「optical microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(21ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a reaction observation container easily handeable and capable of safely observable, by macroscopic or light-optical microscope or the like, the reaction behavior of an active matter in the air such as sodium.例文帳に追加

ナトリウム等の空気中活性物質の反応挙動を、肉眼あるいは光学顕微鏡等で安全に観察でき、しかも容易に取り扱えるような反応観察容器を得る。 - 特許庁

To adjust the proportion of illuminating light introduced to a plurality of lighting optical systems of a microscope from one light source device, while restraining increase in cost and increase in size of the device.例文帳に追加

コストの増大や装置の大型化を抑制しつつ、１つの光源装置から顕微鏡の複数の照明光学系に導入する照明光の割合を調整できるようにする。 - 特許庁

To provide an information processor for correcting unpredictable brightness unevenness, a method of processing information, program and an image pickup device with an optical microscope mounted thereon.例文帳に追加

予測することが難しい明度ムラを補正することができる情報処理装置、情報処理方法、プログラム、及び光学顕微鏡を搭載した撮像装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a measuring microscope that achieves accurate overall measurement by using an optical system lens such as a comparatively inexpensive and narrow-field telecentric lens.例文帳に追加

本発明は、比較的安価で狭視野なテレセントリックレンズなどの光学系レンズを使用して高精度、かつ全体を見渡した測定を行うことが可能となる測定顕微鏡に関するものである。 - 特許庁

To provide a differential pumping scanning electron microscope capable of easily carrying out maintenance and inspection of various parts of an electron-optical system and a differential pumping orifice easily making spin finishing of a pipe.例文帳に追加

電子光学系の各部品及び差動排気用オリフィスの保守点検が容易に行え、またパイプの芯出しの容易な差動排気走査形電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a particle-optical microscope capable of suppressing signal loss between a scintillator and a photomultiplier tube and an excessive electrical current resulting from largeness of the photomultiplier tube.例文帳に追加

粒子光学顕微鏡において、光電子増倍管が大きい結果生じるシンチレータと光電子増倍管との間での信号損失、及び、過剰に流れる電流を抑制する。 - 特許庁

To provide a microwave near-field optical microscope for improving the sensitivity and resolution, by connecting a probe to a dielectric resonator and minimizing the influence of the temperature and the external environment.例文帳に追加

誘電体共振器に探針を結合して温度や外部環境の影響を最小化し、感度と分解能が向上したマイクロ波の近接場顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a near-field optical microscope to detect the scattering light in an extensive angular range, and a cantilever used therefor by improving the structure of the cantilever.例文帳に追加

本発明は、カンチレバーの構造を工夫することにより、より広い角度範囲の散乱光を検出可能にした近接場光学顕微鏡及びそれに用いられるカンチレバーを提供する。 - 特許庁

The reference position marks formed on the optical elements 131a, 131b are imaged with a CCD imaging element, using a microscope 190 and calculates the direction and distance to move from the images of those marks.例文帳に追加

移動方向、距離は光学素子１３１ａ，１３１ｂのそれぞれに形成した位置基準マークを顕微鏡１９０を用いてＣＣＤ撮像素子で撮像し、マーク像から算出する。 - 特許庁

A stage having a function reproducing the image of foreign matter under an optical microscope on the basis of the position data of the foreign matter preliminarily calculated by a separate foreign matter inspection apparatus is employed.例文帳に追加

予め別の異物検査装置により求められた異物の位置情報に基づいて光学顕微鏡下にその異物の像を再現する機能を備えたステージを採用した。 - 特許庁

To provide an easy-to-operate differential interference microscope, capable of moving a Nomarski prism to a desired position on an optical axis interlocked with the switching of an objective at observation of differential interference.例文帳に追加

微分干渉観察時に対物レンズの切換えに連動させてノマルスキープリズムを光軸上の所望位置に移動させることができる操作の容易な微分干渉顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an evaluation method of an optical fiber probe capable of measuring and evaluating the diameter of the leading end of a core by a simple constitution without using a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いることなく、簡易な構成によりコア先端の直径を測定、評価することのできる、光ファイバプローブの評価方法を提供すること。 - 特許庁

Because the rear face of the cantilever 14 is formed in a mirror surface, most of the illumination light irradiated on the cantilever 14 is reflected regularly toward the optical microscope 7, shown as B in Figure.例文帳に追加

カンチレバ１４の背面は鏡面となっているので、カンチレバ１４を照射した照明光のほとんどは、図３中Ｂで示すように光学顕微鏡７の方へ正反射する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device which makes it possible to restrict increase in device costs and reduction in throughput and also can adjust the focus of an optical microscope installed therein with high accuracy.例文帳に追加

装置コストの上昇、及びスループットの低下を抑えつつ、荷電粒子線装置に搭載される光学式顕微鏡のフォーカス合わせを精度良く行うことが可能な装置を提供する。 - 特許庁

To enable observation and working by charged particle beams while confirming and discriminating the appearance of a sample confirmed by an optical microscope or the like at all time in operation of a charged particle beam device.例文帳に追加

荷電粒子線装置のオペレーションに際して、光学顕微鏡などで確認された試料の外観を常時確認識別しながら、荷電粒子線による観察・加工を可能とすること。 - 特許庁

The microscope system, which comprises a catadioptric lens group and a zooming tube lens group, has high optical resolution in the deep UV wavelengths, continuously adjustable magnification, and a high numerical aperture.例文帳に追加

カタディオプトリックレンズ群及びズーミングチューブレンズ群を含む顕微鏡システムは、極ＵＶ波長で高光学解像度と、連続的に調整可能な倍率と、高開口数とを有する。 - 特許庁

The microscope system, which comprises a catadioptric lens group and a zooming tube lens group, has high optical resolution in the deep UV wavelengths, continuously adjustable magnification, and a high numerical aperture.例文帳に追加

カタディオプトリックレンズ群及びズーミングチューブレンズ群を含む顕微鏡システムは、極ＵＶ波長で高光学解像度と、連続的に調整可能な倍率と、高開口数とを有する。 - 特許庁

In a conventional nearfield optical microscope, observation can be performed in the nanometer scale, but not performed particularly in a deep ultraviolet area where the organic material emits self-fluorescence.例文帳に追加

従来の近接場光学顕微鏡は、ナノメートルスケールでの観察は行えるものの、多くの物質、特に有機物が自家蛍光を発する深紫外線領域での観察が行えなかった。 - 特許庁

To provide a wave front evaluation method applicable to various optical systems easily with a simple system, to evaluate quantitatively the flatness of a wave front, and to correct aberration in a microscope easily and surely.例文帳に追加

簡単なシステムで、容易に様々な光学系に適用することができ、波面の平坦度を定量的に評価して、容易かつ確実に顕微鏡における収差の補正を行う。 - 特許庁

This scanning probe system 100 is provided with a connection member 1 attachable to the revolver of the exiting optical microscope, and the scanning probe unit attached detachably to the connection member 1.例文帳に追加

走査型プローブ装置１００は、既存の光学顕微鏡の対物レボルバに装着可能な接続部材１と、接続部材１に着脱される走査型プローブユニット２０とを備えている。 - 特許庁

The photodetector 174 constitutes a probe displacement detection system for detecting optically the displacement in the Z-direction of the probe 162 together with the light source in the scanning optical microscope.例文帳に追加

光検出器１７４は、走査型光学顕微鏡内の光源と共に、プローブ１６２のＺ方向の変位を光学的に検出するプローブ変位検出系を構成している。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of securing high holding accuracy and provided with a holding mechanism in which a probe is removable with good reproducibility without using optical system alignment.例文帳に追加

高精度の保持精度が確保でき、光学系でのアライメントを必要とすることなく再現性良くプローブを着脱できる保持機構を備えた走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

By irradiating the defect appearing in the synthesized image M3 with a laser beam, even a minute defect D undetectable through the optical microscope can be corrected with accuracy.例文帳に追加

合成画像Ｍ３中に現れた欠陥ＤにレーザビームＬを照射すれば、光学顕微鏡では捉えることができない微細な欠陥Ｄも、高精度に修正することができる。 - 特許庁

To provide a new probe for a scanning tunneling microscope and a method of fabrication having high conductivity and high optical transmission, and capable of obtaining high plasmon luminous efficiency.例文帳に追加

高導電性および高光透過性を有するとともに、高いプラズモン発光効率を得ることのできる、新しい走査型トンネル顕微鏡用探針およびその作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscopic system with camera, which acquires polarizing information and optical anisotropic information on an object to be observed by a microscope at the frame rate of an imaging device.例文帳に追加

顕微鏡で観察する対象物の偏光情報や光学異方性情報を撮像素子のフレームレートで取得することができるカメラ付き顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

To provide a microscope system capable of simultaneously performing both of spot irradiation with particular light such as deep ultraviolet and optical observation not sacrificing imaging performance.例文帳に追加

本発明の課題は、深紫外線などの特殊光のスポット照射と、結像性能を犠牲にしない光学観察の二つを、同時に実行できる顕微鏡システムを提供することである。 - 特許庁

To provide an electron optical system and an electron microscope capable of efficiently correcting positions of a diffraction image surface and a medium image surface when replacing samples.例文帳に追加

試料を交換したときにおいて、回折像面と中間像面の位置修正を効率良く行うことのできる電子光学システム及び電子顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a stereoscopic microscope which enables observation by pleasant stereoscopy by reducing the astigmatism of an image without increasing the number of lenses constituting a close-up optical system.例文帳に追加

クローズアップ光学系を構成するレンズ枚数を増加させることなく、画像の非点収差を低減し、快適な立体視による観察が可能な立体視顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

When the position of the assistant's microscope 7 is changed, the reflecting member 50 is rotated around an axis A orthogonal to the optical axis O by action of gears 60 and 61 and a driving shaft 62.例文帳に追加

助手用顕微鏡７の位置が変更されると、ギア６０、６１及び駆動軸６２の動作により、光軸Ｏに直交する軸Ａを中心に反射部材５０が回転される。 - 特許庁

To provide a simple and inexpensive stereoscopic microscope which suppresses a stay light without degrading the workability neither making the optical system complicated and enables a user to observe a sample image of high contrast.例文帳に追加

作業性の悪化を招いたり光学系の複雑化を図ることなく迷光を抑え、コントラストの高い標本像を観察できる簡素で安価な実体顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope allowing for observation of light at plural wave lengths by using the same optical system even when order of the wave lengths of observation light such as fluorescent light and Raman scattering light and exciting light changed.例文帳に追加

蛍光、ラマン散乱光等の観察光と励起光の波長の順序が変動しても同一の光学系を用いて複数の波長の光を観察することができる。 - 特許庁

To provide a scanning near field optical microscope capable of detecting the angle dependence of scattering light generated by the coupling of the near field light from the tip part of a probe with a sample.例文帳に追加

プローブ先端部の近接場光と試料とのカップリングにより発生する散乱光の角度依存性を検出できる走査型近接場光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope which can suppress the occurrence of flares caused by the intermediate optical system (e.g. a variable magnification optical system) provided between the objective lens and the focusing lens and can make the sample illuminating direction coincide with the observation direction.例文帳に追加

対物レンズと結像レンズとの間に設けた中間光学系（例えば変倍光学系）に起因するフレアの発生を抑えることができ、かつ、標本に対する照明方向を観察方向と揃えることもできる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The confocal scanning microscope 1 guides the exciting light emitted from a light source part 2 to an objective optical system 6 by a light separation means 3 and irradiates a sample 12 arranged in the focal position on the side of the sample 12 of the objective optical system 6.例文帳に追加

共焦点走査型顕微鏡１は、光源部２から射出された励起光を光分離手段３により対物光学系６へ導き、対物光学系６の試料１２側の焦点位置に配置された試料１２に照射する。 - 特許庁

The confocal scanning microscope 1 makes the fluorescence generated from the sample 12 incident on the light separation means 3 via the objective optical system 6, to separate the fluorescence from the exciting light and detects the fluorescence by an imaging element 19 via an imaging optical system 13.例文帳に追加

共焦点走査型顕微鏡１は、試料１２から生じた蛍光を、対物光学系６を介して光分離手段３へ入射させ励起光から分離し、撮像光学系１３を介して撮像素子１９で検出する。 - 特許庁

To provide an ultraviolet microscope which does not generate a photochemical reaction between ultraviolet rays and contaminants in an ambience of an optical path, and can prevent the degradation of optical performance and extend the lifetime of a product.例文帳に追加

本発明は、紫外線顕微鏡に関し、紫外光と光路雰囲気中の汚染物質との光化学反応を発生させることなく、光学性能の低下を防止し、製品寿命を長くすることができる紫外線顕微鏡を提供する - 特許庁

This microscope is composed of photographing optical systems 1, 2, 3, 4L and 4R for taking left and right pictures having parallax and ocular optical systems 7L, 7R, 8L, 8R, 9 and 11 observing the pictures by left and right eyes 12L and 12R by displaying the pictures on picture display means 6R, 6M and 6L.例文帳に追加

左右の視差のある画像を撮影する撮影光学系１，２，３，４Ｌ，４Ｒと、その画像を画像表示手段６Ｒ，６Ｍ，６Ｌに表示して左右の目１２Ｌ，１２Ｒで観察する接眼光学系７Ｌ，７Ｒ，８Ｌ，８Ｒ，９，１１から成っている。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a near field opticalprobe which can be manufactured at low cost by simple process, a near field opticalprobe, a near field optical microscope, a near field light fine processing device and a near field optical record playback device.例文帳に追加

単純な工程で、安価なコストで作製することが可能となる近接場光プローブの作製方法、及び近接場光プローブ、近接場光学顕微鏡、近接場光微細加工装置、近接場光記録再生装置を提供する。 - 特許庁

In the focus correcting method for a microscope that automatically focuses an observation optical system by using a focus error signal obtained by a focus error detection optical system, focusing is applied by correcting warpage of an observation well plate.例文帳に追加

焦点誤差検出光学系により得られる焦点誤差信号を用いて観察光学系の自動合焦を行う顕微鏡の合焦を補正する方法であって、観察用ウェルプレートのたわみを補正して、焦点を合わせることを特徴とする。 - 特許庁

In this confocal optical scanner mounted in a microscope, a branching mechanism to the right and left eyepieces of both the eyes and pupil distance adjusting mechanism are arranged in an infinity-coupled type relay optical system which transmits confocal image to the eyepiece or to a camera.例文帳に追加

顕微鏡に搭載する共焦点光スキャナにおいて、共焦点像を接眼レンズまたはカメラへ伝達する無限遠結合形リレー光学系内に、双眼の左右の接眼レンズへの分岐機構と眼幅調整機構を配置する。 - 特許庁

This detection device of the leakage current spot of a semiconductor chip is characterized by being equipped with an application means 13 for applying a material melting by heat and changing the reflection state of light on at least one side of the semiconductor chip 11, an optical microscope 12 for observing the material applied surface of the semiconductor chip 11, and an image processing device 14 electrically connected to the optical microscope 12.例文帳に追加

加熱により溶けて光の反射状態を変化させる物質を、半導体チップ１１の少なくとも片面に塗る塗布手段１３と、前記半導体チップ１１の物質塗布面を観察する光学顕微鏡１２と、この光学顕微鏡１２に電気的に接続された画像処理装置１４とを具備することを特徴とする半導体チップの漏洩電流箇所の検出装置。 - 特許庁

When a sample to be cut and separated is in the outside of a predetermined collection radius of the system, in order to raise the system and move the center of the sample to be cut and divided from the optical axis of the microscope, the slide is moved to a predetermined position in parallel with the optical axis of the microscope.例文帳に追加

次に切り分ける標本が粘着性採集装置の所定の採集半径の外側にある場合は、粘着性採集装置を上昇させ切り分ける標本の中心を顕微鏡の光軸から外すためにスライドを顕微鏡の光軸に対して所定位置まで平行移動させ、粘着性採集装置を試料上まで下降させ、次の１つ以上の標本を切り分ける。 - 特許庁

To optically connect light from a re-imaging area to a light receiving surface of a photodetector with no light protruded therefrom without using a photodetector having a large light receiving surface, when a confocal volume is enlarged for measuring a sample solution with a low emitting particle concentration in an optical analysis technique using an optical system of a confocal microscope or a multiphoton microscope.例文帳に追加

共焦点顕微鏡又は多光子顕微鏡の光学系を用いた光分析技術に於いて、発光粒子濃度の低い試料溶液の計測のために、コンフォーカル・ボリュームを拡大した場合に、大きな受光面を有する光検出器を用いることなく、再結像領域からの光線がはみ出さずに光検出器受光面まで光学的に連結されるようにすること。 - 特許庁

To provide a position analyzing method which enhances the frame rate of an image reader and prevents the calculation precision of a position from decreasing when the position of fluorescent particles or the like smaller than a diffraction limit is calculated using the image data acquired by an optical microscope using an image data acquired by an optical microscope using the image reader for reading an image using a plurality of line sensors or area sensors subjected to binning operation.例文帳に追加

ビニング動作する複数のラインセンサ、あるいは、エリアセンサを用いて画像を読み取る画像読取装置を用いて、光学顕微鏡により取得された画像情報を使用して、回折限界より小さな蛍光粒子等の位置を計算する際に、画像読取装置のフレームレートを向上させ、さらに位置の計算精度を低下させることのない解析方法を提供する。 - 特許庁

This scanning type probe microscope is provided with a cantilever 21 having a probe 20 opposed to a sample 12, a measuring part (optical lever type optical microscope and feedback servo control loop) for measuring interatomic force or the like generated between the probe and the sample when the probe scans a surface of the sample, and a moving mechanism for varying relatively positions of the probe and the sample to conduct a scanning operation.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡は、試料１２に対向する探針２０を有するカンチレバー２１、探針が試料の表面を走査するとき探針と試料の間で生じる原子間力等を測定する測定部（光てこ式光学顕微鏡やフィードバックサーボ制御ループ）、探針と試料の位置を相対的に変化させ走査動作を行わせる移動機構を備える。 - 特許庁