| 意味 | 例文 |
optical microscopeの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1392件
To provide a microscope objective lens which is structurally compact and makes rapid focusing or rapid scanning of a sample in an optical axis (z scanning) possible.例文帳に追加
構造がコンパクトで、光軸方向(z走査)の試料の迅速なフォーカシングまたは迅速な走査を可能にする顕微鏡対物レンズを提供する。 - 特許庁
To provide a scanning laser microscope with which confocal scanning images can be obtained even relating to light beams from any of a plurality of scanning optical systems.例文帳に追加
複数の走査光学系のいずれからの光ビームについても共焦点走査画像を得ることのできる走査型レーザー顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To inspect and operate a three-dimensional body which is larger than the depth of focus of a microscope objective whose extent along an optical axis is used (allowing body operation on the three-dimensional body at any position in this case).例文帳に追加
光軸に沿ったその広がりが使用される顕微鏡対物レンズの焦点深度より大きい三次元物体をも検査及び操作すること。 - 特許庁
To provide a sample preparation method for electron microscope observation and a sample preparation kit, by which a sample present in a liquid and having floating property can be efficiently prepared by an optimal method to be observed with an optical microscope while suppressing the floating property, a sample to be an object for electron microscope observation is specified in the sample, and the specified sample can be precisely observed with an electron microscope.例文帳に追加
最適な方法で効率良く、液体中に存在し浮遊性を有するサンプルの浮遊性を抑止して光学顕微鏡で観察できるようにし、また、そのサンプルの中から電子顕微鏡観察の対象とすべきサンプルを光学顕微鏡で特定し、特定したサンプルを電子顕微鏡で詳細に観察することを可能にする電子顕微鏡観察用サンプル作製方法と、そのサンプル作製キットを提供すること。 - 特許庁
A polynomial approximation expression is created based on a focus map of a previously measured optical microscope, and a control amount derived from the polynomial approximation expression by adding thereto wafer height information at creation time and a difference between it and another wafer height information at actual observation time is input as a focus control value for the optical microscope.例文帳に追加
予め測定された光学式顕微鏡のフォーカスマップを基に多項式近似式を作成し、その時のウエハ高さ情報と、実際の観察時におけるウエハ高さ情報との差分を前記多項式近似式に加算した制御量を光学式顕微鏡のフォーカス制御値として入力する。 - 特許庁
A sample is arranged on the slide of a laser dissection microscope to make the slide movable in parallel on an extension surface, and an adhesive collection system, with the center aligned with the optical axis, is lowered to the sample, bonded adhered to the sample, freely moved in parallel, together with the slide, and then strayed from the optical axis of the microscope.例文帳に追加
レーザ解剖顕微鏡のスライド上に試料を配置し、スライドはその延在面で平行移動可能とし、粘着性採集装置をその中心を光軸に合わせた状態で試料上まで下降させ、試料に付着させてスライドと共に自由に平行移動しかつ顕微鏡の光軸から外れる。 - 特許庁
To provide a method and an apparatus for putting a defect of an observational object in a view of an electron microscope, etc. without failure, and further making a scale of the apparatus small, in the method and the apparatus for observing the defect detected by an optical foreign matter inspection device or an optical visual inspection device with the electron microscope in detail.例文帳に追加
光学式異物検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を電子顕微鏡で詳細に観察する方法およびその装置において、観察対象の欠陥を確実に電子顕微鏡等の視野内に入れることができ、かつ、装置規模を小さくできる方法およびその装置を提供する。 - 特許庁
The optical fiber end face observation microscope 10 which is capable of easily changing the direction of the front end projected from a fiber holder 14 of the optical fiber 13 fixed to the fiber holder 14 with respect to a microscope body 12 by rotating a holder holding section 15 for holding the fiber holder 14 by a direction changing mechanism 20.例文帳に追加
ファイバホルダ14を保持するホルダ保持部15を向き変更機構20によって回転することで、前記ファイバホルダ14に固定された光ファイバ13の前記ファイバホルダ14から突出された先端の顕微鏡本体12に対する向きを容易に変更できる光ファイバ端面観察顕微鏡10を提供する。 - 特許庁
The microscope device includes the predetermined rotatable optical element which is present on an optical axis and is configured to adjust optical environment, a rotating means which rotates the optical element, and a control means which controls the rotating means to control so that the rotating direction of the optical element is a first rotating direction at least when stopping the rotation of the optical element.例文帳に追加
光軸上に存在し、光学環境を調整するための回転可能な所定の光学素子と、前記光学素子を回転させる回転手段と、少なくとも前記光学素子の回転を停止させる場合、前記回転手段を制御して、該光学素子の回転方向を第1の回転方向で制御する制御手段と、を備える顕微鏡装置により、上記課題の解決を図る。 - 特許庁
To provide a control method for optical illumination system for DUV (deep ultraviolet) laser microscope, by which highly accurate image observation or image measurement can be performed by easily removing luminosity non- uniformity inside an illumination field to occur in a DUV laser microscope.例文帳に追加
DUVレーザ顕微鏡において発生する照野内の輝度ムラを簡便に取り除き、高精度の画像観察や画像計測を行うことが可能ななDUVレーザ顕微鏡の照明光学系の調整方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
The light-shielding device 7 for the microscope includes a first light-shielding part 16 having an opening abutting on the entire periphery of the leading end of the optical member 9, located nearest the stage side of the imaging optical system of the microscope 1 or nearest the stage side of the illuminating optical system thereof, and the light-shielding device 7 prevents external light from being incident on a specimen 3.例文帳に追加
顕微鏡1における結像光学系中の最もステージ側に位置する光学部材9、又は照明光学系中の最もステージ側に位置する光学部材の先端の外周全体に当接する開口部が形成された第1遮光部16を有し、外部からの光が試料3へ入射することを防ぐことを特徴とする顕微鏡用遮光装置7。 - 特許庁
To provide a lens barrel for microscope having light and inexpensive constitution, in which the height of an imaging apparatus attaching part can be secured without using an optical element for extending an image position and there is no degradation of colors and an image of an imaging optical path.例文帳に追加
像位置を延ばすための光学素子を用いることなく撮像装置取付部の高さを確保し、撮像光路の色と像の劣化のない、軽量かつ安価な構成の顕微鏡鏡筒を実現する。 - 特許庁
In this mapping type electron microscope, an illuminating mirror cylinder 11 is disposed to have an angle of θ1 relative to an optical axis and an illuminating mirror cylinder 12 is disposed to have an angle of θ2 relative to the optical axis, these cylinders 11 and 12 emit electron beams to the center of a Wien filter 13.例文帳に追加
照明鏡筒11は光軸とθ1の角度、照明鏡筒12は光軸とθ2の角度をなして設けられ、ウィーンフィルター13の中心に向けて電子ビームを放出している。 - 特許庁
To provide an optical apparatus for observation, with the optical apparatus configured so as to be switched between the position used for microscope observation and the position used for other purposes, by moving the illumination light source through a simple mechanism and using only simple operations.例文帳に追加
簡単な機構でかつ容易な操作のみで照明光源を移動させて顕微観察用途とそれ以外の用途にそれぞれ適した位置に切り換え得るようにした観察用光学機器を提供する。 - 特許庁
To provide an optical element with a dielectric multi-layered film which can obtain a visual field while suppressing lightness unevenness and color unevenness as much as possible even when the element is arranged in an optical path and a microscope which uses it.例文帳に追加
光路中に配置しても明るさムラや色ムラを極力抑えた視野を得ることができる誘電体多層膜を有する光学素子及びそれを用いた顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide an apparatus, method and program for focus correction, and microscope which can stabilize the focus even when non-optical system elements generate a drift in different direction from the direction of a drift caused by optical system.例文帳に追加
光学系のドリフト方向とは異なる方向にドリフトを生じさせる光学系以外の要素があってもフォーカスを安定化し得るフォーカス補正装置、フォーカス補正方法、フォーカス補正プログラム及び顕微鏡を提案する。 - 特許庁
To improve the accuracy of measuring marks themselves and to prevent the erroneous judgment by the personal differences among measuring persons, the optical axis misalignment of an optical microscope used for measurement, etc., in measuring misalignment in superposition between different layers.例文帳に追加
異なるレイヤー間の重ね合わせずれ測定において、測定マーク自身の精度自体の向上と、測定者間による個人差や測定に用いる光学顕微鏡の光軸ずれ等による誤判定を防止。 - 特許庁
When a sample having a low reflective index on the sample surface is observed, an operator moves an optical microscope 21 along an optical axis O so as to focus an illuminating light transmitted by a half mirror 23 onto the cantilever.例文帳に追加
試料表面の反射率が低い試料を観察するときは、オペレータは、ハーフミラー23を透過した照明光がカンチレバ上にフォーカスするように、光学顕微鏡21を光軸O方向に沿って移動させる。 - 特許庁
The microscope (30 to 80) includes an illuminating optical system (40) for irradiating the analyte under a prescribed illumination condition, an imaging optical system (70) for forming an image of the analyte, and an image sensor (80) for outputting an image signal.例文帳に追加
顕微鏡(30〜80)は、被検体に所定照明条件で照射する照明光学系(40)と、被検体の像を形成する結像光学系(70)と、画像信号を出力するイメージセンサ(80)と、を備える。 - 特許庁
Since an optical filter 19 to cut the light on the infrared side is mounted in the fixed state in the internal optical path 13 of the microscope 1, the light in the infrared region to become heat rays can be securely eliminated.例文帳に追加
顕微鏡1の内部光路13に赤外側の光をカットする光学フィルター19が固定された状態で設けられているため、熱線となる赤外領域の光を確実に除去することができる。 - 特許庁
To provide a light source device capable of supplying light from a light source simultaneously to a plurality of optical devices including a microscope, and changing the light quantity instantly, and to provide an optical device having the light source device.例文帳に追加
顕微鏡を含む複数の光学装置に対して光源からの光を同時に供給、かつ瞬時にその光量を変更することができる光源装置と、これを有する光学装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a microscope control device that can suppress a computation load required for distortion correction processing in a defocus detection processing using a phase-difference optical system, and an optical distortion correction method thereof.例文帳に追加
位相差光学系を用いたデフォーカス検出処理において、ディストーション補正処理に要する演算負荷を抑制することが可能な顕微鏡制御装置及び光学的歪み補正方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a reflecting X-ray microscope using an image-forming optical system provided with a convex mirror and a concave mirror and capable of observing an image of a sample placed approximately perpendicular to an optical axis yet in a reflecting position.例文帳に追加
凸面鏡と凹面鏡を具備した結像光学系を用いて、試料を光軸にほぼ垂直に配置して、なおかつ反射型の配置で像を観察することのできる反射型X線顕微鏡を得る。 - 特許庁
The observation apparatus includes an incident-light illumination optical system, a transmitting illumination optical system, an imaging unit 18, an input device 56, a storage unit 58, an imaging controller 51, a microscope controller 52, and an imaging information management unit 54.例文帳に追加
観察装置は、落射照明光学系、透過照明光学系、撮影部18、入力装置56、記憶装置58、撮影制御部51、顕微鏡制御部52および撮影情報管理部54を備える。 - 特許庁
The scanning type laser microscope is equipped with a 1st scanning optical system A for obtaining the scanning image of the sample 19 and a 2nd scanning optical system B for causing the singular phenomenon at the specific position of the sample 19.例文帳に追加
走査型レーザ顕微鏡は標本19の走査画像を得るための第1の走査光学系Aと、標本19の特定の部位に特異現象を発現させるための第2の走査光学系Bとを備える。 - 特許庁
To provide an adhesive composition for an optical element that continuously suppresses the emission of fluorescence from a cement excited by an excitation light falling on cemented optical elements of a fluorescence microscope and is free from discoloration of the cement and peeling of the cemented surface and to provide a cemented structure.例文帳に追加
蛍光顕微鏡の接合光学素子に対し、励起光による接合剤の蛍光を連続的に抑え、変色や剥がれのない光学素子の接着剤組成物及び接着構造体を提供する。 - 特許庁
The reflecting X-ray microscope includes the convex mirror 1 constituting a Schwarzschild optical system, the concave mirror 2 provided with an aperture 8 and a diaphragm 9 for preventing illuminating light 5 from being blocked by the optical system, and an image detector 4.例文帳に追加
シュバルツシルド光学系を構成する凸面鏡1と、照明光5が光学系で遮られるのを避けるための開口部8と絞り9が設けられた凹面鏡2と、画像検出器4とを具備する。 - 特許庁
An adaptor 25 is provided in the casing for the microscope 10, and the endoscope 30 can be held so that the endoscopic objective optical system can be arranged in a position to enable the obtainment of the optical image which passes through the microscopic objective optical system.例文帳に追加
アダプタ25は、前記手術用顕微鏡10の筐体に設けられ、前記内視鏡対物光学系が前記顕微鏡対物光学系を通過した光学像を得ることが可能な位置に配置されるように前記内視鏡30を保持可能になっている。 - 特許庁
To provide a light intensity distribution correction optical system configured so that the intensity distribution of diverging light from a light source is made to be uniform, light utilization efficiency is improved, a difference in NA of the light source is easily absorbed, and cost reduction is achieved, and also to provide an optical microscope using the light intensity distribution correction optical system.例文帳に追加
光源からの発散光の光強度分布を均一化すると共に光利用効率を向上させ、光源のNAの違いを容易に吸収し、かつローコストな光強度分布補正光学系およびそれを用いた光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a scanning laser microscope using a plurality of scanning optical systems, and capable of preventing the same area from being irradiated simultaneously with laser light beams emitted from respective scanning optical systems, even when areas to be scanned by the scanning optical systems overlap each other.例文帳に追加
複数の走査光学系を使用し、各走査光学系の走査領域が重なり合うような場合でも、各走査光学系からのレーザ光が同時に同じ領域を照射しないようにすることが可能な走査型レーザ光顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a laser scanning type microscope capable of achieving optimum irradiation with a light beam respectively for a laser scanning optical system for observation and an optical system for luminous stimulus by performing luminous stimulus and observation by the use of optical systems having different characteristics.例文帳に追加
本発明の課題は、観察用のレーザー走査光学系と光刺激用の光学系とを異なる特性の光学系を使って光刺激と観察を行うことにより、それぞれに最適な光線の照射が可能なレーザー走査型顕微鏡を提供することである。 - 特許庁
The laser scanning type microscope equipped with an acoustooptical element or an electrooptical element in an illumination optical system for introducing the laser beam from the laser beam source of the laser scanning type microscope into the microscope is equipped with a beam expander (120) arranged between the laser beam source (110) and the acoustooptical element or the electrooptical element (130).例文帳に追加
レーザ走査型顕微鏡のレーザ光源からのレーザ光を顕微鏡に導入する照明光学系内に、音響光学素子又は電気光学素子を備えたレーザ走査型顕微鏡において、前記レーザ光源(110)と、前記音響光学素子又は電気光学素子(130)との間に配置されたビームエキスパンダー(120)を具備する。 - 特許庁
One end part of a light guide OF is provided with a light shielding member 26 made of resin and having elasticity, which can be connected to a microscope body for observing an observation object and intercepts an optical path of the light guide OF when the connecting state between the light guide OF for guiding illuminating light of a light source to the microscope body and the microscope body is released.例文帳に追加
観察対象物を観察する顕微鏡本体に接続可能であり、光源の照明光を顕微鏡本体に導くライトガイドOFと顕微鏡本体との接続状態が解除されたとき、ライトガイドOFの光路を遮断する樹脂製で弾性を有する遮光部材26をライトガイドOFの一端部に設けた。 - 特許庁
A light projecting unit 3 is stored in a light projecting optical system storage section H of a microscope main body 1 from an opening section 32 formed on the bottom surface of the microscope main body 1 and a lever 31, various knobs 30 and a light guide 24 are mounted for the stored light projecting unit 3 from an opening section 75 formed on the side surface of the microscope main body 1.例文帳に追加
投光ユニット3を顕微鏡本体1の底面に形成された開口部32から顕微鏡本体1の投光光学系収納部H内に収納し、この収納された投光ユニット3に対して顕微鏡本体1の側面に形成された開口部75からレバー31や各ツマミ30、ライトガイド24の取り付けを行うようにした。 - 特許庁
To provide a microscope stage by which a stable observed image where one-sided blur is hardly caused is obtained regardless of an observation sample, which has compact shape that space in an optical axis direction is restrained, and where the optional position of the observation sample is easily moved to the vicinity of the center of rotation, and to provide a microscope on which the microscope stage is mounted.例文帳に追加
観察試料に関係なく片ボケを生じにくい安定した観察像を得られるとともに、光軸方向のスペースを抑えたコンパクトな形状を有し、観察試料の任意の位置を回転中心付近に簡単に移動可能にした顕微鏡ステージおよびこの顕微鏡ステージを搭載した顕微鏡を提供すること。 - 特許庁
One end part of a light guide OF is provided with a light shielding member 26 made of resin and having elasticity, which can be connected to a microscope body for observing an observation object and intercepts an optical path of the light guide OF when the connecting state between the light guide OF for guiding illuminating light of a light source to the microscope body and the microscope body is released.例文帳に追加
観察対象物を観察する顕微鏡本体に接続可能であり、光源の照明光を顕微鏡本体に導くライトガイドOFと顕微鏡本体との接続状態が解除されたとき、ライトガイドOFの光路を遮断する弾性を有する樹脂製遮光部材26をライトガイドOFの一端部に設けた。 - 特許庁
To provide a zoom imaging lens used as a 2nd imaging lens of an infinite-distance correction type microscope system, specially, an electron image microscope system that is small-sized and has excellent optical performance, sufficient zoom power, and an object-side pupil position fixed in each power variation area.例文帳に追加
小型で良好な光学性能と、十分なズーム倍率を有し、物体側の瞳位置が各変倍域で固定された無限遠補正型顕微鏡システム、特に電子画像顕微鏡システムの第2結像レンズに使用される、ズーム結像レンズを提供する。 - 特許庁
To solve a problem in which an electron beam holography observation using a transmission type electron microscope has a complicated condition search of an electron optical system for achieving a required space resolution, and takes a long time for a person who is not familiar with the operation of an electron microscope.例文帳に追加
透過型電子顕微鏡を用いた電子線ホログラフィ観察は、要求する空間分解能を実現させるための電子光学系の条件探索が複雑であり、電子顕微鏡の操作に不慣れな者にとっては長時間を費やす作業である。 - 特許庁
The system is constituted to judge the existence of a vibration of a microscope section 5 held by a movable arm 3 which is disposed with free motion adjustment and to correct a blur of an observation image obtained by the microscope section 5 while a variable power optical system 12 is set at a magnification the same as or lower than a desired magnification.例文帳に追加
移動調整自在に設けられる可動アーム3に保持された顕微鏡部5の振動の有無を判定して、変倍光学系12が所望の倍率以下で顕微鏡部5で得られる観察像のぶれを補正するように構成したものである。 - 特許庁
To provide a phase plate of an electron microscope which minimizes shielding of an electron wave and prevents effect of charge of an insulation film without using an advanced manufacturing technology, and provide a phase difference electron microscope which does not require significant change and addition of an optical element.例文帳に追加
電子波の遮蔽を極小化し、かつ絶縁膜の帯電の影響を回避できる電子顕微鏡の位相板を高度な製造技術を利用せずに提供し、光学要素を大幅に変更・追加必要としない位相差電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁
This scanning probe microscope is equipped with a cantilever 21 having a probe 20, measuring parts 24, 32, or the like, for measuring the interatomic force generated between the probe and a sample when scanning the sample 12 surface by the probe or the like, a sample stage 11 and an optical microscope 18.例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡は、探針20を有するカンチレバー21、探針が試料12の表面を走査するとき探針と試料の間で生じる原子間力等を測定する測定部(24,32等)、試料ステージ11、光学顕微鏡18を備える。 - 特許庁
In the microscope having the holding apparatus, insertable reversibly into the microscope, for a plurality of interchangeable optical components, the holding apparatus is embodied as a pivoting tray system (10) that is arranged pivotably in and out about a pivot axis.例文帳に追加
交換可能な複数の光学要素のための担持装置が可逆的に挿入可能に配設された顕微鏡において、前記担持装置は、枢軸の周りで枢動的に挿脱可能に構成された枢動トレイ装置(10)として構成されることを特徴とする。 - 特許庁
A port 1a, to which a fiber guide 122 of a light guide fiber 105 for supplying an illuminating optical system 300 fixed at the inside of the housing of a binocular microscope 101 with illuminating light is inserted, is opened at a housing upper plate 1 of the binocular microscope.例文帳に追加
双眼顕微鏡101の筐体上板1には、双眼顕微鏡101の筐体内に固定された照明光学系300に照明光を供給するライトガイドファイバ105のファイバガイド122が挿入される挿入口1aが開けられている。 - 特許庁
To provide a microscope wherein the excellent field of illumination in both of low magnification observation and high magnification observation is secured without requiring optical axis adjustment.例文帳に追加
低倍率観察時及び高倍率観察時の双方における良好な照野を、光軸調整を要することなく確保できる手段の提供を課題とする。 - 特許庁
To provide a microscope which makes it possible to simply and plainly display the optical information which an operator wants to display without making the operator undergo an excessive operational procedure.例文帳に追加
操作者に余分な操作手順をさせることなく、操作者が表示を望む光学情報を、簡易に、かつ分かりやすく表示できる顕微鏡を提供する。 - 特許庁
OPTICAL MICROSCOPE OBSERVATION METHOD OF BOUND STATE AND AGGREGATE STATE (PATTERN) OF SUSPENDED MATTER IN AQUEOUS SOLUTION AND SUSPENDED MATTER PATTERN IMAGING METHOD USING THE SAME例文帳に追加
水溶液中の懸濁物質の結合状態、集合状態(模様)の光学顕微鏡観察方法と、その観察方法を使用した懸濁物質の模様の撮影方法 - 特許庁
To provide a cell culture material which can culture cells as different culture media on both the sides of the cells and simply observe the growth state of the cells with an optical microscope.例文帳に追加
細胞の両面を異なる培地として培養でき、かつ細胞の生育状況を光学顕微鏡で簡便に行なえる細胞培養用材料を提供する。 - 特許庁
To provide a very versatile optical system capable of reducing the illumination unevenness or observation image unevenness with a simple structure, and to provide an illumination device and a microscope device.例文帳に追加
簡易な構成で照明ムラや観察像のムラを低減することができる汎用性の高い光学系、照明装置および顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a fixing device of a sample for fixing a biological sample in a state where cells, or the like are alive at an optional point in time while observing by a horizontal optical microscope.例文帳に追加
細胞など生きた状態の生体試料を水平型光学顕微鏡で観察しながら任意の時点で固定することができる試料の固定装置を提供する。 - 特許庁
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