objective (26); and an actuator (27) for moving the objective holder (24) along the optical axis (O) of the microscope objective.例文帳に追加

この装置には、本体（２２）と、本体上で移動可能に支持され、かつ顕微鏡対物レンズ（２６）を保持するように構成された対物レンズホルダ（２４）と、顕微鏡対物レンズの光軸（Ｏ）に沿って対物レンズホルダ（２４）を移動させるためのアクチュエータ（２７）と、を有する位置決めユニット（２０）が含まれる。 - 特許庁

To provide a sample image observation method, an image processing device, and a charged particle beam device suitable for selecting an image region to be acquired by the charged particle beam device represented by an electron microscope based on an image obtained by an optical microscope.例文帳に追加

本発明は、光学顕微鏡によって取得された像に基づいて、電子顕微鏡に代表される荷電粒子線装置にて取得すべき画像領域を選択するのに好適な試料像観察方法，画像処理装置、及び荷電粒子線装置を提供することを目的とするものである。 - 特許庁

To provide an atomic force microscope which can precisely detect interaction quantity due to interatomic force between a cantilever and a sample with a measurement method using light such as an optical lever method, even when the cantilever is driven in high speed in the Z direction, and to provide a cantilever support of the atomic force microscope.例文帳に追加

カンチレバーをＺ方向に高速に駆動した場合にも、光てこ法等の光を使った測定法でカンチレバーの試料との間の原子間力による相互作用量を正確に検出できる原子間力顕微鏡及びそのカンチレバー支持具を提供する。 - 特許庁

An annotation setting part 503 receives the setting of position information associated with annotation for at least one image data, among the image data captured by the microscope, respectively, at a plurality of different positions in an optical axis direction of the microscope of one observation object, from a user.例文帳に追加

アノテーション設定部５０３は、顕微鏡によりそれぞれ撮像され、１つの観察対象物の顕微鏡の光軸方向における異なる複数の位置の画像データのうち、１以上の画像データに対するアノテーションに関する位置情報の設定を利用者より受け付ける。 - 特許庁

To classify defects very effectively, simply and exactly by using the minimum defect information, by obtaining only defect information required to classify the defects, when identifying and classifying the defects of objects to be inspected by using an optical microscope and an electron microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡及び電子顕微鏡を用いて被検査体の欠陥を識別して分類するに際して、欠陥の分類を行うのに必要な欠陥情報のみを取得し、最小限の欠陥情報により極めて効率良く、極めて簡易且つ正確に欠陥の分類を行う。 - 特許庁

To provide an image luminance adjustment method in a transmission electron microscope that enables the acquisition of image data at the optimum luminance with the same optical conditions as those of transmission electron microscopes, regarding an image luminance adjustment method and system in a transmission electron microscope.例文帳に追加

本発明は透過電子顕微鏡における画像の輝度調整方法及びシステムに関し、透過電子顕微鏡の光学条件は同一のまま、最適な輝度で画像データを取得することができる透過電子顕微鏡における画像の輝度調整方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a trinocular tube capable of adjusting a binocular inclined observation angle for an eyepiece lens connectable with a stereo microscope and guiding at least one of both optical paths of stereo microscope into a camera connection pipe on the arbitrary place of inclined line of sight by means of a simple means.例文帳に追加

立体顕微鏡と連結できる接眼レンズに対する双眼傾斜観察角度を調整することができ、傾斜視線の任意の場所で立体顕微鏡両光路の少なくとも１つを簡単な手段によりカメラ接続管に導き入れることのできる三眼鏡筒を提供すること。 - 特許庁

To provide a probe for a scanning probe microscope that sets contact resistance to low impedance of the same degree as a bulk metal and measures the position of the probe, which traces the surface of a sample being a target measuring article by a means other than an optical means, and to provide the scanning probe microscope using the same.例文帳に追加

接触抵抗をバルク金属と同程度の低インピーダンスにすると共に、光学的手段以外の手段により、対象測定物である試料表面をトレースするプローブの位置を計測する走査型プローブ顕微鏡用プローブ及びそれを用いた走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Driving speed, in changing the distance between a sample S being an object to be observed by the microscope 1 and an objective 13 by driving a motor-driven focusing mechanism 10 for adjusting the distance, is controlled by a controller 2, based on the depth of focus of the observation optical system of the microscope 1.例文帳に追加

顕微鏡１での観察対象である試料Ｓと対物レンズ１３との間の距離を調整する電動焦準機構１０を駆動して当該距離を変化させる際の当該駆動の速度を、顕微鏡１の観察光学系の焦点深度に基づいてコントローラ２が制御する。 - 特許庁

A second movable stage is disposed between a microscope and a sample placed on a first stage, and in a state the second movable stage is moved, the center part of the second movable stage is positioned on the optical axis of the microscope, then, the work for the captured foreign substance and the specified part can be easily performed by the manipulator needle within the visual field of the microscope.例文帳に追加

移動可能な第二のステージを顕微鏡と第一のステージに載置された試料との間に配設するとともに移動可能な第二のステージを移動した状態は顕微鏡の光学軸上に移動可能な第二のステージの中心付近に移動されることで、操作針で捕捉した異物や特定部位を顕微鏡の視野範囲で容易に作業ができるようにする。 - 特許庁

In the laser scanning type microscope equipped with the optical system for observation and the optical system for luminous stimulus, the optical system for observation includes a scanning means for scanning a sample surface with a spot obtained by condensing exciting light, and the optical system for luminous stimulus irradiates wide field with stimulating light.例文帳に追加

本発明の上記課題は、観察用光学系と光刺激用光学系を備えたレーザー走査型顕微鏡において、前記観察用光学系は励起光を集光させたスポットを試料面で走査する走査手段を備え、前記光刺激用光学系は刺激光をワイドフィールド照射することを特徴とするレーザー走査型顕微鏡によって解決される。 - 特許庁

The filter slider 101 for the microscope adhered and fixed with a first optical element 103 and with a second optical element 102 at a mounting member 104, so as to face each other is provided with a vent hole 106 for making the space between the first optical element 103 and the second optical element 102 at the mounting member 104 described above, communicate with the outside.例文帳に追加

第１の光学素子１０３と第２の光学素子１０２とを対向させて、取付け部材１０４に接着固定した顕微鏡用フィルタースライダ１０１において、前記第１の光学素子１０３と前記第２の光学素子１０２との空間部を外部に連通させる通気孔１０６を前記取付け部材１０４に設ける。 - 特許庁

To provide a near-field optical probe with a low elasticity constant and a high resonance frequency and its manufacturing method, and a microscope, a recording/reproducing device, and a fine-machining device using them.例文帳に追加

弾性定数が低く、共振周波数の高い近接場光プローブとその作製方法、及びこれらを用いた顕微鏡、記録再生装置、微細加工装置を提供する。 - 特許庁

This test sample is observed with an optical microscope and the observed image is picked up with an image pickup element such as a CDC camera to form a sample image.例文帳に追加

次に、この試験サンプルを光学顕微鏡によって観察し、この光学顕微鏡によって観察した観察画像を、ＣＣＤカメラ等の撮像素子により撮像し、サンプル画像を生成する。 - 特許庁

To provide an inverted microscope which permits the insertion and removal of an image pickup optical path without renewal of a body tube simply by inserting and removing an intermediate body tube unit between a body and the tube body.例文帳に追加

中間鏡筒ユニットを鏡体と鏡筒との間に挿脱するだけで鏡筒をバージョンアップすることなしに撮像光路を挿脱できる倒立型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To enhance performance of a near field light recording apparatus and a near field light microscope each using a near field light generation element by enhancing optical efficiency of the near field light generation element.例文帳に追加

近視野光発生素子の光効率を向上させ、その近視野光発生素子を用いた近視野光記録装置および近視野光顕微鏡の性能を向上させる。 - 特許庁

To provide an optical microscope with which appropriate microscopic observation can be realized in the center of observation field even when a sample S is at a position deviated from the center axis of the curved liquid level of a culture solution.例文帳に追加

標本Ｓが培養液の彎曲液面の中心軸から外れた位置にあっても観察視野の中央で適正な顕微鏡観察ができる光学顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a microscope having an auto-focusing function using a phase difference optical system that can remove ghosts attributable to a light ray branching element, and to provide a ghost removing method.例文帳に追加

位相差光学系を用いたオートフォーカス機能を有する顕微鏡において、光線分岐素子に起因するゴーストを除去することが可能な顕微鏡及びゴースト除去方法を提供する。 - 特許庁

To provide a calibration method for near field scanning optical microscope laser processing device and a device thereof capable of performing combination from/to a NSOM probe and to an NSOM probe of laser beam efficiently.例文帳に追加

レーザ光のＮＳＯＭプローブへの、またＮＳＯＭプローブからの結合を効率よく行うニアフィールド走査光学顕微鏡レーザ加工装置の較正方法および装置を得る。 - 特許庁